テスタの製品一覧

  • 分類:テスタ

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設計から製造、メンテナンスまで一貫対応いたします!

  • IPROS8208520754152864234.jpg
  • IPROS16859319381361514723.jpg
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  • IPROS16626246803360192011.jpg
  • 製造受託

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100万回繰り返しても壊れない!確実動作と高耐久性・低価格のマットスイッチ。工作機械のオプションなどにも。納期ご相談ください。

  • センサ

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省エネと計測の「見える化」を実現する問題解決企業です!

  • その他計測・記録・測定器
  • センサ
  • テスタ

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EV制御向けパワーデバイスの性能を最大限に引き出す電気特性検査システム

  • テスタ
  • 半導体検査/試験装置
  • 試験機器・装置

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SPEA DOT800T パワーデバイス用電気特性検査システム

  • テスタ
  • 半導体検査/試験装置
  • 試験機器・装置

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モジュール式RFIU設計でお客様のニーズにカスタマイズ可能!

  • 1257Aテスト用機器2.jpg
  • 1257Aテスト用機器3.jpg
  • 1257Aテスト用機器4.jpg
  • テスタ

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お客様が保守戦略のすべてを掌握できるよう支援することを目指しています!

  • 保守整備用のテストソリューション2.jpg
  • 保守整備用のテストソリューション3.jpg
  • 保守整備用のテストソリューション4.jpg
  • 保守整備用のテストソリューション5.jpg
  • 保守整備用のテストソリューション6.jpg
  • 保守整備用のテストソリューション7.jpg
  • 保守整備用のテストソリューション8.jpg
  • 保守整備用のテストソリューション9.jpg
  • 保守整備用のテストソリューション10.jpg
  • テスタ

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車両上および線路沿いの資産を良好な修理状態に維持いたします!

  • 公共交通テストソリューション2.jpg
  • テスタ

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世界中に導入されて長い年月が経つテスターの先端バージョンです!

  • 機能テストシステム『ATS-5000』2.jpg
  • テスタ

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小型のサイズで強力な力を秘めたコスト効果の高い機器!

  • テスタ

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一つのシステムでコンポーネントレベルの診断と高性能機能テスト!

  • テスタ

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回路カードアセンブリの簡素化したテストのための製品です!

  • 自動探査システム『AP-MARS』2.jpg
  • 自動探査システム『AP-MARS』3.jpg
  • 自動探査システム『AP-MARS』4.jpg
  • 自動探査システム『AP-MARS』5.jpg
  • 自動探査システム『AP-MARS』6.jpg
  • 自動探査システム『AP-MARS』7.jpg
  • テスタ

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旧式の置き換えと新しいテストステーションの両方に適した製品です!

  • テスタ

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拡張可能でお手頃価格の回路カード不具合検出と識別のための製品です!

  • PinPoint AlphaおよびSigma2.jpg
  • PinPoint AlphaおよびSigma3.jpg
  • PinPoint AlphaおよびSigma4.jpg
  • PinPoint AlphaおよびSigma5.jpg
  • テスタ

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非常に過酷な環境下でも配線不具合を完全に検出、隔離、修復します!

  • テスタ

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規格変更や旧型無線機の維持保守に限界を感じていませんか?再構成可能なソフトウェア技術でRF検証の工数を大幅削減

  • テスタ

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ケーブル障害やVSWRの測定作業に時間を取られていませんか?高度なRFパラメータ表示と多機能統合で検証工数を大幅削減

  • テスタ

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TO220タイプに適した常温・高温テストハンドラ

  • テスタ
  • 電源
  • リレー

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測定条件の拡張と64基のLCRメーター内蔵で、検査の高速化・高精度化を実現!

  • テスタ
  • 半導体検査/試験装置
  • 基板検査装置

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テスタ本体の増設も容易!高集積多ピンデバイスの、量産を強力サポート

  • テスタ
  • その他半導体

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脳波計の同相信号除去比とシステムノイズテスト用に設計!

  • テスタ

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強化された耐性による15秒間隔での集中的ショックテストが生産性を向上!

  • テスタ

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反射型PPG製品の開発に好適!RとIRのアナログ信号を出力

  • 反射型SpO2モジュール2.jpg
  • テスタ

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システム検証とソフトウェアのアルゴリズムの評価の為に設計!

  • テスタ

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フィンガークリップオキシメータや患者モニタなどの開発に好適なテスタ!

  • PPG-2TF-660 2.02.jpg
  • テスタ

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パフォーマンステスト用に設計された心電図シミュレーター!

  • シミュレーター
  • テスタ

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正確さ、利便性そしてテストの自動化をひとまとめにしました!

  • テスタ

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PCIeケーブルBERTと3.2Tロードマップを初公開。1.6T対応BERT・DCA、高精度SMUも実機デモ展示。

  • オシロスコープ
  • テスタ

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【2026年4月22日(水)~24日(金)】「OPIE ’26(OPTICS PHOTONICS International Exhibition 2026)」出展のお知らせ

当社は、パシフィコ横浜で開催される「OPIE ’26(OPTICS PHOTONICS International Exhibition 2026)」に出展いたします。 当社ブースでは、PXIe/ベンチトップSMUと1.6T対応DCA/BERTを実機デモ展示。 LDテスト(Chip Tester:ダイ、CoC Tester:CoC、CoCバーンイン)をはじめ、 CPO(PIC/OEハンドラ)、PCIe高速ケーブルBER、WAT/WLRまで用途別に提案します。 また、3.2Tロードマップもご紹介いたしますので、ぜひご来場ください。

Per-Pinアーキテクチャ採用で従来のシリアルテスタと比較して50%以上高いスループットを実現!

  • テスタ

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Yonata Electronics株式会社、OPIE ’26に出展お知らせ

Yonata Electronics株式会社は、2026年4月22日(水)~24日(金)にパシフィコ横浜で開催される「OPIE ’26」に出展いたします。PXIe/ベンチトップSMU、1.6T対応DCA/BERTの実機デモをはじめ、LDテスト、CPO、PCIe高速ケーブルBER、WAT/WLRなど、光通信・シリコンフォトニクス・半導体向けの各種テストソリューションをご紹介いたします。皆様のご来場を心よりお待ちしております。 【見るポイント 】 ・1.6T光トランシーバー評価ソリューション実機DEMO ・PCIe高速ケーブルBERテスター 初公開 ・高精度SMU 実機デモ ・AIデータセンター向けCPOソリューションおよびLD評価提案を展示 【展示会出展情報】 ■会場:パシフィコ横浜 ■日時:2026年04月22日(水) ~ 2026年04月24日(金) ■住所:〒220-0012 神奈川県横浜市西区みなとみらい1-1-1 ■ブース:K-14 詳細はここにご参照ください。 https://www.opie.jp/2026/list/info.php?id=5296&ex=

8インチから12インチまでのウェーハに対応した高性能ウェーハレベルテストシステム!

  • テスタ

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Yonata Electronics株式会社、OPIE ’26に出展お知らせ

Yonata Electronics株式会社は、2026年4月22日(水)~24日(金)にパシフィコ横浜で開催される「OPIE ’26」に出展いたします。PXIe/ベンチトップSMU、1.6T対応DCA/BERTの実機デモをはじめ、LDテスト、CPO、PCIe高速ケーブルBER、WAT/WLRなど、光通信・シリコンフォトニクス・半導体向けの各種テストソリューションをご紹介いたします。皆様のご来場を心よりお待ちしております。 【見るポイント 】 ・1.6T光トランシーバー評価ソリューション実機DEMO ・PCIe高速ケーブルBERテスター 初公開 ・高精度SMU 実機デモ ・AIデータセンター向けCPOソリューションおよびLD評価提案を展示 【展示会出展情報】 ■会場:パシフィコ横浜 ■日時:2026年04月22日(水) ~ 2026年04月24日(金) ■住所:〒220-0012 神奈川県横浜市西区みなとみらい1-1-1 ■ブース:K-14 詳細はここにご参照ください。 https://www.opie.jp/2026/list/info.php?id=5296&ex=

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Yonata Electronics株式会社、OPIE ’26に出展お知らせ

Yonata Electronics株式会社は、2026年4月22日(水)~24日(金)にパシフィコ横浜で開催される「OPIE ’26」に出展いたします。PXIe/ベンチトップSMU、1.6T対応DCA/BERTの実機デモをはじめ、LDテスト、CPO、PCIe高速ケーブルBER、WAT/WLRなど、光通信・シリコンフォトニクス・半導体向けの各種テストソリューションをご紹介いたします。皆様のご来場を心よりお待ちしております。 【見るポイント 】 ・1.6T光トランシーバー評価ソリューション実機DEMO ・PCIe高速ケーブルBERテスター 初公開 ・高精度SMU 実機デモ ・AIデータセンター向けCPOソリューションおよびLD評価提案を展示 【展示会出展情報】 ■会場:パシフィコ横浜 ■日時:2026年04月22日(水) ~ 2026年04月24日(金) ■住所:〒220-0012 神奈川県横浜市西区みなとみらい1-1-1 ■ブース:K-14 詳細はここにご参照ください。 https://www.opie.jp/2026/list/info.php?id=5296&ex=

万能型ボンドテスターDAGE4000がデザインも一新され、より高精度により多機能になって、生まれ変わりました!

  • テスタ

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各種半導体部品・電子部品の組立工程や基板への実装工程における様々な接合強度試験に一台で対応できる!

  • テスタ

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航空機整備の信頼性を支える、リークテスター

  • 校正・修理
  • テスタ
  • その他計測・記録・測定器

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優れた安定性と作業時間の時短を追求したミドルレンジモデル

  • テスタ
  • 基板検査装置

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優れた安定性と作業時間の時短を徹底的に追求したハンドラ

  • テスタ
  • 基板検査装置

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AI開発におけるICテストの効率化を支援するミドルレンジハンドラ

  • テスタ
  • 基板検査装置

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優れた安定性と作業時間の時短を徹底的に追求したハンドラ

  • テスタ
  • 基板検査装置

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小型家電製品のICテストを効率化、高品質を両立。

  • テスタ
  • 基板検査装置

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自動車部品の信頼性を支える、高速・高精度ICテストハンドラ

  • テスタ
  • 基板検査装置

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優れた安定性と作業時間の時短を徹底的に追求したミドルレンジハンドラ

  • テスタ
  • 基板検査装置

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優れた安定性と作業時間の時短を追求したミドルレンジICテストハンドラ

  • テスタ
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