ピージーインスペクション 切削工具画像測定顕微鏡
現場測定に信頼性を生む切削工具専用の画像測定顕微鏡
工具径φ75mm、工具長200mmまでの切削工具を対象にした画像測定顕微鏡。作業性に優れる汎用顕微鏡でありながら、信頼性の高い測定データを確保します。
- 企業:YKT株式会社
- 価格:応相談
更新日: 集計期間:2025年03月26日~2025年04月22日
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現場測定に信頼性を生む切削工具専用の画像測定顕微鏡
工具径φ75mm、工具長200mmまでの切削工具を対象にした画像測定顕微鏡。作業性に優れる汎用顕微鏡でありながら、信頼性の高い測定データを確保します。
非接触でXY方向の二次元測定が可能!高精度の公差がある複雑で精密な寸法測定に
当社では、工具顕微鏡を使用し、製品や部品の寸法を計測いたします。 200mm×150mmまでの大きさに対応。 非接触でXY方向の二次元の測定が可能です。 コネクタ製品やカメラ部品など、±0.02mmといった 高精度の公差がある複雑で精密な寸法測定を得意としています。 測定箇所を拡大して肉眼で確認できるため、バリ・ホコリ・形状異常を 認識しながら、測定物の評価が可能であり、図面と製品から判断し、 測定箇所に応じた切断やカットを行い、より良い方法で測定します。 【特長】 ■200mm×150mmまでの大きさに対応 ■非接触でXY方向の二次元の測定が可能 ■高精度の公差がある複雑で精密な寸法測定に適している ■測定箇所を拡大して肉眼で、バリ・ホコリ・形状異常などを確認可能 ■図面と製品から判断し、測定箇所に応じた切断やカットを行い、 より良い方法で測定する ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
高い解像力をもつ測定用の顕微鏡!表面粗さ測定、形状測定/比較で利用されています
ミツバ環境ソリューションでは、共焦点(コンフォーカル)顕微鏡を用いた 「共焦点マイクロスコープ測定」を行っております。 レーザーテック製のレーザーマイクロスコープ「OPTELICS HYBRID」は、 凹凸のある試料面に対して、視野内全面にピントの合った高解像画像を 得ることができます。 非破壊、非接触の3次元形状計測が可能。405nmレーザー光線による高倍率・ 高分解能観察で超微細構造も鮮明に可視化します。 【測定範囲】 ■幅測定 ・最小測定単位 0.001μm、測定再現性 3σ<10nm ■高さ測定 ・スケール分解能 0.4nm、測定再現性 σ<10nm、測定範囲 7mm ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
非破壊でナノメートル以下迄の3次元測定が可能な唯一の顕微鏡
原子間力顕微鏡「ステージ付AFM」は、大気中にて、非破壊でナノメートル以下迄の3次元測定が可能な唯一の顕微鏡です。サンプルを傷つけることなく、測定が可能です。電磁スキャナーを使用することにより、非戦形クリープや経年変化を気にせず、長期に渡り安定測定が可能になりました。大型ステージ付きで、ワークを切断することなく、サンプルをセットするだけで非破壊で測定可能です。測定モードも多種用意されており、高価なAFM装置と同等の機能を有します。測定ワークの材質に関係無く、導体から絶縁体迄、コーティング無しで、ナノレベルの測定が直ぐに可能です。詳しくはカタログをダウンロードしてください。
380nm~1050nmの可視光から近赤外まで幅広い波長領域での分光測定を実現
オリンパスの近赤外顕微分光測定機USPM-RU-Wは、可視光領域から近赤外領域までの幅広い分光測定を、スピーディー高精度に行います。 通常の分光光度計では測定できない微小エリアや、曲面の反射率の測定が容易にできるため、光学素子や微小電子部品などにも最適です。
目的に合わせてフィットする測定顕微鏡
測定サンプルが小さくても、大きくても。 測定内容がシンプルでも、複雑でも。 測定者が初めて使う人でも、使い慣れた人でも。 あなたの測定にフィットする測定顕微鏡。 それがSTM7シリーズです。
先端寸法5μm x 5μmのカンチレバーを有した走査型プローブ顕微鏡タイプの表面電位分布計測システムです。
今までの表面電位計では測定出来なかった 非常に細かい10μm程度の表面電位分布を測定する事が出来、数mm程度の非常に広いエリアの走査が可能です。 ±1000Vの電圧を0.5%の高精度で測定する事が出来ます。
超精密万能測定顕微鏡
・測定範囲 (X)200mm x (Y)100mm measuring area ・精 度 ±(1+0.004L)μm accuracy コラムの左右傾斜がプラスマイナス12.5°まで可能で、センター支持台(最大φ100×700L mm)により、ネジやタップ等ネジ系統の測定も可能。
試料調整の必要無し!自動化オプションにより、再現性の高い測定結果を提供します
『MarSurf CM シリーズ』は、標準規格に準拠した測定システムと ソフトウェアを実装しているコンフォーカル顕微鏡です。 コンフォーカル技術による高解像度3Dデータから、より多くの表面形状の 情報と処理方法が得られます。 高速画像取得技術により、わずか数秒のうちに高解像度3Dデータを取得。 また、安定した機械構造を持ち、外部環境に影響されない測定が可能です。 【特長】 ■多彩なラインアップ ■高速測定(従来比約7倍の測定スピード) ■様々な用途に対応 ■接触式測定法と99%の相関性 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 ※PDFダウンロード時に表示される『興味を持ったきっかけ』の欄は株式会社イプロスのAIによって表示されております。
統合倍率20X、十字線入。測定範囲 X軸0~25mmのマイクロ測定顕微鏡
『NMM-25D』は、測定範囲がX軸0~25mmのマイクロ測定顕微鏡です。 最小読取値は0.001mm(デジタルマイクロメータヘッド)。 統合倍率は20X、十字線入です。 【仕様】 ■測定範囲:X軸 0~25mm ■最小読取値:0.001mm(デジタルマイクロメータヘッド) ■統合倍率:20X 十字線入 ■サイズ:220mm(H)x160mm(W)x160mm(D) ■重量:3.2kg ※詳しくは外部リンクページをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
総合倍率20X、50X、100Xの3型式をラインアップしたショップ測定顕微鏡
『NSMシリーズ』は、総合倍率20X、50X、100Xの ショップ測定顕微鏡です。 測定範囲5.0mmの「NSM-20」など、3つの型式を ラインアップしています。 【仕様(NSM-20)】 ■総合倍率:20X ■最小1目盛:5/100mm ■視野:9.0mm ■測定範囲:5.0mm ■作動距離:30mm ■サイズ/重量:φ64x200mm/600g ※詳しくは外部リンクページをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
無接触で凹面、凸面の微小な曲率(アール)を測定!
どんな小さな曲率でも、対物レンズの倍率を高くして測定ができます。曲率ばかりでなく、曲面の面精度なども光学チャート像のクズレで確認できます。 光学チャート像を曲率の面にピントを合わせ、0点合せをを行ない、続けて顕微鏡の位置を上げ、フィラメントの像を越して、再び、光学チャート像が曲率の面で反射して見える位置にピントを合わせると、それまでの移動量が曲率を示し、デジタルで表示されます。
ウエハ表面に可視でAFフォーカス!赤外顕微鏡でパターン寸法を画像測定
アローズエンジニアリングでは、アイティ・テック社製の 『自動赤外顕微鏡』を取扱っています。 当製品は、8”貼り合わせウエハの表面に可視でAFフォーカスして 赤外顕微鏡でSi内部パターンのパターン寸法を画像測定します。 2カセット、エッジグリップチャック、エッジアライナを搭載しています。 【特長】 ■対象ウエハ 8” ■2カセット ■位置決め精度±1μm ■軸ズレ測定±0.5μm ■線幅測定 0.2μm ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
製品購入から校正・修理・レトロフィットまでお任せください。
コラムが傾斜可能な測定顕微鏡です。《傾斜角度》±12°
洗練されたツールで、測定・解析を迅速に
実験準備からレポート作成まで、トータルでサポートするツールへ進化 ・実験準備から分析・レポート作成までをこの1台で ・誰でも業界最高レベルの測定性能を ・設定不要で高精度な測定を