膜厚計の製品一覧
- 分類：膜厚計
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不透明体の厚み高精度測定なら、Enovasenseの レーザフォトサーマルセンサ。材料に依らず、最小10nmから厚み測定可能。
- 膜厚計
2026年 OPIE出展情報
4月22日～24日にパシフィコ横浜で開催されるOPIE 26'に出展致します。 ブースは、L-37 (光と画像のセンサ＆イメージングEXPO)です。 3DラインセンサCLS2、シングルポイントの厚みセンサ、距離センサ、不透明体の厚み測定ができるEnovasenseを展示予定です。
CCDカメラ採用で各層の境界が鮮明に！画像の色、濃淡を変更できます！
- 膜厚計
【2020年1月29日(水)～31日(金)】SURTECH2020に出展いたします。
DKSHジャパン株式会社は、東京ビッグサイトで開催されます 表面技術要素展「SURTECH2020」に出展いたします。 当社はアジアを中心とするマーケットエクスパンションサービスを提供。 欧米及びアジアの一流メーカーの先端テクノロジーを幅広くご紹介するとともに 質の高いアフターサービスをお届けしています。 【製品・サービス】 ■超音波式膜厚計 ■電動式ペイントボアラー(データ算出ソフトウェア付き) ■スプレー(噴霧)粒子計測システム ■超微量サンプル粘度計 ■厚さ測定装置 ■フローサイト粒子解析装置 ■半自動 碁盤目試験装置 皆様のご来場を心よりお待ちいたしております。
FISCHERのFR法により、より簡単に膜厚測定と素材分析が可能！ ※JPCA Show（国際電子回路産業展) に出展します
- 膜厚計
素地上のコーティング厚を非破壊で測定！高精度な超音波パルス式の膜厚計
- 膜厚計
- その他計測・記録・測定器
最大8層まで一気に塗装等の膜厚を測定 超音波式膜厚計クイントソニックT
- 膜厚計
- その他塗装機械
MECT 2023 出展のご案内
弊社は2023年10月18日（水）より10月21日（土）までの4日間、ポートメッセなごやで開催される「MECT 2023」 へ出展いたします。（ブース番号：3A09） 本展示会では、工作機械向け最新アプリケーションおよびEV生産サイクル全体の品質とプロセス管理を保証する最新測定検査技術を、国内初展示製品含め幅広くご紹介いたします。 展示製品： ・NVH歯車解析装置（国内初展示） ・アレイ型超音波センサー坪量測定システム（国内初展示） ・研削盤用砥石バランシングシステム ・工作機械用工具およびプロセスモニタリングシステム ・高精度機上計測装置 ・フレキシブル非接触式測定 ・ベンチトップ型レーザーマイクロメータ ・ダイカスト金型向け赤外線サーマルビジョンシステム 他 なお、本展示会の入場には事前登録の上、入場証が必須となっております。下記リンク先よりご登録を済ませ、入場証を印刷の上会場へご持参ください。 弊社ブースにてお目にかかれますことを、心よりお待ち申し上げております。
様々なポイントで自動化可能！ 銅の膜厚を瞬時に測定可能・高度な統計処理で生産効率UPの可能性がここにある！
- 膜厚計
「第17回岩木トライボコーティングネットワークアワード(岩木賞)」を受賞しました！
2025年2月21日(金)に、国立研究開発法人 理化学研究所 鈴木梅太郎 記念ホールにて、トライボロジー技術研究会より「岩木賞 事業賞」を 受賞しました。 この表彰はトライボコーティング分野で著しい業績を上げた個人や法人、 団体を表彰するものであり、2008年度より創設されたものです。 業績名「DLC膜などに有用なトライボロジー試験機の普及による トライボコーティング研究支援」として事業賞を受賞しました。
非接触の光学厚み測定。高精度が求められる半導体ウエハの厚み測定でも適用可能。
- その他検査機器・装置
- 膜厚計
Semicon Japan 2025
2025年12/17(水)~12/19（金）に東京ビッグサイトにて開催されるSemicon Japan 2025に出展します。ご興味ある方は、是非会場までお越しください。 ■出品予定製品 1. 分光干渉式の光学厚みセンサ CHRocodile 2 DW/ 2IT 2. 12'ウエハ全面厚み・形状測定用エリアスキャナ Flying Spot Scanner（FSS) 3. 色収差共焦点の光学ラインセンサ CLS2.0 4. 色収差共焦点のラインカメラ CVC 5. 色収差共焦点の光学式シングルポイントセンサ CHRocodile Mini 6. 不透明体の非接触厚み測定センサ Enovasnese
光学式センサで、Si0.5~200umの広範囲の厚み測定。5kHzの高速サンプリング。加工中のモニタリング用途に最適。
- 膜厚計
Semicon Japan 2025
2025年12/17(水)~12/19（金）に東京ビッグサイトにて開催されるSemicon Japan 2025に出展します。ご興味ある方は、是非会場までお越しください。 ■出品予定製品 1. 分光干渉式の光学厚みセンサ CHRocodile 2 DW/ 2IT 2. 12'ウエハ全面厚み・形状測定用エリアスキャナ Flying Spot Scanner（FSS) 3. 色収差共焦点の光学ラインセンサ CLS2.0 4. 色収差共焦点のラインカメラ CVC 5. 色収差共焦点の光学式シングルポイントセンサ CHRocodile Mini 6. 不透明体の非接触厚み測定センサ Enovasnese
軽量小型で扱いやすい。電磁方式や渦電流方式のタイプのほか、磁性・非磁性金属の素地の両方に対応したタイプなど多様な被膜厚測定で活躍
- 膜厚計
JISに対応した厚さ測定機です。フイルム、紙、ゴム、織物・編物など、それぞれの試験規格に基づいた仕様をお選びいただけます。
- 試験機器・装置
- その他計測・記録・測定器
- 膜厚計
