更新日： 集計期間:2025年11月19日～2025年12月16日
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様々なシーン・用途の観察に対応する顕微鏡。正立型・倒立型などをラインアップ
『MKシリーズ』は様々なシーン・用途の観察に対応する金属顕微鏡です。 プランアクロマート対物レンズの採用により、高画質な観察が可能な 「MK-600M」をはじめ、厚さのある検体を観察する場合に便利な 「MK-1000TM」や、落射照明と透過照明の2Wayで使用可能な 「MK-600MS」をラインアップしています。 【ラインアップ】 ■金属（正立型）顕微鏡「MK-600M」 ■金属（倒立型）顕微鏡「MK-1000TM」 ■金属/生物顕微鏡「MK-600MS」 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
モニタ観察に特化した、小型金属顕微鏡ユニットです。 1インチカメラ視野対応で、広視野での取り込みが出来ます。
モニタ観察に特化した、小型金属顕微鏡ユニットです。 1インチカメラ視野対応で、広視野での取り込みが出来ます。 ユニットの組み合わせにより、色々なタイプをご用意できます。 例） ・レボルバー付き ・対物レンズ90度曲げ ・同軸照明無など
金属組織観察や相解析などTEM、FE-SEM、EBSD等による断面観察および構造解析に関する事例を多数ご紹介します！
当事例集では『断面観察及び構造解析』にかかる事例についてご紹介します。 「線材（ばね材）の金属組織観察」、「2相ステンレスの相解析」、「STEM-EDSによる半導体絶縁膜評価」の目的や手法、結果などを含めた分析事例を多数掲載。 他にも、観察や相解析、絶縁膜分析や測定などご紹介しています。 ぜひ、ご一読ください。 【掲載内容】 ■線材（ばね材）の金属組織観察 ■2相ステンレスの相解析 ■STEM-EDSによる半導体絶縁膜評価 ■サマリウムコバルト磁石のEBSD測定 ■STEMによるコネクタ端子接点不良解析 ■生体試料（モルフォ蝶鱗粉）の断面観察 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
透過照明も装備、光透過性の検体の観察も可能な正立型金属顕微鏡
『BM-3400TTRL』は、一般的な金属顕微鏡が備えている同軸落射照明に 加えて、透過照明も装備していることにより、光透過性の検体（液晶の ような半透明の物質など）の観察も可能な正立型金属顕微鏡です。 金属組織学、鉱物学や、鉄道、航空、船舶、自動車、発電、錠前、 粉末冶金、精密機械工業、電気・電子、化学工業分野などの生産現場や 研究・教育の幅広い分野でご使用いただけます。 【特長】 ■長寿命の高輝度白色LEDを搭載 （3W、5000〜5500K、ケーラー照明・調光機構あり） ■同軸落射照明・透過照明の同時使用も可能 ■広視野接眼レンズを採用、ハイ・アイポイント設計 （メガネをかけたままでの検鏡が可能） ■5穴の逆レボルバ など ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
電界イオン顕微鏡装置（FIM）
●特徴 電解イオン顧微鏡（FIM：Field Ion Microscope）は鋭く尖った金属針先端の表面原子像を容易に観察できる投影型の顕微鏡で1951年にペンシルバニア州立大学のErwin E. Mueller教授により発明されました。本装置は、超高真空の環境の中で、試料としてセットした金属tip（探針）の電圧を除々に大きくしていくことで、スクリ−ンにFIM像を出現させ、針状の試料表面原子の凹凸を100万倍程度に拡大した像を肉眼で観察できるイオン検出形表面分析装置です。 同時にtipに電圧が印加されることで先端部分の表面に付着している不純物を取り除くクリーニング効果が得られます。 さらにtipに印加する電圧を大きくすることで電界蒸発を行わせ、原子を個々にはぎ取り、先端原子の数を調整できるなど高度な実験が可能です。こうした本装置の優れた特性は、金属の原子レベルでの観察はもとより、先端の鋭い金属tipが不可欠な走査型トンネル顕微境のtip評価用として使われるなど幅広い用途に生かされ、多くの研究所、大学の研究室などで採用されています。
30nmから5μmの切片作製が可能！材料系解析事例を複数ご紹介した資料です！
当資料は、株式会社花市電子顕微鏡技術研究所が行った材料系解析を まとめた事例集です。 「ウルトラミクロトーム」では、生物組織、金属メッキ層や無機蒸着 層を含む複合材料、ナノ粒子など幅広い分野における高品質な超薄切片 および断面作製に適応可能です。 当社では、受託分析を始めました。協力機関とタイアップして材料分析を 実施致します。 【掲載事例】 ■リポソームの構造解析 ■HIPSの構造解析 ■レンズ断面の構造解析 ■菓子袋の断面観察 ■分散法による金属粒子の形態観察（金属微粒子/金属担持カーボン） ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
超高温の世界を、高解像度でin-situ観察！最高1800℃の超高温環境下での鮮明なミクロ観察画像を集めました。
米倉製作所を代表する加熱観察IRイメージ炉に、デジタルバイオレットレーザー顕微鏡を搭載した『超高温レーザー顕微鏡システム』は、加熱中のin-situ（その場）観察を鮮明に撮像・記録することが可能なシステムです。 画像集では、鉄鋼、非鉄金属等の金属材料の、最高1800℃の超高温環境下での鮮明なミクロ観察画像をご紹介しています。 米倉製作所の公式 YouTube チャンネルでは、動画も公開しております。 カタログのQRコードからは、in-situ（その場）観察動画をご覧いただけます。 ★:: 「オーステナイト成長からベイナイト相転移」 ☆:: 「溶融金属からのスラグ結晶の遊離」 ★:: 「高温引張過程のその場観察」 など、8つの観察画像を掲載しています。 『超高温レーザー顕微鏡システム』は、鉄鋼、非鉄金属、セラミックス、二次電池等の高温下における微細構造挙動の研究、材料にご利用いただいております。 ※詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
金属の腐食による変色を観察、分析！変色原因調査事例をご紹介
当社にて、日常によくみられる金属の腐食による変色を、観察、分析した 事例をご紹介いたします。 走査電子顕微鏡(SEM)にて観察したところ、腐食の痕跡を確認。 本件の変色は、ニッケルめっき下の鉄材が腐食し、その生成物である錆が 表面に析出してきたために生じたものと推定されます。 【事例概要】 ■変色部観察：変色部を拡大 ■拡大観察と元素分析：更に拡大観察、変色部を元素分析 ■構造解析：ラマン分光による構造解析 ■変色原因：変色は主に鉄の腐食"赤錆" ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
小型軽量で、どのような場所にでも取り付けられ、鏡面の資料を明確に観察する顕微鏡です！
目視による観察だけを目的にするタイプと、観察とTVモニターでの画像観察が同時にできる2機種があります。対物レンズは互換性があります。ハロゲン照明と同軸照明ファイバー、あるいは、リングファイバー照明がセットになります。機械、装置にセットをする目的のOEMで使われる顕微鏡も、仕様をお知らせくだされば製作いたします。特別な例として、鏡筒の太さがφ15mmの金属顕微鏡も製作化しました。
結晶性物質の同定や結晶方位の解析ができる電子顕微鏡観察！金属材料全般に適用
『透過型電子顕微鏡（TEM）』は、高い加速電圧の電子線を試料に照射し、 試料を透過した電子線を電磁レンズで拡大することによって透過電子像や 電子線回折像を得ます。 透過電子像では結晶粒界、欠陥、ひずみ、析出物の有無などが観察でき、 電子線回折像からは結晶性物質の同定や結晶方位の解析ができます。 【特長】 ■1,000～1,000,000 倍での観察 ■EDS 分析による超微小領域の元素同定（分析元素：C～U の定性・半定量分析） ■結晶性物質の同定や結晶方位の解析 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
チップコンデンサ(MLCC)で、顕微鏡の「観察モード」をご紹介！
当社で行った基板実装部品の断面観察例をご紹介いたします。 市販のパソコン基板を用いて、実装部品のはんだ接合部や部品内部の構造を 金属顕微鏡で観察。金属顕微鏡の観察モードには、明視野観察、暗明視野観察、 偏光観察等があります。その他、透過光による観察等もあり、試料に合わせて 観察モードを選択します。 信頼性試験前後に断面観察を行うことで製品の信頼性を評価することが できます。観察する際は、はんだ接合界面の状態やクラック等の欠陥部を 明確に捉えるために、好適な「観察モード」を選択することが重要です。 【事例概要】 ■市販のパソコン基板を使用 ■実装部品のはんだ接合部や部品内部の構造を金属顕微鏡で観察 ・観察モード：明視野観察、暗明視野観察、偏光観察等 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
微生物や細胞などの生体試料、金属やガラス表面などに触れることなく、3次元形状を瞬時に復元！
『Digiholo Micro Max』は、レーザー光の干渉を利用したデジタルホログラフィ 技術を用いて、微生物や細胞などの生体試料あるいは金属やガラス表面などに 触れることなく、3次元形状を瞬時に復元できる顕微鏡です。 浄水処理障害の原因藻類の早期発見システムをはじめ、生命科学研究向け 生細胞の非侵襲3次元計測や、金属・ガラス表面等の3次元計測として 使用いただけます。 【特長】 ■3次元リアルタイム観察 ■作業者の熟練度によらない水検査 ■セッティングが簡単な卓上タイプ ■持ち運び簡単 ※詳しくは関連リンクページをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
金属材料中の転位の観察にはTEMが用いられてきましたが、SEMを用いた転位の観察ができるようになりました。
金属材料の変形や破壊のプロセスの本質的な理解には、転位の状態を可視化することが重要となっています。従来、金属材料中の転位の観察にはTEM（透過電子顕微鏡法）が用いられてきましたが、近年ではSEM（走査電子顕微鏡法）による観察も試みられていました。今回、当社でもこのSEMを用いた転位の観察ができるようになりました。
ナノスケールの凹凸形状を三次元的に計測
AFMは、微細な探針で試料表面を走査し、ナノスケールの凹凸形状を三次元的に計測する手法です。 ・金属・半導体・酸化物など、絶縁体から軟質の有機物まで幅広い試料を測定可能 ・接触圧力が弱いタッピングモードを用いることで、試料ダメージを最小限に抑えることが可能
金属多結晶の結晶粒の大きさや分布に関する知見を得ることが可能です
走査イオン顕微鏡（Scanning Ion Microscope：SIM）は固体試料にイオンビームを照射し、発生する二次電子を検出する手法です。二次電子は各結晶粒の結晶方位に応じたコントラストを生じるため、SIMによってCuやAlなどの金属多結晶の結晶粒の大きさや分布に関する知見を簡便に得ることが可能です。本資料では測定例としてCu表面をSIMによって観察した事例をご紹介します。
