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東京電子交易株式会社

設立1977年 7月19日
資本金2000万
従業員数17名
住所東京都立川市柴崎町 5-16-30
電話042-548-8011
  • 公式サイト
最終更新日:2012/04/17
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東京電子交易の製品・サービス一覧

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1~17 件を表示 / 全 17 件

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ラッチアップ試験機 「モデル1100-LUPシリーズ」

モデル1100-LUPは、ICに対するラッチアップ試験を簡単かつ正確に実施することができます。

モデル1100-LUPは、専用のテストヘッドと電源を組み合わせたラッチアップ試験機でお客様のニーズに応じたシステムを安価に構築することができます。またPCのコントロールソフトでラッチアップ試験の開始から結果収集まで自動で実行できます。

  • 試験機器・装置

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高電圧パルスの同軸製品

高電圧パルス用のアッテネータ(減衰器)、ターミネータ(終端器)、デバイダ(分配器)の各種同軸製品のラインナップを紹介。

1964年以来、バースエレクトロニクス社は高速・高電圧パルス製品の専門メーカとして、さまざまな分野に信頼性の高い同軸製品を日々提供しております。おかげさまで、現在では世界中の研究者のスタンダードとしてご利用いただいております。

  • 時間・周波数測定

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プラズマ常時監視システム 「FS1000」

プラズマ異常放電の可視化と予知

(株)EM・Predix は,過去14 年間(それ以前にも本技術に直結する経験を重ねてきました)に亘り、様々な業界において、プラズマダメージおよび静電気障害に対する計測技術および対策技術を提案してまいりました。 この資料では,プラズマチャンバー内部で発生しナノ秒 (ns) で完結する異常放電から放射される電磁波を検出するプラズマ常時監視システムFS1000をご紹介いたします。 【特徴】 ○チャンバー内全位置の放電を検出 ○放電が放射する過渡電磁波を検出 ○異常放電を検知・予知・制御 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。

  • 電力監視機器

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ESD/CDM/ラッチアップ試験器「MODEL1200シリーズ」

ESD試験/CDM試験/ラッチアップ試験を1台でサポートするコストパフォーマンス に優れた試験装置です。

モデル1200シリーズは、1台でESD/CDM/LATCH-UP試験を可能とした試験器で、最大256ピンのプログラマブルピンコンビーネーションにより安定かつ効率の良い試験を保証いたします。 最大の特長は、ワークエリアの広さで、複雑な形状の半導体デバイス、基板実装部品、モジュール製品へのESD/CDM印加を可能としました。 また、用途に合わせたDUTボードを製作することで、LED部品から多ピンデバイスまで幅広い製品評価に御使用いただけます。 【特徴】 ○1台でHBM、MM、CDM、ラッチアップ試験の  4種以上の信頼性評価試験が可能 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。

  • 試験機器・装置

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全自動ESDテスタ 「モデル400Sシリーズ」

HBM、MM規格に完全適合 ウェーハ、チップ、パッケージ対応

モデル400SWは種々の形状の試料にHBM、MMのESDパルスを印加した後、破壊、劣化を自動で判定する極めて操作性の優れた新方式のESDテスタです。 ESD試験を何時でも、誰でも、簡単にしかも短時間に行えることを最大の特長とします。 従来ESD試験機はチップをパッケージに封入し、ICソケットを設計、製作した後ESDの評価を行っていました。 本機はチップ、パッケージはもちろんのことウェーハでのESD試験もできますのでその時間的、金銭的な負担を大幅に削減できるようになりました。 【特徴】 ○ウェーハからパッケージまでの総合的ESD耐量評価 ○ウェーハの周期的評価による高信頼性工程の維持管理 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。

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CDM試験機・CDMテスタ 「モデル1100-CDMシリーズ」

モデル1100-CDMは、ICに対するCDM試験(誘導帯電および直接充電)を簡単かつ正確に実施することができます。

CDM試験装置は、静電気が帯電している電子部品の金属電極部が外部の金属に触れたり、また、帯電した物体(例えば人体)に接触している金属が、電子部品の金属電極に接触したときに生じる極めて高速の電荷移動によって生じるストレスにより、電子部品が壊れる場合の、電子部品の信頼性を測定する試験装置です。 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。

  • 試験機器・装置

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ESD/LATCH-UPテスタ 「モデル7000Xシリーズ」

JEITA、MIL、ESDA、JEDEC 規格準拠

ESD/LATCH-UPテスタ 「モデル7000Xシリーズ」では、1軸ロボットに取りつけたESDパルス発生ユニットでESDのモデルを決定します。 そのため、数年に1度はアップデートされる、新波形規格への対応が、ESDパルス発生ユニットのみの変更で対応でき、長期間ご使用いただけます。 また、最新規格対応から、古い規格へ戻して試験する事も容易にできます。 現在、規格案を討議中の、トランジェント・ラッチアップの規格等も、制定されれば、短時間で対応できます。 【特徴】 [LATCH-UP部] ○ラッチ・アップ規格JEITA、JEDEC等に適合 ○ラッチ・アップ試験の最新規格、  入力ピン条件max HI/min LO を標準装備 ○クロック/パターン発生器 ○デバイス安定化機能 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。

  • 試験機器・装置

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ESD試験機/LATCH-UP試験機 「7000Bシリーズ」

ラッチ・アップ規格JEITA、JEDEC等に適合

Model7000Bは、従来のModel7000の後継機として開発された最新モデルです。最大システム1024ピンの高い拡張性とModel7000の評価ボード(DUT)を 流用できる利便性を兼ね備えています。 またリレーマトリックス構造の変更により、ラッチアップ試験用の電源は最大6電源に、デバイスの安定化やダイナミックラッチアップ試験 に必要なパターン供給はプログラム選択可能となり、使い勝手の面でも大きく向上致しました。 【特徴】 [LATCH-UP部] ○ラッチアップ検出電源の搭載数は、最大6電源 ○Max-Hi Min-Low 3電源とクロック・パターン機能を標準搭載 ○外部電源の追加 (オプション) ○155℃の高温ラッチアップ試験 (オプション) 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。

  • 試験機器・装置

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誘導ESDによる誤動作検査装置【デモ機貸し出し!】

誘導ESDに対する耐性を備えているか検査する新発想の検査機「狭ギャップ放電耐性検査装置」。デモ機貸し出し、持ち込みテスト可能!

貴社の電子機器、システムのどこで誤作動が起きるか事前にチェックできる検査機。 デモ機の貸し出し、持ち込みテスト可能!お気軽にお問合せください。 ■ポイント 電子機器内部で誘導ESD※が発生すると周辺の広帯域の電磁波を放射し、誤動作を誘発。その原理を利用し、誤動作部位を特定。 ※誘導ESD:変化する静電気により静電誘導が生じ、これによる電位差が導体間の狭ギャップ(間隔0.1mm程度以下)に加わった時に起こる超高速静電気放電。 ※製品の仕様は予告なく変更になる場合がございます。ご了承下さい。 ◆詳しくはお問い合わせ、もしくはカタログをご覧ください◆

  • その他検査機器・装置

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ESD/CDM シミュレータ [静電破壊試験器]

静電破壊試験器(ESD試験器/CDM試験器)の定番、ESD/CDMシミュレータ モデルEcdm-100E/400E/800E

Ecdmシリーズは、低価格、手動操作のベンチトップ型ESDシミュレータです。外部接続プローブ/アダプタを交換することにより、人体モデル(HBM)、機械モデル(MM)、デバイス帯電モデル(CDM)、パッケージ帯電モデル(CPM、外国ではFI-CDMと呼ばれています)など、あらゆるESDをシミュレートする事ができます。 ※製品の仕様は予告なく変更になる場合がございます。ご了承下さい。

  • 試験機器・装置

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ESDイベント・ディテクタ [静電気放電監視モニタ]

作業エリア、搬送ラインで発生している静電気トラブルの早期発見・対策用、静電気放電・帯電監視モニタ

EV-10AはESD(静電気放電)およびDCI(誘導帯電)を検出し、これをパソコンにデータ収集する装置です。ESDに敏感な電子部品は急激に増え続けています。これらの電子部品の製造ライン、あるいは組込みラインでは、静電気を注意深く制御しないと、歩留まりを悪化させることになります。EV-10Aをパソコンに接続すると、受信したESD、DCIを連続してモニタし、発生時刻とその受信レベルを記録する事ができます。記録結果を製造ラインでの不良の発生状況と照らし合わせる事により、静電気対策が必要かどうか調査できます。また、対策後のラインの評価ができます。 ※製品の仕様は予告なく変更になる場合がございます。ご了承下さい。

  • 試験機器・装置

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ゲート・リーク試験器 [GLテスタ]

高温下で高圧電界を発生させデバイスの誤動作を評価するGLテスタ、AEC-Q100-006 REV-Cに準拠

高温下にあるICに高電界を加えると、ICのカタログ仕様に不適合の項目が発生する場合(例えばIcc、入力リーク、ACパラメータ、ファンクション特性)があります。これを電気熱誘導寄生ゲートリーク(GL)と言います。GLが発生したデバイスは"不良"とみなされますが、GL不良は通常125℃ 4時間(または150℃ 2時間)のベーキングで回復します。 本装置は、高温下で電界を発生させる装置で、AEC-Q100-006 REV-Cに準拠するGL試験を行います。手動試験のモデル 6900Mと、自動試験のモデル 6900Aがあります。 ※製品の仕様は予告なく変更になる場合がございます。ご了承下さい。

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高電圧エレクトロマイグレーション試験器

最大2KVの高電圧を高温・多湿環境下で試料に加え、絶縁膜の劣化状態を絶縁抵抗値の変化から評価するエレクトロマイグレーション試験

本装置は高温器内で絶縁膜のマイグレーション試験を行う高電圧エレクトロ・マイグレーション試験装置です。ユニットの内部は4ブロックに分かれており各ブロック毎、異なる電圧・時間で耐性評価が可能です。最大2KVの高電圧で、評価時間を大幅に短縮させることができます。 ※製品の仕様は予告なく変更になる場合がございます。ご了承下さい。

  • 試験機器・装置

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トランジスタ・FET通電試験器

トランジスタ・FETの通電試験を目的とした、長期間監視型ランニング試験装置(温度ストレス対応可)

モデル6300Aは、FET・トランジスタの電気的特性をバーンインテスト状況下で長時間収録する半導体デバイス・ランニング試験装置です。検出抵抗は、FET・トランジスタの特性に応じて交換可能です。 ※製品の仕様は予告なく変更になる場合がございます。ご了承下さい。

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ICソケット接続試験器

2000ピンを超える微細ICソケット、コネクタ、ケーブルの導通を高速に試験する低価格な多ピン導通チェッカ

ISC-2000AシリーズはICソケット、コネクタ、ケーブルなどの接触を高速に試験する低価格の多ピン・チェッカです。リレースキャナと抵抗計の代わりにロジック回路を採用し、パソコンで制御する事により、安価で高速のチェッカを実現しました。ピン数拡張性に優れ、2000ピン以上の構成が可能です。ICソケットのみではなく、バックプレーン、ケーブル、PC板などの接続、非接触チェックに最適です。 ※製品の仕様は予告なく変更になる場合がございます。ご了承下さい。

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ESD試験機・ESDテスタ 「モデル1100シリーズ」

モデル1100は、最新規格に準拠したHBM試験、CDM試験をサポートいたしす。

静電破壊試験には、HBM(ヒューマンボディモデル)試験とCDM(チャージデバイスモデル)試験があります。HBM試験は、人間の体から発生する静電気による影響をシミュレーションするもので、デバイスが静電気にどの程度耐えられるかを評価します。一方、CDM試験は、デバイス自体が帯電した状態で他の物体に接触した際の影響を評価するものです。 ※製品の仕様は予告なく変更になる場合がございます。ご了承下さい。

  • 試験機器・装置
  • EMC試験

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静電気対策チェア [導電椅子シリーズ]

静電気放電が引き起こす、電子機器、パソコンの誤動作および、静電気障害を未然に防ぐ導電椅子の紹介

最先端の電子部品、電子装置などを取扱う環境での静電気放電(ESD)によるトラブルが頻発しております。代表的な例としては、電子部品の組立工程での劣化、破壊、パソコン、電子計算機、電子機器の誤動作などです。パソコンが、原因不明でフリーズする原因の大半は、ESDであります。ESDを引き起こす犯人の大部分は、自由に移動する人間であり、静電気の発生を抑える為に、衣服、靴、床、リスト・バンド等静電気対策のための製品が使用されています。ここで紹介いたします椅子もその中で重要な位置にあります。 ※製品の仕様は予告なく変更になる場合がございます。ご了承下さい。

  • 静電気対策グッズ

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