更新日： 集計期間:2025年11月19日～2025年12月16日
※当サイトの各ページの閲覧回数を元に算出したランキングです。
1～15 件を表示 ／ 全 60 件
食品や井戸水、土壌、飼料、廃棄物など、あらゆる媒体の放射能を測定
『放射能検査』では、放射性物質を高精度に測定することが可能な ゲルマニウム半導体検出器を導入し、平成24年4月1日から適用された 食品中の放射性物質の規格基準に対応した検査を実施します。 また、環境・廃棄物等については環境省の廃棄物ガイドラインに沿って 検査を実施します。 当社は放射性物質の検査を実施できる食品衛生法の登録機関です。 【特長】 ■食品衛生法の登録機関 ■あらゆる媒体の放射能を測定可能 ■高精度ゲルマニウム半導体検出器による核種別測定 ■食品中の放射性物質の規格基準に対応 詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
サーベイメーターによる空間線量率測定！放射能濃度等測定方法ガイドラインにより実施
当社の放射線分析部門は、ISO/IEC17025の認定を受けております。 全国に事業所を配備し専門スタッフが試料採取から分析まで自社で対応。 サーベイメーターによる空間線量率測定を放射能濃度等測定方法ガイドライン により実施します。 ゲルマニウム半導体検出器によるγ線スペクトロメトリーによる放射能核種分析を 実施。ゲルマニウム半導体検出器は自社保有し公益財団法人日本適合性認定協会より 試験所として認定されています。 【特長】 ■当社の放射線分析部門は、ISO/IEC17025の認定を受けている ■全国に事業所を配備し専門スタッフが試料採取から分析まで自社で対応 ■ゲルマニウム半導体検出器によるγ線スペクトロメトリーによる放射能核種分析を実施 ■ゲルマニウム半導体検出器は自社保有し公益財団法人日本適合性認定協会より 試験所として認定されている ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
半導体に用いられるSiCにつけた圧痕周辺の応力分布の測定例！可視光レーザーで分析
当社では、応力分布測定＜顕微レーザーラマン分光分析＞を行っております。 残留応力は製品に変形や破壊などの様々な悪影響を及ぼします。 その測定方法はいくつかありますが、ラマン分光分析も有効な手段の一つです。 関連リンク先では、半導体に用いられるSiCにつけた圧痕周辺の応力分布の 測定例を、グラフや写真とともにご紹介しております。 【特長】 ■分析装置：RAMAN ■分析方法：可視光レーザー ■分析対象：ラマン活性物質（半導体、カーボン、高分子材等） ■面分解能：約1μm ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
化合物半導体サンプルを試料に、深さ分解能を測定した結果を紹介。
SIMS(二次イオン質量分析法)は数 kV の 1次イオンビーム(O2+, Cs+)を試料 表面に照射し、スパッタされた二次イオンを質量分析して試料中の微量 不純物を分析する事ができる装置です。 Q-pole SIMS(アルバックファイ：ADEPT-1010)によっては、Al0.28Ga0.72As/GaAs を 50nm ずつ分子線エピタキシー(MBE)で成膜した化合物半導体サンプルを 試料として用い、深さ分解能を求めました。 1次イオンビームを最適化したところ、Al0.28Ga0.72As 膜と GaAs 膜の界面での 27Al のプロファイルの傾きから深さ方向分解能を5nmまで高める事が出来ました。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
XPSを使用して簡易的に測定することが可能！酸化物系以外の半導体もお問合せください
アイテスでは、『XPSによるバンドギャップの簡易測定』を行っています。 半導体や絶縁物の中で、比較的バンドギャップが広い物質や薄膜の バンドギャップを、XPSを使用して簡易的に測定することが可能。 β-Ga2O3のバンドギャップをO1sのピークを使用して測定を行った際は、 O1sのピーク位置とバンドギャップによるエネルギー損失の端部との差より このβ-Ga2O3のバンドギャップは、約4.9eVと測定されました。 【特長】 ■XPSを使用して簡易的に測定できる ■バンドギャップの広いSiON等の薄膜の簡易測定も可能 ■酸化物系以外の半導体も対応 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
ゲルマニウム半導体検出器、シンチレーション検出器サーベイメータを用いて分析・測定を行います。
タツタ環境分析センターでは『核種分析・放射線量率測定』を行っています。 「水質・食品等の核種分析」 ゲルマニウム半導体検出器による 放射性ヨウ素131及びセシウム137・134の精密分析業務を実施。 「放射線量率測定」 は、現地へ作業員が訪問し、シンチレーション検出器 サーベイメータにてガンマ線等の空間放射線量率を測定します。
精密測定から現地空間線量測定などの様々な放射能を測定
東日本大震災に続く福島第一原子力発電所の事故により、 放射性物質による土壌などの汚染が生じ、様々な場面で放射能測定の 必要性が増しております。 株式会社クレハ分析センターでは、現地における空間線量の測定や、 ゲルマニウム半導体検出器による精密な測定に迅速に対応いたします。 【特長】 ■空間線量 ・サーベイメーターによる現地測定 ■ゲルマニウム半導体検出器 ・排ガス、粉じん、もえがら、ばいじん、 ・排水汚泥、溶融汚泥、飛灰 ・工場排水、土壌、飲料水、食料、工業製品等を分析 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
X線モノキャピラリと半導体検出器との組み合わせ！微小領域の構造解析や微小部分析の測定速度を大幅に向上
X線回折（XRD）は、結晶性物質にX線を照射したときに起こる回折現象を ピークとして捉え、そのパターン、ピーク幅、強度等からその物質の 化合物種の同定や結晶構造に関する情報を得ることが出来ます。 「微小部X線回折装置」では、X線モノキャピラリと半導体検出器との 組み合わせにより、微小領域の構造解析や微小部分析の測定速度を 大幅に向上。 微小物質の化合物形態、残留応力測定等の微小部分における各種調査に 応用出来ます。また、モノキャピラリにより、照射X線を100μmまで 絞ることで、サンプルを100μmの領域で構造解析することが可能です。 モノキャピラリは、全反射によってX線を取り出すため、X線の減衰が 少なく微小部分析に有効です 【特長】 ■微小部分における各種調査に応用可能 ■サンプルを100μmの領域で構造解析することが可能 ■X線の減衰が少なく微小部分析に有効 ■特定部位における測定に有効 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい
XRD：X線回折法
2次元検出器を用いて測定を行うと、回折角(2θ)に加えてあおり方向(χ)の情報も同時に得られます。観測される2次元回折像は材料の結晶性や配向性などの特徴を可視化することが出来るため、配向性が特性に影響する材料の評価に有効です。
風評被害防止のために各種測定方法により放射線の測定に対応してまいります
東日本大震災による福島第一原発事故を受け、放射性物質測定の需要が高まっています。内藤環境管理株式会社では風評被害防止のために各種測定方法により放射線の測定に対応してまいります。測定内容としては、「NaI（TI）シンチレーションスペクトロメータによる放射能の測定」「ゲルマニウム半導体検出器を用いたガンマ線スペクトロメトリーによる核種分析」「GM計数管式サーベイメータによる放射線量の測定」などに対応しております。 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。
LED表面温度測定
LEDチップ表面温度を接触式で高精度に測定することができます。 弊社開発の高速温度測定システムとカスタム熱電対の組合せにり、極小チップの表面温度を部位別に測定することができます。評価受託、システム販売、熱・応力シミュレーションを含めたソリューションサービスまで幅広いサービス提供を行なっております。
Transient Thermal Resistance Measurement
・JESD51-14に基づいてパワーデバイス、放熱基板などの過渡熱抵抗値(Rthjc)を測定します。 ・パワーデバイスであれば実機のまま試験可能です。放熱基板等を試験する場合には発熱源として 各種半導体チップを実装する必要があります。 ・試験用デバイスの試作も対応しており、部材単体のご提供でも評価が可能です。
高精度な加工後は、十分な測定を実施！■業界：自動車（試作）／半導体／ロボット
高精度になればなるほど、測定が重要になってきます。 まず測定環境をご覧頂き、 ものづくりのレベルをお確かめ下さい。 ・ツアイス 3次元測定器 ・高精度形状粗さ測定器 ・テーラーホブソン 真円度測定器 ・走査電子顕微鏡(SEM) ・マール 測長器 ・3Dレーザー顕微鏡 ・デジタルマイクロスコープ ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
測定機による、加工後の細かな品質チェックも可能！ ■業界：自動車（試作）／半導体／ロボット
どんどん高精度で複雑になっていくものづくり。 形は機械があれば作れますが、その精度を保証するというのはまた難しさがあります。 弊社は測定機に関しても積極的に導入して今まで保証できなかった箇所も保証します。 今ある部品の測定でお困りのものがあれば是非御相談下さい。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
フィラー、セラミックス、絶縁薄膜、半導体薄膜等、薄膜・微小領域の熱伝導評価に！！
この装置は、世界最小クラスの分解能を誇る、革新的な熱物性測定装置です。 サンプルの熱物性を点、線、面の各レベルで詳細に測定することが可能で、従来の装置では難しかったミクロンオーダーの熱物性値分布も正確に捉えます。 さらに、この装置は非接触測定でありながら、高分解能を実現しており、従来技術では不可能だった領域を新たに開拓しました。世界初の技術を搭載し、熱浸透率の測定に加え、好条件下では熱伝導率も直接測定可能です。 この装置は、研究開発において精密な熱物性解析を必要とする場面で、他に類を見ない性能を発揮します。 〇測定原理について〇 この装置の測定原理はサーモリフレクタンス法と言う手法になります。 材料の表面温度を高精度で測定する手法の一つで、特に微小領域や薄膜材料の熱特性を調べるために使われます。 この方法は、材料の表面温度変化に伴う反射率の変化を検出し、その変化から温度を測定する技術です。 得られる結果は熱浸透率と言うパラメーターです。 熱浸透率とは物質と物質が接しているときに熱をどれだけ奪い取るかを示す物理量です。 比熱と密度により、熱伝導率や熱拡散率と相互に変換できます。
