表面分析装置のメーカーや取扱い企業、製品情報、参考価格、ランキングをまとめています。
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表面分析装置 - メーカー・企業14社の製品一覧とランキング

更新日: 集計期間:2025年08月20日~2025年09月16日
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表面分析装置のメーカー・企業ランキング

更新日: 集計期間:2025年08月20日~2025年09月16日
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  1. 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST 東京都/試験・分析・測定
  2. シエンタ オミクロン株式会社 東京都/試験・分析・測定
  3. ザ・ブルーボアハウス株式会社 東京都/産業用電気機器
  4. 東邦化研株式会社 埼玉県/電子部品・半導体
  5. 5 株式会社パスカル 大阪府/産業用機械

表面分析装置の製品ランキング

更新日: 集計期間:2025年08月20日~2025年09月16日
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  1. 【分析事例】化学修飾XPSによる水酸基の定量 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
  2. シエンタオミクロン 表面分析装置 ESCA シエンタ オミクロン株式会社
  3. ブライトサインス社 自動 表面分析装置 5001手持ち式 ザ・ブルーボアハウス株式会社
  4. 【分析事例】Cu表面のXPSによる酸化状態評価 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
  5. 4 研究開発を加速する、[新]表面分析サービス開始! 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

表面分析装置の製品一覧

31~45 件を表示 / 全 45 件

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【分析事例】粘着テープの残渣評価

TOF-SIMSにより表面付着物成分を同定します

粘着テープの残渣は、製造工程において密着不良・剥離の原因となります。不良の原因として残渣が疑われる場合、表面付着物の成分とその分布を調べることができるTOF-SIMSが有効です。 粘着テープをSiウエハ表面に張り、剥がした後のSiウエハ表面および粘着テープの表面をTOF-SIMSで測定した事例をご紹介します。

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【分析事例】燃料電池用触媒の分析

XPSによる化学状態分析とTEMによる形態観察

燃料電池の電極は、カーボン担体に触媒であるPt粒子が担持された構造をしています。Ptの評価法として状態分析にはXPS分析、形態観察にはTEM観察が有効です。Pt触媒の酸化(被毒)や凝集(比表面積低下)などのPt触媒の劣化についてもこれらの手法で評価可能です。 角度を変えながら撮影した画像を再構築することによりPt粒子の三次元像を得ています。

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【分析事例】燃料電池の固体高分子電解質膜の評価

TOF-SIMSによる分子構造評価・XPSによる化学状態評価

固体高分子形燃料電池(PEFC) は常温で高出力のため車載用、家庭用コージェネレーション、モバイル用として注目されています。今回は固体高分子電解質膜について、TOF-SIMSでの分子構造評価例・XPSでの結合状態・定量評価例を紹介します。 その他にも、MSTでは雰囲気制御下での解体・各種分析手法を用いた電池材料の総合評価が可能です。

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【分析事例】ステンレス不動態皮膜の深さ方向状態評価

波形解析・Arスパッタによる結合状態の深さ方向分布評価

XPSでは酸化成分(酸素と結合している成分)・金属成分(金属と結合している成分)などの結合状態の評価が可能です。また、アルゴンイオンスパッタリングを併用することにより、深さ方向の結合状態の評価も可能です。 ※ ステンレス表面の不動態皮膜(厚さ数十nm~数百nm程度)について、上記測定を行った結果、(1)表面側にFe酸化成分が多い、(2)Cr酸化成分がFe酸化層の下側に存在、(3)Ni酸化成分はほとんど存在していないことがわかりました。 ※スパッタによる結合状態変化を含むため、相対比較での評価が主となります。

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【分析事例】熱履歴を考慮した異物の成分同定

熱履歴を揃えた標準試料の活用提案

ポリプロピレン(PP)などの高分子材料は、大気中で加熱されると大気中の酸素や水分と反応し、分子構造が変化します。そのため、異物や付着物が高分子材料の可能性がある場合、測定サンプルと同じ環境で処理した標準物質を比較データとして用いる必要があります。 熱処理(200℃/30分)によってPP標準物質がどのように変化するかを調べるため、FT-IR及びTOFSIMS測定を行いました。

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【分析事例】有機EL層の定性分析

雰囲気制御下での測定面出し加工により成分の変質を抑制

有機ELを搭載した市販のデジタルオーディオプレーヤーについて、雰囲気制御下で測定面を出すことで加工による変質を抑えて、成分の定性分析を行いました。

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【分析事例】プラズマ処理によるぬれ性変化の原因調査

TOF-SIMSによる高分子・樹脂・フィルムの表面改質層の最表面の評価が可能

細胞培養シャーレの表面では、細胞の密着性(接着性)を高めるために、疎水性のプラスチック表面を親水性に変える処理が行われています。今回、親水処理を行ったシャーレの表面についてXPS、TOF-SIMSで評価した結果、OH、CHOが増加していることがわかりました。XPSで定量的な評価を行い、TOF-SIMSで定性的な評価を行うことで、表面がどのように変化したかを捉えることが可能です。

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【分析事例】有機成分洗浄効果の評価

300mmウェハをそのまま測定できます

TOF-SIMSには有機物、無機物を同時評価、微小領域に対応、最表面を感度よく分析できる、300mmウェハのまま評価可能という特徴があり、洗浄工程での残渣調査などに力を発揮します。 Si表面の有機汚染の除去効果の分析事例をご紹介します。XPSでアミン系有機物は極微量であることが確認されている試料について、TOF-SIMS分析を行いました。微小領域においても、このように極微量の成分まで測定可能です。

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【分析事例】TOF-SIMSによるニッケルめっき剥離面の評価

めっきの剥がれ、密着不良をTOF-SIMS分析で原因調査

リン青銅上のニッケルめっきに発生した剥がれの不具合を調査するため、TOF-SIMS分析を行いました。 剥がれの部分を強制剥離させ、TOF-SIMSで定性分析を行ったところ、剥離面からはシロキサンやカリウム化合物(塩化カリウムや硫酸カリウム)などが検出されました。これらの成分が剥がれの原因であると考えられます。

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ご希望者全員プレゼント!表面分析の基礎と受託分析事例

〈XPS・TOF-SIMS〉 表面分析とは何か・表面分析の種類等、基礎的な解説を充実。また表面分析を用いた代表的な事例を掲載。

表面分析のご検討に役立つ基礎解説・分析事例をまとめてご紹介します。 お手元に置いて、分析サービスのご検討にぜひご活用ください。 ★ご希望の皆様全員に無料でプレゼント★ 【お問い合わせ】より、「カタログ送付希望」にチェックを入れてお申し込みください。 ※【PDFダウンロード】よりダイジェスト版をご覧頂けます。

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【DL可:XPS/AES/GD-OES】表面分析に関する事例集1

Niめっきの膜厚や濃度測定、表面汚染レベル測定などXPS、AES、GD-OES各装置での表面分析および測定事例をご紹介します

当事例集では、『表面分析』にかかる事例をご紹介します。 「めっき基板の洗浄評価(GD-OES測定)」の目的や手法と結果をはじめ、 「XPSによる表面汚染分析」の特長や分析事例、「鉄サビの分析 (ラマン分光分析)」の特長や分析事例など多数掲載。 他にも、解析結果や状態解析、組成測定などご紹介しております。 ぜひ、ご一読ください。 【掲載内容】 ■めっき基板の洗浄評価(GD-OES測定) ■XPSによる表面汚染分析 ■酸化銅の状態解析(XPS・AES分析) ■鉄サビの分析(ラマン分光分析) ■変色したステンレスの組成調査 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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技術資料『表面分析の概要』

代表的な表面分析であるEPMAやAESなどを解説した技術資料

技術資料『表面分析の概要』は、近年、製品開発や不具合の対応などで益々重要になっている、表面や界面の構造・組成の把握に用いられている、様々な「表面分析方法」について掲載した資料です。 本資料では、表面分析の基礎の基礎として、代表的な表面分析であるEPMAやAES、XPS、SIMS、TOF-SIMSを簡潔に解説しています。 【掲載内容】 ■表面分析の種類と特徴  ・EPMA  ・AES  ・XPS ほか 詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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【技術資料】-LIBの分析-ESCAによるMn価数解析

市販のマンガン酸リチウムを用いて、Mn価数を解析した事例などをご紹介

『-LIBの分析-ESCAによるMn価数解析』についてご紹介した技術資料です。 市販のマンガン酸リチウムを用いてMn価数を解析した事例を、図表と共に わかりやすく掲載しています。 【掲載内容】 ■概要 ■分析事例の紹介 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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【分析事例】二次電池正極表面被膜の組成分析

有機成分および活物質表面の分布評価、定性分析

リチウムイオン二次電池の正極表面における成分の偏析や被膜の形成は、電気容量に影響する一因と なります。正極として用いられるLi(NiCoMn)O2(NCM)について、AESによる微小領域マッピングおよびXPS、TOF-SIMSによる有機成分(バインダー)や活物質表面被膜の定性分析を行った事例を紹介いたします。これらの手法では、測定までの一連の処理をAr雰囲気下で行い、試料の変質を抑えた分析が可能です。

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研究開発を加速する、[新]表面分析サービス開始!

最表面だけでなく、30nmの深部まで ~表面と材料内部の化学状態を同一箇所・非破壊で定量評価!~

XPS/HAXPESによる新サービスを6月より開始しました! 複雑化する材料や微細構造試料に対し、表面から材料内部(~30nm)までの組成・化学結合状態を、同一箇所・非破壊で評価できます。 ・着目の元素や分析対象領域・深さに応じてX線源(Al Kα/Mg Kα/Ga Kα/Cr Kα)を使い分け、適切な測定条件での評価を実現 ・大気非暴露測定、 Arモノマー/GCIBスパッタエッチング、加熱前処理の併用が可能 ・UPS/LEIPSによる半導体試料の電子状態評価(イオン化ポテンシャル/電子親和力/バンドギャップ)が可能

  • 2次電池・バッテリー

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