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発泡体のセル壁内の結晶構造が観察できます！
当社では、形態観察として「透過型電子顕微鏡(TEM)による発泡体の観察」 を行っております。 高分子の結晶構造観察やポリマーアロイのモルフォロジー観察で培った 超薄切片作製の技術を応用かつ向上することにより、発泡体のセル壁内の 結晶構造を観察することが可能。 また、PE以外の樹脂、複合材料でも観察実績があり、染色技術を組み合わせる ことでポリマーアロイのセル壁の分散状態を観察することができます。 【特長】 ■PE以外の樹脂、複合材料でも観察実績あり ■染色技術を組み合わせることでポリマーアロイのセル壁の分散状態を観察可能 ■軟質素材の発泡体でも観察可能 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
SEBS中の微細構造(ミクロ相分離構造)が観察可能!!
弊社では、透過型電子顕微鏡(TEM)によるスチレン系エラストマーの 微細構造観察を行っております。 スチレン-エチレン/ブテン-スチレンブロック共重合体(SEBS)等のスチレン系 熱可塑性エラストマー中の微細構造(ミクロ相分離構造)をTEMで観察。 その結果、スチレン系エラストマー２種類で微細構造に違いがあることが示され、 これらのエラストマーは樹脂改質材として広く添加使用されており、複合材料中での スチレン系エラストマーの分散状態についても、弊社の電子染色技術によりTEM観察が可能。 その他、ブロック共重合体やグラフト共重合体の微細構造のTEM観察にご興味ある方も ご相談下さい。 【特長】 ■複合材料中でのスチレン系エラストマーの分散状態についても、 電子染色技術によりTEM観察が可能 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
微小分散ゴムドメイン(ブタジエンゴム)のサラミ構造を観察！構造の違いが明確に分かります
弊社では、透過型電子顕微鏡(TEM)によるスチレン系樹脂(HIPS、ABS)中の 微小分散ゴムの観察を行っております。 耐衝撃性ポリスチレン(HIPS)とアクリロニトリロ・ブタジエン・スチレン (ABS)樹脂中の微小分散ゴムドメイン(ブタジエンゴム)のサラミ構造を観察。 両者のサラミ構造の違いが明確に分かります。 ご用命の際は、お気軽に弊社までお問い合わせください。 【概要】 ■微小分散ゴムドメイン(ブタジエンゴム)のサラミ構造を観察 ■サラミ構造の違いが明確に分かる ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
最大200nAの照射電流は、各種マイクロアナリシスに対応！分析能力も強化
広視野全体像から表面微細構造まで、短い時間で多くの情報を取得できる 「FE-SEM」を導入した事例をご紹介いたします。 表面微細構造、組成、結晶学的情報、形状情報など多彩な イメージング能力を装備。 複数の二次電子信号や反射電子信号が同時に取得でき、これまでより 短い時間で多くの情報を得られるようになりました。 【事例概要(抜粋)】 ■導入製品：HITACHI製SU7000 ・電子源：ZrO/Wショットキータイプエミッター ・二次電子分解能：0.8nm(加速電圧 15kV)、0.9 nm(加速電圧 1kV) ・加速電圧：0.1～30kV ・倍率：20～2,000,000倍(装置スペック) ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
SEM-EDXによる形状観察及び簡易定量分析
半導体ウェハ製造プロセスにおけるパーティクルの制御は、ウェハの品質を担保する上で非常に重要です。本事例では、Siウェハ上パーティクルのSEM観察及びEDX分析と簡易定量(※1)によって、パーティクルが何かを推定しました。サブミクロンの高い空間分解能を持ち、数cmの領域を走査できるSEM装置では、形状及び組成情報からウェハ上のパーティクルが何かを速やかに推測でき、発生工程を素早く特定することができます。欠陥検査装置の座標データとリンクした分析も可能です。
樹脂の結晶構造、分散状態等の観察・評価が可能です！
当社ホームページでは「透過型電子顕微鏡(TEM)による結晶構造、 ポリマーアロイのモルフォロジー観察」についてご紹介しております。 高分子の結晶構造、ポリマーアロイのモルフォロジーをTEMを用いて観察する には、超薄切片を作ることが必要です。また電子線透過度に差をつける 為に染色が必要となります。 主な染色剤と染色可能な樹脂を表でご紹介している他、観察例も 掲載しておりますので、ぜひ、ご覧ください。 【掲載内容】 ■主な染色剤と染色可能な樹脂 ■観察例 ・HDPEの結晶構造 ・ポリマーアロイの分散構造観察例 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
セルロースナノファイバーボールペンのインク固形分中のCNFを観察！
当社で行った「透過型電子顕微鏡(TEM)によるセルロースナノファイバー (CNF)観察」についてご紹介いたします。 これまで培ってきた樹脂材料の透過型電子顕微鏡(TEM)観察のノウハウを 生かして、市販セルロースナノファイバーボールペンのインク固形分中の CNFを観察。 インク顔料と絡み合ったようにみえる約10nm幅(太さ)のCNFが観察でき、 インクには解繊状況の異なるCNFが混在していることがわかりました。 【観察結果】 ■インク顔料と絡み合ったようにみえる約10nm幅のCNFが観察された ■サブミクロン幅のCNFも観察 ■数nm程度の細いミクロフィブリルが何本も束になって100nm程度の 太さの繊維を形成している ■インクには解繊状況の異なるCNFが混在している ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
微細なCNFの分散状態や樹脂のラメラ晶を観察！TEM観察とSEM観察の特長もご紹介
当社ホームページでは「セルロースナノファイバー(CNF)複合材料の 形態観察」についてご紹介しております。 「HDPE/CNFのTEM観察事例」や「HDPE/CNFのSEM観察事例」の 写真を掲載。 TEM観察では、微細なCNFの分散状態、これを取り囲む樹脂のラメラ晶が 観察でき、SEM観察では、比較的大きなCNFの分散状態を観察できます。 【掲載写真】 ■HDPE/CNFのTEM観察事例 ■HDPE/CNFのSEM観察事例 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
走査型電子顕微鏡(SEM)、透過型電子 顕微鏡(TEM)でセルロースナノファイバー(CNF)の構造を観察！
当社で行った「セルロースナノファイバー(CNF)観察」について ご紹介いたします。 これまで培ってきた樹脂材料の走査型電子顕微鏡(SEM)観察、透過型電子 顕微鏡(TEM)観察のノウハウを生かして、市販されているセルロースナノ ファイバー(CNF)試料を観察。 表面または断面から、nmオーダー太さのCNFミクロフィブリル1本まで 鮮明に見ることができました。 【観察内容】 ■走査型電子顕微鏡(SEM)観察 ・CNFをより細かく分散 ■透過型電子顕微鏡(TEM)観察 ・細かく分散させたCNFの断面観察 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
これまでに培ったSEMによる形態観察技術で、食品容器包装材料の層構成の観察が可能です!!
固形ルウの容器は食品の保存性が必要なことから、容器は多層構造になっています。 このような食品容器も、電子顕微鏡で断面観察することで層構成を明らかにすることが出来ます。 ある市販の固形ルウの容器は、FE-SEM観察から約３μm～約４０μmの厚みの７層の多層構造で あることが分かりました。 これをもとに更に材質分析(＊１)をFT-IRやラマン分析で進めた結果、各層の材質についても 把握することが出来ました。 また、容器の保存性についても、酸素透過度、水蒸気透過度の測定(＊２)で把握することができます。 ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
バイオマスプラスチック製品中のセルロース、でんぷんなどの分散状態が観察できます!!
弊社では、電界放出形走査電子顕微鏡(FEーSEM)によるバイオマスプラスチック製品中 のセルロース、でんぷんなどの分散構造観察を行っております。 植物由来の天然樹脂の海に植物繊維(セルロース)の島が分散し、この界面に 接するように円形状のでんぷんの島が存在している様子を観察。 各種プラスチック複合材料の分散状態を低倍率(数100倍：比較的大きな凝集 構造)から高倍率(10万倍前後：微細構造)まで、目的に応じて観察致します。 【特長】 ■各種プラスチック複合材料の分散状態を低倍率から高倍率まで、 目的に応じて観察 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
ブロックPPの分散構造をTEM観察！エラストマーやCNF複合材料なども観察可能
弊社では、透過型電子顕微鏡(TEM)によるブロックポリプロピレンの 分散構造を行っております。 ゴムドメイン内部のEPR成分やPEのラメラ晶が、またPPマトリックスでは ラメラ晶が鮮明に確認することが可能。 ブロックPP単体だけでなく、エラストマーや他樹脂、CNF(セルロースナノ ファイバー)等のフィラー成分を添加した複合材も観察できますので、 お問い合わせ下さい。 ■ゴムドメイン内部のEPR成分やPEのラメラ晶が確認できる ■PPマトリックスではラメラ晶が鮮明に確認できる ■フィラー成分を添加した複合材も観察できる ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
TEM画像だけでなくSEM画像からも、画像解析ができる！各種機械物性評価も実施可能
当社では、透過型電子顕微鏡(TEM)画像の定量化(画像解析)を 行っております。 高分解能のTEM像やSEM像を画像解析することで、樹脂中の微小分散ゴム ドメインの分散状態などを数値化(定量化)することが可能。 微小分散ゴムの分布評価の活用事例 ・ゴムドメインの分散状態が、樹脂の機械物性にどのような影響を もたらすのかを把握する。…各種機械物性評価も弊社で実施可能です。 ・押出条件や成形条件がゴムドメインの分散状態にどう影響するのかを把握する。 【特長】 ■TEM画像の2値化処理により、ゴムドメインを抽出し、これを基にドメイン径 (評価パラメータ)のヒストグラムを作成し、ドメイン径分布を評価 ■評価パラメータは他にも、ドメインの長軸長・短軸長やドメインの個数、 占有面積、面積率なども求めることが可能 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
参加費無料！MicroEDを利用した絶対立体配置の決定について報告
当社では、「MicroED結晶構造解析の基礎と応用 パート2～MicroEDを 利用した絶対立体配置の決定について～」ウェビナーを開催いたします。 今回は“パート2"と称しまして電子線の多重散乱効果を十分に考慮した “絶対立体配置の決定"に関してご紹介。 本手法は、軽元素のみで構成される分子における絶対立体配置の決定に 関しても驚異的な威力を発揮する優れた手法となります。 解析事例として本ウェビナーでは、複雑な天然物、合成医薬品原薬に対する MicroEDによる絶対立体配置の決定について報告いたします。 【開催概要】 ■開催日時：2024年10月15日(火)14：00～14：45 ■参加：無料 ■会場：Microsoft Teamsによるウェビナー開催 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
光学顕微鏡より遥かに高分解能！ミクロでの表面観察や表面凹凸の確認に適しています
「卓上走査型電子顕微鏡」は、真空中に細く絞った電子線で試料表面を 走査し、試料から出てくる情報を検出して拡大表示させる顕微鏡です。 光学顕微鏡より遥かに高分解能で、ミクロでの表面観察や表面凹凸の 確認に好適。 また、表面観察のほかに、X線検出器を用いたEDS元素分析により、 試料表面にどんな元素がどの程度含まれているかを確認することが可能です。 【特長】 ■加工が難しい試料やそのまま観察したい試料等に有効 ■最大W100mm×D100mm×H40mmまでの試料を試験台にセットできる ■ユーセントリックホルダを活用することで、試料の傾斜・回転が可能 ■ミクロでの表面観察や表面凹凸の確認に好適 ■線検出器を用いたEDS元素分析により、試料表面にどんな元素が どの程度含まれているかを確認することが可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
