特長・機能 ○ JEDEC､JEITA､AEC､ESDA規格適合 ○ 電流パルス試験、電源過電圧試験が標準仕様 ○ 最大３電源が接続可能 ○ デバイスピンへのプルアップ/ダウン設定が可能。 ○ PC画面上でI－Vグラフを表示しながら試験可能。 ○ サーモストリーマーを使用して最大１５０℃～１７５℃までのラッチアップ試験可能。

• 試験機器・装置

取り扱い製品 ・ 同軸終端器（ターミネータ） ・ 同軸減衰器（アッテネータ） ・ ハンドヘルド型広帯域電圧プローブ ・ 高電圧パワーデバイダ ・ パルストランス ・ 高電圧パルス発生器

• 時間・周波数測定

【特徴】 ○プラズマ異常放電の可視化と予知 ○Townsend spark が放射する電磁波の検出 ○リアルタイムモニタリングシステム ●詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。

• 電力監視機器

【特徴】 ○MIL､EIA/JEDEC､JEITA､AEC､ESDA規格適合 ○１台でHBM、MM、CDM、LATCH-UP4種以上の信頼性評価試験が可能 ○最大印加電圧　8000V ○最大印加ポイント1500ピン ○印加前後のV-Iカーブ比較による破壊判定機能 ○精密測定電源による、nA単位でのリーク判定が可能 ○カメラ搭載により、微細部品・チップ部品への直接印加が可能 ○基板実装部品、特殊形状部品、モジュール製品の試験が可能 ○イミュニティ試験を応用したデバイス評価 ○電源端子への高速パルス印加が可能 ○高温器を接続して最大125℃までのラッチアップ試験可能 ○ラッチアップ発生過程のモニタ ○LAN回線を接続することにより、 　遠地からの試験条件の作成、試験の開始指令の外データ収集等可能 ○試験結果は、PC上のデータベースにより管理可能 ●詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。

• 試験機器・装置

【特徴】 ○チップ位置とESD耐量の関係を的確に評価 ○マルチ・コモン・ピンによるESD電流の経路評価 ○新開発要素の静電気に対する信頼性を敏速に評価 ○デバイス開発期間の大幅な短縮化とスループットの上昇 ●詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。

• 試験機器・装置

【特徴】 ○ ANJS/ESDA/JEDEC JS-002対応 ○ 最大印加電圧は4000V ○ 誘導帯電および直接充電方式のCDM試験 ○ カメラと高精度ロボットによる正確な位置合わせ ○ デバイスピンの形状に合わせ印加ピンは交換可能 ○ デバイスピン(BGA)に荷重を掛けないポゴピン構造 ○ CDM放電の検出機能 ●詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。

• 試験機器・装置

【特徴】 [ESD部] ○JEITA、MIL、ESDA、JEDEC 規格適合 ○ピン・コンビネーション試験が可能 　（ピン組合せ：3 種のコモンピン・シーケンス） ○複数デバイス試験 ○複数テスト・モード機能 ○ESD 8kV(HBM)まで可能 ○ESD 波形をパソコンに記録、保存 ●詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。

• 試験機器・装置

【特徴】 [ESD部] ○最大印加電圧は8000V ○高速ESD印加モード ○多彩なピンコンビネーション試験 ○精密V/I電源を使用した破壊判定 ○高速破壊判定機能 (オプション) ●詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。

• 試験機器・装置

狭ギャップ放電耐性検査装置 i-ESD-10A/20A 【i-ESD-10A 仕様】 ・印加電圧：-700V～-17kV ・印加電極の寸法：170mm（l）×60mm（w） ・走査範囲：430mm×180mm ・AC電源：100V±10%、1Φ、50/60Hz、10W以下 ・重量：約13Kg 【i-ESD-20A 仕様】 ・印加電圧：-100V～-20kV ・印加電極の寸法：170mm（l）×60mm（w） ・走査範囲：無制限（手動、肩掛け使用時） ・内臓電池：フル充電で約4時間 ・内臓電池充電時のAC100V：約50VA ・重量：約5.7Kg ※さらに詳しい仕様は、カタログにてご確認ください。 ※製品の仕様は予告なく変更になる場合がございます。ご了承下さい。

• その他検査機器・装置

・1台で5役　HBM、MM、DI-CDM、FI-CDM、TLP ・構成によりTLP試験も可 ・各種ESD規格に適合（MIL、EIA/JEITA、JEITA、AES、ESDA規格） ・最大印加電圧　±8KV ・放電波形モニタ ・ESD試験とノイズイミュニティ試験 ・ウェーハ試験治具取付 ・気中放電モデル ※製品の仕様は予告なく変更になる場合がございます。ご了承下さい。

• 試験機器・装置

・静電気放電(ESD)の発生時刻とレベルを長時間記録 ・誘導帯電(DCI)の発生時刻とレベルを長時間記録 ・従来機より高感度(10倍程度)、広帯域（２GHz） ・多数のユニットを1台のパソコンに接続 ・パソコン用標準ソフト供給可能 ・豊富な表示方式、処理形式 ※製品の仕様は予告なく変更になる場合がございます。ご了承下さい。

• 試験機器・装置

・高電圧電源 ： 最大20KV ・デジタル電圧計 ： 高圧プローブ ・針先 ： タングステン加工 ・サーマルチャンバー ： 125℃又は150℃ ・温度コントロール ： リモート制御 ※製品の仕様は予告なく変更になる場合がございます。ご了承下さい。

• 試験機器・装置

・印加及び測定電源： 100V～2KV/1μA～2mA ・検出絶縁抵抗： 106Ω～1012Ω ・最大試験時間： 10,000H（14ヶ月） ・放電検出機能： 絶縁膜破壊を監視 ・最大ブロック： 高圧電源×8 ・最大チャンネル： 64チャンネル ・オプション： 高温器 ※製品の仕様は予告なく変更になる場合がございます。ご了承下さい。

• 試験機器・装置

・1ユニット：10ch ・最大ゲート・バイアス：15V/100mA ・最大ドレン・バイアス：100V/100mA ・最大試験時間：約8,000H ・オプション：高温器 ・オプション：ユニット増設 ※製品の仕様は予告なく変更になる場合がございます。ご了承下さい。

• 試験機器・装置

・試験ピン数：　200、400、600、800、1000…2000以上 ・試験機能： 　（1）全ピンショートモジュールを使用した試験 　（2）全ピンプルアップ抵抗経由の試験　R=20、100、500? 　（3）ピン間のショートチェック ・チェック時間：　通常モードで5秒程度 ・ドライバ機能：Iout 700mA（最大）　出力リーク電流100μA ・レシーバIC機能：　0入力：0.8V　1入力：2.4V ・プルアップ機能：　4組以上50ピン毎。　1ブロック化＋5V電源 ・パッケージライブラリの作成、保存が容易 ※製品の仕様は予告なく変更になる場合がございます。ご了承下さい。

• 試験機器・装置

特長・機能 ○ MIL､EIA/JEDEC､JEITA､AEC､ESDA規格適合 ○ 最大10個のデバイスを同時に試験 ○ V－Iカーブによる破壊判定機能 ○ 複雑なピンコンビネーション試験に完全対応 ○ 外部試験機と接続可能 ※製品の仕様は予告なく変更になる場合がございます。ご了承下さい。

• 試験機器・装置
• EMC試験

・静電気対策チェア（一般事務/実験/研究室用） ・静電気対策チェア（エグゼクティブ） ・静電気対策チェア（クリーンルーム用） 　　Class100 3000シリーズ　クリーンルーム用 　　Class10 ACE8030/ACE8040　クリーンルーム用ESD対策椅子 ・静電気対策チェア（流れ作業、中立作業用） 　　1000PLシリーズ　高さ調節スツール 　　1300SS,1500SSシリーズ　シットスタンド（立作業時の支持椅子） ※製品の仕様は予告なく変更になる場合がございます。ご了承下さい。

• 静電気対策グッズ