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測定(半導体) - 企業と製品の一覧

更新日: 集計期間:2025年03月26日~2025年04月22日
※当サイトの各ページの閲覧回数を元に算出したランキングです。

製品一覧

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分析・測定『放射能検査』

食品や井戸水、土壌、飼料、廃棄物など、あらゆる媒体の放射能を測定

『放射能検査』では、放射性物質を高精度に測定することが可能な ゲルマニウム半導体検出器を導入し、平成24年4月1日から適用された 食品中の放射性物質の規格基準に対応した検査を実施します。 また、環境・廃棄物等については環境省の廃棄物ガイドラインに沿って 検査を実施します。 当社は放射性物質の検査を実施できる食品衛生法の登録機関です。 【特長】 ■食品衛生法の登録機関 ■あらゆる媒体の放射能を測定可能 ■高精度ゲルマニウム半導体検出器による核種別測定 ■食品中の放射性物質の規格基準に対応 詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • 分析機器・装置
  • 受託測定
  • 放射線測定器

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放射能測定

サーベイメーターによる空間線量率測定!放射能濃度等測定方法ガイドラインにより実施

当社の放射線分析部門は、ISO/IEC17025の認定を受けております。 全国に事業所を配備し専門スタッフが試料採取から分析まで自社で対応。 サーベイメーターによる空間線量率測定を放射能濃度等測定方法ガイドライン により実施します。 ゲルマニウム半導体検出器によるγ線スペクトロメトリーによる放射能核種分析を 実施。ゲルマニウム半導体検出器は自社保有し公益財団法人日本適合性認定協会より 試験所として認定されています。 【特長】 ■当社の放射線分析部門は、ISO/IEC17025の認定を受けている ■全国に事業所を配備し専門スタッフが試料採取から分析まで自社で対応 ■ゲルマニウム半導体検出器によるγ線スペクトロメトリーによる放射能核種分析を実施 ■ゲルマニウム半導体検出器は自社保有し公益財団法人日本適合性認定協会より  試験所として認定されている ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • 受託測定

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応力分布測定<顕微レーザーラマン分光分析>

半導体に用いられるSiCにつけた圧痕周辺の応力分布の測定例!可視光レーザーで分析

当社では、応力分布測定<顕微レーザーラマン分光分析>を行っております。 残留応力は製品に変形や破壊などの様々な悪影響を及ぼします。 その測定方法はいくつかありますが、ラマン分光分析も有効な手段の一つです。 関連リンク先では、半導体に用いられるSiCにつけた圧痕周辺の応力分布の 測定例を、グラフや写真とともにご紹介しております。 【特長】 ■分析装置:RAMAN ■分析方法:可視光レーザー ■分析対象:ラマン活性物質(半導体、カーボン、高分子材等) ■面分解能:約1μm ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • 受託検査

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化合物半導体系超格子サンプルにおける深さ分解能測定

化合物半導体サンプルを試料に、深さ分解能を測定した結果を紹介。

SIMS(二次イオン質量分析法)は数 kV の 1次イオンビーム(O2+ Cs+)を試料 表面に照射し、スパッタされた二次イオンを質量分析して試料中の微量 不純物を分析する事ができる装置です。 Q-pole SIMS(アルバックファイ:ADEPT-1010)によっては、Al0.28Ga0.72As/GaAs を 50nm ずつ分子線エピタキシー(MBE)で成膜した化合物半導体サンプルを 試料として用い、深さ分解能を求めました。 1次イオンビームを最適化したところ、Al0.28Ga0.72As 膜と GaAs 膜の界面での 27Al のプロファイルの傾きから深さ方向分解能を5nmまで高める事が出来ました。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他

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XPSによるバンドギャップの簡易測定

XPSを使用して簡易的に測定することが可能!酸化物系以外の半導体もお問合せください

アイテスでは、『XPSによるバンドギャップの簡易測定』を行っています。 半導体や絶縁物の中で、比較的バンドギャップが広い物質や薄膜の バンドギャップを、XPSを使用して簡易的に測定することが可能。 β-Ga2O3のバンドギャップをO1sのピークを使用して測定を行った際は、 O1sのピーク位置とバンドギャップによるエネルギー損失の端部との差より このβ-Ga2O3のバンドギャップは、約4.9eVと測定されました。 【特長】 ■XPSを使用して簡易的に測定できる ■バンドギャップの広いSiON等の薄膜の簡易測定も可能 ■酸化物系以外の半導体も対応 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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  • 受託測定

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放射能測定

精密測定から現地空間線量測定などの様々な放射能を測定

東日本大震災に続く福島第一原子力発電所の事故により、 放射性物質による土壌などの汚染が生じ、様々な場面で放射能測定の 必要性が増しております。 株式会社クレハ分析センターでは、現地における空間線量の測定や、 ゲルマニウム半導体検出器による精密な測定に迅速に対応いたします。 【特長】 ■空間線量 ・サーベイメーターによる現地測定 ■ゲルマニウム半導体検出器 ・排ガス、粉じん、もえがら、ばいじん、 ・排水汚泥、溶融汚泥、飛灰 ・工場排水、土壌、飲料水、食料、工業製品等を分析 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • 放射線測定器
  • 受託測定
  • その他計測・記録・測定器

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微小部X線回折測定

X線モノキャピラリと半導体検出器との組み合わせ!微小領域の構造解析や微小部分析の測定速度を大幅に向上

X線回折(XRD)は、結晶性物質にX線を照射したときに起こる回折現象を ピークとして捉え、そのパターン、ピーク幅、強度等からその物質の 化合物種の同定や結晶構造に関する情報を得ることが出来ます。 「微小部X線回折装置」では、X線モノキャピラリと半導体検出器との 組み合わせにより、微小領域の構造解析や微小部分析の測定速度を 大幅に向上。 微小物質の化合物形態、残留応力測定等の微小部分における各種調査に 応用出来ます。また、モノキャピラリにより、照射X線を100μmまで 絞ることで、サンプルを100μmの領域で構造解析することが可能です。 モノキャピラリは、全反射によってX線を取り出すため、X線の減衰が 少なく微小部分析に有効です 【特長】 ■微小部分における各種調査に応用可能 ■サンプルを100μmの領域で構造解析することが可能 ■X線の減衰が少なく微小部分析に有効 ■特定部位における測定に有効 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい

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  • 受託測定
  • X線検査装置

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2次元検出器を用いたX線回折測定

XRD:X線回折法

2次元検出器を用いて測定を行うと、回折角(2θ)に加えてあおり方向(χ)の情報も同時に得られます。観測される2次元回折像は材料の結晶性や配向性などの特徴を可視化することが出来るため、配向性が特性に影響する材料の評価に有効です。

  • 受託解析

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LED表面温度測定

LED表面温度測定

LEDチップ表面温度を接触式で高精度に測定することができます。 弊社開発の高速温度測定システムとカスタム熱電対の組合せにり、極小チップの表面温度を部位別に測定することができます。評価受託、システム販売、熱・応力シミュレーションを含めたソリューションサービスまで幅広いサービス提供を行なっております。

  • チップ型LED
  • 受託測定
  • データロガー

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精密測定 【測定の話を、しませんか?】

高精度な加工後は、十分な測定を実施!■業界:自動車(試作)/半導体/ロボット

高精度になればなるほど、測定が重要になってきます。 まず測定環境をご覧頂き、 ものづくりのレベルをお確かめ下さい。 ・ツアイス 3次元測定器 ・高精度形状粗さ測定器 ・テーラーホブソン 真円度測定器 ・走査電子顕微鏡(SEM) ・マール 測長器 ・3Dレーザー顕微鏡 ・デジタルマイクロスコープ ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他機械要素
  • 加工受託

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精密測定【加工が出来ても測定が出来なければ意味がない】

測定機による、加工後の細かな品質チェックも可能! ■業界:自動車(試作)/半導体/ロボット

どんどん高精度で複雑になっていくものづくり。 形は機械があれば作れますが、その精度を保証するというのはまた難しさがあります。 弊社は測定機に関しても積極的に導入して今まで保証できなかった箇所も保証します。 今ある部品の測定でお困りのものがあれば是非御相談下さい。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他機械要素
  • 加工受託

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高純度雰囲気下での前処理・測定

XPS:X線光電子分光法など

高純度不活性ガス雰囲気下で試料前処理、搬送、測定を行うことで表面酸化、水分吸着を抑えた評価が可能です。 ■適用例 ・半導体電極材料  剥離面の評価等には二次汚染、酸化の影響を抑えて評価ができます。 ・有機EL材料  開封から不活性ガス雰囲気下で作業を行うことで、材料の劣化を防ぎます。 ・Li等電池材料  Li等N2雰囲気不可の場合はAr雰囲気で処理を行う等の対応も可能です。

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膜厚測定

膜厚測定に関するアプリケーション情報を詳しく解説します

オーシャンオプティクスは、半導体、産業、医療および消費者市場の アプリケーション向けに光学的および非光学的膜厚特性を測定するための モジュラー式および完全統合型システムの両方を提供しています。 顧客は、シリコンウェーハの厚さを測定し、マスク用のフォトレジスト層を判断し、 コーティングの硬度および摩耗を試験するためのシステムを構成しています。 数量の多いOEMアプリケーション向けコンポーネントも利用できます。 これらのデバイスは、真空紫外から赤外までをカバーし、分光技術を 幅広いアプリケーションに役立てるレベルの精度と再現性を実現します。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • 分光分析装置
  • その他

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圧縮空気の清浄度測定

品質管理の一環として、圧縮空気の清浄度測定を推奨します。 是非、当社までご相談ください。

弊社は、20年以上にわたりJIS B 8392等の規格に基づく圧縮空気の清浄度測定・評価で多数の実績がございます。 圧縮空気(きれいな空気)は、医薬品・半導体・食品などの様々な産業において、幅広く利用されております。その中でも製品に直接あるいは間接的に触れる箇所では【高い等級の清浄度】が求められています。 圧縮空気には、ダスト(粒子)、水分、オイル、微生物といった様々な汚染物質が含まれています。 弊社では、設備の新設時や定期の測定のほかに、汚染原因を目的とした起源調査にも取り組んでいます。 <圧縮空気の清浄度を把握することによる利点> ・圧縮空気を利用したエアーガン吐出空気を製品に吹きつけた際、製品表面に付着する汚染有無の判断材料にご利用できます。 ・圧縮空気を動力とする機械類の圧縮空気による汚染有無の判断材料にご利用できます。 ・クリーンルームなどの清浄度が管理された室内で利用されている圧縮空気を動力とする機械類 よりの排出される空気の汚染有無確認の判断材料にご利用できます。

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技術情報誌 202304-03 分離膜のナノ貫通孔径の選択的測定

水銀透過法の概要及び既存手法との比較事例を通じて、水銀透過法が機能層のナノ貫通孔径を選択的に評価可能な手法であることを紹介する。

技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品質管理等のお役に立つ分析技術の最新情報です。 【要旨】 サステナブルな社会の実現において、優れた透過性能を持つ膜による省エネで低コストな分離・精製技術の開発がエネルギー、半導体、医療など様々な分野で期待されている。膜の透過性能は細孔構造に支配されるため、高度化した細孔構造を評価するための技術が重要となる。ここでは、東レリサーチセンターが独自に開発した水銀透過法の概要、及び既存手法との比較事例を通じて、水銀透過法が機能層のナノ貫通孔径を選択的に評価可能な手法であることを紹介する。 【目次】 1. はじめに 2. 水銀透過法の概要 3. 水銀透過法を適用した事例 4. まとめ

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  • 受託測定
  • 技術書・参考書

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