更新日： 集計期間:2025年08月20日～2025年09月16日
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撮影視野1倍での両面広視野撮影が可能！(視野9mm x 7mm）
『TOMOS-50R1』は、撮影視野1倍での両面広視野撮影が可能な 広視野リング照明付きの両面顕微鏡システムです。 水晶振動子、MEMS、プリント基板の穴など、電子部品の表裏を 同時に撮影が可能です。 また、表裏のパターンやアライメントマークのずれを繰り返し精度 ±0.010mm精度で測定できます。 【特長】 ■顕微鏡表裏の光軸ずれや、レンズ倍率誤差、カメラのθずれを 高精度に画像処理補正 ■表と裏をひっくり返す手間無く寸法測定も可能 ■水晶振動子、MEMS、プリント基板の穴、電子部品の表裏を同時に撮影 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
±0.3μm以下の繰り返し精度で表裏の位置ずれを測定します！
『TOMOS-50/60/80/XY』は、表裏両面を同時撮影、寸法計測、 位置ずれ計測が可能な両面顕微鏡位置ずれ計測システムです。 電動制御及び自動計測となっており、両面露光パターンズレや 半導体ウエハー、4インチ、6インチ、8インチウエハー、MEMS、 水晶振動子などの表裏位置ずれ計測、観察に利用可能。 表裏光軸補正はマイクロステージ＋ソフトウェアで高精度に補正します。 また、装置組込用両面顕微鏡モジュールとしての販売も可能です。 【特長】 ■表裏両面を同時撮影、寸法計測、位置ずれ計測が可能 ■表裏光軸補正はマイクロステージ＋ソフトウェアで高精度に補正 ■±0.3μm以下の繰り返し精度で表裏の位置ずれを測定 ■表裏2chオートフォーカスユニット組み合わせ可能(オプション) ■電動XYステージ制御システム開発中 ■装置組込用両面顕微鏡モジュールとしての販売も可能 ※詳しくはカタログをダウンロードいただくか、お気軽にお問合せ下さい。
8チャネルのSpectrum製DigitizerNETBOXがAFMの進化を推進するために必要な高い精度を提供。総合カタログ付き
イギリス・ニューカッスル大学 プレシジョンメカトロニクス研究室での 原子間力顕微鏡(AFM)の実験のアプリケーション例についてご紹介いたします。 原子間力顕微鏡(Atomic Force Microscope)は、材料科学における重要な ツールであり、表面の機械的スキャンに使用されます。 表面の原子とナノスコピック針の先端の間に作用する力が測定・計算され、 ナノメートルの何分の1かのオーダーの分解能が得られます。 【概要】 ■AFMテクノロジー ■高精度のマルチチャンネルデジタイザ ※詳しくは、お気軽にお問い合わせください。
付属の専用ソフトダウンロードで撮影画像の補正・計測が可能！
『3R-MSUSBシリーズ』は、パソコンにUSB接続するだけで顕微鏡で見る映像を パソコンに映し出すことができるデジタル顕微鏡です。 先端にLEDライト搭載で対象物を明るく観察可能。静止画・動画撮影と、 付属のソフトで簡易計測もできます。 また、計測した数値や入力した文字を表示したまま画像として 保存することも可能です。 【特長】 ■簡単計測 ■文字入れ機能 ■測定補正 ※詳しくは、お気軽にお問い合わせください。
AFMによるステップ-テラス構造の可視化
ワイドギャップ半導体である窒化ガリウム(GaN)は、パワーデバイスや通信・光デバイスなどの幅広い分野で用いられています。デバイスを作製するうえで、ウエハ表面の形状と粗さはデバイス性能に大きく影響します。GaNウエハを成長させる際、支持基板との格子不整合などによる応力の影響で、表面にステップ-テラス構造が形成されます。本資料ではAFMを用いて、GaN基板表面のステップ-テラスの構造を可視化し、テラス幅、ステップ高さ、表面粗さ、オフ角を評価した事例を紹介します。 測定法：AFM 製品分野：パワーデバイス、 電子部品、 照明 分析目的：形状評価、 構造評価 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。
SEM-EDXによる形状観察及び簡易定量分析
半導体ウェハ製造プロセスにおけるパーティクルの制御は、ウェハの品質を担保する上で非常に重要です。本事例では、Siウェハ上パーティクルのSEM観察及びEDX分析と簡易定量(※1)によって、パーティクルが何かを推定しました。サブミクロンの高い空間分解能を持ち、数cmの領域を走査できるSEM装置では、形状及び組成情報からウェハ上のパーティクルが何かを速やかに推測でき、発生工程を素早く特定することができます。欠陥検査装置の座標データとリンクした分析も可能です。
イオン注入後のアニール条件の違いによる差異を確認
酸化ガリウムGa2O3は、SiCやGaNよりもバンドギャップが広く、優れた物性を有することから、高効率・低コストが期待できるパワーデバイス材料として注目を集めています。デバイスの開発には、特性を左右する不純物濃度や結晶性の制御が重要です。本資料では、イオン注入による結晶構造の乱れから生じるダメージ層及び表面粗さの変化を、アニール条件毎に観察した結果を示します。 測定法：TEM・AFM 製品分野：酸化物半導体・パワーデバイス 分析目的：形状評価・構造評価 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。
新型低温走査プローブ顕微鏡
低温SPMの再定義：高磁場と光学系を備えたクローズドサイクルシステム 精度、効率、そして適応性を備えた新型の低温走査プローブ顕微鏡を体験してください。 ARCTIC SPM Labは、連続運転、コンパクトな設置面積、そしてモジュール式の拡張性を備え、進化する研究ニーズに対応します。 クローズドサイクル冷却技術により、持続可能で費用対効果の高いアプローチを実現し、ヘリウムへの依存を排除します。 SPMは、事実上無制限の測定時間を提供しながら、優れた機械的安定性を維持しています。
これまでに培ったSEMによる形態観察技術で、食品容器包装材料の層構成の観察が可能です!!
固形ルウの容器は食品の保存性が必要なことから、容器は多層構造になっています。 このような食品容器も、電子顕微鏡で断面観察することで層構成を明らかにすることが出来ます。 ある市販の固形ルウの容器は、FE-SEM観察から約３μm～約４０μmの厚みの７層の多層構造で あることが分かりました。 これをもとに更に材質分析(＊１)をFT-IRやラマン分析で進めた結果、各層の材質についても 把握することが出来ました。 また、容器の保存性についても、酸素透過度、水蒸気透過度の測定(＊２)で把握することができます。 ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
像シミュレーションを併用した結晶形の評価
高分解能HAADF-STEM像は、結晶の原子配列を反映した画像であることから、種々の結晶方位に対応 したSTEM像をシミュレーションすることにより、多結晶体中の結晶粒間の相対方位や観察像の正確な理解に役立ちます。 本資料では、多結晶体であるネオジム磁石中の結晶粒について、EBSD法で得た結晶方位の情報から STEM像をシミュレーションし、実際の高分解能HAADF-STEM像と比較した事例を紹介します。
導入しやすい価格帯で、新スタンダード機登場！高精細な観察を実現
『3R-MSTVUSB140』は、高画質のフルHD200万画素・1/2.8型CMOSセンサーを 搭載しているHDMIデジタル顕微鏡です。 付属のHDMIケーブルを使用し、モニタ(別売)へ接続すれば約8秒後に 観察が可能。難しい操作はなく、業務の効率化につなげます。 また、細かな目盛り表示や「計測・描画モード」により、対象物のサイズや 形を正確に測定。不良の原因追求や不具合の再発防止に役立ちます。 【特長】 ■フルHD200万画素 ■1/2.8型CMOS搭載 ■オートフォーカス機能搭載 ■モニタとPC2種接続 ※詳しくは、お気軽にお問い合わせください。
加工現場でも簡単に使える工具観察台【HORUS】 ドリルやエンドミルの摩耗状態を的確に観ることは工具管理において必要不可欠な作業
■5つのメリット ■HORUSで収益力が上がる理由 ■2つのモデル ■導入事例 ■FAQ よくある質問 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 【HORUSの4つの特長】 ↓ ↓ ↓ ↓ ↓ ↓ ↓ ↓ ↓ https://youtu.be/iU2sXPDsAtE 【HORUSを使用することで得られる3つの事例】 ↓ ↓ ↓ ↓ ↓ ↓ ↓ ↓ ↓ https://youtu.be/-o6zDGyIlDk
大気中の粉塵・繊維・アスベスト等の計数用位相差顕微鏡です。
本製品は、アスベスト計数法（PCM法）に対応した位相差顕微鏡です。 作業環境測定におけるアスベスト計数法（PCM法）で必須となる、石綿計数用のレチクル（アイピースグレーティクル）が標準付属しています。アイピースグレーティクルはあらかじめ接眼レンズに装着してありますので、お客様にてアイピースグレーティクル装着の手間がありません。 セットアップを行った状態でお届けいたしますので、コンデンサなどの光軸調整等も不要です。製品を受け取ったらすぐに観察にご利用いただけます。 ハイ・アイポイント仕様の接眼レンズを採用しており、眼鏡を掛けたままでも検鏡が可能です。 視力低下によってアイピースグレーティクルに焦点を合わせづらいケースにも対応出来るよう、接眼レンズに視度補正機構を設けました。 アスベスト計数法（PCM法）に用いられる10倍・40倍の位相差対物レンズが標準付属します。 撮影用ポートを備えた構造ですので、将来的に顕微鏡写真が必要になった場合に顕微鏡用カメラを取り付け可能な構造です（カメラ取り付け用アダプタ標準付属）。
