更新日： 集計期間:2025年03月26日～2025年04月22日
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高度な分析と”考察力”でお客様の問題解決！電子基板の解析事例をご紹介
「電子基板・部品の解析」は、お客様の”知りたいレベル”に応じて 表面分析手法をご提案します。 FT-IR(反射法・ATR法)をはじめ、XPS表面分析や、AES深さ分析など 電子基板配線パターンの銅表面を様々な手法で分析することで問題を 解決しました。 【電子基板の解析事例（配線パターン）】 ■FT-IR(反射法・ATR法) ■XPS表面分析 ■AES深さ分析 ■TOF-SIMS分析 ■熱分解GC/MS ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
分析項目はご要望に応じて組み合わせ可能！各種抗体の分析などにご活用ください！
当社では、『抗体分離と分離画分の糖鎖構造解析』を行っております。 FcRIIIAカラムによる抗体分析、分取、質量分析によるN型糖鎖構造解析を 受託します。分析項目は、ご要望に応じてどの組み合わせでも可能です。 各種抗体の分析、抗体ロット間差分析、抗体産生細胞培養状態のモニタリング 等に活用いただけます。 【特長】 ■糖鎖構造（ADCC活性）の違いにより抗体を分離・分取 ■各分取画分のN型糖鎖の同定・組成比決定 ■分析項目は、ご要望に応じてどの組み合わせでも可能 ■各種抗体の分析、抗体ロット間差分析、抗体産生細胞培養状態の モニタリング等に活用できる ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
パネル偏光板の劣化解析例を掲載！信頼性試験やHS-GCMS分析によるアウトガス分析などで劣化解析してみました
液晶パネルに使用される偏光板はトリアセチルセルロース、ポリビニルアルコール、 ポリエチレンテレフタレートなどを貼り合わせた多層フィルムで出来ています。 当資料では、信頼性試験後のパネル偏光板をHS-GCMS分析、熱脱着GCMS分析により劣化解析した事例をご紹介しています。 目に見えない劣化でも、この分析なら見つかるかも？！ 是非、ご一読ください。 【掲載内容】 ■信頼性試験 ■HS-GCMS分析によるアウトガス分析 ■熱脱着GCMS分析による低沸点成分分析 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
SEM/EDX等の機器を使用！断面腐食状況観察やEDX分析による腐食成分の確認などを実施
当社の腐食解析では、腐食形態の確認、腐食性成分及び組成確認、 各種分析結果から腐食原因の推定を行っております。 当分析には実体顕微鏡、3Dマイクロスコープ、SEM/EDX等の機器を使用。 大気暴露試験評価事例として、面分析による腐食成分の分布や、 定性分析による腐食成分の確認などがございます。 【目的】 ■腐食形態の確認 ■腐食性成分及び組成確認 ■各種分析結果から腐食原因を推定 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
シランカップリング剤処理の効果を高める処方を分析結果から導きます！
当社では、分析が難しいnmオーダーの薄い表面/界面層の構造を推定し、 シランカップリング剤の処理条件の最適化に貢献します。 反応液の状態把握や付着量の比較が可能で、複数の分析手法を組み 合わせることで、精度がUP。 シランカップリング剤処理の効果を高める処方を分析結果から導き、 さらに薄膜コーティングなど様々な表面修飾層の分析にも対応します。 【特長】 ■反応液の分析 ■処理表面の分析 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
AIを用いた画像解析技術で店舗や工場内の移動経路から動線分析が可能です。
特徴 AIを活用した画像処理技術で人の移動経路の導線を見える化し、動線分析が可能になります。この動線分析機能は、センサーなどを使用することなく、カメラ一台でどこにいて、どう動いているのか詳細に分かり、動線計測まで自動でできるようになります。また、移動経路が自動的にデータ化されるため、データ分析も可能になります。 活用例 Casperを活用することで、現場では作業者の自己申請や日報、出退勤管理と併せることでより詳細な分析が可能になります。また、センサーなどを装着する負担が無いため、屋内や屋外でも分析が可能です。店舗などでは、店舗レイアウトの改善や従業員の効率化につなげることが可能になり、作業効率の向上やコストの削減、安全性の向上などが期待できます。また、移動経路のデータ分析により、負担を軽減するためのワークフローの最適化や、人的ミスを防止するための改善提案も可能になります。これにより、生産性の向上やコスト削減につながり、企業の競争力の向上に寄与することが期待できます。
お客様からの情報と分析の結果から変色の原因を解明！製品の変色等の解析についてご紹介します
金属製品や樹脂製品などの変色やシミは、非常に目立つため 不具合になることがあります。 その原因は化学薬品の影響によるものや、極微小な付着物によるもの などがあります。 その原因を調査する方法として実際に変色やシミを分析することで、 その変色原因が分かることがあります。 当社では、お客様からの情報と分析の結果から、変色の原因解明を 行っています。製品の不具合にお困りであればご相談ください。 【分析の流れ】 ■情報収集 ■観察 ■分析 ■結果のご報告 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
材料をマクロレベルから分子レベルに至るまで精密に解析！
当社では、無機化合物の『組成分析・構造解析サービス』を提供しております。 電子材料や半導体、金属、セラミックス、セメント、触媒など 無機材料の元素分析と化合物組成の解析、結晶構造・組織の解析、 熱的性質の解析など広範囲に実施。 無機化合物に対する深い知識と試料の高度な前処理技術をベースに、 材料をマクロレベルから分子レベルに至るまで精密に解析し、 新素材開発に貢献します。 【分析例】 ■精密格子定数の決定 ■温度上昇に伴う相変化の追跡 ■結晶性、配向性、結晶子径の測定 ■反射率解析による多層薄膜構造評価 ■リートベルト法による結晶構造解析 など ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
複雑な多数の情報から香り変化の主要因成分を解析します
当社では、データの統計解析により、分析結果を製品の特性に繋がる 価値の高い情報に導きます。 評価事例(香りの変化要因の解析)として、香水を100℃で加熱し、 13時点(0 2 3 4 6 8 9 14 16 18 20 22 24時間)で、香りの官能評価、 有機成分の定量分析(GC-FID)、定性分析(GC-MS)を実施。 主成分分析により、複雑な多数の情報から香り変化の主要因成分を 解析できました。 【Principal Component Analysis（主成分分析）例】 ■計2 548データ(13試料×196ピークの定量値)を解析し二次元化 ■二次元の軸(PC1vsPC2)が示す意味(香りとの相関)を解釈 ■軸形成に影響している成分を寄与率プロット(非掲載)で探索 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
大量データを扱うには様々な障害・リスクと戦う必要があります。 お困りの事がありましたら、ニュートラルにお任せ下さい！
LiNGAM（linear non-Gaussian acyclic model）モデルを内製ツールに実装しデータの因果関係を明らかにする分析サービスを始めました。 統計的因果探索の必要性について なぜ因果なのか？ データ分析から得られた知見を使ってなんらかのアクションをしたい場合は予測だけでは多くの場合は不十分だという現実があります。一般にデータ分析からは現象をよく説明できるモデル構築することが多く、予測に利用されます。例えば来月の売り上げ予測や収穫量の予測などです。 最近のユーザーが求めているデータ分析のゴールは何か？ 次のアクションとしての行動（宣伝広告戦略、マーケティング戦略など）を知る事が重要。 従来の統計的因果探索 統計的因果探索は全く新しい概念ではないですがデータ分析の中でも非常に難しく一般には回帰分析のように使えるというものではありません。仮定をおく (Assumptions)事が始の仕事になりますがこの段階で因果ダイアグラム（DAG）を観測データからの経験などが総動員して作成する必要があります。つまり、自動的に因果関係が導かれるような手品ではありません。
画面イメージ/システム構成や、参考資料として様々な導入事例などを掲載！
『OPTiM AI Camera Enterpriseご提案資料』では、AIとカメラを使って 解析を行い「人の目」の代わりを行うサービスをご紹介しています。 画面イメージ/システム構成をはじめ、使い放題パックとオプション機能の 機能別詳細、参考資料として様々な導入事例などを掲載。 ぜひ、ご一読ください。 【掲載内容(抜粋)】 ■OPTiM AI Camera Enterpriseとは ■機能別詳細(使い放題パック) ■機能別詳細(オプション機能) ■参考資料 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
高効率機器のトラブル解析！高度な分析技術と豊富な経験でお困りごとの解決に貢献
機器構造の複雑化に伴って、トラブルの解析も困難になっています。 当社では、高度な分析技術を組み合わせ、スピーディーに解析します。 X線CTなどの非破壊検査技術(分析箇所の特定)や、ピンポイントでの 分析など独自の分析ノウハウを展開。 これまで諦めていた「プレート式熱交換器」のトラブル解析や、 複雑な構造体(例えば点火プラグなど)の解析についても、 ご遠慮なくご相談ください。 【解析事例】 ■流路の詰まり ・流路(プレート間)の詰まりの発生部位や状況、詰まり物の成分等について解析 ■プレートの腐食(流体の内部リーク) ・プレートに発生した腐食の発生部位や状況、発生原因(腐食形態)等について解析 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
電子デバイス･モジュール等の各種信頼性試験、分析/解析サービスのご提供
信頼性評価をしたい、不適合品の不具合原因を調べたい、製品状態を細かく観察したい等、様々なPKGタイプの半導体製造で培ったノウハウでお客様のご要望にお応えいたします。 ■信頼性設備 ・温度サイクル試験機 ・恒温恒湿試験機 ・PCT試験機 ・落下試験機 ・高温恒温器 ・・・他 ■分析/解析設備 ・SEM-EDX ・FT-IR ・SAT ・薬品による樹脂開封 ・断面研磨機 ・・・他
HDD障害解析サービスやSSD評価サービスなどを行います。
「HDD/SSD評価技術サービス」は、株式会社シェアード・ソリューション・サービスが長年培ってきた高度な技術により、お客様を強力にサポート致します。 HDDの信頼性評価や障害解析、SRS振動／衝撃評価、分析評価、HDDスクリーニング、SSDの評価やエージングなど、HDD/SSDを対象としたさまざまなサービスを用意しており、お客様の抱える問題に細かく対応することが可能です。 【サービス】 ○HDD障害解析サービス ○SSD評価サービス ○分析評価サービス、RoHS分析 ○HDDスクリーニング、SSDエージング ○HDD検査/調査支援サービス 他 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
故障箇所→拡散層評価を含めた物理解析/化学分析までスルー対応いたします！
株式会社アイテスでは、パワー半導体の解析サービスを承っております。 当社は日本IBM野洲事業所の品質保証部門から1993年に分離独立して以来、 独自の分析・解析技術を培ってきました。 Si半導体だけでなく、話題のワイドバンドギャップ半導体も対応可能です。 【特長】 ■OBIRCH解析ではSiだけでなく、SiCやGaNデバイスにも対応 ■表裏どちらからでもFIB加工可能 ■PN接合部に形成された空乏層を可視化 ■EDS、EELS分析といった元素分析も対応 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
