ピージーインスペクション 切削工具画像測定顕微鏡
現場測定に信頼性を生む切削工具専用の画像測定顕微鏡
工具径φ75mm、工具長200mmまでの切削工具を対象にした画像測定顕微鏡。作業性に優れる汎用顕微鏡でありながら、信頼性の高い測定データを確保します。
- 企業：ＹＫＴ株式会社
- 価格：応相談
顕微鏡(測定) - メーカー・企業と製品の一覧
更新日： 集計期間:2025年10月01日～2025年10月28日
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顕微鏡の製品一覧
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【寸法測定について】工具顕微鏡
非接触でXY方向の二次元測定が可能！高精度の公差がある複雑で精密な寸法測定に
当社では、工具顕微鏡を使用し、製品や部品の寸法を計測いたします。 200mm×150mmまでの大きさに対応。 非接触でXY方向の二次元の測定が可能です。 コネクタ製品やカメラ部品など、±0.02mmといった 高精度の公差がある複雑で精密な寸法測定を得意としています。 測定箇所を拡大して肉眼で確認できるため、バリ・ホコリ・形状異常を 認識しながら、測定物の評価が可能であり、図面と製品から判断し、 測定箇所に応じた切断やカットを行い、より良い方法で測定します。 【特長】 ■200mm×150mmまでの大きさに対応 ■非接触でXY方向の二次元の測定が可能 ■高精度の公差がある複雑で精密な寸法測定に適している ■測定箇所を拡大して肉眼で、バリ・ホコリ・形状異常などを確認可能 ■図面と製品から判断し、測定箇所に応じた切断やカットを行い、 より良い方法で測定する ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：有限会社アース
- 価格：応相談
【材料・不良解析】共焦点（コンフォーカル）顕微鏡
高い解像力をもつ測定用の顕微鏡！表面粗さ測定、形状測定/比較で利用されています
ミツバ環境ソリューションでは、共焦点（コンフォーカル）顕微鏡を用いた 「共焦点マイクロスコープ測定」を行っております。 レーザーテック製のレーザーマイクロスコープ「OPTELICS HYBRID」は、 凹凸のある試料面に対して、視野内全面にピントの合った高解像画像を 得ることができます。 非破壊、非接触の3次元形状計測が可能。405nmレーザー光線による高倍率・ 高分解能観察で超微細構造も鮮明に可視化します。 【測定範囲】 ■幅測定 ・最小測定単位 0.001μm、測定再現性 3σ＜10nm ■高さ測定 ・スケール分解能 0.4nm、測定再現性 σ＜10nm、測定範囲 7mm ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：株式会社ミツバ環境ソリューション
- 価格：応相談
原子間力顕微鏡 「ステージ付ＡＦＭ」
非破壊でナノメートル以下迄の３次元測定が可能な唯一の顕微鏡
原子間力顕微鏡「ステージ付ＡＦＭ」は、大気中にて、非破壊でナノメートル以下迄の３次元測定が可能な唯一の顕微鏡です。サンプルを傷つけることなく、測定が可能です。電磁スキャナーを使用することにより、非戦形クリープや経年変化を気にせず、長期に渡り安定測定が可能になりました。大型ステージ付きで、ワークを切断することなく、サンプルをセットするだけで非破壊で測定可能です。測定モードも多種用意されており、高価なＡＦＭ装置と同等の機能を有します。測定ワークの材質に関係無く、導体から絶縁体迄、コーティング無しで、ナノレベルの測定が直ぐに可能です。詳しくはカタログをダウンロードしてください。
- 企業：アローズエンジニアリング株式会社
- 価格：応相談
工業用顕微鏡USPM-RU-W（EVIDENT）
380nm～1050nmの可視光から近赤外まで幅広い波長領域での分光測定を実現
オリンパスの近赤外顕微分光測定機USPM-RU-Wは、可視光領域から近赤外領域までの幅広い分光測定を、スピーディー高精度に行います。 通常の分光光度計では測定できない微小エリアや、曲面の反射率の測定が容易にできるため、光学素子や微小電子部品などにも最適です。
- 企業：株式会社ナガタ
- 価格：応相談
測定顕微鏡 STM7（EVIDENT）
目的に合わせてフィットする測定顕微鏡
測定サンプルが小さくても、大きくても。 測定内容がシンプルでも、複雑でも。 測定者が初めて使う人でも、使い慣れた人でも。 あなたの測定にフィットする測定顕微鏡。 それがSTM7シリーズです。
- 企業：株式会社ナガタ
- 価格：応相談
【受託分析】レーザー顕微鏡（高精度3D測定＆カラー観察）
試料表面の凹凸形状の3D測定や透明体越しの表面形状測定などが可能です！
当社では、形状測定レーザマイクロスコープ「VK-X200」を用いた 受託分析を行っております。 408nmレーザーを用いて観察、計測を実施。測定結果は国家基準につながる トレーザビリティ体系に基づいており、測定機器として非破壊測定に活用できます。 レーザー顕微鏡では、試料表面の凹凸形状の3D測定ができ、透明体の膜厚形状や 透明体越しの表面形状測定が可能です。 【特長】 ■試料表面の凹凸形状の3D測定が可能 ■透明体の膜厚形状や透明体越しの表面形状測定が可能 ■408nmレーザーを用いて観察、計測 ■測定結果は国家基準につながるトレーザビリティ体系に基づく ■測定機器として非破壊測定に活用できる ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：株式会社アイテス
- 価格：応相談
【加工事例】白色干渉顕微鏡による加工面の測定
mm単位を超える広い面内測定範囲！多結晶セラミックスとSiC単結晶の測定事例
当社で新たに導入した、白色干渉顕微鏡による加工面の測定事例をご紹介します。 白色干渉顕微鏡は、光の干渉現象を利用して「表面形状」を計測、解析する 顕微鏡。測定対象材質を問わず、3D計測で面粗さ・線粗さに対応します。 多結晶セラミックスのワイヤースライス面からポリシング面の測定では、 スライス面Sa 0.8446 μm、ラッピング面Sa 0.2506 μm、ポリシング面 Sa 0.00583 μmという結果となりました。 また、SiC単結晶,SUS316Lのポリシング面の測定では、SiC単結晶 Sa 0.000458 μm、SUS316L Sa 0.000302 μmという結果となりました。 【白色干渉顕微鏡 特長】 ■非接触＆面測定 ・測定対象材質を問わない ・3D計測で面粗さ・線粗さに対応 ■広い測定範囲＆高分解能測定 ・mm単位を超える広い面内測定範囲 ・高さ分解能0.01nm ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：株式会社新興製作所
- 価格：応相談
【資料DL可：AFM】走査型プローブ顕微鏡おける事例集
構造解析/弾性率測定/導電性測定などAFM走査型プローブ顕微鏡による分析事例を多数ご紹介します
当事例集では、『AFM：走査型プローブ顕微鏡』における分析事例をご紹介します。 【掲載内容】 ●「食品（そうめん）の構造解析および弾性率測定」手法、結果 ●「真空中AFM導電性測定」の特長や分析事例 ●「AFMによる材料表面の導電性評価」の特長や分析事例 ●「高分子材料のAFM観察（ミクロトームによる平滑化）」 弊社の強みの１つであるAFMを使って各種分析を行っています。 是非ご一読ください。 掲載されていない事例を他にも多数あります。 ※詳しくは当社の他PDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：セイコーフューチャークリエーション株式会社
- 価格：応相談
静電気力顕微鏡（EFM）
先端寸法5μm x 5μmのカンチレバーを有した走査型プローブ顕微鏡タイプの表面電位分布計測システムです。
今までの表面電位計では測定出来なかった 非常に細かい10μm程度の表面電位分布を測定する事が出来、数mm程度の非常に広いエリアの走査が可能です。 ±1000Vの電圧を0.5%の高精度で測定する事が出来ます。
- 企業：株式会社ウエストワン
- 価格：応相談
樹脂、プラスチック材料 レーザー顕微鏡(LM)による表面凹凸観察
成形品、シート、フィルム表面の表面粗さや、表面シボ形状などの測定が可能！
当社では、形態観察として「レーザー顕微鏡(LM)による表面凹凸観察」 を行っております。 対物レンズはx5、x10、x20、x50、x100で、観察視野は100～1000um。 出力種はカラー像、モノクロ像、立体像(3D像)です。 成形品、シート、フィルム表面の表面粗さ測定や、外観異常部分、付着物、 傷の表面形状測定などの測定解析が可能です。 【装置概要】 ■対物レンズ：x5、x10、x20、x50、x100 ■観察視野：100～1000um ※対物レンズ倍率により異なる ■出力種：カラー像、モノクロ像、立体像(3D像) ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：株式会社ロンビック
- 価格：応相談
超精密万能測定顕微鏡
超精密万能測定顕微鏡
・測定範囲 (X)200mm x (Y)100mm measuring area ・精 度 ±(1+0.004L)μm accuracy コラムの左右傾斜がプラスマイナス１２．５°まで可能で、センター支持台（最大φ１００×７００Ｌ mm）により、ネジやタップ等ネジ系統の測定も可能。
- 企業：旭通商株式会社
- 価格：応相談
両面顕微鏡システム『TOMOS-60XY』
XY電動ステージとオートフォーカス機能を搭載！ソフトウェアなどのカスタマイズも対応
『TOMOS-60XY』は、ワークの複数箇所を自動測定できる6インチ電動 XYステージ 両面顕微鏡システムです。 あらかじめ指定したワークの測定箇所に自動で移動し、水晶振動子、 MEMS、半導体ウェハ、電子部品の表裏パターンやアライメントマークの ずれを自動測定することが可能。 また、XYステージとワークの装着位置のずれ補正アライメント機能を 搭載し、正確に移動制御し測定エラーを防ぎます。 【特長】 ■円、四角、十字等のアライメントマークのエッジを 自動検出し、中心座標同士のずれを測定 ■XYZステージ制御条件、測定条件、マップ作成、 レシピ登録し、ワークの複数個所を自動測定 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
- 企業：株式会社フローベル
- 価格：応相談
コンフォーカル顕微鏡『MarSurf CM シリーズ』
試料調整の必要無し！自動化オプションにより、再現性の高い測定結果を提供します
『MarSurf CM シリーズ』は、標準規格に準拠した測定システムと ソフトウェアを実装しているコンフォーカル顕微鏡です。 コンフォーカル技術による高解像度3Dデータから、より多くの表面形状の 情報と処理方法が得られます。 高速画像取得技術により、わずか数秒のうちに高解像度3Dデータを取得。 また、安定した機械構造を持ち、外部環境に影響されない測定が可能です。 【特長】 ■多彩なラインアップ ■高速測定（従来比約7倍の測定スピード） ■様々な用途に対応 ■接触式測定法と99％の相関性 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 ※PDFダウンロード時に表示される『興味を持ったきっかけ』の欄は株式会社イプロスのAIによって表示されております。
- 企業：マール・ジャパン株式会社
- 価格：応相談
マイクロ測定顕微鏡『NMM-25D』
統合倍率20X、十字線入。測定範囲 X軸0～25mmのマイクロ測定顕微鏡
『NMM-25D』は、測定範囲がX軸0～25mmのマイクロ測定顕微鏡です。 最小読取値は0.001mm(デジタルマイクロメータヘッド)。 統合倍率は20X、十字線入です。 【仕様】 ■測定範囲：X軸 0～25mm ■最小読取値：0.001mm(デジタルマイクロメータヘッド) ■統合倍率：20X 十字線入 ■サイズ：220mm(H)x160mm(W)x160mm(D) ■重量：3.2kg ※詳しくは外部リンクページをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：有限会社日本光器製作所 ショールーム・営業部
- 価格：応相談
