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XRD・XAFSによる複合解析で、より詳細な評価が可能
high-k材料や強誘電体として注目されているHfZrOx膜は、結晶構造によって誘電率等の物理的性質が大きく変化することから、結晶構造の同定・各結晶構造の含有割合の算出が重要な評価項目です。 通常XRDやXAFSによって評価可能ですが、一方の手法だけでは詳細な解析が困難な場合でも、これら2つの手法を組み合わせることでより詳細な情報が得られます。今回、XRDとXAFSの複合解析によって、HfZrOx膜の結晶構造の同定および、各結晶構造の含有割合の算出を行った事例を紹介します。
結晶構造から活物質の劣化状態を評価
リチウムイオン二次電池の正極活物質のLiCoO2は充放電時のリチウムのインターカレーションにより結晶の面間隔等が変化します。また過充電や長期サイクル試験により組成や結晶構造が大きく変化して充放電特性の低下が起きることが知られています。今回はXRDやRaman分光法を用いることでそれらを評価した事例を紹介いたします。更にin situ（オペランド）XRD測定を行うことで、各充電状態（SOC：State of Charge)の結晶構造評価も可能です。 測定法： XRD・Raman・SEM、 製品分野：二次電池 分析目的：組成評価・同定、組成分布評価、形状評価、構造評価、製品調査 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。
EBSDで金属組織を観察することで材料選定や材料変更の検討がスムーズに行えます
電子線後方散乱回折法EBSD（Electron Backscatter Diffraction Pattern）は走査電子顕微鏡SEMと組み合わせることで以下が可能です ・結晶系の異なる相の分離 ・分離相ごとに分布割合や結晶方位解析 本事例では EBSDによる「線材(ばね材)の金属組織観察」を紹介しています ばね材の加工工程（伸線Φ1.00mm、0.07mm）における金属組織変化を調査して、伸線後に金属組織が変化している様子を確認できました この測定技術は、金属材料選定や材料変更時の比較に大いに役立ちます ぜひお試しください なお、弊社ではEBSDとSEMに加え、TEMによる各種断面解析、XPSによる表面分析なども行っており多面的に解析分析を行えます 営業だけでなく技術者も直接対応しますので、お気軽にご相談いただければ幸いです セイコーフューチャークリエーション 公式HP https://www.seiko-sfc.co.jp/
電子線後方散乱回折法EBSDはアルミスパッタ膜の性能評価や下地材料の選定に役立ちます
電子線後方散乱回折法EBSD（Electron Backscatter Diffraction Pattern）は走査電子顕微鏡SEMと組み合わせることで以下が可能です ●微小領域の結晶粒の形状および方位の測定 ●基準方位に対する結晶の配向の確認 ●結晶方位差の情報から材料内部の歪の測定 本事例では 「EBSD を用いたアルミスパッタ膜の 評価」を紹介しています この測定技術は、アルミスパッタ膜の性能評価、下地選択に役立ちます 磁石の方位評価や結晶性があればセラミック材料にも応用可能です ぜひお試しください なお、弊社ではEBSDとSEMに加え、TEMによる各種断面解析、XPSによる表面分析なども行っており多面的に解析分析を行えます 営業だけでなく技術者も直接対応しますので、お気軽にご相談いただければ幸いです セイコーフューチャークリエーション 公式HP https://www.seiko-sfc.co.jp/
SEMとEBSDによって磁石の方位分布がわかり、製品の性能や経年による変化などを把握できます。
電子線後方散乱回折法EBSD（Electron Backscatter Diffraction Pattern）は走査電子顕微鏡SEMと組み合わせることで材料の結晶方位分布を把握できます 本事例では「サマリウムコバルト磁石のEBSD 測定」を紹介しています この技術を各種磁石の性能評価、性能向上に役立てているお客様が多数いらっしゃいます ぜひPDF資料をご覧ください なお、弊社ではEBSDとSEMに加え、TEMによる各種断面解析、XPSによる表面分析なども行っており多面的に解析分析を行っております 営業だけでなく技術者も直接対応しますので、お気軽にご相談いただければ幸いです セイコーフューチャークリエーション 公式HP https://www.seiko-sfc.co.jp/
直径10mmの電子銃が、影面積を最小限に抑えてLEEDパターン像を取得
『LEED』は、OCI社製の低速電子線回折測定が出来る装置です。 当製品の電子銃は直径10mmで、スクリーンの視野が広く、電子銃による 影面積を最小限に抑えてLEEDパターン像を取得することができます。 また、レンズ部分をシリンダー構造にすることで、電子銃内の脱ガスが サイドスリットから効率的に排出されます。 オージェ電子分光測定機能や、MCP付き、直線駆動機構、シャッター、 画像取込装置など、多彩なオプションを測定目的に合わせて選択できます。 【特長】 ■直径10mmの電子銃で、スクリーンの視野が広い ■シリンダー状に、磁場の影響を防ぐためμ-metalを使用 ■デジタル制御電源は、LEED装置に必要な電圧と電流を デジタル制御により供給できる ■取付対応フランジはICF203、ICF152、ICF114の3タイプ ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
環境粉じんの定量分析にも最適！高温下での測定も可能なＸ線回折装置！
『X線回折装置』は、回折したX線の角度やX線強度を測定することによって、 結晶構造つまり物質名を調べる装置です。 定性分析時の回折位置や積分強度から、リートベルト解析法による物質ごとの 定量分析も行うことができます。 また、高温下（常用で室温～1300 ℃）での測定も可能です。 【試験項目】 ■結晶構造の同定、定量分析 ■結晶格子の大きさや格子ひずみ測定 ■環境粉じんの定量分析 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
30kV対応かつコンパクトな制御電源！1Pa台まで使用可能な差動排気設計
『PHD-30K-034』は、超真空下で加速収束された電子線を基板に照射し、 表面キャラクタリゼーションを行うための反射高速電子線回析システムです。 コンパクトサイズでICF34フランジマウントの電子銃は、その小ささから 取り付けやメンテナンスが容易。 また、標準的な回折像観察に加えて、オプション追加により高圧条件下での 測定またはサンプル面内スキャン機能を実現することができます。 【特長】 ■30kV対応かつコンパクトな制御電源 ■1Pa台まで使用可能な差動排気設計 ■2段差動排気（オプション）により100Pa台でのモニター可能 ■スキャンコイル（オプション）による電子線スキャニングで、 同一条件での多数回折が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
測定温度の間隔を細かくすることで、⽣成する温度も知ることが可能！高温X線回析測定をご紹介
物質は、加熱や冷却により化合形態や結晶構造が変化し、高温X線回折装置に より観察することができます。 当社所有の装置では、半導体検出器による超高速（数分）の測定、 室温から1200℃までの測定などが可能。また、昇降温速度、 保持時間を設定できます。 塩化カリウム（KCl）と塩化亜鉛（ZnCl2）を混合して、温度を変化させて 測定した例では、塩化カリウム（融点776℃）と塩化亜鉛（融点365℃）から 低融点物質（K2ZnCl4）が比較的低温で生成することが判りました。 【所有装置の特長】 ■半導体検出器による超高速（数分）の測定が可能 ■室温から1200℃までの測定が可能 ■昇降温速度、保持時間を設定できる ■各種ガス雰囲気での測定が可能（腐食性ガス、有害性ガスは不可） ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
In-Plane XRDによる薄膜の結晶性評価や、XRRによる薄膜の物性測定が可能！
当社で行う「薄膜X線回折(XRD)」についてご紹介します。 数nmレベルの薄膜の結晶構造同定に加え、X線反射率測定による 多層膜の膜密度・膜厚・粗さの解析も可能。 平行性の良いX線を試料に極浅い角度で入射させることで、X線の 侵入深さを極めて浅くすることができ、In-Plane XRDによる薄膜の 結晶性評価や、XRRによる薄膜の物性測定ができます。 【特長】 ■In-Plane XRD(面内回転測定) 数nmレベルの結晶性薄膜の評価 ■XRR(X線反射率測定) 膜密度・膜厚・(表面・界面)粗さの評価 ■一般的な薄膜法(θ固定2θ走査)も対応 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
２次元検出器や多軸ステージの導入により材料分析メニューが充実しました
この度、当社では新たにＸ線回折装置を導入いたしました。 この装置は、大型２次元半導体検出器や大型多軸ステージを搭載し、 従来に比べ高効率、高精度の分析が可能になりました。 これにより粉末を対象とした分析に加え、 金属部品の微小部測定や高配向材料（結晶方位が制御された材料） の解析など、材料分析への適応範囲が拡大しました。 ここでは、腐食調査に関する分析例や新たに測定可能になった結晶方位解析に 関する分析事例をご紹介します。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
大気下も含め、様々な環境下での測定が可能！内部に埋もれた物質の測定も可能
当社で行う「XRDによるハイドロキシアパタイト顆粒の化合物同定」について ご紹介します。 構成元素は同じで性状の異なる化合物は数多く存在します。例えばリン酸 カルシウムと呼称される化合物は多く存在し、薬用成分としても用いられる ハイドロキシアパタイト(HAp)もその一種ですが、元素分析では原則として 化合物種までは識別できません。 X線回折(XRD)では結晶構造同定により、構成元素が同じ化合物の識別が可能です。 【特長】 ■原子の周期性を検出 ■XRDパターンのデータベースとの照合などにより、 元素分析だけでは 困難な化合物の同定が可能 ■リートベルト法が適用できる場合など、結晶相の定量が可能な場合もある ■絶縁物・有機物の測定が可能(非破壊分析) ■測定領域は、サブmm～数cm ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
