検査機器・装置の製品一覧
- 分類：検査機器・装置
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【重量物の取り扱いによる作業負担を軽減！】お客様の課題を解決した導入事例5選を収録！ワークに応じた無料相談、テストも受付中！
- その他搬送機械
株式会社HBA様に、電動台車をインフラ点検作業の支援ロボットとして活用いただいた事例！屋外点検・監視業務など過酷環境での作業も。
- 検査ロボット
- その他検査機器・装置
- 台車
＜デモ実施可能＞多目的電動台車『MITRA』の活用事例公開中！
現在、特設サイトにて多目的電動台車『MITRA』（旧：電動モビリティベースユニット）の活用事例を公開中です。 運搬ロボットの足、点検ロボットの足、農業ロボットの足、 配送ロボットの足、除雪ロボットの足、土木/建設ロボットの足 …など、ロボット開発のプラットフォームとしてお使いいただけると考えています。ロボットの筐体も楽々取り付け可能です。 ますは詳しい活用事例を、関連リンクからご覧ください！ また、デモ実施受付中です。実機が走っている様子を見てみたい方は、お気軽にお問い合わせください。
測定時に外部に比較対象を必要としないマスタレスエアリークテスター。内蔵したマスタタンクを使用してワークとの差圧を測定。
- リーク試験装置
- その他計測・記録・測定器
- その他検査機器・装置
■■ エアリークテスター｜FLA-0200 / FLA-0201 ■■ フクダの新しいフラッグシップモデル。マスタリング補正機能搭載により短時間で高精度測定が可能。
フクダの新しいフラッグシップモデル。 ・マスタレスタイプ（FLA-0200 series） ・汎用型（FLA-0201 series） の２機種のエアリークテスタ。 マスタリング補正機能搭載により短時間で高精度測定が可能です。 テストに用いる媒体が空気（エアー）の為、ランニングコストがかかりません。 ぜひカタログをご覧ください。
様々な測定環境にフレキシブルに対応できる汎用型エアリークテスター。フクダのフラグシップモデルです。
- リーク試験装置
- その他計測・記録・測定器
- その他検査機器・装置
■■ エアリークテスター｜FLA-0200 / FLA-0201 ■■ フクダの新しいフラッグシップモデル。マスタリング補正機能搭載により短時間で高精度測定が可能。
フクダの新しいフラッグシップモデル。 ・マスタレスタイプ（FLA-0200 series） ・汎用型（FLA-0201 series） の２機種のエアリークテスタ。 マスタリング補正機能搭載により短時間で高精度測定が可能です。 テストに用いる媒体が空気（エアー）の為、ランニングコストがかかりません。 ぜひカタログをご覧ください。
品質検査の課題は【Mr.Manmos】で改善できます！品質管理、品質保証のシステム導入にお悩みの方必見！
- その他検査機器・装置
【デモ機貸出中】表面の付着異物・汚れ・傷を可視化できます。歩留り管理・品質管理・清掃管理・衛生管理の日常使用ツールとして好評！
- 外観検査装置
- その他検査機器・装置
- 分析機器・装置
『第25回 nano tech 2026 国際ナノテクノロジー総合展・技術会議』に微粒子可視化システムを出展いたします。(2026.1.28.(水)-1.30.(金)/東京ビッグサイト 西ホール会議棟 西1ホール 1階 1W-Z34)
"製造現場での微粒子による不良率悪化やクリーン化に関する課題を解決します 新日本空調の微粒子可視化システムは、ViESTブランドとして独自に開発した超高感度カメラと光源を組み合わせ、クリーンルームや装置内の微小粒子を可視化することができ、その挙動をリアルタイムに映像化しながら、粒子情報の定量化も行うことができる世界最高水準の可視化システムです。現在、国内外において、システムやツールの販売、それらを利用した受託技術サービスを展開中です。特に、半導体業界をはじめ、クリーンルームにおける実績が豊富です。 以下は適用例の一部ですが、私達の技術を用いることで、微細な異物による不良率の悪化、清浄気流の見える化、現場のクリーン化に関する悩み、といった諸問題の解決を強く推し進めることができます。 ・製造ライン中の微細粒子や気流の可視化調査と環境改善 ・製造装置内や製造環境のクリーン化推進 ・各種設備性能のクリーン度評価 ・コンタミ問題に起因する歩留まりや品質低下の改善 ・微粒子や気流の可視化を要する研究開発の支援 ・製品からの粒子発生量評価"
【 フクダがご提供するリークテスター・リークテスト関連製品 】カタログを是非ご覧ください！
- リーク試験装置
- その他計測・記録・測定器
- その他検査機器・装置
株式会社フクダがご提案するリークテスト・漏れ試験・漏れ検査・漏れ検出・包装完全性試験
株式会社フクダは漏れ検出を追求して60年、漏れ検査（リークテスト）の未来型を追求します。 【 各種漏れ試験に対応：エアリークテスト / ガスリークテスト（水素ガス ・ ヘリウムガス） 】 気密性・密封性を検査するための漏れ試験機器を開発・製造・販売しています 検査対象ごとに適切なテスター・装置をご提案いたします 【 対象業界と検査対象例 】 ・自動車業界：エンジン、FC部品、バルブ・配管、各種部品 ・電子部品業界：スマートフォン、キーレススイッチ、各種小型センサ ・医薬品 / 食品 / 化粧品業界：ボトル容器、シリンジ、バイアル、点眼剤容器、ピロー包装、PTP包装 業界別に最適なリークテスターをご提案いたします 【 ISO認証 】JIS Q 9001:2015（ISO 9001:2015）
【2018年12月12日(水)～14日(金)】SEMICON Japan 2018 出展のお知らせ
株式会社ヒューブレインは、2018年12月12日(水)～14日(金)に東京ビッグサイトで開催される SEMICON Japan 2018に出展いたします。 当展示会は、半導体の前工程～後工程までの全工程から 自動車やIoT機器などのSMARTアプリケーションまでをカバーする エレクトロニクス製造サプライチェーンの国際展示会です。 弊社は、多様な検査を簡単な設定で実現可能なコンパクト検査機や 200万画素カラーカメラを採用した検査装置などのご紹介をします。 ＜出展製品＞ ■自由角度外観検査機 ■上型簡易検査機 ■ウエハ・チップ外観検査装置 等 ＜小問番号＞ ■東2 ＃2332 皆様のご来場を心よりお待ちしております。
使いやすいWin標準インターフェイスを採用！全ての計算は16桁浮動小数点演算で実行
- 基板検査装置
- 薄膜蒸発装置
- 基板設計・製造
【表面の異物・汚れ・傷を可視化！】歩留り管理、品質管理、清掃管理、衛生管理の日常管理ツールとして好評です。※デモ機貸出中
- 外観検査装置
- 半導体検査/試験装置
- 欠陥検査装置
『第25回 nano tech 2026 国際ナノテクノロジー総合展・技術会議』に微粒子可視化システムを出展いたします。(2026.1.28.(水)-1.30.(金)/東京ビッグサイト 西ホール会議棟 西1ホール 1階 1W-Z34)
"製造現場での微粒子による不良率悪化やクリーン化に関する課題を解決します 新日本空調の微粒子可視化システムは、ViESTブランドとして独自に開発した超高感度カメラと光源を組み合わせ、クリーンルームや装置内の微小粒子を可視化することができ、その挙動をリアルタイムに映像化しながら、粒子情報の定量化も行うことができる世界最高水準の可視化システムです。現在、国内外において、システムやツールの販売、それらを利用した受託技術サービスを展開中です。特に、半導体業界をはじめ、クリーンルームにおける実績が豊富です。 以下は適用例の一部ですが、私達の技術を用いることで、微細な異物による不良率の悪化、清浄気流の見える化、現場のクリーン化に関する悩み、といった諸問題の解決を強く推し進めることができます。 ・製造ライン中の微細粒子や気流の可視化調査と環境改善 ・製造装置内や製造環境のクリーン化推進 ・各種設備性能のクリーン度評価 ・コンタミ問題に起因する歩留まりや品質低下の改善 ・微粒子や気流の可視化を要する研究開発の支援 ・製品からの粒子発生量評価"
ペレット・パウダ異物検査装置 ※クリーンルーム対応で工場設置可能、9µmの検出が可能に！
- 外観検査装置
- 半導体検査/試験装置
【2019年1月16日～18日】第36回 エレクトロテスト ジャパン 出展のお知らせ
株式会社ヒューブレインは、2019年1月16日～18日に東京ビッグサイトで開催される 「インターネプコンジャパン」併催「エレクトロテストジャパン」に出展いたします。 【展示会概要】 エレクトロテストジャパンとは、外観・Ｘ線検査装置、テスタ、環境試験・信頼性試験装置、 各種分析装置などさまざまな検査・試験装置の主要メーカーが一堂に出展。 国内外の電子機器、半導体・電子部品、自動車・電装品メーカーとの商談の場として定着しています。 皆様のご来場をお待ちしております。 ※関連資料より、詳細を記載したPDFをダウンロードいただけます。
【2019年1月16日～18日】第36回 エレクトロテスト ジャパン 出展のお知らせ
株式会社ヒューブレインは、2019年1月16日～18日に東京ビッグサイトで開催される 「インターネプコンジャパン」併催「エレクトロテストジャパン」に出展いたします。 【展示会概要】 エレクトロテストジャパンとは、外観・Ｘ線検査装置、テスタ、環境試験・信頼性試験装置、 各種分析装置などさまざまな検査・試験装置の主要メーカーが一堂に出展。 国内外の電子機器、半導体・電子部品、自動車・電装品メーカーとの商談の場として定着しています。 皆様のご来場をお待ちしております。 ※関連資料より、詳細を記載したPDFをダウンロードいただけます。
高速部品移載機
本装置は、 ・小型の電子部品や高機能モジュール等を供給部から受取り、トレイなどに 整列収納後取り出す、高速移載機です。 ・16本のノズルをロータリー状に配置した高速、高精度移載ユニットにより 高品質な部品移載と高い生産性を実現します。
16本のノズルをロータリー状に配置した、高速・高精度移載ユニットにより、バラ状態の部品の高精度移載と高い生産性を実現！
- その他検査機器・装置
2023年1月25日～27日東京ビッグサイトで開催されます「インターネプコンジャパン」併設「エレクトロテストジャパン」に出展致します。
当社主力のウエハチップ外観検査装置をはじめ、オリジナル技術を駆使した、クラック検査装置や3D検査装置を出展致します。 【第37回 エレクトロテスト ジャパン】 https://www.nepconjapan.jp/tokyo/ja-jp/about/et.html 日時：2023年 1月 25日（水） ～ 27日（金）10:00～17:00 会場：東京ビックサイト 東2ホール ブース：16-48 ■出展装置（予定） ・ウエハチップ外観検査装置 ・クラック検査 ・3D検査 ・その他多数の装置を動画にてご覧いただけます
【メルマガ配信しました】画像分解能が選択可能！ウエハチップ外観検査装置(ダイシング後)/株式会社ヒューブレイン
多種多様な機能搭載！320万画素の3CMOSカラーエリアカメラで検査を実施。 『ウエハチップ外観検査装置(ダイシング後)』は、ウエハダイシング後の チップを外観検査する装置です。 検査精度に合わせた画像分解能が選択可能。(約0.8μm～2.0μm/pixel) また、オプションで、表裏同時検査・NGチップリジェクト機能・ NGチップマーキング機能・全数の排除ミス・マーキングミスチェック機能・ ID読込み及びマッピングデータ出力機能がございます。 【特長】 ■多機能画像検査ソフトHu-Dra ■外観検査とNGリジェクトを平行して行う2ステージ仕様も選択可能 ■処理能力 ・外観検査時間：分解能1.5μm時 約2分(2inch：チップサイズ約1mm) ・排除時間：3～6チップ/秒(チップサイズ、シートの種類により変動) ・マーキング時間：インカーの場合3～4チップ/秒
樹脂、プラスチックの原料検査に最適！ 独自開発の検査機構でペレットやパウダの練り込み異物および変色を検出！ ※9μmの検出が可能
- 外観検査装置
- 半導体検査/試験装置
わずかな長さの誤差を検出し、半／全自動で測定プロセスを実行するハイエンドな万能測長機。製造現場・測定室・校正ラボでの測定・校正に
- その他検査機器・装置
導入実績多数、人気の『ゲージ検査機』をご紹介します！
MahrのPrecimarシリーズ 『自動ダイヤルゲージ検査機』 『ブロックゲージ検査機』をご存知ですか？ リーズナブルに省人・効率化出来る人気の装置で、 年度末予算の消化など、 毎年この時期からのお問合せが多くなっております。 ダイヤルゲージ検査は全/半自動で！ 目視の負担とミスを軽減、検査時間を短縮。 ■『ICM 100 IP』 ダイヤルゲージ類の国際規格に基づいた測定を 全自動で短時間かつ高精度に行います。 ◇手動・目視検査比60％*の時短を実現（*当社テスト） ◇測定範囲最大100mm、各種メーカーのゲージに対応 ☆デジタル・てこ式（テストインジケータ）もＯＫ ■『ICM 100』 ◇電動測定スピンドルにより位置決め前の工程を自動化 ◇アナログ・デジタルダイヤルゲージの他 プローブや2点ボアゲージも測定可能 直観的操作で迅速にブロックゲージをテスト！ ■『826 PC』 ◇測定範囲：0.5～170mm →長さ170mmまでのブロックゲージのテストに （それ以上の測定範囲が不要な方に好評） 是非一度ご検討下さい。
マール『測定デモ・ルーム』 の御案内：測定課題を一緒に解決します
マール『測定デモ・ルーム』 の御案内ページを作成致しました。 マール・ジャパン『測定デモ・ルーム』には日々、全国各地から様々な業界のお客様が御来社下さり、弊社専任担当者と一緒に多様なアプリケーションをお試し頂いております。 気になる弊社製品がございましたら是非、 マール『測定デモ・ルーム』御案内ページより、お気軽にお問い合わせ下さい！ ●現在ご使用の測定機では解決できない課題がある ●測定結果が一定しない ●望ましい数値が出ない ●全数検査を行いたいが今の測定時間では難しい ●複雑な形状のワークの測定 ●光学式／接触式どちらも試したい ●買い替えで他の測定機も試してみたい 該当ページにて、デモ機ラインナップなどご確認頂けます！
ナノフォーカスX線CTシステム『XVA-160αII"Z"』でUスマートウォッチを斜めCT撮影をした事例です。
- X線検査装置
CTスキャンデータを3Dデータ化し、遺物の分析を加速。
- データ変換ソフト
- 3Ｄプリンタ
- その他検査機器・装置
CTスキャンデータを3Dデータに変換し、地質調査を効率化。
- データ変換ソフト
- 3Ｄプリンタ
- その他検査機器・装置
CTスキャンデータを3Dデータに変換。設計効率を向上させます。
- データ変換ソフト
- 3Ｄプリンタ
- その他検査機器・装置
CTスキャンデータを3Dデータ化し、品質検査を効率化。
- データ変換ソフト
- 3Ｄプリンタ
- その他検査機器・装置
Unlock… Everything 直感的に使えるインターフェースを通じて、業界最高水準の性能を提供します
- その他検査機器・装置
- 画像処理機器
- 探傷試験
新開発のＸ線管が搭載可能になった《 FF35 CT Semi 》をご紹介いたします！
- X線検査装置
SEMICON Japan 2025 に出展いたします【 W1969 】
2025年12月17日（水）～ 19日（金）の期間で東京ビッグサイトにて開催される、 「SEMICON Japan 2025」に出展いたします！ 会場では新開発160 kVナノフォーカスX線管搭載の工業用X線CT《 FF35 CT Semi 》をご紹介いたします。 来場登録はこちらから → https://semi.eventos.tokyo/web/portal/609/event/14407/users/mypage/badge ぜひ弊社ブース【 W1969 】にお越しください。皆様のご来場を心よりお待ちしております。 ―――― SEMICON Japan 2025 開催概要 ―――― ■ 会 期： 2025年12月17日（水）～ 19日（金） ■ 場 所： 東京ビッグサイト ■ ブース： 西ホール W1969 ■ 来場登録：https://semi.eventos.tokyo/web/portal/609/event/14407/users/mypage/badge ―――――――――――――――――――――――