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顕微鏡(金属) - メーカー・企業と業務用製品 | イプロスものづくり

更新日: 集計期間:2026年02月18日~2026年03月17日
※当サイトの各ページの閲覧回数を元に算出したランキングです。

顕微鏡の製品一覧

1~30 件を表示 / 全 83 件

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【分析解析事例】超音波顕微鏡による金属板越しの接着状態観察

超音波が透過するものであれば、外観から確認できない内部の情報を確認できます!

超音波顕微鏡による金属板越しの接着状態観察した事例を ご紹介します。 超音波顕微鏡は、超音波が透過するものであれば、外観から 確認できない内部の情報を確認することが出来ます。 信頼性試験後にチップが外れた試料にて、金属板に残っている 接着材の状態を金属板側から観察してみました。観察内容や 結果についてはPDF資料をご覧ください。 【事例概要】 ■金属-チップ間にある接着層の状態観察 ■金属と接着材の密着状態の観察 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

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金属顕微鏡『MKシリーズ』

様々なシーン・用途の観察に対応する顕微鏡。正立型・倒立型などをラインアップ

『MKシリーズ』は様々なシーン・用途の観察に対応する金属顕微鏡です。 プランアクロマート対物レンズの採用により、高画質な観察が可能な 「MK-600M」をはじめ、厚さのある検体を観察する場合に便利な 「MK-1000TM」や、落射照明と透過照明の2Wayで使用可能な 「MK-600MS」をラインアップしています。 【ラインアップ】 ■金属(正立型)顕微鏡「MK-600M」 ■金属(倒立型)顕微鏡「MK-1000TM」 ■金属/生物顕微鏡「MK-600MS」 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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無限遠系小型金属顕微鏡

モニタ観察に特化した、小型金属顕微鏡ユニットです。 1インチカメラ視野対応で、広視野での取り込みが出来ます。

モニタ観察に特化した、小型金属顕微鏡ユニットです。 1インチカメラ視野対応で、広視野での取り込みが出来ます。 ユニットの組み合わせにより、色々なタイプをご用意できます。 例) ・レボルバー付き ・対物レンズ90度曲げ ・同軸照明無など

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【TEM/SEM/EBSD】断面観察及び構造解析に関する事例集1

金属組織観察や相解析などTEM、FE-SEM、EBSD等による断面観察および構造解析に関する事例を多数ご紹介します!

当事例集では『断面観察及び構造解析』にかかる事例についてご紹介します。 「線材(ばね材)の金属組織観察」、「2相ステンレスの相解析」、「STEM-EDSによる半導体絶縁膜評価」の目的や手法、結果などを含めた分析事例を多数掲載。 他にも、観察や相解析、絶縁膜分析や測定などご紹介しています。 ぜひ、ご一読ください。 【掲載内容】 ■線材(ばね材)の金属組織観察 ■2相ステンレスの相解析 ■STEM-EDSによる半導体絶縁膜評価 ■サマリウムコバルト磁石のEBSD測定 ■STEMによるコネクタ端子接点不良解析 ■生体試料(モルフォ蝶鱗粉)の断面観察 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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正立型金属顕微鏡『BM-3400TTRL』

透過照明も装備、光透過性の検体の観察も可能な正立型金属顕微鏡

『BM-3400TTRL』は、一般的な金属顕微鏡が備えている同軸落射照明に 加えて、透過照明も装備していることにより、光透過性の検体(液晶の ような半透明の物質など)の観察も可能な正立型金属顕微鏡です。 金属組織学、鉱物学や、鉄道、航空、船舶、自動車、発電、錠前、 粉末冶金、精密機械工業、電気・電子、化学工業分野などの生産現場や 研究・教育の幅広い分野でご使用いただけます。 【特長】 ■長寿命の高輝度白色LEDを搭載 (3W、5000〜5500K、ケーラー照明・調光機構あり) ■同軸落射照明・透過照明の同時使用も可能 ■広視野接眼レンズを採用、ハイ・アイポイント設計 (メガネをかけたままでの検鏡が可能) ■5穴の逆レボルバ など ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

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電界イオン顕微鏡装置(FIM)

電界イオン顕微鏡装置(FIM)

●特徴 電解イオン顧微鏡(FIM:Field Ion Microscope)は鋭く尖った金属針先端の表面原子像を容易に観察できる投影型の顕微鏡で1951年にペンシルバニア州立大学のErwin E. Mueller教授により発明されました。本装置は、超高真空の環境の中で、試料としてセットした金属tip(探針)の電圧を除々に大きくしていくことで、スクリ−ンにFIM像を出現させ、針状の試料表面原子の凹凸を100万倍程度に拡大した像を肉眼で観察できるイオン検出形表面分析装置です。 同時にtipに電圧が印加されることで先端部分の表面に付着している不純物を取り除くクリーニング効果が得られます。 さらにtipに印加する電圧を大きくすることで電界蒸発を行わせ、原子を個々にはぎ取り、先端原子の数を調整できるなど高度な実験が可能です。こうした本装置の優れた特性は、金属の原子レベルでの観察はもとより、先端の鋭い金属tipが不可欠な走査型トンネル顕微境のtip評価用として使われるなど幅広い用途に生かされ、多くの研究所、大学の研究室などで採用されています。

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  • マイクロスコープ
  • その他実験器具・容器
  • 顕微鏡

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『透過型電子顕微鏡(TEM)観察』

結晶性物質の同定や結晶方位の解析ができる電子顕微鏡観察!金属材料全般に適用

『透過型電子顕微鏡(TEM)』は、高い加速電圧の電子線を試料に照射し、 試料を透過した電子線を電磁レンズで拡大することによって透過電子像や 電子線回折像を得ます。 透過電子像では結晶粒界、欠陥、ひずみ、析出物の有無などが観察でき、 電子線回折像からは結晶性物質の同定や結晶方位の解析ができます。 【特長】 ■1,000~1,000,000 倍での観察 ■EDS 分析による超微小領域の元素同定(分析元素:C~U の定性・半定量分析) ■結晶性物質の同定や結晶方位の解析 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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【事例】クリップボード金属部の変色原因調査

金属の腐食による変色を観察、分析!変色原因調査事例をご紹介

当社にて、日常によくみられる金属の腐食による変色を、観察、分析した 事例をご紹介いたします。 走査電子顕微鏡(SEM)にて観察したところ、腐食の痕跡を確認。 本件の変色は、ニッケルめっき下の鉄材が腐食し、その生成物である錆が 表面に析出してきたために生じたものと推定されます。 【事例概要】 ■変色部観察:変色部を拡大 ■拡大観察と元素分析:更に拡大観察、変色部を元素分析 ■構造解析:ラマン分光による構造解析 ■変色原因:変色は主に鉄の腐食"赤錆" ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他の各種サービス
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【資料】材料系解析事例

30nmから5μmの切片作製が可能!材料系解析事例を複数ご紹介した資料です!

当資料は、株式会社花市電子顕微鏡技術研究所が行った材料系解析を まとめた事例集です。 「ウルトラミクロトーム」では、生物組織、金属メッキ層や無機蒸着 層を含む複合材料、ナノ粒子など幅広い分野における高品質な超薄切片 および断面作製に適応可能です。 当社では、受託分析を始めました。協力機関とタイアップして材料分析を 実施致します。 【掲載事例】 ■リポソームの構造解析 ■HIPSの構造解析 ■レンズ断面の構造解析 ■菓子袋の断面観察 ■分散法による金属粒子の形態観察(金属微粒子/金属担持カーボン) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • 受託解析
  • 電子顕微鏡
  • その他顕微鏡・マイクロスコープ
  • 顕微鏡

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《超高温レーザー顕微鏡 in-situ 画像集》ミクロ観察画像集

超高温の世界を、高解像度でin-situ観察!最高1800℃の超高温環境下での鮮明なミクロ観察画像を集めました。

米倉製作所を代表する加熱観察IRイメージ炉に、デジタルバイオレットレーザー顕微鏡を搭載した『超高温レーザー顕微鏡システム』は、加熱中のin-situ(その場)観察を鮮明に撮像・記録することが可能なシステムです。 画像集では、鉄鋼、非鉄金属等の金属材料の、最高1800℃の超高温環境下での鮮明なミクロ観察画像をご紹介しています。 米倉製作所の公式 YouTube チャンネルでは、動画も公開しております。 カタログのQRコードからは、in-situ(その場)観察動画をご覧いただけます。 ★:: 「オーステナイト成長からベイナイト相転移」 ☆:: 「溶融金属からのスラグ結晶の遊離」 ★:: 「高温引張過程のその場観察」 など、8つの観察画像を掲載しています。 『超高温レーザー顕微鏡システム』は、鉄鋼、非鉄金属、セラミックス、二次電池等の高温下における微細構造挙動の研究、材料にご利用いただいております。 ※詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。

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特注光学系 単眼、ミニ金属顕微鏡(同軸照明)正立像タイプ

小型軽量で、どのような場所にでも取り付けられ、鏡面の資料を明確に観察する顕微鏡です!

目視による観察だけを目的にするタイプと、観察とTVモニターでの画像観察が同時にできる2機種があります。対物レンズは互換性があります。ハロゲン照明と同軸照明ファイバー、あるいは、リングファイバー照明がセットになります。機械、装置にセットをする目的のOEMで使われる顕微鏡も、仕様をお知らせくだされば製作いたします。特別な例として、鏡筒の太さがφ15mmの金属顕微鏡も製作化しました。

  • 光学顕微鏡
  • 顕微鏡

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【半導体事業】目視検査工程

検査倍率×25倍~×500倍!社内認定制度に合格した専任者による検査を実施します

半導体事業の『目視検査工程』についてご紹介します。 熟練したオペレータによる顕微鏡検査(金属顕微鏡、実体顕微鏡)を実施。 検査倍率×25倍~×500倍で、社内認定制度に合格した専任者による 検査を行います。 【特長】 ■設備 ・外観検査用顕微鏡 50台(オリンパス社製) ■熟練したオペレータによる顕微鏡検査(金属顕微鏡、実体顕微鏡)を実施 ■検査倍率×25倍~×500倍 ■社内認定制度に合格した専任者による検査を実施 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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3次元顕微鏡『Digiholo Micro Max』

微生物や細胞などの生体試料、金属やガラス表面などに触れることなく、3次元形状を瞬時に復元!

『Digiholo Micro Max』は、レーザー光の干渉を利用したデジタルホログラフィ 技術を用いて、微生物や細胞などの生体試料あるいは金属やガラス表面などに 触れることなく、3次元形状を瞬時に復元できる顕微鏡です。 浄水処理障害の原因藻類の早期発見システムをはじめ、生命科学研究向け 生細胞の非侵襲3次元計測や、金属・ガラス表面等の3次元計測として 使用いただけます。 【特長】 ■3次元リアルタイム観察 ■作業者の熟練度によらない水検査 ■セッティングが簡単な卓上タイプ ■持ち運び簡単 ※詳しくは関連リンクページをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • レーザー顕微鏡
  • 光学顕微鏡
  • その他顕微鏡・マイクロスコープ
  • 顕微鏡

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基板実装部品の断面観察(1)~(6)

チップコンデンサ(MLCC)で、顕微鏡の「観察モード」をご紹介!

当社で行った基板実装部品の断面観察例をご紹介いたします。 市販のパソコン基板を用いて、実装部品のはんだ接合部や部品内部の構造を 金属顕微鏡で観察。金属顕微鏡の観察モードには、明視野観察、暗明視野観察、 偏光観察等があります。その他、透過光による観察等もあり、試料に合わせて 観察モードを選択します。 信頼性試験前後に断面観察を行うことで製品の信頼性を評価することが できます。観察する際は、はんだ接合界面の状態やクラック等の欠陥部を 明確に捉えるために、好適な「観察モード」を選択することが重要です。 【事例概要】 ■市販のパソコン基板を使用 ■実装部品のはんだ接合部や部品内部の構造を金属顕微鏡で観察 ・観察モード:明視野観察、暗明視野観察、偏光観察等 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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  • 顕微鏡

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SEM-ECCI法による転位観察

金属材料中の転位の観察にはTEMが用いられてきましたが、SEMを用いた転位の観察ができるようになりました。

金属材料の変形や破壊のプロセスの本質的な理解には、転位の状態を可視化することが重要となっています。従来、金属材料中の転位の観察にはTEM(透過電子顕微鏡法)が用いられてきましたが、近年ではSEM(走査電子顕微鏡法)による観察も試みられていました。今回、当社でもこのSEMを用いた転位の観察ができるようになりました。

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[AFM]原子間力顕微鏡法

ナノスケールの凹凸形状を三次元的に計測

AFMは、微細な探針で試料表面を走査し、ナノスケールの凹凸形状を三次元的に計測する手法です。 ・金属・半導体・酸化物など、絶縁体から軟質の有機物まで幅広い試料を測定可能 ・接触圧力が弱いタッピングモードを用いることで、試料ダメージを最小限に抑えることが可能

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【分析事例】走査イオン顕微鏡によるCu表面の結晶粒観察

金属多結晶の結晶粒の大きさや分布に関する知見を得ることが可能です

走査イオン顕微鏡(Scanning Ion Microscope:SIM)は固体試料にイオンビームを照射し、発生する二次電子を検出する手法です。二次電子は各結晶粒の結晶方位に応じたコントラストを生じるため、SIMによってCuやAlなどの金属多結晶の結晶粒の大きさや分布に関する知見を簡便に得ることが可能です。本資料では測定例としてCu表面をSIMによって観察した事例をご紹介します。

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超小型金属顕微鏡『N.O.W.-K III型(正立型)』

大型検体(部品)や移動困難な検体(部品)の表面観察に好適な、超小型金属顕微鏡

『N.O.W.-K III型(正立型)』は、観察平面上に顕微鏡本体を 置くことによってその平面の観察を行います。 卓上型金属顕微鏡では不可能な大型検体(部品)や、移動困難な 検体(部品)の表面観察が可能。 その他、観察しにくい小部品の対象物を観察するのに適した 「N.O.W.-K IV型(倒立型)」や「NSM-M型」もご用意しています。 【特長】 ■観察平面上に顕微鏡本体を置き、その平面を観察 ■大型検体(部品)、移動困難な検体(部品)の表面観察が可能 ■用途に適したラインアップ ※詳しくは外部リンクページをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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金属顕微鏡『RM-5400TL』

明視野観察、偏光観察に対応!ユニークな構造の金属顕微鏡

『RM-5400TL』は、実体顕微鏡のように支柱に対して顕微鏡本体を任意の 高さで固定できるため、薄いサンプルから厚みのあるサンプルの観察まで 幅広く利用できる金属顕微鏡です。 顕微鏡本体をピラーから取り外し、装置組み込み型の同軸落射顕微鏡 ユニットとしても利用可能。 フォーカスアームの背面は生産ラインや検査工程の設備などに組み込める 構造で設置場所に拡張性があります。 【特長】 ■標準仕様では最大115mm厚、ロングピラータイプでは約415mm厚の  サンプルまで観察可能 ■広視野接眼レンズ、高品質プランアクロマート対物レンズ採用 ■総合倍率:×50、×100、×200、×500 ■5穴のレボルバ ■瞳孔間距離調整範囲:52mm~75mm など ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

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【事業紹介】画像処理顕微鏡・レーザー刻印

オートフォーカス画像顕微鏡などにより、小さな形状や精密部品の測定も容易!

株式会社メグシでは、画像処理顕微鏡・レーザー刻印を行っております。 リニアハイトゲージやオートフォーカス画像顕微鏡により、 小さな形状や精密部品の測定も容易に行えます。 また、YVO4レーザーマーカーにより、品名や番号、ロゴなどを 金属や樹脂部品へも緻密なマーキングができます。 【特長】 ■小さな形状や精密部品の測定も容易 ■品名や番号、ロゴなどを金属や樹脂部品へも緻密なマーキングが可能 ※詳しくは外部リンクページをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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【活用事例集】オールインワン蛍光顕微鏡『BZ-X700』

スフェロイド形成状態の確認やセルマイグレーション(細胞遊走)アッセイの事例を掲載!

当資料では、当社が取り扱っているオールインワン蛍光顕微鏡 『BZ-X700』の活用事例を紹介しております。 複合材料中の繊維(有機物)の分散状態の可視化や、ダブルエマルションの 高解像度撮影、金属表面の全焦点観察などの事例についてご紹介。 画像やポイント付きで紹介しておりますので、ぜひご活用ください。 【掲載内容】 ■複合材料中の繊維(有機物)の分散状態の可視化 ■ダブルエマルションの高解像度撮影 ■金属表面の全焦点観察 ■スフェロイド形成状態の確認 ■セルマイグレーション(細胞遊走)アッセイ ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

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液晶付きデジタル顕微鏡『3R-MSLCD43』

動画/静止画撮影・保存!対象物の反射を軽減し、傷や不良の見逃しを防ぎます

『3R-MSLCD43』は、自由な角度で照射できるスネークライトを搭載した デジタル顕微鏡です。 金属など反射しやすい対象観察時のハレーションを軽減します。 また、レンズを覗き込む必要がなく、目の疲れを軽減。 確認したい対象物を覗き込まずモニタで観察できます。 コンパクトサイズで観察時スペースを取りません。 【特長】 ■静止画・動画撮影 ■ライトはそれぞれ調光可能 ■対象物がはっきり見えるモニタサイズ ■手ブレを防ぐリモコン ■スタンドでブレをおさえる ※詳しくは、お気軽にお問い合わせください。

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液晶付きデジタル顕微鏡/ 品番 M926RMS-LCD54T

自由な角度で照射できるスネークライトを搭載したデジタル顕微鏡 対象物の反射を軽減し、傷や不良の見逃しを防ぎます。

●拡大率:4~43倍 ●4.3インチモニタ ●100万画素 ●動画/静止画 撮影・保存 ■20型相当のモニタ使用で最大200倍に拡大 ■確認したい対象物を覗き込まずモニタで観察できます。 両側にスネークライト搭載した液晶付きデジタル顕微鏡です。 金属など反射しやすい対象物観察時のハレーションを軽減します。 最大倍率43倍、20型相当の外部モニタで観察時スペースを取りません。 レンズを覗き込む必要が無く、目の疲れを軽減します。 ■使用用途 刃先・基板・印刷物・繊維の品質検査 植物・金属部分の観察 傷・バリ・異物混入の確認など ■製品特長 ●静止画・動画撮影 静止画・動画撮影ができ、静止画は最大4032×3024 サイズの画像を保存可能。 データはmicroSDカードに保存され、撮影したデータをいつでも再確認することができます。

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両側のスネークライトで反射を防止する!液晶付きデジタル顕微鏡

両側にスネークライトを搭載したモニタ付きデジタル顕微鏡。金属など反射しやすい対象物観察時のハレーションを軽減します。

金属部品の観察時、上面からの照射で起こるハレーションでストレスを感じたことはありませんか? この液晶付きデジタル顕微鏡なら、スネークライトで両側から間接的に照射することで反射による対象物の見づらさを解消します。 一体のモニタで表示した場合、4~43倍で観察が可能です。20型相当のPCで表示した場合、約200倍で観察することができ、より詳細な観察を実現します。 観察した映像は静止画・動画を記録が可能。静止画は最大4032×3024サイズの画像を保存することができます。データはMicroSDカードに保存され、撮影したデータをいつでも再確認することができます。 MicroSDまたは、USBケーブルをPCに接続し撮影データ取り込みます。取り込んだデータは資料作成や会議の場で役立ちます。

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株式会社オーヒラ 事業紹介

医療機器・健康機器メーカーとして培ってきた技術力で、人々の未来に貢献します

株式会社オーヒラは、光学機器の設計・精密加工・組立会社として歩んでまいりました。 品質を重視し、眼科用医療機器の商品・サービスを提供しています。 医薬品医療機器等法及びFDA・MDD等の諸外国の法規制にも対応しています。 また、精密機器に用いられる金属部品の材料加工から、表面処理(取引先にて対応)、塗装等も含めて最終製品まで品質管理し対応しています。 【事業内容】 ○医療機器製品の設計・開発製造サービス ○歯科用医療用器具器械の受託製造 ○金属加工サービス(光学機器部品、医療用器具部品、精密機械部品) ○多種少量精密機器の開発・試作、製造・組立 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。

  • その他 顕微鏡・光学検査機器
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【スリーアール】液晶付きデジタル顕微鏡

ダイヤルでフォーカスを調整!確認したい対象物を覗き込まずモニタで観察できます

『液晶付きデジタル顕微鏡』は、両側にスネークライトを搭載した製品です。 金属など反射しやすい対象物観察時のハレーションを軽減します。 最大倍率43倍、20型相当の外部モニタで最大200倍まで拡大可能。 コンパクトサイズで観察時スペースを取りません。また、レンズを覗き込む 必要がなく、目の疲れを減らします。 【特長】 ■静止画・動画撮影が可能 ■ライトはそれぞれ調光可能 ■対象物がはっきり見えるモニタサイズ ■撮影時に便利なリモコン・スタンド付き ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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電子顕微鏡での受託観察

走査型電子顕微鏡(FE-SEM)による表面観察を受託いたします:分解能(感度等):~20万倍

■試料をお送り頂きますと、試料台作成~画像撮影~画像ファイル(jpeg)変換を行い、お送り致します。 ■格安料金を設定しておりますので、ぜひご利用下さい。

  • 受託測定
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[SIM]走査イオン顕微鏡法

高分解能(加速電圧30kV:4nm)でのSIM像観察が可能

・高分解能(加速電圧30kV:4nm)でのSIM像観察が可能 ・SEM像に比べてSIM像の方が極表面層の情報が得られる ・金属結晶粒観察が可能(Al、 Cu等) ・分解能はSEM像より劣る(SIM:4nm、 SEM:0.5nm) ■MST所有装置の特徴 ・試料サイズ最大直径300mmφのJEIDA規格ウエハ対応が可能 ・FIB(集束イオンビーム)加工との組み合わせで連続的な断面SIM像の取得が可能(Slice&View)

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電界放出型走査顕微鏡『FE-SEM』

EDXが装着されており、試料観察と同時に元素の種類・量・分布状態を調べることが可能です!

『FE-SEM』は、電子線を絞り細い電子線を試料に照射し、表面を観察する 電界放出型走査顕微鏡です。 超高分解能観察が可能。汎用SEMと同様に電子線を絞り電子ビームとして 対象に照射し、対象物の表面から放出される二次電子や反射電子を検出 することで、対象の表面の観察を実施。 また、JSM-7100Fでは、EDS及びEBSD解析装置が装着されているため、 高分解能の観察だけでなく元素分析や結晶性試料の方位解析(EBSD解析)が できます。 【特長】 ■サブミクロンオーダーでの観察が可能 ・汎用SEMより高倍率で形態観察が可能で、より鮮明な像を取得可能 ■EDX(エネルギー分散型分析装置)による定性分析 ・EDXが装着されており、試料観察と同時に元素の種類・量・分布状態を  調べることが可能 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

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『FE-SEM(EDS/EBSD付)観察』

細く絞った電子線を試料に照射!結晶方位や結晶構造の解析もできる電子顕微鏡!

『FE-SEM(電界放射電子銃式走査型電子顕微鏡)』は、汎用SEMよりも更に細く 絞った電子線を試料に照射、走査することによって、より鮮明な拡大像などが 得られる装置です。 また、細く絞った強い電子ビームを利用して結晶方位解析法(Electron Back-Scatter Diffraction;略してEBSD)を用いると、結晶方位や結晶構造の解析を行うことも できます。 【適用対象】 ■金属材料全般 ■セラミックス ■繊維(蒸着処理必要) ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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