更新日： 集計期間:2025年08月20日～2025年09月16日
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観察から始まり分析まで問題解決のお手伝いをいたします！
めっきなど金属表面処理は装飾性を向上するものから機能性を 付与するなど様々な用途で使用されています。しかし、表面に 異物が付着するとそれら機能に問題が発生します。 当社では、金属表面処理加工品などを表面及び断面から 観察分析を行っています。 さらに断面をArガスによるスパッタエッチングすることで めっき皮膜の結晶を観察することができます。 表面処理の異常でお困りが有りましたら御連絡ください。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
問題解決力で最適な観察・分析方法をご提案致します。
断面研磨、表面・断面観察、非破壊検査、元素分析、化学分析をサービスの中心として、解析目的に合った各種の観察・分析方法をご提案いたします。 ■解析目的に合った観察・分析方法をご提案 試料の材質・状態、解析の目的など各種の条件によって、観察・分析の方法にも選択肢が数多く存在します。その選択肢の中からより適切な方法をご提案いたします。 ■短納期・低価格のご対応 観察・分析のアウトソーシングサービスに求められるのは品質はもちろんのこと、スピードと価格も重要であると考えます。業界の標準的な納期・価格に対して、JTLでは更なる短納期化・低価格化を実現しました。
【無料プレゼント】MIRS法を応用した新たなアプローチである製品をご紹介
シリコンウェハー (Si ウェハー)表面の特性は、材料としての機能性に 大きく影響し、とくにウェハー表面に形成される各種薄膜の化学的評価が ますます重要となっています。 当資料で紹介する「Wafer ATR」は、いわゆるMIRS法を応用した新たな アプローチであり、フランス原子力庁電子情報研究所CEA-Letiの グループとの研究成果を製品化したものです。 【掲載内容】 ■はじめに ■Wafer ATR(ウェハーATR) ・多重内部反射による感度の向上 ・測定時の必要事項 ■測定例 ■判別分析 ■まとめ ■参考文献 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
金属部品に付着している残留油分量の測定が可能です。
金属部品は製造工程で様々な「油」が使用されますが、表面に付着した油が塗装、表面処理等の後工程で不良の原因となる場合があります。不良の発生を避けるために、部品に付着した油分量の管理が重要となります。FT-IRを用いることにより残留油分定量が可能です。
HAXPES：硬X線光電子分光法
HAXPESでは、試料表面から深い位置まで（～約50nm）の情報を得る事が可能です。さらに2次元検出器を用いた角度分解測定により、広い光電子取出角で取得したデータを、角度すなわち検出深さを変えた情報に分割することができます。これにより、非破壊でXPSよりも深い位置までの深さ方向結合状態比較が可能です。状態変化が極表面のみに留まらずバルクの中まで進んでいるような材料の評価に有効です。
化合物半導体サンプルを試料に、深さ分解能を測定した結果を紹介。
SIMS(二次イオン質量分析法)は数 kV の 1次イオンビーム(O2+, Cs+)を試料 表面に照射し、スパッタされた二次イオンを質量分析して試料中の微量 不純物を分析する事ができる装置です。 Q-pole SIMS(アルバックファイ：ADEPT-1010)によっては、Al0.28Ga0.72As/GaAs を 50nm ずつ分子線エピタキシー(MBE)で成膜した化合物半導体サンプルを 試料として用い、深さ分解能を求めました。 1次イオンビームを最適化したところ、Al0.28Ga0.72As 膜と GaAs 膜の界面での 27Al のプロファイルの傾きから深さ方向分解能を5nmまで高める事が出来ました。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
XRDにより非破壊での残留応力測定が可能です。
試料にX線を照射し、非破壊で残留応力を測定します。装置が小型で設置場所の自由度が高いため、大型試料測定や現地測定が可能です。また、測定時に角度を可変させることなく測定できるため、短時間（<5min）で測定可能です。
肌に接触した測定プローブの内部よりガラス窓に向けて青色LEDを光らせ、 それがガラス窓を通して肌に照射されます。
肌の皮脂量は、光の屈折率による測定をしております。 肌に接触した測定プローブの内部より、ガラス窓に向けて青色LEDを光らせ、 それがガラス窓を通して肌に照射されます。肌に吸収され屈折した光は、再度ガラス窓を通って受信部に戻り、 その反射光量から演算することで、肌表面における皮脂量を測定しております。 取り扱い製品には、工場の「品質管理用検査システム」などの 技術に代表される「正確に測定する技術」をベースとしています。 化粧品の研究開発・企画・設計や、 製品のテスト・品質管理にもご利用いただけます。 例えば、 ■肌診断機のカスタマイズを行いたい ■研究所向けの測定・分析機器を開発したい ■アプリケーションや既存の測定機器に、肌測定の技術を組み込みたい 等のご要望にお応えすることが可能です。 ※詳しくはPDFをダウンロードいただくか、お問い合わせください。
品質管理の一環として、圧縮空気の清浄度測定を推奨します。 是非、当社までご相談ください。
弊社は、２０年以上にわたりJIS B 8392等の規格に基づく圧縮空気の清浄度測定・評価で多数の実績がございます。 圧縮空気（きれいな空気）は、医薬品・半導体・食品などの様々な産業において、幅広く利用されております。その中でも製品に直接あるいは間接的に触れる箇所では【高い等級の清浄度】が求められています。 圧縮空気には、ダスト（粒子）、水分、オイル、微生物といった様々な汚染物質が含まれています。 弊社では、設備の新設時や定期の測定のほかに、汚染原因を目的とした起源調査にも取り組んでいます。 ＜圧縮空気の清浄度を把握することによる利点＞ ・圧縮空気を利用したエアーガン吐出空気を製品に吹きつけた際、製品表面に付着する汚染有無の判断材料にご利用できます。 ・圧縮空気を動力とする機械類の圧縮空気による汚染有無の判断材料にご利用できます。 ・クリーンルームなどの清浄度が管理された室内で利用されている圧縮空気を動力とする機械類 よりの排出される空気の汚染有無確認の判断材料にご利用できます。
ON/OFFサイクル設定や300℃高温環境下での測定も可能！
電気測定時、接触部で何が起こっているのか？接触抵抗値はどのように経時変化するのか？400Aなど大電流通電時の発熱温度はどれくらいか？300℃の高温環境の中で、接触抵抗値はどれくらいなのか？実測することで実際に何が起こっているのかデータ化が可能です。また数種類の装置を組み合せることで、より実情に近い形の測定に近づけることもできます。見学依頼も随時受け付けています。詳しくは、ホームページからお問い合わせください。 ○http://www.sankei-engineering.com/○
環境温度-180～1000℃対応可能！分析にご活用ください。
電気測定時、接触部で何が起こっているのか？接触抵抗値はどのように経時変化するのか？400Aなど大電流通電時の発熱温度はどれくらいか？300℃の高温環境の中で、接触抵抗値はどれくらいなのか？実測することで実際に何が起こっているのかデータ化が可能です。また数種類の装置を組み合せることで、より実情に近い形の測定に近づけることもできます。見学依頼も随時受け付けています。詳しくは、ホームページからお問い合わせください。 ○http://www.sankei-engineering.com/○
最短半日見積り／プラスチック、ゴムなどの柔らかい製品測定には非接触型測定機で変形させずに計測が可能です。
樹脂、プラスチック、ゴム等の柔らかい製品は ノギス等で挟んで測定しようとしても変形したりして ‟測定が難しい” です。 測定者によっても誤差が生じます。特にゴム製のOリングはその代表例です。 当社では、そういった際、非接触型の測定器を使用しています。 画像寸法測定器（キーエンス）／IM-8000は、 画像を用いて測定を行なう非接触式の測定機なので、 対象物を変形させることなく、ゴムなどの柔らかい加工部品 の精密計測する事が可能です。 伸びたり縮んだり、変形しやすい製品の寸法測定でお悩みの方は 当社の「計測サービス」をご活用下さい。 その他、金型部品、樹脂成型品の測定を得意としており、 デジタル機器を使用した、幾何公差の測定・評価だけに 留まらず曲面、表面粗さ、真円度もお受けしております。 30年以上にわたり、様々な取引先企業様へ加工部品を提供して参りました。 そこで得た検査の技術を元に計測サービスを実施しております。 半導体、自動車、電子機器、医療、食品など 幅広い業界との実績がございます。 詳しくはお問い合わせ、またはホームページをご覧ください。
最短半日見積り／お客様の検査負担の軽減をサポート！
流体部品の精密寸法測定ならお任せ下さい。 インペラ、深穴の測定、曲面の測定など測定困難であったり、 時間が掛かってしまい業務生産性が落ちたりと問題は多岐に渡ります。 例えば… 1.エージェンシーアシストを外部測定企業として、 部品の測定・評価を委託し、検査負担を軽減させることが出来ます。 2.今まで検査できなかった部品の検査が可能になります。 ◎特徴 ・円筒度、真円度、平行度など幾何公差の測定もお任せ下さい。 →表面粗さ、硬度試験も可能です。 ・CNC三次元測定機、3Dスキャナ型三次元測定機、画像寸法測定器を保有 →非接触型の最新測定機で曲面や接触型では測定困難であった点も測定が可能です。 ・リバースエンジニアリング →お預かり部品をトレースして製図、加工、検査まで行い 図面の無い部品を単品加工から作り上げることも可能です。 検査に関して様々な形でサポートする事が出来ます。お見積りは無料！ 金属～樹脂までOK！試作・開発部品の切削加工はお任せください。
キーワード： 表面 界面 レーザー 分光 非線形光学 和周波発生
液体には多種多様な分析手段を適用することができるが、それらの手段で分析するのはバルクの液体である。バルクとは、表面にある分子を除く全ての分子を意味する。例えば半径1 ミリメートルの水滴では、99.9997%はバルクの水分子である。大部分はバルクなので、“普通に”測定すればそれは自動的にバルクを測定したことになる。 バルク以外、つまり液体の表面を分光分析するためには、ほんのごく少数である表面の分子だけを感度良く捉える“普通でない”測定方法が必要となる。液体の表面は、バルクと異なる独特な性質を有していて、地球環境を左右する大気化学反応や医療・製薬において重要な生化学反応が起きる特別な反応場となっている。 私は、バルクの紫外可視吸収や赤外吸収と同様の高い信頼性をもつ分光分析を液体表面に対して可能にすることを目的として、2004 年から液体表面の分光分析の方法の開発に取り組んでいる。
基板やコネクタ端子の表面処理などの膜厚測定を、スピーディに行うことが出来ます
当社で行っている「蛍光X線膜厚測定」についてご紹介いたします。 膜厚が既知の標準試料(2種類以上)を測定して、その特性X線の強度から 検量線を作成し、未知試料の膜厚を測定。 基板表面処理(Ni/Au めっき、はんだレベラ)の膜厚測定や、部品電極、 コネクタ端子表面処理の膜厚測定、簡便な定性分析などの用途に好適です。 【設備紹介】 ＜蛍光X線膜厚測定装置＞ ■SFT9550X (日立ハイテクサイエンス製) ・X線管を用いた上面垂直照射方式 ・最大管電圧：50 kV ・最大管電流：1000 µA ・ビームサイズ：φ30 µm ・実測分解能：0.01 µm ・最小測定幅：70 µm ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
