テスタの製品一覧
- 分類：テスタ
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電池の基本概念から、利用目的・実現方法による分類までを体系化。複雑な電池選定の第一歩を、初心者目線で分かりやすくまとめました
- 電池・バッテリー
- 技術書・参考書
- 技術書・参考書
微小容量検査高分解能！薄膜RFフィルタ/加速度センサなど様々な製品を検査可能
- テスタ
PCIeケーブルBERTと3.2Tロードマップを初公開。1.6T対応BERT・DCA、高精度SMUも実機デモ展示。
- オシロスコープ
- テスタ
【2026年4月22日(水)～24日(金)】「OPIE ’26(OPTICS PHOTONICS International Exhibition 2026)」出展のお知らせ
当社は、パシフィコ横浜で開催される「OPIE ’26(OPTICS PHOTONICS International Exhibition 2026)」に出展いたします。 当社ブースでは、PXIe/ベンチトップSMUと1.6T対応DCA/BERTを実機デモ展示。 LDテスト(Chip Tester：ダイ、CoC Tester：CoC、CoCバーンイン)をはじめ、 CPO(PIC/OEハンドラ)、PCIe高速ケーブルBER、WAT/WLRまで用途別に提案します。 また、3.2Tロードマップもご紹介いたしますので、ぜひご来場ください。
Per-Pinアーキテクチャ採用で従来のシリアルテスタと比較して50％以上高いスループットを実現！
- テスタ
Yonata Electronics株式会社、OPIE ’26に出展お知らせ
Yonata Electronics株式会社は、2026年4月22日（水）～24日（金）にパシフィコ横浜で開催される「OPIE ’26」に出展いたします。PXIe／ベンチトップSMU、1.6T対応DCA/BERTの実機デモをはじめ、LDテスト、CPO、PCIe高速ケーブルBER、WAT/WLRなど、光通信・シリコンフォトニクス・半導体向けの各種テストソリューションをご紹介いたします。皆様のご来場を心よりお待ちしております。 【見るポイント 】 ・1.6T光トランシーバー評価ソリューション実機DEMO ・PCIe高速ケーブルBERテスター 初公開 ・高精度SMU 実機デモ ・AIデータセンター向けCPOソリューションおよびLD評価提案を展示 【展示会出展情報】 ■会場：パシフィコ横浜 ■日時：2026年04月22日（水） ～ 2026年04月24日（金） ■住所：〒220-0012 神奈川県横浜市西区みなとみらい1-1-1 ■ブース：K-14 詳細はここにご参照ください。 https://www.opie.jp/2026/list/info.php?id=5296&ex=
Yonata Electronics株式会社、OPIE ’26に出展お知らせ
Yonata Electronics株式会社は、2026年4月22日（水）～24日（金）にパシフィコ横浜で開催される「OPIE ’26」に出展いたします。PXIe／ベンチトップSMU、1.6T対応DCA/BERTの実機デモをはじめ、LDテスト、CPO、PCIe高速ケーブルBER、WAT/WLRなど、光通信・シリコンフォトニクス・半導体向けの各種テストソリューションをご紹介いたします。皆様のご来場を心よりお待ちしております。 【見るポイント 】 ・1.6T光トランシーバー評価ソリューション実機DEMO ・PCIe高速ケーブルBERテスター 初公開 ・高精度SMU 実機デモ ・AIデータセンター向けCPOソリューションおよびLD評価提案を展示 【展示会出展情報】 ■会場：パシフィコ横浜 ■日時：2026年04月22日（水） ～ 2026年04月24日（金） ■住所：〒220-0012 神奈川県横浜市西区みなとみらい1-1-1 ■ブース：K-14 詳細はここにご参照ください。 https://www.opie.jp/2026/list/info.php?id=5296&ex=
Yonata Electronics株式会社、OPIE ’26に出展お知らせ
Yonata Electronics株式会社は、2026年4月22日（水）～24日（金）にパシフィコ横浜で開催される「OPIE ’26」に出展いたします。PXIe／ベンチトップSMU、1.6T対応DCA/BERTの実機デモをはじめ、LDテスト、CPO、PCIe高速ケーブルBER、WAT/WLRなど、光通信・シリコンフォトニクス・半導体向けの各種テストソリューションをご紹介いたします。皆様のご来場を心よりお待ちしております。 【見るポイント 】 ・1.6T光トランシーバー評価ソリューション実機DEMO ・PCIe高速ケーブルBERテスター 初公開 ・高精度SMU 実機デモ ・AIデータセンター向けCPOソリューションおよびLD評価提案を展示 【展示会出展情報】 ■会場：パシフィコ横浜 ■日時：2026年04月22日（水） ～ 2026年04月24日（金） ■住所：〒220-0012 神奈川県横浜市西区みなとみらい1-1-1 ■ブース：K-14 詳細はここにご参照ください。 https://www.opie.jp/2026/list/info.php?id=5296&ex=
800GbE P to P試験を始め、2x400GbEや8x100GbEとのブレイクアウト試験にも対応！
- テスタ
漏電遮断器【LCB15mA100V15A PSC AAM A】
- テスタ
Siレベルの低電圧向けディスクリート向けのパワー半導体テスタ。16サイト同時にテストすることによりスループットを増加します。
- 半導体検査/試験装置
- その他半導体製造装置
- テスタ
SEMICON Japan 2021 Hybridに出展
弊社は、2021年12月15日(水)～12月17日(金)に東京ビッグサイトにて開催される「 SEMICON Japan 2021 Hybrid」に出展いたします。 中国に本社を構える半導体検査装置メーカー。 会社の設立は2008年に中国に設立。日本での拡販本格活動を2020年10月に開始。セミコンジャパンでの展示は今回が初めてとなります。 是非、ご来場ください。
少ポイント数での基板検査に好適です。 導通抵抗/絶縁抵抗検査、自己診断機能搭載のコンパクト機です。
- 基板検査装置
- テスタ
【TAIYO】ケーブルテスター『UT8080A』日本代理店、低電圧仕様、導通抵抗/絶縁抵抗検査、自動診断機能搭載のコンパクト設計！
台湾UTRON製 ケーブルテスターのご案内です。 弊社では、自社製通電検査機とかぶらない『UT8080A』を取り扱っております。 機能的にシンプルですが、最大512ポイントまで選択（128、256，384，512）できるため、少ポイントでの検査に好適です。 詳細は製品ページ・カタログページよりご覧ください。 お問い合わせ大歓迎です。 担当：橋本（073-431-6327）
