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タカヤAPTシリーズは、業界トップクラスの超高速インサーキットテストが可能な基板検査装置です。
タカヤのフライングプローブテスタ 「APTシリーズ」には、検査結果を自動的に収集し、解析する『統計機能』を標準搭載しています。 【主な機能】 〇検査種類 検査種類ごとにステップ数をカウント、割合をグラフ表示 〇不良分析 検査ステップ毎に不良内容/不良数を集計 〇検査解析 解析結果をヒストグラム等のグラフで視覚的に表示 〇検査集計 日付毎の合計数・良品数・不良数・不良率を累計表示 〇検査レポート 解析結果を自動まとめ、Excel形式で出力 検査プログラムの見直し・効率化や、実装工程へのフィードバック、効率向上に効果を発揮します。詳細については営業担当までお問い合わせください。
タカヤAPTシリーズは、業界トップクラスの超高速インサーキットテストが可能な基板検査装置です。
効率よく大量生産を行う方式として、工程順に機械設備を並べる「ライン生産方式」があります。単一製品の生産性に優れるため、多くのものづくりの現場で取り入れられております。 そのライン生産方式に、検査工程を組み込んだものを「インライン検査」と呼びますが、タカヤのフライングプローブテスタには、基板をコンベアで自動搬送することで、この「インライン検査」に対応できるモデルがございます。 ローダー/アンローダー/反転機などとSMEMA連携することで、大量の基板であっても自動・無人での検査を可能とします。 また、他社様の3D-AOI(外観検査機)と併用いただくことで、外観検査だけでは検出できないマイクロブリッジなどの検出をフライングプローブテスタが受け持つなど、各々の特徴を活かすことで、虚報排除・検査能力の向上・スピードアップを実現されている例もございます。 量産基板の全数電気検査（ICT）でお困りの際は、治具レスでライン切り替えも容易なタカヤのAPTシリーズを是非、ご検討ください。
製造DX 管理システム/スケジューラの活用 / 進捗・実績データの確実収集 / RFID＋エッジデバイスでデータ収集を支援
【特徴】 〇確実なデータ収集（簡単操作・システム側受信を確認） 〇製造作業を止めない（再送機能） 〇レイアウト変更/故障時交換に柔軟対応 〇多数台同時使用 〇時刻同期（WiFi利用時)
小型液晶用LEDの簡易検査装置に最適。小型・軽量・低価格
定電流電源・検査装置は、数10μAの超微電流定電流電流駆動によるLED静電破壊評価ができます。LED直列多灯点灯回路の駆動、各チャンネル毎に定電流値設定も可能です。微電流・定常電流（10～30mA）の切り替え動作ができます。表示器の有無や自動制御等ご要望によりカスタマイズ承ります。詳しくはカタログをダウンロードしてください。
静特性・動特性の検査がこれ１台で!!高精度・高速度の検査を実現!!電圧、パルス幅、周期も自由に設定!!
・点火用高圧コイルの静特性・動特性をこの１台で総合的に検査可能 ・各測定項目はそれぞれ専用回路で構成し、高精度で測定が早い（FS 100mA,FS 20A,FS 10V,FS 50KV) ・電源、パルス印加の電圧、パルス幅、周期をPCから任意に設定可能 ・各測定項目の実施の有無、順序の入替えがPCから任意に設定可能 ・測定波形をマスク判定可能（波形全域に対して上下限値判定を行う） ・PCモニタ上で全項目の測定データを一覧可能 ・測定波形をPCモニタ上で見ることができる ・すべての測定結果をログファイルに保存可能 ・機種コード入力で自動的に検査条件を切り換えることが可能 ・全自動検査モードと項目毎の手動検査モードが切り換え可能 ・Windows PCを採用していて操作もわかりやすい
パルス波形が自由に出力可能!!測定波形もモニタ上でキレイに再現!!
・PCモニタ上で検査ステップの編集、組替えが可能 ・パルス出力の波形パターン、電源電圧を変えた検査ステップを組合わせた検査が可能 ・パルス波形は任意のパターンが出力可能 ・熱抵抗は専用の測定器を採用し、高精度を確保（熱抵抗計とはGPIBで通信） ・すべての検査結果をログファイルに保存可能 ・測定波形をPCモニタ上で見ることができる ・Windows PCを採用しているので操作もわかりやすい ・2ch同時に測定し、測定波形の相互関係からの判定も可能
専門メーカーによる検査装置の自動化で工数削減と精度UP！オーダーメイド対応可
検査や測定装置でお困りの研究開発・品質管理、検査担当者様に専門メーカーであるコスモテックが課題と解決方法をわかりやすく説明した６つのポイント事例を紹介します。「手間を省きたい！」「既製品ではダメ！」「小型化したい！」といったお困りごと、ご相談事がございましたらお気軽にお問い合わせ下さい。 ※イプロスユーザー限定！6つの事例付き小冊子を無料プレゼント中！ 【掲載内容】 ■鉄塔点検装置(非破壊検査装置) → 難所での点検作業を効率化し精度も大幅UP！ ■電力発生器制御システム → 操作性の悪さを解消！簡単に使えるインターフェースに改良！ ■ガラス瓶品質検査装置 → デジタル化により検査の効率を大幅UP！ ※他にも事例多数有り！詳しくはお問い合わせいただくか、カタログをダウンロードしてご覧下さい。
4ch同時測定＆リアルタイム表示！モニタ上で条件変更が簡単！★事例集プレゼント★
『総合基板検査機（ファンクションテスタ）PFT-50』は、 “4chの同時測定”ができ、検査効率が大幅ＵＰする最新製品です。 検査状態はリアルタイム表示が可能！タッチパネル式で操作も簡単！ さらに、電動シリンダを採用し、ＡＣ電源のみでスムーズな動作を実現しました。 ライトカーテンを新たに備え、安全面も大きく向上しています。 ★ただいま、検査・測定ご担当者様向け『問題解決事例集』を進呈中！ 基板の自動検査装置など、試験業務の効率化の実例が満載です！ ▼事例集・製品カタログは「ダウンロード」からすぐにご覧頂けます▼
交流動作特性検査を高精度で自動検査！顧客サーバと連動した自動検査システム
コスモテックの『交流2次電圧動作特性検査装置』は、 交流動作特性検査を高精度で自動検査する装置です。 顧客サーバと通信し自動で検査仕様・設定を確認。 自動検査後に検査データをサーバへ自動送信します。 ワーク受台切替にて10機種以上に検査対応。 検査中、検査状態をリアルタイム表示してくれます。 【特長】 ■交流動作特性検査を高精度で自動検査 ■顧客サーバと通信し自動で検査仕様・設定を確認 ■自動検査後に検査データをサーバへ自動送信 ■ワーク受台切替にて10機種以上に検査対応 ■検査ワークLED表示点灯状態も自動検査 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
ウェーハ内部のボイドへX線を用いて透過！基準値以上のボイドについての良否を自動判定検査します
『Six-3000』は、ウェーハ上のバンブを自動で検査、判定を行う X線自動検査装置です。 ウェーハ内部のボイドへX線を用いて透過し、その透過画像からボイドの 直径（面積）を求め、基準値以上のボイドについての良否を自動判定検査。 X線源にはマイクロフォーカスX線管を用いてX線受像部にはX線デジタル カメラを採用し、高解像度の画像を抽出。高精度ボイド検査が可能です。 この他に、シリコンウェーハ結晶欠陥ボイド検査装置『X-CAS-2』も ご用意しております。 【Six-3000特長】 ■ウェーハ上のバンプを自動で検査、判定を行うX線自動検査装置 ■ウェーハ内部のボイド（気泡）をX線を用いて透過 ■基準値以上のボイドについての良否を自動判定検査 ■X線源にはマイクロフォーカスX線管を使用 ■X線受像部にはX線デジタルカメラを採用し、高解像度の画像を抽出 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
リール状のIC部品の内部状態をX線を用いて透視検査する装置のご紹介です
ICワイヤーボンディングX線検査装置『LFX-1000R』は、リール状の IC部品の内部状態をX線を用いて透視検査する装置です。 テープリール内のICを巻き取りながら、1個、1個のICのワイヤー ボンディングの接続状況などを自動で検査（Good/NG判定）。 対応可能リール寸法は、180～380mmとなっております。 【特長】 ■対応可能リール寸法：180～380mm ■IC部品の内部状態をX線を用いて透視検査 ■1個、1個のICのワイヤーボンディングの接続状況などを自動で検査 ■リードフレーム対応タイプ「LFX-1000」もご用意 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
ICワイヤーボンド/リードフレーム状態を自動検査するインラインタイプX線検査装置です
当製品は、全自動検査が可能なインライン方式のX線検査装置で、IC内部の ワイヤーボンド/リードフレームの状態を高速/高精度に検査します。 リードフレーム状態で自動搬送及び自動検査し、不良個所をマーキング。 ワイヤーボンドの検査だけでなく金属異物やリードフレームピッチなどの 検査もできます。各種ローダ/アンローダ部との連結が可能です。 【特長】 ■リードフレーム状態で自動搬送及び自動検査 ■金属異物やリードフレームピッチなどの検査もできる ■各種ローダ/アンローダ部との連結が可能 ■リードフレームは、ローダ部に直積みでセット又はマガジンラックで供給 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
技術開発の受賞も！当社はさまざまな装置の開発や、解明、発売を行ってきました
当社では、さまざまな装置の開発や、解明、発売を行ってきました。 例えば、300mmウエーハ高速検査用に4,000x3,000=12,000,000画素の カメラ開発や、真空はんだ付けのメカニズムの解明など。 また、技術開発の受賞や、優良企業としての受賞の経歴がございます。 【経歴（抜粋）】 ■2003年：X線装置の中に「水素/真空/加熱炉」を導入 真空はんだ付けのメカニズムを解明 ■2004年：300mmウエーハ高速検査用に4,000x3,000=12,000,000画素の カメラを開発 ■2005年：X線装置とダイボンダを融合、チップマウンタ機能を複合 ■2006年：Siウエーハ結晶欠陥ボイド全自動検査機を開発 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
裏面に実装された部品を消して基板のX線検査が的確に行える“裏面キャンセル”を体感可能。7社の装置で基板の検証・実験が行えます
アイビットは、半導体製造に関する7社の装置が一堂に会するデモルーム 「MUSUBI大阪Labo」を新大阪に開所いたしました。 当社のX線検査装置を使用した基板の検証・実験も可能で、 独自技術の「X線ステレオ方式」によって、基板の表裏が重なり見えづらく 検査がしづらい状態をわずか4秒で解消する様子を体感いただけます。 【デモルーム概要】 所在地：大阪府大阪市淀川区西宮原1-7-27 営業時間：平日9:00～17:00 （JR新大阪駅から徒歩10分ほどです） ※詳しくは資料をご覧ください。お問い合わせもお気軽にどうぞ。
リコーエレメックスがご提供する画像検査装置実績事例です。
独自の画像処理技術により高速・高精度に不良を検出。生産工程における品質の安定化・生産性向上にお役立ちします。 ●詳しくはカタログをダウンロード、もしくはお問い合わせください。
