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製品品質が格段に向上！高精度検査によるワーク内面の合理化・省力化を実現
『内径外観検査装置』は、ワーク内面の目視検査の合理化・省力化を 実現し、高精度検査による製品品質を格段に向上させました。 KIRIN製ジャイロスキャンを用い、高精度の内面検査を行います。 条件により、最小Φ0.1mm程度の検出が可能で、部位ごとに判定基準を 設定できます。 また、ワークに応じた装置（メカ・制御）を設計・製作が可能で、 外径外観検査装置と組合せれば、内外面の検査も可能となります。 【特長】 ■KIRIN製ジャイロスキャンを用い高精度の内面検査ができる ■条件により、最小Φ0.1mm程度の検出が可能 ■高い再現性で自動検査を行う ■部位ごとに判定基準を設定可能 ■ワークに応じた装置（メカ・制御）を設計・製作 ■外径外観検査装置と組合せ、内外面の検査が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
データ比較+DRC方式を併用！高速スキャンと低虚報率による確認時間の短縮で作業コストを大幅に低減
『EAGLE Fシリーズ フィルムAOI』は、PCB用フィルムとジアゾフィルムを 同時に検査することができます。 データ比較とDRCの原理により、フィルムのオープン/ショート、 欠け、突起、白ピン、黒ピン、L/S違反、余分なパターン、欠落、 特殊な欠陥などを高精度かつ効率的に検査することが可能。 さらに、2D測長（OP）、SPC欠陥統計解析「統計的工程管理」などの機能を 備えています。 【特長】 ■データ比較+DRC方式を併用した本格的なPCBフィルム用の製品 ■一般的な国産データ比較式AOI以上の性能を高いコストパフォーマンスでご提供 ■高速スキャンと低虚報率により確認時間を短縮し作業コストを大幅に低減 ■L/S・2点間測長機能（OP）やSPC欠陥統計解析機能も装備可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
最終の両面検査で安心の品質保証を実現！課題を解決しました
当社で取り扱う、基板実装向け両面検査ソリューション『DSIシリーズ』 をご紹介します。 デュアルレーン装置を活用し、一般的な両面検査ラインの 課題を解決すると伴に、大幅に作業も向上。 また、デュアルレーンモデルの検査装置を使用する事で、基板の 搬送時間がキャンセル出来、片面検査装置2台分の検査が可能です。 【特長】 ■片面検査装置2台分の検査が可能 ■ライン長は約3.5m ■作業時間(移動時間)の短縮に繋がる ■基板供給・収納装置付近の空マガジン置き場は不要 ■工場の単位面積当たりの生産性の向上に繋がる ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
食品内異物検査装置をはじめ、印字検査装置や電子部品外観検査装置などの実績あり
ユビキタス・テクノロジーズはカメラ画像処理を応用した外観検査装置・ 計測システムから省力化設備・治具装置・各種計測システムまで全て 自社技術を集結しお届けすることができます。 またクラウドサーバ、モバイル端末・スマートデバイスで培ってきた ソフトウェア技術と併せて製造工程へのloTシステムを御提案・導入など、 ものづくり工程を全面的にサポートしています。 食品内異物検査装置をはじめ、包装機内包袋印字検査装置や 電子部品外観検査装置などの実績がございます。 【実績例】 ■食品内異物検査装置 ■レーザー変位計による成形不良検査装 ■包装機内包袋印字検査装置 ■印字検査装置（コンベア後付タイプ） ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
複数項目の検査と寸法測定を実現し検品の自動化で生産性と品質を向上！
自動検査機導入により ◆全数検査実現 ◆検査一定基準化 ◆検査結果証拠残し ◆検査工程の見える化 が可能になります。
進化した3D AOIと3D SPIに加え、両面同時2D AOIも登場！中国で多数実績のある外観検査装置メーカーです。
JUTZEの基板向け外観検査装置の紹介です。 3DAOI ♦ インラインタイプ ♦ M、Lサイズに対応 ♦ 隣接部品の影を作らない4方位プロジェクタ 3DSPI ♦ インラインタイプ ♦ M、Lサイズに対応 ♦ コストを抑えた2方位プロジェクタ ♦ 多彩な回析ツールを装備 2DAOI ♦ インラインタイプ、オフラインタイプ ♦ M、Lサイズに対応 ♦ 高速、高画質、高検出力、低価格 ♦ 2020年より両面同時検査モデルを販売開始 ※詳しくはカタログをダウンロード、もしくはお問合せください。
装置内のクリーン状況を事前解析し、理想的なクリーンレベルを達成可能！
株式会社アドテックエンジニアリングの「クリーン技術」をご紹介いたします。 露光装置を量産する高クリーンな設備環境を完備。 また装置内のクリーン状況を事前解析し、理想的なクリーンレベルを 達成できます。 ご用命の際は、当社へお気軽にお問い合わせください。 【技術概要】 ■高クリーンな設備環境を完備 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
自由なハードウェア選択！カメラ、レンズ、PCなど市場にある機器が自由に使用可能
『高機能自動外観（チップ6面）検査装置』は、半導体チップの寸法測定や 傷検査といった高精度な外観検査を簡単に行えます。 Z軸画像合成処理により高倍率レンズ使用時においても高速にて深度の深い 画像が得られ、傾斜したワークにおいて平面補正も行うことが可能。 カメラ、レンズ、PCなど市場にある機器が自由に使え、ラインカメラでの リアルタイム観察もできます。お客さまの仕様に合わせた選択が可能です。 【特長】 ■高速長深度測定（多焦点撮像） ■高精度測定 ■自由組換え画像処理フロー ■高速6面検査測定 ■ダメージレスハンドリング機構 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
小型・軽量・高速・高機能！ヒューマンエラーを低減し、生産性を向上させます。
「オートマティックDCテスター ATS-3201」は、小信号ディスクリート製品の計測をする為に開発された半導体テスターです。 水銀を含むウェットリレーを一切使用せずトランジスター・ダイオード・MOS FETを高速で計測します。 汎用DCテスターのヘッドボックスサイズに全機能を集約。設置場所を選ばず、様々な生産現場のレイアウトに対応します。 【特徴】 ○水銀レス ○トランジスター・ダイオード・MOS FETを高速で計測 ○高信頼性実現 ○HOST通信SEMI規格準抑/ハンドラ・プローバ接続 ○軽量・コンパクト 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
イメージングプレート（IP）を使用！デジタル画像診断を行う放射線検査システム
FCRとは、Fuji Computed Radiographyの略で、従来の工場用X線フィルムに 代わり、イメージングプレート（IP）を使用し、デジタル画像診断を行う 放射線検査システムです。 【特長】 ■従来の工場用X線フィルムに代わり、イメージングプレート（IP）を使用 ■デジタル画像診断を行う放射線検査システム ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
基板最終外観検査でお悩みの企業様必見！ その問題"TY-VISION XAIS(ザイス)"が解決！【基板最終外観+AIシステム】
基板最終外観検査用AIシステム『TY-VISION XAIS（ザイス）』をご紹介します。 AVI（基板最終外観検査装置）『TY-VISION』で検出した欠陥情報をXAIS（AIシステム）で"良品"と"要確認"に自動振り分けします。 XAISから受け取った"要確認"の箇所のみ検査者が確認し最終判定を実施。 検査者の確保、人件費、教育にかかる時間、 不良流出防止の為の検査工数など出荷前最終外観検査のお悩みを解決します。 【導入メリット】 ■工数削減 ■人件費削減 ■検査品質安定化 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 ＃基板検査＃検査装置＃外観検査＃最終外観＃効率化＃省力化＃AVI＃AVFI＃検査＃欠陥＃欠陥検出
その微細欠陥、TY-VISIONで検査してみませんか？ M111SCは光学分解能2.5μmで約10μmの欠陥もズバリ検出！
微細欠陥の検出でお困りではないですか？ 【現在ご使用中の最終外観検査機についてお聞きします】 ＊検出に満足ですか？【YES・NO】 ＊虚報は少ないですか？【YES・NO】 一つでもNOなら、TY-VISIONをお試しください。 パッケージ基板・セラミックス基板・FPCなどでトップクラスの検出性能を誇り、量産工程でも多数採用されています。 AIシステムのXAIS（ザイス）を追加することで更に劇的な虚報数低減を実現しています。 適時、デモ検査を承っておりますので、是非ご相談ください。 ※最初に基板の情報をご提供頂き実施する場合にデータと対象物をお預かりします。
NG箇所の発生場所が一目瞭然！ラインカメラ表裏面検査仕様の外観検査装置のご紹介
当社が取り扱う『シート外観検査装置』のご紹介です。 NG箇所をスクロールマップで表示している為、NG箇所の発生場所が一目瞭然。 検査中にNG箇所の画像のみを表示する事も可能です。 また、エンコーダパルス撮像手法で、生産速度が変わっても検査画像に影響 しない為、誤検知をする事がありません。 【特長】 ■エンコーダパルス撮像で誤検知をする事が無い ■NG箇所をスクロールマップで表示している為、NG箇所の発生場所が一目瞭然 ■検査中にNG箇所の画像のみを表示する事が可能 ■過去のNG画像や設定内容をさかのぼって閲覧する事が可能 ■検査基準のコントラストに合わせる事ができる為、誤検知を減らす事が可能 ※詳しくは下記リンクよりカタログをダウンロードいただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
麺帯の表面異物を自動外検査！過去のNG画像や設定内容をさかのぼって閲覧する事が可能
当社が取り扱う『麺帯外観検査装置』のご紹介です。 麺帯の微妙な変化に照明の明るさを自動で変化させ、検査基準の コントラストに合わせる事が出来る為、誤検知を減らす事が可能。 また、カメラをBOX収納、照明もエアーブローが付いている為、 粉がカメラ・照明に付着しにくい粉塵対策が施されています。 【特長】 ■粉がカメラ・照明に付着しにくい ■NG箇所の発生場所が一目瞭然 ■検査中にNG箇所の画像のみを表示する事が可能 ■過去のNG画像や設定内容をさかのぼって閲覧する事が可能 ■検査基準のコントラストに合わせる事が出来る為、誤検知を減らす事が可能 ※詳しくは下記リンクよりカタログをダウンロードいただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
平面と立体物を比較して差異を一瞬で抽出！「紙：紙」「紙：データ」「データ：データ」の３種類の検査に対応。※オンラインデモ実施中
『ケンサ・フラッシュ』は、校正紙と実際の印刷物を比較して差異を抽出する 卓上型・外観検査装置です。 大きさ合わせや変形の修正機能搭載。紙同士の比較は勿論、被写体深度のある カメラ方式なので、製函・製袋・円柱などの立体容器の外観検査に対応しています。 基本検査の操作は僅か3つのキーを押すだけとなっており、どなたでも、 直ぐに本格検査が行えます。 【特長】 ■高解像度カメラ入力方式 ■製函・製袋・円柱などの立体容器の外観検査に対応 ■専用キーで簡単操作 ■立体容器の外観検査にも使用可能 ■多彩な表示のバリエーションで差異の確認をしっかりサポート ※オンラインデモ実施中です。お気軽にご相談ください。 仕様詳細はPDFをダウンロードしてご覧ください。
