ディスク・テックの製品・サービス一覧

『DTAI150』は、AIを使った検査ソフトを開発する為の対象物の画像ファイルを 自動撮影をして画像ファイルを蓄えるシステムです。 対象物をステージに置いて、自動的に回転させながら画像を複数枚撮影可能。 煩雑な画像撮影が省力化でき、照明やカメラの調整が簡単に行えます。 カメラ、撮影ステージ、照明、パソコン、モニター、ソフトウエアをセットにして 簡単に画像撮影と保存ができます。 【特長】 ■自動的に回転させながら画像を複数枚撮影可能 ■煩雑な画像撮影が省力化できる ■照明やカメラの調整が簡単に行える ■撮影対象寸法の変更などの要望にお応え ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• 画像処理機器

当製品は、高出力LDモジュールの電気特性と光特性をインラインで高速に 測定し、分類情報を出力するソフトウエアです。 電気測定をはじめ、エネルギー測定や分光スペクトル測定、色測定、 分類値設定などが可能です。 【特長】 ■Windowsパソコンで動作 ■高出力LDモジュールの電気特性と光特性をインラインで高速に測定、 　分類情報を出力可能 ■各種ソフトウエア機能追加に対応 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• ソフトウェア（ミドル・ドライバ・セキュリティ等）

当製品は、自動車用LEDモジュールの生産ライン上で電気特性と光特性を 高速に測定し、分類情報を出力するソフトウエアです。 LEDアセンブリモジュールに印加する電圧・電流の条件設定をはじめ、 電気特性/光学特性などの計測項目の設定などが可能です。 【特長】 ■Windowsパソコンで動作 ■自動車用LEDモジュールの生産ライン上で電気特性と光特性を 　高速に測定、分類情報を出力 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• ソフトウェア（ミドル・ドライバ・セキュリティ等）

『IR1300RL』は、顕微鏡本体にオリンパス製BX53を使用した 赤外線顕微鏡です。 高解像度赤外線CMOSカメラとイメージエンハンサソフトにより、 各種シリコンデバイスの界面の各部寸法を鮮明な画像で計測できます。 また、独自のイメージエンハンサソフトにより、張り合わせウエハーの アライメントマークずれ計測が可能です。 【特長】 ■各種シリコンデバイスの界面の各部寸法を鮮明な画像で計測 ■顕微鏡本体にBX53オリンパス製を使用 ■X軸、Y軸、Z軸は手動動作タイプ ■アライメントマークずれ計測が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• その他顕微鏡・マイクロスコープ

『IR1300mea』は、高解像度赤外線CMOSカメラとイメージ エンハンサソフトにより各種シリコンデバイス界面の各部寸法を鮮明な 画像で計測することができる赤外線透過反射顕微鏡システムです。 フォーカス軸は長ストロークになっていますので高さのある冶具に 搭載したままウエハーの検査、計測が可能です。 【特長】 ■X軸、Y軸、Z軸にリニアスケールを搭載しているため視野外の精密な 　計測が可能 ■X軸、Y軸、Z軸は手動動作タイプ ■電動ステージ、電動フォーカスの搭載も可能（オプション） ■フォーカス軸を長ストロークに設定できますので冶具に搭載したまま 　ウエハーの検査計測ができる（長ストローク45mmまで） ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• その他顕微鏡・マイクロスコープ
• 電子顕微鏡

『IR-MEMS100』は、ロボットにより自動的に貼り合わせウエハーを 搬送してウエハーの内部状態を特殊赤外線光学系で画像を撮影し、欠陥検出 アルゴリズムを使用して各種欠陥を検出するMEMS全自動欠陥検査装置です。 赤外線顕微鏡にセットした高感度赤外線カメラで画像を撮影し独自の 欠陥検出ソフトウエアにて見えにくい欠陥部を検出します。 【特長】 ■赤外線顕微鏡にセットした高感度赤外線カメラで画像を撮影し独自の 　欠陥検出ソフトウエアにて見えにくい欠陥部を検出する ■コントラストの低い画像を見やすくする処理（エフェクト処理）を 　使用して見つけにくい欠陥部を検出する ■対応ウエハーサイズは4インチ、6インチ、8インチ ■欠陥検出能力は約10μm ■検査時間は30分/ウエハー ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• その他検査機器・装置
• 欠陥検査装置

VCSELの酸化部を精密に計測します。 詳しくはお問い合わせください。

• 光学顕微鏡
• 欠陥検査装置

高解像度赤外線ＣＭＯＳカメラとリアルタイムエンハンスソフトウェアによりVCSELの酸化部を鮮明な画像で表示する赤外線透過顕微鏡システムです！！ ～特徴～ ●反射/透過照明での不鮮明画像をリアルタイムエンハスサソフトで鮮明な画像に改善表示します。 ●VCSELの酸化部や境界部の画像観察、保存が可能。 ●画面上での寸法計測、面積計測が可能。 ●反射照明光の波長を変化させることが可能。

• 半導体検査/試験装置
• その他画像関連機器
• その他光学部品

HTT社製（ドイツ）WID1１0ウェーハ IDカメラは半導体工場の環境下のいかなるプロセスでも最高のスループットでIDナンバーを読み取ることが可能です。最強のRGB照明システムにより汚れた文字や読みにくい文字も対応できます。ウェーハソーター、ウェーハプローバー、光学検査装置、クラスタ装置または他の処理装置等に利用可能です。 詳しくはお問い合わせください。（WID120）新型販売中

• その他半導体製造装置
• 画像処理機器

光学計測・実験用途の暗箱です。目的に応じて大中小 3種類のサイズから選択できます。底面に光学定盤付き 外部接続端子として光ファイバー用SMAコネクタ、光学 シャッター、BNC端子等があります。 その他各種カスタマイズ対応可。

• その他実験器具・容器
• その他計測・記録・測定器
• キャビネット

「放射能測定器　ＲＴ-100」は、フォトマル使用で放射能の測定を高感度ででき、最速50msecの高速計測も可能です（放射能強度が弱い場合は時間がかかります）。USBインターフェースでノートパソコンに接続。リアルタイムで放射能強度を表示します。フォトマルを使用した本格的な線量計でガンマー線を高感度計測します。本体サイズは２００ｍｍX１５０ｍｍX４０ｍｍ、使用電源はAC１００Vです。 詳しくはお問い合わせください。

• 放射線測定器

CTシリーズは、シンチレーター方式のX線用ラインセンサーカメラです。カメラの画素数は320pixから3840pixまで対応でき、ラインスピードは最大40m/minまで対応可能です。パソコンへはカメラリンクで接続します。検出幅256mm、512mm、768mmの3タイプの型式をご用意しております。 X線照明、センサー電源、制御パソコン、ソフトウエア、コンベアシステムも販売しております。システム全体の設計や特注品もご相談ください。 詳しくはお問い合わせください。

• ハイスピードカメラ
• X線検査装置

HTT社製（ドイツ）WID120ウェーハ IDカメラは半導体工場の環境下のいかなるプロセスでも最高のスループットでIDナンバーを読み取ることが可能です。最強のRGB照明システムにより汚れた文字や読みにくい文字も対応できます。ウェーハソーター、ウェーハプローバー、光学検査装置、クラスタ装置または他の処理装置等に利用可能です。 詳しくはお問い合わせください。

• その他半導体製造装置
• 画像処理機器

MEMS素子検査装置として、微細穴深さ計測装置とパターン検査装置をご用意しております。微細穴深さ計測装置は赤外線カメラと特殊アルゴリズムを用いて通常では計測不可能な直径２０μｍ以下の非貫通穴の深さ計測を可能にしました。パターン検査装置は赤外線顕微鏡と電動ステージを使用した自動赤外線画像処理検査装置で欠陥の自動検出を行います。欠陥部の位置、サイズ、画像を保存でき、ＭＥＭＳ（マイクロマシン）の検査用途に使用します。 詳しくはお問い合わせください。

• 光学顕微鏡
• 欠陥検査装置

「フィルム検査装置」の対象ワークは、標準幅100mm(分解能により10～500mm対応可)の透明フィルムです。検査項目は異物、気泡、キズ、その他フィルム上の欠陥、ピンボール、筋ムラ等にも対応可能です。検査時間は標準送り速度 10m/min、Max15m/min可(視野100mm時、視野　約100ｍｍ)となっています。検査精度は標準分解能　25μm(7～100μm：検査幅による)、検出可能最小欠陥は分解能の3倍です。欠陥処理はサイズ分別、サイズごとの係数、データ表示を行います。ソフトウェアはスタートボタンにより自動的に検査をスタートし、フィルム上にＳ、Ｍ、Ｌの欠陥がそれぞれいくつあるかを表します。装置の性能・機能およびユーザーインターフェイス等の仕様はご希望に応じます。また、合わせて搬送装置の製作も承りますのでご相談下さい。ＣＥマーキング取得可能。 詳しくはお問い合わせください。

• 光学測定器
• 外観検査装置
• 欠陥検査装置

DTLED－３５０は、目視ではまぶしくて見えない、マルチダイスLEDモジュールのチップ欠損及び低輝度チップを高速ラインセンサーカメラにて検出できる発光チップの外観検査です。LEDモジュールを検査台に載せてスタートボタンを押すだけで簡単に高精度な検査が可能です。UVLEDにも対応しています。 詳しくはお問い合わせください。

• 光学測定器
• 外観検査装置
• 欠陥検査装置

分光器とは、光を虹(波長ごとの光)に分けて波長ごとの光の強さを測定するものです。薄膜などに光をあて、その反射光を分光することによって薄膜成分を計測します。応用例としては、各種ディスク上の膜厚の厚み管理、半導体用ウェハ上のレジスト膜・SiO、光学レンズのコーティング膜厚管理、各種フィルムの膜厚測定、ガラス基板上の配向膜・ITO膜のインライン計測、LEDの色計測などがあります。インライン用多チャンネルシステムも構築実績あります。 詳しくはお問い合わせください。

• 分光分析装置

今まで人手に頼ってきた新旧文書の確認作業をソフトウエアにて自動的に行います。多言語に対応していますので非常に便利です。

• 内部統制・運用管理
• その他セキュリティ・監視システム
• その他

同色部品の中に混在する異なった色や変色した部品を高速で検出・判定する検査装置です。 検査可能色として約30のカラーバリエーションに対応しております。

• 画像処理機器
• 外観検査装置
• 欠陥検査装置

レンズの欠陥を画像処理にて検出する自動検査装置です。 レンズの大きさや厚みなどお客様のニーズに合わせて対応致します。

• 画像処理機器
• 外観検査装置
• 欠陥検査装置

ホロライトはコンパクトなキューブ型筐体からホログラム再生に理想的な低発熱、大面積、高輝度、高指向特性を持つＬＥＤ照明光を発生します。ホロライト背面にあるリアボールの前後移動による照明領域及び拡がり角度の調整、停消費電力による長時間の乾電池駆動、軽量アルミボディの採用により様々な空間で御使用になれます。

• 半導体検査/試験装置
• 画像処理用照明
• その他光学部品

高解像度赤外線ＣＭＯＳカメラとエンハンサソフトウェアにより各種 シリコンデバイスの界面検査を鮮明な画像で表示する赤外線透過顕微鏡システムです！！ ～特徴～ ●反射/透過照明での不鮮明画像をエンハンサソフトで鮮明な画像を入手。 ●デバイス界面のボイド・傷・異物の欠陥画像観察、保存が可能。 ●画面上での寸法計測、面積計測が可能。 ※詳細はカタログをダウンロードして下さい。

• 半導体検査/試験装置
• その他画像関連機器
• その他光学部品