【測定事例】 熱で金属薄膜の厚みを評価する 【TM】
熱物性を測定することで、薄膜の厚みが評価できます！
ベテル社製サーマルマイクロスコープTM3を使用することで、 「薄膜の厚み」が評価できます。
- 企業：株式会社ベテル 本社・工場、東京オフィス、ハドソン研究所、ベトナム工場
- 価格：応相談
顕微鏡(測定) - メーカー・企業と製品の一覧
更新日： 集計期間:2025年08月20日～2025年09月16日
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顕微鏡の製品一覧
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両面顕微鏡システム『TOMOS-80XY』
8インチ電動XYステージとオートフォーカス機能を搭載！正確に移動制御し測定エラーを防止
『TOMOS-80XY』は、あらかじめ指定したワークの測定箇所に自動で移動し、 MEMS、半導体ウェハなどの表裏パターンやアライメントマークのずれを 自動測定できる両面顕微鏡システムです。 円、四角、十字等のアライメントマークのエッジを自動検出し、 中心座標同士のずれを測定。XYZステージ制御条件、測定条件、マップ作成、 レシピ登録し、ワークの複数箇所を自動測定します。 また、XYステージとワークの装着位置のずれ補正アライメント機能を 搭載しており、正確に移動制御し測定エラーを防ぎます。 【ソフト機能(抜粋)】 ■表裏光軸補正 ■表裏レンズ倍率補正 ■カメラ取付θずれ補正 ■表裏位置ずれ自動計測 ■電動ステージ制御、マップ移動制御 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
- 企業：株式会社フローベル
- 価格：応相談
AFM 原子間力顕微鏡 ナノオブザーバー 2
老舗AFMメーカのハイエンド品並みの測定品質を実現
柔軟性、卓越した性能、使いやすい操作性を兼ね備えつつ、老舗AFMメーカのハイエンド品並みの測定品質を実現。ナノスケールのイメージングと特性評価のための幅広い機能を備えています。電気特性測定（KFM、C-AFM)、脆いサンプルも測定可能なソフトICモードも実現。
- 企業：株式会社日本レーザー
- 価格：応相談
コンデンサ、抵抗など電子部品の表裏キズ検査に！両面顕微鏡システム
電子部品・プリント基板の表裏を同時に観察できる低倍率広視野顕微鏡。キズ検査やアライメントマークの位置ずれ測定に好適！
『TOMOS-50R1』は、撮影視野1倍での両面広視野撮影が可能な 広視野リング照明付きの両面顕微鏡システムです。 コンデンサ、抵抗などの電子部品、通信デバイス用樹脂部品、 レンズなどの個片全体を撮影し、表裏両面のキズ検査が可能です。 【特長】 ■顕微鏡表裏の光軸ずれや、レンズ倍率誤差、カメラのθずれを 高精度に画像処理補正 ■表と裏をひっくり返す手間無く寸法測定も可能 ■水晶振動子、MEMS、プリント基板の穴、電子部品の表裏を同時に撮影 ■表裏のパターンやアライメントマークのずれを繰り返し精度±0.010mm精度で測定可能（※） ※測定精度は、被写体条件、測定条件、対物レンズ倍率、測定環境等により変わります。 サンプルテストにてご確認下さい。 ＼ 詳細は「カタログをダウンロード」よりご確認下さい ／
- 企業：株式会社フローベル
- 価格：応相談
赤外顕微鏡『AIMsight』
初めての分析作業でも安心して使用できる自動解析システム！
『AIMsight』は、分析業務をサポートする充実の機能を標準搭載した 赤外顕微鏡です。 ATR対物鏡(Geプリズム)で高感度なATR測定が可能。赤外入射角度を より深くしたことにより、黒色ゴムなどの高屈折率試料測定時にも歪みのない 良好なATRスペクトルを取得することができます。 また、ピーク高さや面積、多変量解析(PCR/MCR)や対象スペクトルとの 一致度を使ったケミカルイメージを作成でき、目視では確認できない成分分布を 可視化することができます。 【特長】 ■極微小部における高感度測定 ■高感度なATR測定 ■可視画像を見ながらスムーズな測定 ■成分をイメージで確認 ■測長機能 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
- 企業：丸文通商株式会社
- 価格：応相談
3D測定レーザー顕微鏡 OLS5100 ※特別価格CP実施中！
2025年12月末日までに3D測定レーザー顕微鏡 OLS5100を新規ご成約頂いたお客様に特別価格でご提供！
こちらでは株式会社エビデントの3D測定レーザー顕微鏡「OLS5100」の 特別価格キャンペーンについてご紹介いたします。 【特別価格キャンペーン】 ■期間：2025年12月末日まで ■対象製品 ・OLS5100-SMT 組合せ：20％OFF ・OLS5100-SAT 組合せ：15％OFF ※詳細は下記カタログをダウンロードよりご確認下さい。
- 企業：早坂理工株式会社
- 価格：応相談
プリント基板の表裏位置ずれ検査に！照明付き両面顕微鏡システム
表裏同時観察による高効率な検査を実現。レンズ、LEDチップ、通信部品などの微細部品の傷やズレを確実に捉える顕微鏡システム！
『TOMOS-50R1』は、撮影視野1倍での両面広視野撮影が可能な 広視野リング照明付きの両面顕微鏡システムです。 コンデンサ、抵抗などの電子部品、通信デバイス用樹脂部品、 レンズなどの個片全体を撮影し、表裏両面のキズ検査が可能です。 【特長】 ■顕微鏡表裏の光軸ずれや、レンズ倍率誤差、カメラのθずれを 高精度に画像処理補正 ■表と裏をひっくり返す手間無く寸法測定も可能 ■水晶振動子、MEMS、プリント基板の穴、電子部品の表裏を同時に撮影 ■表裏のパターンやアライメントマークのずれを繰り返し精度±0.010mm精度で測定可能（※） ※測定精度は、被写体条件、測定条件、対物レンズ倍率、測定環境等により変わります。 サンプルテストにてご確認下さい。 ＼ 詳細は「カタログをダウンロード」よりご確認下さい ／
- 企業：株式会社フローベル
- 価格：応相談
レンズ・コネクタなどの表裏キズ検査に！照明付き両面顕微鏡システム
表裏同時観察による高効率な検査を実現。レンズ、LEDチップ、通信部品などの微細部品の傷やズレを確実に捉える顕微鏡システム！
『TOMOS-50R1』は、撮影視野1倍での両面広視野撮影が可能な 広視野リング照明付きの両面顕微鏡システムです。 コンデンサ、抵抗などの電子部品、通信デバイス用樹脂部品、 レンズなどの個片全体を撮影し、表裏両面のキズ検査が可能です。 【特長】 ■顕微鏡表裏の光軸ずれや、レンズ倍率誤差、カメラのθずれを 高精度に画像処理補正 ■表と裏をひっくり返す手間無く寸法測定も可能 ■水晶振動子、MEMS、プリント基板の穴、電子部品の表裏を同時に撮影 ■表裏のパターンやアライメントマークのずれを繰り返し精度±0.010mm精度で測定可能（※） ※測定精度は、被写体条件、測定条件、対物レンズ倍率、測定環境等により変わります。 サンプルテストにてご確認下さい。 ＼ 詳細は「カタログをダウンロード」よりご確認下さい ／
- 企業：株式会社フローベル
- 価格：応相談
波長選択ユニット 広視野顕微鏡 共焦点顕微鏡 対応
波長選択ユニット広視野顕微鏡 共焦点顕微鏡対応。 太陽電池と太陽光発電、LEDとOLED、ナノ粒子と2D材料の特性評価に使用可能
最高の感度を実現する400～1000nmの80％以上の透過率によるスペクトルスキャンを実現。また光回折格子によるパルス幅の広がりのない高い時間分解能を実現
- 企業：株式会社日本レーザー
- 価格：応相談
3D/4D光学プロファイラーデジタルホログラフィック顕微鏡
ナノレベルのダイナミクスの高速3D/4Dイメージング測定を実現！
光の位相差情報をホログラフィの方式により取得することで、数μmの急峻な段差もスキャンなしで瞬時に測定し、3Dイメージや表面粗さ情報表示します。 Z分解能はナノレベルを実現しながら、除振台は不要となっており、高さ方向の走査を必要とせず、広いエリアを高速で測定し、3Dイメージを表示しながらスクリーニングが可能です。 ラボのみならず製造や品質管理の現場でも活用できます。 ◆ホログラフィ方式による高速データ処理を実現 ◆ナノレベルの高さ分解能 ◆液中やガラス窓越しなど様々な測定環境に対応可能 ◆簡単セットアップ、優れた操作性 ◆キャリブレーション不要 ◆スティッチング機能で広範囲を高速測定（別途、自動ステージが必要） ◆高周波数で駆動するMEMSに対応（別途、ストロボスコピックオプションが必要）
- 企業：日本カンタム・デザイン株式会社
- 価格：1000万円 ~ 5000万円
光波動場三次元顕微鏡
従来の顕微鏡を超える性能 透体の傷や異物を可視化・定量化
㎚オーダーの透明な異物・欠陥の評価が可能で、1ショットで高さ方向の情報が取得でき、非接触・非破壊・非侵襲で測定が可能な顕微鏡です。さらにフォーカス不要で、任意の面を高速でスキャンして測定位置を決定することが可能です。 特長 ・nmオーダーの透明な異物・欠陥の評価が可能 ・目視では確認できない透明材料の表面と接合界面を可視化 ・1ショットで瞬時に深さ方向の情報を取得可能 ・フォーカス不要で高速測定が可能 ・非破壊・非接触・非侵襲で測定が可能
- 企業：穂高電子株式会社
- 価格：応相談
光波動場三次元顕微鏡 MINUK
nmオーダーの透明な異物・欠陥の評価が可能！フォーカス不要で高速測定 目視では見えないフィルム表面を可視化・定量化
『MINUK』は、目視では見えない透明フィルム表面を可視化・定量化できる 光波動場三次元顕微鏡です。 nmオーダーの形状情報を非接触・非破壊・非侵襲で取得可能。ワンショットで 深さ方向の情報も併せて取得することにより、目視では見えない透明フィルム 表面の傷や欠陥の断面形状や三次元形状を可視化し数値化することが可能です。 高速で広範囲をマッピングし情報を得ることができるスティッチング機能に より、観察したい場所を素早く見つけ、詳細情報を取得することが可能です。 【特長】 ■nmオーダーの透明な異物・欠陥の評価が可能 ■1ショットで瞬時に深さ方向の情報を取得 ■フォーカス不要で高速測定が可能 ■非破壊・非接触・非侵襲で測定が可能 ■任意の面を高速でスキャンし測定位置の決定が容易 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
- 企業：大塚電子株式会社
- 価格：応相談
オールインワン蛍光顕微鏡 導入活用事例集＜医薬品・化粧品業界編＞
定量測定の迅速化！複数の画像に適用し、一括測定できた事例などをご紹介！
当資料は、医薬品・化粧品業界における暗室不要のオールインワン 蛍光顕微鏡の導入活用事例集です。 ケラチノサイトの増殖能評価やテープストリッピングによる角層評価 試験、セルマイグレーションアッセイなど、様々な事例を掲載。 その他、ハイブリッドセルカウントやイメージジョイントといった 活用事例にて用いられている拡張機能のご紹介もしておりますので、 是非、ご一読ください。 【掲載事例】 ■ケラチノサイト(角化細胞)の増殖能評価 ■テープストリッピングによる角層評価試験 ■セルマイグレーション(細胞遊走)アッセイ ■小核試験 ■ダブルエマルション ■皮膚表皮層のUVダメージ部位の定量評価 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
- 企業：株式会社キーエンス
- 価格：応相談
【表裏同時観察・位置ずれ計測に】両面顕微鏡システム TOMOS
電子ペーパーやMEMSの観察・位置ずれ・寸法計測を一台で実現。両面同時観察と自動計測で、測定の効率と精度を大幅に向上。
当社のTOMOSシリーズ は、電子ペーパー、MEMS、水晶振動子、半導体線幅パターンなどの 精密デバイスを対象に、表裏同時観察・計測を実現する両面顕微鏡システムです。 落射・透過照明対応で粒子・流体・フィルターなど両面同時観察の可能で、 位置ずれ・寸法計測も自動化し高精度・効率化を実現します。 TOMOSシリーズは用途に応じた複数モデルをラインナップしており、観察・計測の目的や対象に最善な選択が可能です。 研究・解析・製造・検査の現場で、高精度・高再現性・効率化を追求する方に好適なソリューションです。 【ダウンロードカタログ内容】 ■コンパクトタイプ 表裏位置ずれ計測システム TOMOS-50 ■6インチステージ 表裏位置ずれ計測システム TOMOS-60 ■リング照明付き低倍率両面顕微鏡システム TOMOS-50R1 ■6インチ電動XYステージ 両面顕微鏡システム TOMOS-60XY ■8インチ電動XYステージ 両面顕微鏡システム TOMOS-80XY ■高速オートフォーカスユニット Mimic II-AF/CL ■高感度近赤外線カメラ FS-1700IRP
- 企業：株式会社フローベル
- 価格：応相談
電界放出型走査顕微鏡『FE-SEM』
EDXが装着されており、試料観察と同時に元素の種類・量・分布状態を調べることが可能です！
『FE-SEM』は、電子線を絞り細い電子線を試料に照射し、表面を観察する 電界放出型走査顕微鏡です。 超高分解能観察が可能。汎用SEMと同様に電子線を絞り電子ビームとして 対象に照射し、対象物の表面から放出される二次電子や反射電子を検出 することで、対象の表面の観察を実施。 また、JSM-7100Fでは、EDS及びEBSD解析装置が装着されているため、 高分解能の観察だけでなく元素分析や結晶性試料の方位解析(EBSD解析)が できます。 【特長】 ■サブミクロンオーダーでの観察が可能 ・汎用SEMより高倍率で形態観察が可能で、より鮮明な像を取得可能 ■EDX(エネルギー分散型分析装置)による定性分析 ・EDXが装着されており、試料観察と同時に元素の種類・量・分布状態を 調べることが可能 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
- 企業：株式会社クオルテック
- 価格：応相談
