半導体・ICの製品一覧
- 分類：半導体・IC
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スロースタート、スローストップ機構、スピードコントローラー、デジタルタイマーミニマイザー／自動噴霧装置の連動システム等を搭載可能
- その他半導体
非破壊分析サービス 2018年4月より開始のお知らせ
2018年4月2日、MSTは最新型の加工・分析装置を導入し非破壊分析サービスを開始します。電子デバイス・医薬品・食品の製品開発・品質管理など幅広い分野を対象に分析サービスを提供します。 非破壊分析は、製品を破壊することなく内部の状態を可視化する技術です。 今回ＭＳＴでは最新型の加工・分析装置を導入し、非破壊分析の実施が可能となりました。受託による分析サービスをご提供いたします。
めっきなどの膜中・界面の不純物をTOF-SIMSで評価できます。
- ウエハー
- 受託測定
- その他半導体
着目の成膜パラメータ（温度、圧力）にて多分子競合吸着性の評価が可能です
- 受託解析
- その他電子部品
- メモリ
半導体・液晶製造装置部品から介護・福祉機器部品まで。MINWAがお届けする、高精度・高品質な機械加工
- その他半導体
- 液晶ディスプレイ
- その他機械要素
