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測定(半導体) - メーカー・企業と業務用製品 | イプロスものづくり

更新日: 集計期間:2026年02月18日~2026年03月17日
※当サイトの各ページの閲覧回数を元に算出したランキングです。

測定の製品一覧

1~30 件を表示 / 全 69 件

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分析・測定『放射能検査』

食品や井戸水、土壌、飼料、廃棄物など、あらゆる媒体の放射能を測定

『放射能検査』では、放射性物質を高精度に測定することが可能な ゲルマニウム半導体検出器を導入し、平成24年4月1日から適用された 食品中の放射性物質の規格基準に対応した検査を実施します。 また、環境・廃棄物等については環境省の廃棄物ガイドラインに沿って 検査を実施します。 当社は放射性物質の検査を実施できる食品衛生法の登録機関です。 【特長】 ■食品衛生法の登録機関 ■あらゆる媒体の放射能を測定可能 ■高精度ゲルマニウム半導体検出器による核種別測定 ■食品中の放射性物質の規格基準に対応 詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • 分析機器・装置
  • 受託測定
  • 放射線測定器
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応力分布測定<顕微レーザーラマン分光分析>

半導体に用いられるSiCにつけた圧痕周辺の応力分布の測定例!可視光レーザーで分析

当社では、応力分布測定<顕微レーザーラマン分光分析>を行っております。 残留応力は製品に変形や破壊などの様々な悪影響を及ぼします。 その測定方法はいくつかありますが、ラマン分光分析も有効な手段の一つです。 関連リンク先では、半導体に用いられるSiCにつけた圧痕周辺の応力分布の 測定例を、グラフや写真とともにご紹介しております。 【特長】 ■分析装置:RAMAN ■分析方法:可視光レーザー ■分析対象:ラマン活性物質(半導体、カーボン、高分子材等) ■面分解能:約1μm ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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放射能測定

サーベイメーターによる空間線量率測定!放射能濃度等測定方法ガイドラインにより実施

当社の放射線分析部門は、ISO/IEC17025の認定を受けております。 全国に事業所を配備し専門スタッフが試料採取から分析まで自社で対応。 サーベイメーターによる空間線量率測定を放射能濃度等測定方法ガイドライン により実施します。 ゲルマニウム半導体検出器によるγ線スペクトロメトリーによる放射能核種分析を 実施。ゲルマニウム半導体検出器は自社保有し公益財団法人日本適合性認定協会より 試験所として認定されています。 【特長】 ■当社の放射線分析部門は、ISO/IEC17025の認定を受けている ■全国に事業所を配備し専門スタッフが試料採取から分析まで自社で対応 ■ゲルマニウム半導体検出器によるγ線スペクトロメトリーによる放射能核種分析を実施 ■ゲルマニウム半導体検出器は自社保有し公益財団法人日本適合性認定協会より  試験所として認定されている ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • 受託測定
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化合物半導体系超格子サンプルにおける深さ分解能測定

化合物半導体サンプルを試料に、深さ分解能を測定した結果を紹介。

SIMS(二次イオン質量分析法)は数 kV の 1次イオンビーム(O2+, Cs+)を試料 表面に照射し、スパッタされた二次イオンを質量分析して試料中の微量 不純物を分析する事ができる装置です。 Q-pole SIMS(アルバックファイ:ADEPT-1010)によっては、Al0.28Ga0.72As/GaAs を 50nm ずつ分子線エピタキシー(MBE)で成膜した化合物半導体サンプルを 試料として用い、深さ分解能を求めました。 1次イオンビームを最適化したところ、Al0.28Ga0.72As 膜と GaAs 膜の界面での 27Al のプロファイルの傾きから深さ方向分解能を5nmまで高める事が出来ました。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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XPSによるバンドギャップの簡易測定

XPSを使用して簡易的に測定することが可能!酸化物系以外の半導体もお問合せください

アイテスでは、『XPSによるバンドギャップの簡易測定』を行っています。 半導体や絶縁物の中で、比較的バンドギャップが広い物質や薄膜の バンドギャップを、XPSを使用して簡易的に測定することが可能。 β-Ga2O3のバンドギャップをO1sのピークを使用して測定を行った際は、 O1sのピーク位置とバンドギャップによるエネルギー損失の端部との差より このβ-Ga2O3のバンドギャップは、約4.9eVと測定されました。 【特長】 ■XPSを使用して簡易的に測定できる ■バンドギャップの広いSiON等の薄膜の簡易測定も可能 ■酸化物系以外の半導体も対応 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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放射能測定

精密測定から現地空間線量測定などの様々な放射能を測定

東日本大震災に続く福島第一原子力発電所の事故により、 放射性物質による土壌などの汚染が生じ、様々な場面で放射能測定の 必要性が増しております。 株式会社クレハ分析センターでは、現地における空間線量の測定や、 ゲルマニウム半導体検出器による精密な測定に迅速に対応いたします。 【特長】 ■空間線量 ・サーベイメーターによる現地測定 ■ゲルマニウム半導体検出器 ・排ガス、粉じん、もえがら、ばいじん、 ・排水汚泥、溶融汚泥、飛灰 ・工場排水、土壌、飲料水、食料、工業製品等を分析 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • 放射線測定器
  • 受託測定
  • その他計測・記録・測定器
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微小部X線回折測定

X線モノキャピラリと半導体検出器との組み合わせ!微小領域の構造解析や微小部分析の測定速度を大幅に向上

X線回折(XRD)は、結晶性物質にX線を照射したときに起こる回折現象を ピークとして捉え、そのパターン、ピーク幅、強度等からその物質の 化合物種の同定や結晶構造に関する情報を得ることが出来ます。 「微小部X線回折装置」では、X線モノキャピラリと半導体検出器との 組み合わせにより、微小領域の構造解析や微小部分析の測定速度を 大幅に向上。 微小物質の化合物形態、残留応力測定等の微小部分における各種調査に 応用出来ます。また、モノキャピラリにより、照射X線を100μmまで 絞ることで、サンプルを100μmの領域で構造解析することが可能です。 モノキャピラリは、全反射によってX線を取り出すため、X線の減衰が 少なく微小部分析に有効です 【特長】 ■微小部分における各種調査に応用可能 ■サンプルを100μmの領域で構造解析することが可能 ■X線の減衰が少なく微小部分析に有効 ■特定部位における測定に有効 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい

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  • 受託測定
  • X線検査装置
  • 測定

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LED表面温度測定

LED表面温度測定

LEDチップ表面温度を接触式で高精度に測定することができます。 弊社開発の高速温度測定システムとカスタム熱電対の組合せにり、極小チップの表面温度を部位別に測定することができます。評価受託、システム販売、熱・応力シミュレーションを含めたソリューションサービスまで幅広いサービス提供を行なっております。

  • チップ型LED
  • 受託測定
  • データロガー
  • 測定

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2次元検出器を用いたX線回折測定

XRD:X線回折法

2次元検出器を用いて測定を行うと、回折角(2θ)に加えてあおり方向(χ)の情報も同時に得られます。観測される2次元回折像は材料の結晶性や配向性などの特徴を可視化することが出来るため、配向性が特性に影響する材料の評価に有効です。

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放射性物質分析 放射性物質の測定

風評被害防止のために各種測定方法により放射線の測定に対応してまいります

東日本大震災による福島第一原発事故を受け、放射性物質測定の需要が高まっています。内藤環境管理株式会社では風評被害防止のために各種測定方法により放射線の測定に対応してまいります。測定内容としては、「NaI(TI)シンチレーションスペクトロメータによる放射能の測定」「ゲルマニウム半導体検出器を用いたガンマ線スペクトロメトリーによる核種分析」「GM計数管式サーベイメータによる放射線量の測定」などに対応しております。 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。

  • 受託検査
  • 測定

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過渡熱抵抗測定

Transient Thermal Resistance Measurement

・JESD51-14に基づいてパワーデバイス、放熱基板などの過渡熱抵抗値(Rthjc)を測定します。 ・パワーデバイスであれば実機のまま試験可能です。放熱基板等を試験する場合には発熱源として 各種半導体チップを実装する必要があります。 ・試験用デバイスの試作も対応しており、部材単体のご提供でも評価が可能です。

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精密測定 【測定の話を、しませんか?】

高精度な加工後は、十分な測定を実施!■業界:自動車(試作)/半導体/ロボット

高精度になればなるほど、測定が重要になってきます。 まず測定環境をご覧頂き、 ものづくりのレベルをお確かめ下さい。 ・ツアイス 3次元測定器 ・高精度形状粗さ測定器 ・テーラーホブソン 真円度測定器 ・走査電子顕微鏡(SEM) ・マール 測長器 ・3Dレーザー顕微鏡 ・デジタルマイクロスコープ ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他機械要素
  • 加工受託
  • 測定

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精密測定【加工が出来ても測定が出来なければ意味がない】

測定機による、加工後の細かな品質チェックも可能! ■業界:自動車(試作)/半導体/ロボット

どんどん高精度で複雑になっていくものづくり。 形は機械があれば作れますが、その精度を保証するというのはまた難しさがあります。 弊社は測定機に関しても積極的に導入して今まで保証できなかった箇所も保証します。 今ある部品の測定でお困りのものがあれば是非御相談下さい。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他機械要素
  • 加工受託
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高純度雰囲気下での前処理・測定

XPS:X線光電子分光法など

高純度不活性ガス雰囲気下で試料前処理、搬送、測定を行うことで表面酸化、水分吸着を抑えた評価が可能です。 ■適用例 ・半導体電極材料  剥離面の評価等には二次汚染、酸化の影響を抑えて評価ができます。 ・有機EL材料  開封から不活性ガス雰囲気下で作業を行うことで、材料の劣化を防ぎます。 ・Li等電池材料  Li等N2雰囲気不可の場合はAr雰囲気で処理を行う等の対応も可能です。

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サーマルマイクロスコープ/TM3 薄膜、微小領域熱伝導率測定

フィラー、セラミックス、絶縁薄膜、半導体薄膜等、薄膜・微小領域の熱伝導評価に!!

この装置は、世界最小クラスの分解能を誇る、革新的な熱物性測定装置です。 サンプルの熱物性を点、線、面の各レベルで詳細に測定することが可能で、従来の装置では難しかったミクロンオーダーの熱物性値分布も正確に捉えます。 さらに、この装置は非接触測定でありながら、高分解能を実現しており、従来技術では不可能だった領域を新たに開拓しました。世界初の技術を搭載し、熱浸透率の測定に加え、好条件下では熱伝導率も直接測定可能です。 この装置は、研究開発において精密な熱物性解析を必要とする場面で、他に類を見ない性能を発揮します。 〇測定原理について〇 この装置の測定原理はサーモリフレクタンス法と言う手法になります。 材料の表面温度を高精度で測定する手法の一つで、特に微小領域や薄膜材料の熱特性を調べるために使われます。 この方法は、材料の表面温度変化に伴う反射率の変化を検出し、その変化から温度を測定する技術です。 得られる結果は熱浸透率と言うパラメーターです。 熱浸透率とは物質と物質が接しているときに熱をどれだけ奪い取るかを示す物理量です。 比熱と密度により、熱伝導率や熱拡散率と相互に変換できます。

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三次元座標測定

加工のみならず、検査まで可能!高精度加工や測定の課題を解決いたします

株式会社林田技研では、「三次元座標測定」を承っております。 東京精密製の三次元座標測定器を保有しており、加工のみならず、 検査まで可能。 金属加工、半導体、航空宇宙業界などで高精度加工や測定にお困りの方、 思うように精度が出ずお困りの方や外注先がなかなか見つからない方の 課題を解決いたします。 【製品概要】 ■加工対応サイズ:概ねφ500程度まで ■数量:単品小ロット(1個~100個程度まで) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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膜厚測定

膜厚測定に関するアプリケーション情報を詳しく解説します

オーシャンオプティクスは、半導体、産業、医療および消費者市場の アプリケーション向けに光学的および非光学的膜厚特性を測定するための モジュラー式および完全統合型システムの両方を提供しています。 顧客は、シリコンウェーハの厚さを測定し、マスク用のフォトレジスト層を判断し、 コーティングの硬度および摩耗を試験するためのシステムを構成しています。 数量の多いOEMアプリケーション向けコンポーネントも利用できます。 これらのデバイスは、真空紫外から赤外までをカバーし、分光技術を 幅広いアプリケーションに役立てるレベルの精度と再現性を実現します。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • 分光分析装置
  • その他
  • 測定

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マイクロエレクトロニクス産業向けTOC測定

ウェハーの品質と収率の向上!超純水の比抵抗とTOC測定

当資料では、マイクロエレクトロニクス産業向けTOC測定について ご紹介しております。 オンライン比抵抗とTOC分析の重要性やリアルタイムの連続的な比抵抗と TOCのモニタリングなどについて図や画像を用いて詳しくご紹介。 参考になる一冊ですので、ぜひご一読ください。 【掲載内容】 ■オンライン比抵抗とTOC分析の重要性 ■半導体製造における超純水 ■リアルタイムの連続的な比抵抗とTOCのモニタリング ■高度なセンサ技術がプロセスを簡素化 ■まとめ ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、メトラートレドへお気軽にお問い合わせください。

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圧縮空気の清浄度測定

品質管理の一環として、圧縮空気の清浄度測定を推奨します。 是非、当社までご相談ください。

弊社は、20年以上にわたりJIS B 8392等の規格に基づく圧縮空気の清浄度測定・評価で多数の実績がございます。 圧縮空気(きれいな空気)は、医薬品・半導体・食品などの様々な産業において、幅広く利用されております。その中でも製品に直接あるいは間接的に触れる箇所では【高い等級の清浄度】が求められています。 圧縮空気には、ダスト(粒子)、水分、オイル、微生物といった様々な汚染物質が含まれています。 弊社では、設備の新設時や定期の測定のほかに、汚染原因を目的とした起源調査にも取り組んでいます。 <圧縮空気の清浄度を把握することによる利点> ・圧縮空気を利用したエアーガン吐出空気を製品に吹きつけた際、製品表面に付着する汚染有無の判断材料にご利用できます。 ・圧縮空気を動力とする機械類の圧縮空気による汚染有無の判断材料にご利用できます。 ・クリーンルームなどの清浄度が管理された室内で利用されている圧縮空気を動力とする機械類 よりの排出される空気の汚染有無確認の判断材料にご利用できます。

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技術情報誌 202304-03 分離膜のナノ貫通孔径の選択的測定

水銀透過法の概要及び既存手法との比較事例を通じて、水銀透過法が機能層のナノ貫通孔径を選択的に評価可能な手法であることを紹介する。

技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品質管理等のお役に立つ分析技術の最新情報です。 【要旨】 サステナブルな社会の実現において、優れた透過性能を持つ膜による省エネで低コストな分離・精製技術の開発がエネルギー、半導体、医療など様々な分野で期待されている。膜の透過性能は細孔構造に支配されるため、高度化した細孔構造を評価するための技術が重要となる。ここでは、東レリサーチセンターが独自に開発した水銀透過法の概要、及び既存手法との比較事例を通じて、水銀透過法が機能層のナノ貫通孔径を選択的に評価可能な手法であることを紹介する。 【目次】 1. はじめに 2. 水銀透過法の概要 3. 水銀透過法を適用した事例 4. まとめ

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  • 受託測定
  • 技術書・参考書
  • 測定

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サーマルマイクロスコープ カタログ 薄膜熱浸透・熱伝導率測定

アルミナフィラーや、半導体レーザの電極部といった薄膜微小領域の熱浸透率・熱伝導率が測定できる!

当カタログは、「サーマルマイクロスコープTM3B」の製品カタログです。 マイクロメーターサイズの熱浸透率測定が可能で、フィラーや薄膜の 熱浸透率測定・熱伝導率測定に好適な製品。 特長や測定原理、装置構成なども掲載しております。 ぜひ、ダウンロードしてご覧ください。 【掲載内容】 ■特長 ■測定原理 ■装置構成 ■測定事例 ■仕様 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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技術資料『圧縮空気の清浄度測定』

圧縮空気の清浄度に関わる規格・規定された試験方法を紹介した技術資料

技術資料『圧縮空気の清浄度測定』は、医療・製薬関連、食品等の衛生関連や半導体等の高度技術関連のような清浄度の高い圧縮空気を必要とする用途で活用されている、圧縮空気の清浄度測定について掲載した資料です。 本資料では「圧縮空気の清浄度に関わる規格、その中に規定された試験方法」を紹介しています。 【掲載内容】 ■圧縮空気の清浄度にかかわるJIS規格 ■圧縮空気の清浄等級と測定方法 ■ガス状汚染物質、微生物汚染物質 など 詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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光沢面・透明な表面の測定に。様々な素材を光学式で3D表面形状測定

小型化・高機能化が加速する高性能電子部品。多様化する素材にグローバルで支持される光学式3D表面形状測定機『MarSurf CL』

形状測定やキズの検出にかかる時間を大幅に短縮、全数検査も実現可能です。 光沢面・透明な表面の測定に好適。高分解能で、微小なキズの検出や極小部位の測定も可能。 192本のプロフィールを取得するクロマチックラインセンサーCLが 非接触での平面の高速測定を可能にします。 ★PDFダウンロードより測定事例を掲載した資料を進呈中! 掲載測定事例/電子部品・半導体 他多数 ■測定部品例 - □評価項目例 ■ウエハー -バンプ - □断面粗さ(R/2D)□形状・寸法□ステップハイト□3D高さ・2Dサイズ ■マイクロビア - □ステップハイト□断面粗さ(R/2D) ■ワイヤーボンディング - □ステップハイト(ループ高さ)□トポグラフィーレイヤー□形状 ■表面実装部品 - □位置度、寸法□ステップハイト ■ダイアタッチ - □3D画像□厚さ、高さ□最大高さ□サイズ □表面粗さ(S/3D)<ISO 25178準拠>□形状(高さ、輪郭)□ステップハイト ■フィルム - □厚み ■携帯電話用スピーカー - □表面粗さ(S/3D)<ISO 25178準拠>、平坦度 ■ウエハ― - □研磨□反り

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低分子シロキサンの測定

比較的低分子量の環状、鎖状シロキサンを含む気体を測定し分離、検出が可能か確認!

低分子シロキサンはシリコーン製品の原料やドライクリーニング用溶媒、 化粧品の添加剤等で広く使用されています。 沸点が高いにもかかわらず揮発性が高い特長を持ち室温においても容易に 気中に拡散し、揮発後の再付着により半導体製造装置のレンズ曇りや 絶縁膜の耐圧低下、接点不良などの悪影響を及ぼすことが知られています。 今回は低分子シロキサンのうち比較的低分子量の環状、鎖状シロキサンを 含む気体を測定し分離、検出が可能か確認しました。詳細は、PDF資料より ご確認いただけます。是非、ご覧ください。 【概要】 ■Sylphによる分析 ・低分子シロキサンのうち環状シロキサン(D3,D4,D5,D6)と鎖状のシロキサン  (M2,M3,M4,M5)をアセトン溶媒で希釈し、窒素を封入したガスバッグに注入後、  ガスをSylphに導入し測定 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

  • その他 分析・検査機器
  • 測定

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サービス『クリーンルーム測定・調整』

医薬品製造におけるバリデーションや、クリーンルームを維持するための測定を実施

当社では、クリーンルームの測定・調整を行っております。 クリーンルームの性能評価測定、報告書の提出、医薬品製造における バリテーションのお手伝いをします。 半導体、精密機械などの空気中における浮遊微粒子を制御する インダストリアルクリーンルーム(ICR)、病院手術室等の ウイルス・細菌の感染防止、そして医薬品などの浮遊微生物を制御する バイオロジカルクリーンルーム(BCR)。 クリーンルーム維持管理には測定・分析・検証が欠かせません。 【測定の種類】 ■室間差圧測定 ■空調設備バリデーション ■環境測定 ■風量測定 など ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • クリーンベンチ
  • その他クリーンルーム用機器・設備
  • 受託測定
  • 測定

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TOC計 インライン測定

TOCの増減や水質変動を瞬時に高精度で検出可能!メンテナンスフリーで、ランニングコストも低減。

紫外線照射量、サンプル水量、測定アルゴリズムを制御・応用し、 サンプル水の酸化前後の導電率量の増減を指標としてTOC(全有機炭素)の測定を行います。 従来は、バッチ方式による測定やポンプ等の駆動部を使用した構造を主体とした測定技術が主流でしたが、 各測定技術のデメリットを補うことにより、 瞬時のTOCの増減や水質変動を精度良く検出することが可能となり、更にはフリーメンテナンス、ランニングコストの低減をも実現することが可能となりました。 ※詳しくはPDFダウンロードまたはお気軽にお問い合わせください。

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【サービス】気体・液体の流量測定

配管を切らずにすぐ測定!目的に対して専門のエンジニアが的確な測定データをご提供

当社では、『気体・液体の流量測定』サービスを行っております。 当サービスは、設備の性能試験や機能試験において配管の保温材取り外し だけで外部より非破壊で測定することができます。 配管の外部より測定でき、常設流量計設置に係る費用と時間を大幅削減可能。 給水量ピーク調査、空調設備の更新提案、引渡し前の試運転など多様な現場や 目的に対して専門のエンジニアが的確な測定データをご提供いたします。 【特長】 ■超音波流量計(各サービスセンターで計8台)を所有しており、 緊急な現場、多台数が必要な大きな現場でも対応可能 ■専門のエンジニアに測定からデータ処理までお任せできる ■抜管、超音波肉厚測定、内視鏡調査、X線検査と併せて水漏れ  原因調査としてもご提案可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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放射能測定

空間放射線量の測定!迅速分析により試料到着後、当日~3日後速報が可能です

福島原子力発電所の事故に伴い、各地における土壌、汚泥、飼料、 食品(牛肉、米、茶)等の放射線汚染が懸念されています。 当社では、かかる現状に対処して、皆様の安心、安全のサポートの為、 放射線測定業務を実施。 空間放射線量を測定をし、核種毎(例:ヨウ素131、セシウム134、セシウム137等) の試料中の放射能を分析します。迅速分析により試料到着後、当日~3日後 速報が可能です。 【測定対象】 ■食品(牛肉、魚介類、牛乳、米、茶、その他)、飲料水、  飼料、土壌、腐葉土、煤塵、汚泥等 ■試料中の放射性物質を核種毎に測定 (例:セシウム137、セシウム134、ヨウ素131等) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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水素濃度を正確に測定!『工業用溶存水素計 HYA-110S』

レンタル導入OK!高精度で液中の水素濃度を測定!温度が変わる液体も測定可能。

『HYA-100S』は工業用・研究用に広く使われている水素ガス溶解液の濃度を計測する装置。コンパクトながら高精度のモニタリングを実現します。 導入コストが気になる方には、レンタルでの短期間利用も可能!コストを抑えながら、高い精度の結果を得られます。お気軽にお問い合せ下さい。 【特長】 ■“温度補償回路”で、温度変化がある試料液でも測定可能 ■出力接点に、接点容量の大きなリレーを採用し、  ポンプや電磁弁の直接駆動が可能です ■奥行きは126mm。市販の制御盤にも簡単に取付けできる小ささです

  • その他理化学機器
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クロマティックコンフォーカル技術、厚さ測定向け非接触式測定

デリケートなワークを傷つけず、破壊検査なしで高品質なワークを生産可能。ワークや環境の変動に強い完全同期システムです。

クロマティックコンフォーカル測定技術を使用したセンサー及びコントローラー。 お客様のワークや環境にあわせて各種ご提供します。世界の自動車・半導体・ガラス業界などで利用されています。 <利点> - 柔らかい素材や透明でない素材の測定に適した非接触技術 (例. アルミロール、銅ロール、リチウムイオン電池セパレーター) - 5µmから層の厚さを測定可能 - インラインでの使用に適した広い測定範囲 - 高感度、高精度 (実際のアプリケーションにおける総厚さの再現性範囲は1µm以内) - 測定フォークまたはゲージング機器一式の提供可能 - Quick-SPCソフトウェアオプションにより、統計処理とデータ転送が可能 下記の課題をお持ちのお客様はぜひ、PDFダウンロードの上、ご相談ください。 - ワークや環境の変動 - 複数のセンサーを使用した同期 - 機械的位置合わせ(傾斜またはずれ) - 測定の詳細把握 - カスタマイズが必要な特別なアプリケーション ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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