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マーポス株式会社

設立1970年6月
住所東京都大田区南馬込5−34−1 マーポスビル
電話03-3772-7011
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最終更新日:2026/02/10
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非接触測定器 非接触測定器
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測定コンポーネント 測定コンポーネント
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渦電流による非破壊検査(NDT) 渦電流による非破壊検査(NDT)
非接触測定器

非接触測定器

マーポスの非接触測定器のご紹介です。

放射線を使用しない、超音波を利用したフィルム重量測定システム

フィルム・シート材の坪量測定を非接触で実現。フィルムが軽いほど高精度測定!薄膜の押出やコーティング用途に。【※サンプルテスト可】

『非接触・非放射線 MeSys超音波式フィルム重量測定システム』はシート材の製造工程におけるモニタリング、検査、試験用ソリューションです。 超音波を利用した非接触デバイスでさまざまな素材の重量(坪量)を測定します。 フィルムが軽いほど精度が高くなります。 【利用メリット】 ◆非破壊での非接触検査で高精度測定が可能 ◆放射線を使用しないため、資格を持った管理者や作業員の教育・安全管理、関連機関への申請が不要 ◆精度 < ±0.5% の高い再現性を実現 ◆化学組成や色、 湿潤状態及び乾燥状態など、さまざまな材料で測定が可能 ※ワークサンプルテスト可能です。お気軽にご相談下さい。  仕様詳細はPDFをダウンロードしてご覧ください。

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シャフト向け高精度非接触計測システム 「オプトクイック」

測定性能、速度、汎用性と優れたバランスで現場の生産性をサポート

オプトクイックは、光学画像を取得解析し、カム/クランク/ギア/ドライブシャフトなど様々なワークを高精度且つ短時間で測定します。 <主な特徴> 1. 高速で高精度 ・最先端クラスの画像処理技術で正確で安定した高精度な測定を数秒で実現 2. 高い柔軟性 ・1台で多種部の測定が可能であり、同一生産エリアでさまざまなワークを製造可能 ・操作性に優れ、測定結果が分かりやすく効率よく迅速な作業が可能 3. マルチセンサー ・光学式センサ以外に3種類の接触式センサによって穴、軸振れ、カム、ハーフストロークなど様々な形状の測定に対応 ・接触式と非接触式技術を組み合わせることで大きな相乗効果を発揮 4. 作業性の向上 ・製造マシンのすぐ横に設置することで、部品の移動や検証にかかる無駄な時間を削減 ・新規の部品を生産する場合も構成ファイルを追加することで簡単に対応可能

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小型非接触式測定器 『オプトフラッシュ』

数秒で高精度非接触測定を実現 <ワークのテスト計測可能(お問い合わせください)>

オプトフラッシュは、光学画像を取得し解析することで高精度な測定を実現します。 自動車、航空宇宙、医療など高い精度が求められる小型部品の生産現場で高速且つ正確な測定を可能にします。 電気モーターシャフト、電子コネクター、油圧回路コンポーネント、ネジなどの寸法確認に好適です。 <主な特徴> 1. 超高速 ・2D光学技術により、サイクルタイムの短縮が実現 ・サイクルタイムは驚くほど高速。100回の静的測定をわずか2秒で実行 2. 高い柔軟性 ・ねじ・ボルトから小型シャフトまで多彩な形状の測定が可能 ・外径、長さ、真円度、円筒度、同軸度、テーパー、溝、面取り、R(形状)、軸振れ、ネジ寸法などの静的測定と動的測定を数秒で実現 3. 使いやすさ ・測定画面はユーザーフレンドリーながら、マルチレベルアクセス機能を備え、オペレーターの作業内容や権限に合わせたレベル設定が可能 ・扉の無いオープンローディングによりロボット対応ができ、作業者を介さない自動化も可能 4. 耐久性 ・2Dセンサーの位置固定で機械的なストレスなし。測定性能は数百万サイクルにわたり一貫して安定 ・メンテナンスの必要性も最小限

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バイオメディカル|インプラント向け テスト・測定及び検査製品

インプラント向けネジ試験やネジ山の測定などに好適!"コンフォーカルセンサー"等をご用意

インプラント向けのテスト・測定及び検査製品をご紹介します。 当社の光学技術は、OPTOの高解像度画像と最適化されたアルゴリズムにより 360°にわたって、ネジの外径、ネジ山の直径とサイズ、プロファイル角度、 ねじの長さ、直線性と同心度を検査することが可能。 構造上、重大な欠陥または傷を検出するために使用する「コンフォーカル (共焦点)センサー」や、ネジや釘の機能テストも提供する「インプラント 品質ゲート」などをご用意しております。 【特長】 ■光学技術 ・多数の同じ部品を品質管理可能にするため、整形外科用ネジの検査に好適 ・PTOの高解像度画像と最適化されたアルゴリズム ■コンフォーカル(共焦点)センサー ・製造上の欠陥だけでなく、構造上、重大な欠陥(プロファイルエラー)  または傷を検出するために使用 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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クロマティックコンフォーカル技術、厚さ測定向け非接触式測定

デリケートなワークを傷つけず、破壊検査なしで高品質なワークを生産可能。ワークや環境の変動に強い完全同期システムです。

クロマティックコンフォーカル測定技術を使用したセンサー及びコントローラー。 お客様のワークや環境にあわせて各種ご提供します。世界の自動車・半導体・ガラス業界などで利用されています。 <利点> - 柔らかい素材や透明でない素材の測定に適した非接触技術 (例. アルミロール、銅ロール、リチウムイオン電池セパレーター) - 5µmから層の厚さを測定可能 - インラインでの使用に適した広い測定範囲 - 高感度、高精度 (実際のアプリケーションにおける総厚さの再現性範囲は1µm以内) - 測定フォークまたはゲージング機器一式の提供可能 - Quick-SPCソフトウェアオプションにより、統計処理とデータ転送が可能 下記の課題をお持ちのお客様はぜひ、PDFダウンロードの上、ご相談ください。 - ワークや環境の変動 - 複数のセンサーを使用した同期 - 機械的位置合わせ(傾斜またはずれ) - 測定の詳細把握 - カスタマイズが必要な特別なアプリケーション ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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CCDカメラ搭載非接触工具測定システム『VTS SF-45』

トップクラスの繰り返し精度と測定性能を維持しつつ、大幅な小型化を実現。金型加工機や微細加工機などの限られたスペースに設置可能

『VTS SF-45 Compact』は、限られたマシン内のスペースに適応する CNCマシン用非接触撮像式カメラツールセッターです。 これまでの測定性能を維持しながら大幅な小型化を実現しました。 エアシャッターが光学式レンズを覆って保護、過酷なマシン環境を想定した 設計となっています。 当カメラツールセッターは、新たに工具表面摩耗検査機能を追加し、他のツールセッターでは 計測が難しかった複雑な形状の工具の計測にもご利用いただけます。 品質や加工精度を要求され、これまで自動化(無人化)が難しかった工具の計測や管理を実現し、 生産の効率化や省人化に貢献します。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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モーターステーター向け3D精密検査『オプトクラウド EDU』

電動駆動ユニットの品質保証プロセスに。モーターステーターの240の電気接点をわずか30秒で完全に検証

『オプトクラウド EDU』は、効果的なソフトウェアパッケージを搭載した 電気自動車のモーターステーター検査向けのソリューションです。 複数のレーザーで点群データ(ポイントクラウド)を収集、3D再構成し、 さらに直感的な画像に仕上げることが可能。 ラインオペレーターは、自動検査の結果を画像で簡単に確認し、目的の 詳細レベルまで検証を実施できます。 【特長】 ■複雑な形状のワークの3Dモデルを再構成 ■測定やビジョン検査などのタスクを自動で実行 ■レーザー位置の電子制御 ■常に適切に保護されるレーザーヘッド ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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オンライン直径測定用レーザーシステム『EXTRULINE』

公差範囲内に入る様に押出し機を自動的に制御!高性能のフィードバックが可能

『Extruline X/XY』は、押出し製品の外径管理のために特別に設計された レーザーシステムです。 直径測定と公差チェックに加えて、自動押出プロセスを制御し、 製品の長さに沿ってすべての直径の欠陥を検出することが可能。 非接触技術により、従来のコンタクト式では製品に損傷を与える 可能性があり測定が難しかった製品や、高温または軟質の 移動成形品を測定することができます。 【特長】 ■2軸ゲージにより、高性能のフィードバックが可能(EXTRULINE XY) ■1つの機器に2つの機能:直径制御と欠陥検出 ■大幅な材料の節約:押出し機の制御によって公差下限で生産可能 ■自動制御機能はコストの削減に貢献 ■機上アプリケーションと全製品管理用の非接触測定 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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レーザーシステム『WIRELINE.XY』

頻繁なゲージのクリーニングを必要とせず、高精度で信頼性の高いワイヤの直径測定が可能!成形品の品質と工程能力を印刷レポートで証明

『WIRELINE.XY』は、鉄線/銅線の径/楕円モニタリング用に設計されたレーザー測定システムです。 当システムはワイヤ測定用に設計されており、伸線工程中にワイヤの振動や速度の影響を受けずに、高精度で信頼性の高いワイヤの直径測定が可能です。 工場内の石けん粕や鉄粉が短時間でセンサを塞ぎ、測定精度に多大な影響を及ぼすような現場でも、新特許取得による防塵ブラケットによって乾式伸線上でベンチ使用できます。 【特長】 ■ 特許取得の空気圧保護システムで、頻繁なゲージクリーニングが不要 ■ レーザー技術により、非接触測定が可能 ■ オンラインアプリケーションにより、100%の公差チェックが可能 ■ 材料の大幅な節約:制御によって公差内で生産可能 ■ 自動制御機能で人件費削減に寄与 ■ 製品品質の向上と廃棄物を削減

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レーザーマイクロメーター『SUPER-WIRELAB.XY』

優れたレーザーテクノロジーの採用により、超精密で完全に再現性のある測定を実現します!

『SUPER-WIRELAB.XY』は、高性能なテーブルトップ型レーザーマイクロメーターです。 ワイヤー試料、光ファイバー、マグネットワイヤーの測定や、引き線の 測定による金型径のチェックに理想的な計測器。 容易なプログラミングを可能にするスマートな「Super-Wirelab ソフトウェア」を 搭載しております。 【特長】 ■客観的で再現性の高い測定結果 ■超精密 ■高い柔軟性 ■驚くほどすばやく簡単に使用可能 ■優れた価格競争力 ■高い耐久性 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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レーザーマイクロメーター『WIRELAB.XY』

高品質なコンポーネントとソリッドステートレーザーダイオードを採用!

『WIRELAB.XY』は、ワイヤー用超精密テーブルトップ型レーザー マイクロメーターです。 優れたレーザーテクノロジーを採用しながら手ごろな価格で提供される本製品は、 超精密で完全に再現性のある測定を実現。 容易なプログラミングを可能にするスマートな「Wirelab ソフトウェア」を 搭載しております。 【特長】 ■客観的で再現性の高い測定結果 ■超精密 ■高い柔軟性 ■驚くほどすばやく簡単に使用可能 ■優れた価格競争力 ■高い耐久性 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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研削ワーク直径高精度測定器『SUPER-MECLAB+.X』

高い柔軟性!ゲージのリマスタリングなしで、様々なコンポーネントや寸法を測定可能

『SUPER-MECLAB+.X』は、超高精度径測定用の高精度計測器です。 NO-VARテクノロジーを採用し、室温変化による測定ドリフトなし。 スルーフィードによる測定により、多径測定を簡単に素早く実現します。 また、柔軟性の高い測定のため複数の寸法をチェック可能、ユーザーが 各種測定タイプから選択できます。 【特長】 ■本来検知できない詳細を測定できる ■ゲージのリマスタリングなしで、様々なコンポーネントや寸法を測定可能 ■検査時間を短縮し、測定性能を向上させる ■オペレーターのスキルに依存しない客観的で再現性の高い測定結果 ■ワークを損傷したり傷つけたりしない非接触式測定 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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レーザーシステム『QUADRALINE.XY』

製品品質の向上と廃棄物を削減!成形品の品質と工程能力を印刷レポートによって証明可能

『QUADRALINE.XY』は、長方形断面形状の圧延/押し出し成形品用 インライン管理用レーザーシステムです。 機上に設置した2軸レーザーゲージに基づいており、90°の2方向に沿って 成形品の外形寸法を測定。この方法では、測定方向が成形品の長方形断面の 軸に沿って、高さと幅の両方を測定することが可能です。 また「Quadraline.XYソフトウェア」は、Xactumゲージ内にプリロード されており、そのモジュラー構造のおかげで、すべての運用要件を 満たすことができます。 【特長】 ■レーザー技術により、非接触測定が可能 ■オンラインアプリケーションにより、100%の公差チェックができる ■材料の大幅な節約:制御によって公差内で生産可能 ■自動制御機能は人件費の削減に役立つ ■製品品質の向上と廃棄物を削減 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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レーザーマイクロメーター『SUPER-MECLAB+.T40』

ベンチトップ型!簡単に素早く使用でき、検査時間を短縮し測定性能を向上させます

『SUPER-MECLAB+.T40』は、奇数および偶数の刃/溝をもつワークの 超高精度外径測定用の高精度計測器です。 奇数刃・溝のワークチェックが可能。 極めて簡単に素早く使用でき、検査時間を短縮し測定性能を向上させます。 また、高い柔軟性をもち、システムのプリセットやリマスタリングなしで、 さまざまなコンポーネントや寸法を測定できます。 【特長】 ■全てのダイヤルインジケーターゲージに一般的にみられる  ヒステリシスによる誤差(反転誤差)ゼロ ■非接触式測定:ワークを損傷したり傷つけたりしない ■オペレーターのスキルに依存しない客観的で再現性の高い測定結果 ■奇数刃・溝のワークチェックが可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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Grindline.Xレーザーシステム

スルーフィードによる単一径測定/研削盤制御用レーザーシステムをご紹介します

『Grindline.Xレーザーシステム』は、ピン、ショックアブソーバーロッド、 ステアリングラックなど、スルーフィード、センタレス研削盤で製造された 製品の外径を生産ライン上で測定するために設計されています。 幅広い測定範囲と専用のデータ処理ソフトウェアにより、このシステムは、 特別な作業をせずに、形状や寸法が異なる多数の部品を測定できます。 【特長】 ■スルーフィードの測定と測定径の表示 ■部品仕分け用アラーム出力と公差チェック ■リアルタイム研削加工調整 ■統計レポートの処理と印刷 ■リモートコンピュータとのインターフェース ■NO-VARテクノロジー:温度補正機能(室温変化による影響を抑える) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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Grindline+.Xレーザーシステム

非接触測定原理により、ラインを停止することなく全ての検査を可能にします

『Grindline+.Xレーザーシステム』は、センタレス研削盤によって製造された 製品(電気駆動モーターや多段径でセンタ穴の無い部品等)の外径を 生産ライン上で測定するために設計されています。 特許取得済みの自己校正デバイスは、再マスタリングを必要とせずに、 恒久的なゲージ精度を保証します。 【特長】 ■最大10項目までのスルーフィード計測 ■部品仕分け用アラーム出力と公差チェック ■リアルタイム研削加工調整 ■統計レポートの処理と印刷 ■リモートコンピュータとのインターフェース ■NO-VARテクノロジー:温度補正機能(室温変化による影響を抑える) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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非接触式ポータブル光学式マイクロメーター『HWS.3』

ワイヤー、ケーブル、その他類似製品を測定することが可能です!

『HWS.3』は、電線、ケーブルなどを非接触測定するポータブル光マイクロメーターです。 LEDとCCD技術を活用して開発され、交差する2つのリニアセンサを使用して自動的に位置決め誤差を補正します。 パワフルなシングルチップマイクロプロセッサーにより、線形化されて 補正されるため、ワイヤーの位置にかかわらず、測定範囲全体で優れた 精度が得られます。 移動する成形品の測定にも使用可能です。 【特長】 ■トリガを押すことで測定が開始され、わずか数秒で完了 ■ 測定結果はディスプレイに3D映像で表示 ■ 全ての測定が日付と時刻、生産IDをスキャナの内部メモリに保存 ■ USBケーブルで、任意のPCにデータをダウンロード可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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光干渉測定器『NCG』

サイクルタイムを短縮!汎用性があり、簡単に使えるように設計されている光干渉測定器

『NCG』は、光干渉技術による厚み測定器です。 連なる光の波がワークの接合部面で反射し戻された干渉により層の厚さを 計算し、計測。ガラス、プラスチック、シリコンウェハー等、異なる材質の 厚みを管理するように設計されています。 当製品は、様々なマシンに接続し、高精度かつ高速に部品の厚さ管理ができ、 スペック上の仕様制限内のドライまたはウェット環境で機械上または 機械内部で使用できます。 【特長】 ■目的の公差内の加工精度を保証 ■サイクルタイムを短縮 ■コントロールされた安定した生産を維持するための制御 ■機械的な変動に対する補正 ■測定結果の履歴 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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ダイシングマシン用センサー『VBI(ブレード検査システム)』

チップ製造のサイクルタイム短縮と高品質を実現!ウェーハ切断中のブレード監視用センサー

『VBI』は、ウェーハ切断中にブレードを監視し、高い信頼性の確保と無駄を減らします。 ブレードの摩耗と形状をリアルタイムで測定することで、スクラップの削減を生産を止めることなく実現します。 インターフェースユニットは2つのセンサーが接続されます。同じ機能を2つで実行することも、2つの異なる機能を実行することも可能です。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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接触式/非接触式ハイブリッド厚さ測定アプリケーション『P3CF』

白色光を透過する様々な材料の非接触厚み測定を実現

P3CFは、従来の接触式プローブと、コンフォーカル(共焦点)技術による非接触式プローブを組み合わせた測定システム (ハイブリッド測定) です。 様々な素材の距離および白色光に対して透明な材料の厚さを直接測定することができます。 薄くてデリケートな材料(セラミック、半導体ウェハー、包装用エポキシ樹脂モールドコンパウンドなど)の厚さをは、仕上げ工程で正確な測定が 要求されますが、接触式では測りづらいことが課題です。共焦点技術を採用したP3CFは、基準面からワーク表面までを距離として厚さを非接触で測定します。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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CCDカメラ搭載非接触工具測定システム『VTS WF』

トップクラスの繰り返し精度と測定性能を維持しつつ、計測エリアを拡大。研削工具や特殊形状の工具の計測や摩耗管理に好適。

『VTS WF(ワイドフィールド)』は、超高精度加工で重要になる 特殊ツール等の測定向けに最適化されたCNCマシン用非接触撮像式カメラツールセッターです。 高精度のターニングセンターや旋盤での用途に特化して設計しています。フレーム範囲のサイズにより、ダブル サイドは直径2.9 mmまで、シングルサイドの場合は直径80 mmまでのツールを計測できます。 エアシャッターが光学式レンズを覆って保護、過酷なマシン環境を想定した設計です。 当カメラツールセッターは、新たに工具表面摩耗検査機能を追加し、他のツールセッターでは 計測が難しかった複雑な形状の工具や、砥石などの研削工具の計測にもご利用いただけます。 品質や加工精度を要求され、これまで自動化(無人化)が難しかった工具の計測や管理を実現し、 生産の効率化や省人化に貢献します。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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ナノレイヤー膜厚測定用高精度非接触ゲージ『NCG-R』

厚いウエハから極薄ウエハ(1μm未満)まで厚さ測定が可能

被測定物を損傷させることなく、高精度な非接触測定を実現します。 あらゆる種類の表面や材料(高反射面を含む)に対し、極めて高い解像度で厚さ測定が可能です。 専用の光学センサーを搭載したNCG-Rシステムは、高い保護性能(IP規格準拠の筐体など)を備えた設計により、製造工程後の検査から工程内検査まで、幅広い用途に対応可能です。 薄膜、コーティング、ナノ層などの厚さ測定は、NCG-Rシステムの最大の特徴であり、卓越した性能を発揮します。NCG-Rコントローラー(可視光タイプ)は、あらゆる種類のセンサーヘッドに対応しており、測定範囲や使用環境(作業距離やスポットサイズなど)に最適化された性能を実現しています。

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インターフェロメトリコントローラー『HORIZON』

インターフェロメトリック(干渉計)技術を使用し、透明、不透明のフィルムの厚さ測定が可能

光学センサーヘッドと連動して厚さや距離を測定するように設計されたコントローラーシリーズです。 インターフェロメトリック(干渉計)技術および専用のデータ処理用ソフトウェアパッケージを使用して、 対象部分に接触できない状況でも精度の高い測定を行うソリューションです。 サブミクロンレベルの高い精度と安定性で、繰り返し精度と正確性に優れた信頼性の高い測定を保証します。 また、リアルタイムモニタリングでインラインプロセス制御を支援し、生産効率の向上に寄与します。

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ダイカスト金型表面温度監視システム『TTV』

金型表面温度の熱管理を容易に!ダイカスト製品品質の安定化に貢献(メガ/ギガキャスティング対応)【※デモ可能】

『TTV(トータルサーマルビジョン)』は、軽合金のダイカスト 工程中に金型の表面温度をモニタリングするように設計された 赤外線ビジョンシステムです。 マシンに内蔵されたサーモグラフィカメラは、赤外線視覚技術を 応用して金型表面の熱マップをリアルタイムで監視します。 加工工程を可視化し、ダイカスト生産中の離形スプレー、潤滑 工程の最適化に寄与します。 また、当システムは、コントローラーユニットとサーモグラフィ カメラユニットで構成されており、これらのユニットは、特に 過酷な鋳物工場環境で動作するよう設計されています。 【特長】 ■品質の安定化 ■工程コスト削減(捨て打ちの回数削減) ■金型の寿命延長 ■サイクルタイムを最適化 ■システムの効率性アップ(OEE向上) ■工程の変数とエラーの分析 ■不測の工程停止を削減 ※デモ可能です。お気軽にご相談下さい。 仕様詳細はPDFをダウンロードしてご覧ください。

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【半導体向け】光干渉測定器『NCG』

サイクルタイムを短縮!半導体製造における膜厚測定に

半導体業界では、製品の品質と歩留まりを向上させるために、ウェーハや薄膜の正確な膜厚測定が不可欠です。特に、微細化が進む中で、膜厚のわずかなずれが製品の性能に大きな影響を与えるため、高精度な測定が求められます。光干渉測定器『NCG』は、光干渉技術により、ガラス、プラスチック、シリコンウェハー等、異なる材質の厚みを管理するように設計されています。 【活用シーン】 ・ウェーハ製造工程における膜厚測定 ・薄膜形成プロセスの品質管理 ・半導体デバイスの製造における品質保証 【導入の効果】 ・目的の公差内の加工精度を保証 ・サイクルタイムを短縮 ・コントロールされた安定した生産を維持

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数百の小型部品測定項目を30秒で同時評価『オプトクラウド S』

3D再構築技術を活用し、30秒で数百項目の測定を実行可能

『オプトクラウド S』は、複数のレーザーにて、高精度回転軸、最適化された光学構成を組み合わせた 先進的な光学測定システムです。部品の位置調整をすることなく、360°全周の測定を実行します。 1回の測定サイクルで、異なる視点から数百万点のデータを取得し、30秒以内に部品の3D形状を構築、 複雑な形状や構造部品において、数十項目の特性を同時に評価します。 【特長】 ・インライン検査の時間を大幅に短縮。接触式ゲージや三次元測定機などの代替えとして使用可能 ・専用ゲージの削減により、設備コストと設置スペースを削減 ・作業者による影響を取り除き、安定した再現性ある測定を実現 ・接触式では困難または不可能な繊細かつ複雑形状(軟質表面、巻線、ヘアピン、積層材)の測定が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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【自動車品質管理向け】オプトクラウド S

3D再構築技術で、自動車部品の品質管理を効率化

自動車業界の品質管理においては、部品の寸法精度や形状の正確性が、製品の安全性と性能を左右する重要な要素です。特に、エンジン部品や駆動系部品など、高い精度が求められる部品においては、測定の効率化と精度の向上が不可欠です。従来の測定方法では、測定に時間がかかり、多くの人員とコストが必要となる場合がありました。オプトクラウド Sは、30秒で数百項目の測定を実行し、インライン検査の時間を大幅に短縮します。 【活用シーン】 ・エンジン部品の寸法測定 ・トランスミッション部品の形状検査 ・車体部品の品質管理 【導入の効果】 ・検査時間の短縮による生産性向上 ・測定データの信頼性向上 ・不良品の早期発見によるコスト削減

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バー、チューブ直径測定用マイクロメーター『BARLINE』

バーやチューブの径をオンラインで自動制御!高精度レーザー測定により研削工程の無人化、品質保証、スクラップ削減を同時に実現。

Barline X/XYは、スチール製アース棒、引き抜きチューブ、銅チューブなど、定尺で製造される製品の外径オンライン 測定・制御に特化したレーザーシステムです。 非接触式の動作原理により、製品を停止・減速させることなく高精度な検査が可能です。 【特長】 ■リアルタイムでの研削盤制御 ■ワーク選別のための公差チェック ■統計レポート処理 ■特許取得済み自己校正装置を搭載し、ゲージのリマスタリングなしで、様々なコンポーネントや寸法を測定可能 ■オイルやエマルジョン、バーの振動に影響されない安定した測定を実現 ■オペレーターのスキルに依存しない客観的で再現性の高い測定結果 ■ワークを損傷したり傷つけたりしない非接触式測定 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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ダイス径測定装置『D-Lab』

ダイス径測定を簡単・迅速・高精度に。熟練度を問わず、わずか1秒で安定した高精度な測定を実現します。

D-Labは、高性能かつ操作性に優れたダイス径測定装置です。 テレセントリック光学系とLEDコリメート照明、2D CMOSセンサーによる画像解析を採用し、 ダイスの直径と楕円を非接触で高精度に測定します。 堅牢なオールインワンPCを搭載しており、作業者のスキルに依存しない、再現性の高い 安定した測定結果を工場環境で提供します。 ■特長 多品種ダイスの管理:再設定なしで異なる種類のダイス測定に対応 迅速な品質判定:設定した基準値・公差範囲との比較により、合否を色表示で即座に判定 データ管理とレポート作成:測定結果のPC保存、CSV/テキスト形式での出力、および統計レポートの印刷 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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研削部品等直径測定用マイクロメーター『TABLE GAUGE』

迅速・高精度・簡単な計測を卓上で。外径・真円度・同芯度を数秒で測定する非接触式レーザーマイクロメーター

TABLE-GAUGE(テーブルゲージ)は、Xactumインテリジェント・レーザーゲージを卓上用マイクロメーターとして構成した測定システムです。 専用ソフトウェア、表示ユニット、リモコン、ワーク固定具、およびベースプレートで構成されています。 これまで測定室の高価な機器と専門技術者を必要としていたレベルの高精度な計測を、現場で誰でも迅速かつ容易に行うことを可能にします。 ■特長 ・研削加工品や旋削加工品の以下の項目を、わずか数秒でチェック可能 ・外径および楕円度(真円度)の測定 ・中心位置および断面の同芯度の測定 ・あらかじめ設定した公差の判定 ・測定データのPCへの転送(RS232またはイーサネット接続経由) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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インライン直径測定用レーザーシステム『XPLORELINE』

独自のレーザー技術で、連続製品の直径をかつてないほど素早く、正確、簡単にオンライン測定

『XPLORELINE(エクスプロアライン)』は、電気ケーブルやチューブなどの連続製品の直径を オンラインで高精度にモニタリングするためのレーザーマイクロメーターシステムです。 【特長】 ■摩耗による故障がない流体軸受スキャンモーター ■室温変化による熱膨張を自動補正するNO-VAR機能を採用 ■過酷な製造現場でも安定した100%全数検査を実現 ■ウェブサーバー機能を備え、ブラウザ経由で測定値の確認や セットアップが可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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小型シャフト等直径測定用レーザーシステム『MECLAB X』

現場で実現する超高精度。非接触・高再現性で、小型シャフトや精密部品の外径を瞬時に測定

MECLAB Xは、小型シャフトや部品の超高精度な外径測定を目的としたベンチトップ型の計測器です。 ■特長 ・加工現場のマシン近くに設置して使用できる利便性を備えています ・非接触式のためワークを傷つけない ・オペレーターのスキルに依存しない ・再現性の高い客観的な測定結果を素早く得ることが可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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溶接電極用レーザーマイクロメーター『MECLAB X40WE』

溶接電極のフラックス検査を、簡単、迅速、正確に。直径と偏芯量を高精度に測定。

『MECLAB X40 WE』は、溶接電極のフラックスコーティング外径と、芯線に対する偏芯量を オフラインで測定する高性能な卓上レーザーマイクロメーターです。 濡れた状態の電極を「V」ブロックに置いて回転させるだけで、レーザーシステムが寸法を瞬時に測定します。 作業者のスキルに左右されない再現性の高い客観的な測定結果を提供し、生産現場での迅速な品質管理を可能にします。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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角線オフラインレーザー測定器『Superwirelab X40』

角線のオフライン検査に最適。非接触レーザーで迅速かつ高精度な客観的測定を実現

『SUPER WIRELAB(スーパーワイアーラブ) X40』は、角線(平角線)のオフライン測定に特化した高性能卓上型レーザーマイクロメーターです。 非接触測定で、作業者のスキルに左右されない再現性の高い測定結果を迅速に提供します。 ■特長 ・直感的なソフトウェアと色表示による合否判定機能 ・5,000件の測定条件を保存可能 ・独自のNO-VAR技術で、温度管理されていない工場環境下でも熱膨張の影響を 抑制し、高精度な測定が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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