更新日： 集計期間:2025年07月02日～2025年07月29日
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測定データはファイル保存ができ、あとから再解析も可能な非接触膜厚測定システム！
『FF8』は、サンプルの反射率（干渉波形）を測定し、 膜厚演算方法の中のFFT（フ－リエ変換膜厚計）や、 カーブフィット膜厚計等によって 膜厚値の解析を行う非接触膜厚測定システムです。 膜厚測定の他にフィルム、硝子の厚さ、屈折率の測定も行うことができ、 オプションにより、多層膜・カーブフィット法・顕微鏡・マッピング測定・ 色測定・成分濃度解析も可能です。 【標準測定】 測定範囲（分解能） 対応仕様例 0.0010～100μｍ 薄膜＋薄膜解析仕様 0.0100～100μm 標準＋薄膜解析仕様 0.5000～500μm 標準仕様 1.000 ～500μm 圧膜1仕様 4.000 ～2000μm 圧膜2仕様 ※その他、各種測定範囲にオプションで対応可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
直感的でわかりやすい！アナログ膜厚計のベストセラーがフルモデルチェンジ！
『Pro-S/Pro-W』は、鉄素地上の塗装、ライニングなどの絶縁性皮膜や メッキなど非磁性金属皮膜の膜厚を非破壊測定する電磁式膜厚計です。 国内の各公団、団体、官公庁、研究所、各種法人などの規格、内規、 基準ならびにASTM、ISO などの海外規格にも適合する2点調整方式を採用。 0～5mmワイドレンジと薄膜塗装からライニングまで幅広く対応します。 【特長】 ■伝統のアナログメーター式 ■コンパクトボディ ■0～5mmワイドレンジ ■特殊磁極プローブ ■ダイヤルカバー標準装備 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
コンクリート素地専用
〇FRP系、エポキシ系、エポキシ+パウダ混合系、ウレタン系の4ｃｈ回路方式 〇コンクリート上、スレート板上、木材上の皮膜厚及び樹脂単体の厚さの３測定モード。 〇厚さ基準片の音速値を測定・メモリ。その音速で測定。
超コンパクトボディを実現！鉄素地上の被膜の厚さを計測します。
電磁式膜厚計 Pro-2は、手のひらサイズの超コンパクトボディを実現しました。 鉄素地上の被膜（塗膜、フィルム、ライニング等）の厚さを計測します。 塗装・ライニングの現場用＜2極式＞、官公庁、試験場、大会社の規格、基準、内規に適合しています。 【特徴】 ○機種名：電磁式膜厚計 ○型番：Pro-2 ○メーカー名：サンコウ電子研究所 ○標準構成品 →本体、取扱説明書、標準厚板、収納ケース、単4乾電池(1.5V)×6 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
試験片の材質や板厚の影響を受けず、誤差をより少なくした測定装置！
『膜厚計アドミッタンスゲージ』は、金属などの導電体に塗布された絶縁物の厚みを 測定できる非破壊・接触式の静電容量式膜厚計です。 デジタル表示なのでデーターは読み取り誤差がなく、パソコンのExcelに 自動入力され正確な処理が可能。 また、測定対象は、薄平板膜厚のみでなく、試験片の金属部と通電できれば、 測定板厚に関係なく、湾曲面等であっても測定することができます。 ご要望の際はお気軽に、お問い合わせください。 【こんな方にオススメ】 ■アナログ式のストランドゲージをご使用の企業様 ■アルマイト被膜を渦電流式膜厚計で測定しておられる企業様 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お問い合わせください。
お持ちの顕微鏡とドッキングも可能！顕微鏡膜測定と２D分光放射オプションとの組み合わせで詳細な面内の膜厚分布の測定も可能です。
『FF8』は、サンプルの反射率（干渉波形）を測定し、 膜厚演算方法の中のFFT（フ－リエ変換膜厚計）や、 カーブフィット膜厚計等によって 膜厚値の解析を行う非接触多ポイント膜厚測定が可能です。 膜厚測定の他にフィルム、硝子の厚さ、屈折率の測定も行うことができ、 オプションにより、多層膜・カーブフィット法・顕微鏡・マッピング測定・ 色測定・成分濃度解析も可能です。 オプションでは、顕微鏡膜測定や非透過サンプル膜厚測定も可能です。 顕微鏡膜測定では、カラーフィルターのRGBパターンや基板上の配線パターン等、 マクロでは測定が困難な微細領域の膜厚測定を行えるように、 顕微鏡を使用して測定スポットサイズを小さくし測定できるようにします。 非透過サンプル測定では、空気層の厚みを測定することで 非透過サンプルの厚みを測定、演算します。 通常、光の干渉を用いる測定方式では、 非透過サンプルの膜厚測定はできませんが、 本測定方式を用いることで測定が可能となります。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
LIBセパレータの各層同時分離測定！実装可能な波長数を増やし、幅広い品種に対応可能！
『RX-4000/4100』は、リチウムイオンバッテリーのセパレータ基膜は もちろん、各種耐熱コートの厚みも各層個別かつ同時に測定できる LIBセパレータ向け赤外線膜厚計です。 透明度が低い多孔質基材であっても高い測定精度が得られ、測定距離、 角度変動への耐性に優れた光学系を使用しています。 また、測定値の変動をソフトウェア画面で管理でき生産ラインへのフィード バックが効率的に行え、測定値のデータ保存も可能です。 【特長】 ■半透明品にも対応可能 ■専用ソフトウェア画面で効率的なデータ管理 ■幅広い適応性（有機被膜・無機被膜） ■安全な光を採用した非接触・オンライン測定 ■高い応答速度と長期安全性 ※詳しくは関連リンクページをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
PETやPPなどのプラスチックフィルムや複層フィルムなどの薄物フィルム・微量コートの厚み測定に好適なオンライン膜厚計
化学組成の定性/定量分析に広く利用されている赤外分光法を用いたクラボウの赤外線膜厚計は、ラミネートフィルムや汎用プラスチックフィルムのほか、液晶・有機ELディスプレイ向けフィルムをはじめ複雑化する高機能フィルムの製造プロセス時に多くの使用実績があります。 多層コーティングの厚み測定や透明かつミクロンオーダーの薄物向けの膜厚測定に強みを持つ赤外線膜厚計です。 【特長】 ■透明品から金属上の微量コート剤の厚み測定までマルチに対応可能！ ■卓上でのオフライン使用も可能 ■有機被膜など多種多様な品種に対応 ■測定対象層や成分に合わせて使用波長を選定 ■薄膜や狭域の測定レンジでも高い相関性が得らる ■安全な光を採用した非接触・オンライン測定で管理者、管理区域不要 ※お客様の厚み測定ニーズに応じて、幅広くご相談可能です。 当社の膜厚計の詳細はPDFをダウンロードいただくかお問い合わせください。
ラインスキャン方式の採用で「抜け」のない全面フィルム検査を実現！
半導体の研究開発や生産現場において、ウェーハ基板上の薄膜を全面測定できる装置です。 独自の分光干渉法と新たに開発した高精度膜厚演算処理技術を組み合わせることで、12inchウェーハの面内分布を高速に測定することが可能です。 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
反射分光法と他の測定手法の比較
反射分光法は他の膜厚測定方法と比較して、薄膜対応、測定時間、非接触性、前処理や検量線不要、多層膜対応、光学定数解析などの点でメリットがございます。 一度お試し測定をしてみてはいかがでしょうか？
ぱっと見で直感的に分かりやすい、アナログメーター
シンプルな使い勝手と、メーター出力で、様々な業界で活躍しています。 薄膜塗装から、ライニングまで様々な対象で使用いただけます。 測定範囲：0～500μm・0.2～5mm ★詳細は下記【関連リンク】から、製品ページをご確認ください。 ★「PDFダウンロード」資料から総合カタログ(電子)もご取得いただきます。 ★「お問い合わせ」からお見積り依頼も可能です。お気軽にどうぞ。
持ち運び可能なハンディタイプの膜厚測定装置！サンプルを傷つけることもなく測定可能
『SM-100 series』は、1.1kgと軽く、持ち運びも簡単な膜厚計です。 膜厚を測定するときの「測りたい“その場”ですぐに測れない」「人によって バラつく測定結果」「測定精度が悪い」といったお困りごとを解決。 最薄0.1μmまで検量線不要で測定可能で、基材(ガラス・プラスチック)を 選ばず、形状のあるサンプルも非破壊で測ることができます。 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
約1.1kgの持ち運べる膜厚計。最薄0.1μmから最大100μmまで、検量線不要で操作簡単 ＜デモ機を無料貸し出し中＞
『SM-100 series』は高精度かつ簡単に持ち運び・操作ができる膜厚計です。 現場での抜き取り検査や成膜条件の検討にも柔軟に対応が可能。 基材(ガラス・プラスチック)を選ばず、形状のあるサンプルも非破壊で測ることができます。 ■持ち運び可能なハンディタイプ ■高精度測定＆簡単測定 ■多層膜も対応 ■非破壊・非接触測定 ■様々なサンプルを測定 ※詳しくは＜PDFダウンロード＞より資料をご覧ください。 デモ機を無料貸し出し中！＜お問い合わせ＞よりお申し込みいただけます。
