更新日： 集計期間:2026年02月18日～2026年03月17日
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高い解像力をもつ測定用の顕微鏡！表面粗さ測定、形状測定/比較で利用されています
ミツバ環境ソリューションでは、共焦点（コンフォーカル）顕微鏡を用いた 「共焦点マイクロスコープ測定」を行っております。 レーザーテック製のレーザーマイクロスコープ「OPTELICS HYBRID」は、 凹凸のある試料面に対して、視野内全面にピントの合った高解像画像を 得ることができます。 非破壊、非接触の3次元形状計測が可能。405nmレーザー光線による高倍率・ 高分解能観察で超微細構造も鮮明に可視化します。 【測定範囲】 ■幅測定 ・最小測定単位 0.001μm、測定再現性 3σ＜10nm ■高さ測定 ・スケール分解能 0.4nm、測定再現性 σ＜10nm、測定範囲 7mm ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
380nm～1050nmの可視光から近赤外まで幅広い波長領域での分光測定を実現
オリンパスの近赤外顕微分光測定機USPM-RU-Wは、可視光領域から近赤外領域までの幅広い分光測定を、スピーディー高精度に行います。 通常の分光光度計では測定できない微小エリアや、曲面の反射率の測定が容易にできるため、光学素子や微小電子部品などにも最適です。
非破壊でナノメートル以下迄の３次元測定が可能な唯一の顕微鏡
原子間力顕微鏡「ステージ付ＡＦＭ」は、大気中にて、非破壊でナノメートル以下迄の３次元測定が可能な唯一の顕微鏡です。サンプルを傷つけることなく、測定が可能です。電磁スキャナーを使用することにより、非戦形クリープや経年変化を気にせず、長期に渡り安定測定が可能になりました。大型ステージ付きで、ワークを切断することなく、サンプルをセットするだけで非破壊で測定可能です。測定モードも多種用意されており、高価なＡＦＭ装置と同等の機能を有します。測定ワークの材質に関係無く、導体から絶縁体迄、コーティング無しで、ナノレベルの測定が直ぐに可能です。詳しくはカタログをダウンロードしてください。
目的に合わせてフィットする測定顕微鏡
測定サンプルが小さくても、大きくても。 測定内容がシンプルでも、複雑でも。 測定者が初めて使う人でも、使い慣れた人でも。 あなたの測定にフィットする測定顕微鏡。 それがSTM7シリーズです。
非接触でXY方向の二次元測定が可能！高精度の公差がある複雑で精密な寸法測定に
当社では、工具顕微鏡を使用し、製品や部品の寸法を計測いたします。 200mm×150mmまでの大きさに対応。 非接触でXY方向の二次元の測定が可能です。 コネクタ製品やカメラ部品など、±0.02mmといった 高精度の公差がある複雑で精密な寸法測定を得意としています。 測定箇所を拡大して肉眼で確認できるため、バリ・ホコリ・形状異常を 認識しながら、測定物の評価が可能であり、図面と製品から判断し、 測定箇所に応じた切断やカットを行い、より良い方法で測定します。 【特長】 ■200mm×150mmまでの大きさに対応 ■非接触でXY方向の二次元の測定が可能 ■高精度の公差がある複雑で精密な寸法測定に適している ■測定箇所を拡大して肉眼で、バリ・ホコリ・形状異常などを確認可能 ■図面と製品から判断し、測定箇所に応じた切断やカットを行い、 より良い方法で測定する ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
試料表面の凹凸形状の3D測定や透明体越しの表面形状測定などが可能です！
当社では、形状測定レーザマイクロスコープ「VK-X200」を用いた 受託分析を行っております。 408nmレーザーを用いて観察、計測を実施。測定結果は国家基準につながる トレーザビリティ体系に基づいており、測定機器として非破壊測定に活用できます。 レーザー顕微鏡では、試料表面の凹凸形状の3D測定ができ、透明体の膜厚形状や 透明体越しの表面形状測定が可能です。 【特長】 ■試料表面の凹凸形状の3D測定が可能 ■透明体の膜厚形状や透明体越しの表面形状測定が可能 ■408nmレーザーを用いて観察、計測 ■測定結果は国家基準につながるトレーザビリティ体系に基づく ■測定機器として非破壊測定に活用できる ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
切削工具の現場測定に不可欠な作業性と信頼性を両立
現場での作業性に優れた汎用顕微鏡でありながら、高精細画像による測定とJCSS校正済みリニアスケールの補正により、信頼性の高い測定データを提供します。
mm単位を超える広い面内測定範囲！多結晶セラミックスとSiC単結晶の測定事例
当社で新たに導入した、白色干渉顕微鏡による加工面の測定事例をご紹介します。 白色干渉顕微鏡は、光の干渉現象を利用して「表面形状」を計測、解析する 顕微鏡。測定対象材質を問わず、3D計測で面粗さ・線粗さに対応します。 多結晶セラミックスのワイヤースライス面からポリシング面の測定では、 スライス面Sa 0.8446 μm、ラッピング面Sa 0.2506 μm、ポリシング面 Sa 0.00583 μmという結果となりました。 また、SiC単結晶,SUS316Lのポリシング面の測定では、SiC単結晶 Sa 0.000458 μm、SUS316L Sa 0.000302 μmという結果となりました。 【白色干渉顕微鏡 特長】 ■非接触＆面測定 ・測定対象材質を問わない ・3D計測で面粗さ・線粗さに対応 ■広い測定範囲＆高分解能測定 ・mm単位を超える広い面内測定範囲 ・高さ分解能0.01nm ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
構造解析/弾性率測定/導電性測定などAFM走査型プローブ顕微鏡による分析事例を多数ご紹介します
当事例集では、『AFM：走査型プローブ顕微鏡』における分析事例をご紹介します。 【掲載内容】 ●「食品（そうめん）の構造解析および弾性率測定」手法、結果 ●「真空中AFM導電性測定」の特長や分析事例 ●「AFMによる材料表面の導電性評価」の特長や分析事例 ●「高分子材料のAFM観察（ミクロトームによる平滑化）」 弊社の強みの１つであるAFMを使って各種分析を行っています。 是非ご一読ください。 掲載されていない事例を他にも多数あります。 ※詳しくは当社の他PDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
表面解析を新次元へ。信頼の測定技術で、様々な表面を解析
『LEXT OLS5500』は、白色干渉計搭載の3D測定レーザー顕微鏡です。 レーザー顕微鏡(LSM)、白色干渉計(WLI)、フォーカスバリエーション(FVM)の 高精度な測定性能、スマートな自動化機能、直感的な操作性により、様々な用途で 自信を持ってご使用いただけます。 ご用命の際は当社へお気軽にご連絡ください。 【特長】 ■nmからmmまで1台で対応できるシームレスな3-in-1 ソリューション ■自社開発・設計の光学系による高い光学性能 ■微細な構造から透明なものまで見えないものを可視化 ■測定環境下における測定精度保証 ■LSMとWLIダブルでの高さ測定ノイズ保証 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
超精密万能測定顕微鏡
・測定範囲 (X)200mm x (Y)100mm measuring area ・精 度 ±(1+0.004L)μm accuracy コラムの左右傾斜がプラスマイナス１２．５°まで可能で、センター支持台（最大φ１００×７００Ｌ mm）により、ネジやタップ等ネジ系統の測定も可能。
成形品、シート、フィルム表面の表面粗さや、表面シボ形状などの測定が可能！
当社では、形態観察として「レーザー顕微鏡(LM)による表面凹凸観察」 を行っております。 対物レンズはx5、x10、x20、x50、x100で、観察視野は100～1000um。 出力種はカラー像、モノクロ像、立体像(3D像)です。 成形品、シート、フィルム表面の表面粗さ測定や、外観異常部分、付着物、 傷の表面形状測定などの測定解析が可能です。 【装置概要】 ■対物レンズ：x5、x10、x20、x50、x100 ■観察視野：100～1000um ※対物レンズ倍率により異なる ■出力種：カラー像、モノクロ像、立体像(3D像) ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
XY電動ステージとオートフォーカス機能を搭載！ソフトウェアなどのカスタマイズも対応
『TOMOS-60XY』は、ワークの複数箇所を自動測定できる6インチ電動 XYステージ 両面顕微鏡システムです。 あらかじめ指定したワークの測定箇所に自動で移動し、水晶振動子、 MEMS、半導体ウェハ、電子部品の表裏パターンやアライメントマークの ずれを自動測定することが可能。 また、XYステージとワークの装着位置のずれ補正アライメント機能を 搭載し、正確に移動制御し測定エラーを防ぎます。 【特長】 ■円、四角、十字等のアライメントマークのエッジを 自動検出し、中心座標同士のずれを測定 ■XYZステージ制御条件、測定条件、マップ作成、 レシピ登録し、ワークの複数個所を自動測定 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
トリプルスキャン方式×全自動多点測定！精度と自動化の両立、現場の課題をこれ一台で解決
『VK-X4000シリーズ』は、レーザー共焦点・白色干渉・フォーカス バリエーションの3つの異なるスキャン原理を使い分ける「トリプル スキャン方式」を採用し、さまざまな対象物を高精度に測定・解析 することができる白色干渉計搭載レーザ顕微鏡です。 また、鏡面体・透明体といった難易度の高い素材に対しても高速・ 高精度・広範囲に測定することができます。 さらに複数の対象物でも誰でも簡単に全自動多点測定が可能なマルチ ポイント測定を新たに搭載。複雑な設定は不要で、多点測定を自動化。 作業時間を減らしながら測定サンプリング点数を増やすことで、 研究開発の客観的評価と信頼性を向上させます。 【特長】 ■3つのスキャン方式でさまざまな測定を高精度に ■複数の対象物でも誰でも簡単に全自動多点測定 ■ナノ・マイクロ・ミリをこれ1台で ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
統合倍率20X、十字線入。測定範囲 X軸0～25mmのマイクロ測定顕微鏡
『NMM-25D』は、測定範囲がX軸0～25mmのマイクロ測定顕微鏡です。 最小読取値は0.001mm(デジタルマイクロメータヘッド)。 統合倍率は20X、十字線入です。 【仕様】 ■測定範囲：X軸 0～25mm ■最小読取値：0.001mm(デジタルマイクロメータヘッド) ■統合倍率：20X 十字線入 ■サイズ：220mm(H)x160mm(W)x160mm(D) ■重量：3.2kg ※詳しくは外部リンクページをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
試料調整の必要無し！自動化オプションにより、再現性の高い測定結果を提供します
『MarSurf CM シリーズ』は、標準規格に準拠した測定システムと ソフトウェアを実装しているコンフォーカル顕微鏡です。 コンフォーカル技術による高解像度3Dデータから、より多くの表面形状の 情報と処理方法が得られます。 高速画像取得技術により、わずか数秒のうちに高解像度3Dデータを取得。 また、安定した機械構造を持ち、外部環境に影響されない測定が可能です。 【特長】 ■多彩なラインアップ ■高速測定（従来比約7倍の測定スピード） ■様々な用途に対応 ■接触式測定法と99％の相関性 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 ※PDFダウンロード時に表示される『興味を持ったきっかけ』の欄は株式会社イプロスのAIによって表示されております。
熱物性を測定することで、薄膜の厚みが評価できます！
ベテル社製サーマルマイクロスコープTM3を使用することで、 「薄膜の厚み」が評価できます。
STEM像と原子組成の測定結果から結晶構造の評価ができます
試料の測定によって得られた結果と、シミュレーションの併用により、結晶構造の評価が可能です。 本資料では、多結晶体であるネオジム磁石において、HAADF-STEMとEDXの測定によって得られた結果と、各々の測定条件を用いたシミュレーション像の比較から結晶構造の考察を行った事例を紹介します。測定結果と計算シミュレーション結果の併用により、結晶構造に対する理解を深めることが可能となります
吸収電流像から配線の高抵抗・オープン箇所の特定ができます。
・高抵抗異常箇所の特定可能 ・配線を流れる電流が微弱(pA) ・表面保護膜が存在しても測定可能 ・多層構造の配線でも測定可能 ・SEM観察とほぼ同条件で測定可能
製品購入から校正・修理・レトロフィットまでお任せください。
コラムが傾斜可能な測定顕微鏡です。《傾斜角度》±12°
総合倍率20X、50X、100Xの3型式をラインアップしたショップ測定顕微鏡
『NSMシリーズ』は、総合倍率20X、50X、100Xの ショップ測定顕微鏡です。 測定範囲5.0mmの「NSM-20」など、3つの型式を ラインアップしています。 【仕様(NSM-20)】 ■総合倍率：20X ■最小1目盛：5/100mm ■視野：9.0mm ■測定範囲：5.0mm ■作動距離：30mm ■サイズ/重量：φ64x200mm/600g ※詳しくは外部リンクページをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
無接触で凹面、凸面の微小な曲率（アール）を測定！
どんな小さな曲率でも、対物レンズの倍率を高くして測定ができます。曲率ばかりでなく、曲面の面精度なども光学チャート像のクズレで確認できます。 光学チャート像を曲率の面にピントを合わせ、0点合せをを行ない、続けて顕微鏡の位置を上げ、フィラメントの像を越して、再び、光学チャート像が曲率の面で反射して見える位置にピントを合わせると、それまでの移動量が曲率を示し、デジタルで表示されます。
ウエハ表面に可視でAFフォーカス！赤外顕微鏡でパターン寸法を画像測定
アローズエンジニアリングでは、アイティ・テック社製の 『自動赤外顕微鏡』を取扱っています。 当製品は、8”貼り合わせウエハの表面に可視でAFフォーカスして 赤外顕微鏡でSi内部パターンのパターン寸法を画像測定します。 2カセット、エッジグリップチャック、エッジアライナを搭載しています。 【特長】 ■対象ウエハ 8” ■2カセット ■位置決め精度±1μm ■軸ズレ測定±0.5μm ■線幅測定 0.2μm ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
検査部が所有している中型測定器！扱いやすいスタンダードタイプで測定
大研工業株式会社の検査部では、「測定顕微鏡 MFシリーズ ミツトヨ」 を所有しております。 長寿命LED照明と高倍率で100×100～400×200mmのステージライン。 扱いやすいスタンダードタイプです。 必要に応じてこちらで測定いたします。 【特長】 ■長寿命LED照明 ■高倍率 ■100×100～400×200mmのステージライン ■扱いやすいスタンダードタイプ ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
洗練されたツールで、測定・解析を迅速に
実験準備からレポート作成まで、トータルでサポートするツールへ進化 ・実験準備から分析・レポート作成までをこの1台で ・誰でも業界最高レベルの測定性能を ・設定不要で高精度な測定を
8インチ電動XYステージとオートフォーカス機能を搭載！正確に移動制御し測定エラーを防止
『TOMOS-80XY』は、あらかじめ指定したワークの測定箇所に自動で移動し、 MEMS、半導体ウェハなどの表裏パターンやアライメントマークのずれを 自動測定できる両面顕微鏡システムです。 円、四角、十字等のアライメントマークのエッジを自動検出し、 中心座標同士のずれを測定。XYZステージ制御条件、測定条件、マップ作成、 レシピ登録し、ワークの複数箇所を自動測定します。 また、XYステージとワークの装着位置のずれ補正アライメント機能を 搭載しており、正確に移動制御し測定エラーを防ぎます。 【ソフト機能(抜粋)】 ■表裏光軸補正 ■表裏レンズ倍率補正 ■カメラ取付θずれ補正 ■表裏位置ずれ自動計測 ■電動ステージ制御、マップ移動制御 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
老舗AFMメーカのハイエンド品並みの測定品質を実現
柔軟性、卓越した性能、使いやすい操作性を兼ね備えつつ、老舗AFMメーカのハイエンド品並みの測定品質を実現。ナノスケールのイメージングと特性評価のための幅広い機能を備えています。電気特性測定（KFM、C-AFM)、脆いサンプルも測定可能なソフトICモードも実現。
製品購入から校正・修理・レトロフィットまでお任せください。
コラムが傾斜可能な万能測定顕微鏡です。《コラム傾斜角度》±15°
空間分解能を生かした顕微赤外発光分光測定が可能！赤外顕微鏡を用いたソリューションをご紹介
物質の赤外発光スペクトルを解析することは、多くの研究分野において 重要な知見を与えます。 とくにFT-IRを用いた発光スペクトル測定では、幅広い波数領域を同時に 分析することが可能で、試料のもつ熱にともなう熱放射と量子メカニズムに 起因する放射の両方に対応します。 試料が大きく強い赤外線を放射するような場合には、発光スペクトルの測定は 比較的簡単ですが、1mmに満たないような微小試料の場合は、放射赤外光の検出が 困難になります。 当資料では、これらのハードルをクリアする、ブルカーならではの赤外顕微鏡を 用いたソリューションをご紹介しています。 【掲載内容】 ■はじめに ■測定例 ■まとめ ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
操作がとても簡単な測定顕微鏡！最小読取値0.01mm（デジマチック仕様）※特注品対応可能
『XYシリーズ』は、直線上の2点間を測定する非接触式測定顕微鏡です。 二次元計測ソフト(オプション)により、計測値や画像を保存することができます。 ステージはアルミ製・ガラス製よりお選びいただけます。 USBカメラ仕様の他に標準鏡筒（直筒）仕様もございます。どちらかご選択ください。 その他、特注仕様に関しましては、ご相談ください。 【特長】 ■簡単操作 ■直線上の2点間を測定 ■二次元計測ソフトにより計測値・画像の保存が可能 ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
