分析機器・装置の製品一覧

【重量物の取り扱いによる作業負担を軽減！】お客様の課題を解決した導入事例5選を収録！ワークに応じた無料相談、テストも受付中！

その他搬送機械

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サニタリーハンディポンプ『MHSシリーズ』

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名東化工機株式会社

もう、重たい一斗缶を持ち上げる必要無し！セントラルキッチンの液体移送を快適に

その他ポンプ

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『第1回中部食品産業創造展'26 』出展決定！

〈ポートメッセなごや〉にて、2026年11月4日(水)～6日(金)に開催されます、【第1回中部食品産業創造展'26 】に出展いたします。昨年4月より発売を開始していおります、『小型サニタリーハンディポンプMHS型』の新たなラインナップとして、『コードレスサニタリーハンディポンプ』の展示をいたします。・コードレス！どこへでも持ち運べ！サッと使え！簡単洗浄！従来通り18L缶やBIB（バックインボックス）に対応し、簡単に分解洗浄が可能な構造となっています。この機会にぜひご来場いただきたくご案内申し上げます。・会場：ポートメッセなごや・弊社出展ブース：第1展示館「C-６６」

水分気化装置付きサンプルプロセッサ 874《KF水分計用》

メトロームジャパン株式会社本社

東京材料株式会社東京本社　名古屋支店　大阪支店　岡山営業所

固体試料の連続水分測定ができるカールフィッシャー水分計用水分気化装置付きサンプルプロセッサ！

分析機器・装置
水分測定装置
食品試験/分析/測定機器

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Premier ESR 機能紹介

Premier ESR は「DMA＋DSC＋レオメーター」の機能を1台に統合

分析機器・装置

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カールフィッシャー水分計917《電量法、ppm微量水分測定用》

メトロームジャパン株式会社本社

全てが一体となった最新の高機能＆コンパクト電量法水分計。《面倒なグリース塗布は必要なし！》

分析機器・装置
水分測定装置
食品試験/分析/測定機器

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カールフィッシャー水分計（電量法）Ecoクーロメーター

メトロームジャパン株式会社本社

ppmオーダーの微量水分測定に最適！ビュレット・電極・3年保証がついた電量法カールフィッシャー水分計

分析機器・装置
水分測定装置
食品試験/分析/測定機器

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【半導体向け】ゼータ電位・粒子径測定によるCMPスラリー評価

CMPスラリーの分散状態を制御し、研磨効率を向上。

その他理化学機器
分析機器・装置
半導体・IC

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【2026年12月9日(水)～11日(金)】「SEMICON Japan」出展のお知らせ

当社は、東京ビッグサイトで開催される「SEMICON Japan」に出展いたします。半導体製造プロセスからアプリケーションまでを網羅し、先進技術を体験できます。大塚電子では、ラインスキャンのモックアップ、スマート膜厚計などを展示予定。ぜひ当社ブースにて実機をお近くでご覧ください。皆様のご来場をお待ちしております。

【半導体材料向け】ウェーハ表面のゼータ電位測定

ゼータ電位測定でCMPスラリーとウェーハの静電相互作用を評価

分析機器・装置

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分析機器の活用事例集│ナノカーボン・界面活性剤・ゲル・平板試料　

全30事例！ナノカーボン・界面活性剤・ゲル・平板試料等を分析したアプリケーションデータ掲載資料を進呈中

分析機器・装置

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分析機器の活用事例集│高分子・無機粒子　

全25事例！高分子・無機粒子などを分析したアプリケーションデータ掲載資料を進呈中

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分析機器の活用事例集│飲料・調味料・添加物等の食品類　

全25事例！食品分野のアプリケーションデータを掲載した資料を進呈中

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分析機器の活用事例集│バイオ・医薬品分野　

全30事例！バイオ・医薬品・バイオマテリアル分野のアプリケーションデータを掲載した資料を進呈中

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ダイナミック光散乱光度計 DLS-8000 series　

動的光散乱法により超微粒子および希薄溶液中の微粒子測定に最適

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全光束測定システム HM/FM series　　　

LED単体から照明器具まで幅広い光源の全光束測定が可能

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リポソームの粒子径とゼータ電位評価　

ゼータ電位・粒子径・分子量測定システムを用いたDDSナノ材料リポソームの評価

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分光配光測定システム　Gp series

光源や照明器具の配光特性を測定する装置です　

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顕微分光膜厚計による透明基板上の高精度膜厚測定

反射対物レンズが実現する透明基板の高精度測定

分析機器・装置

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顕微分光膜厚計　複雑な形状のある任意ポイントの測定

さまざまな用途のDLCコーティング厚みの測定

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顕微分光膜厚計　反射率の変化と膜厚の関係

薄膜から厚膜まで高精度に測定が可能な顕微分光膜厚計『OPTM』

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顕微分光膜厚計 nk 未知の極薄膜の測定

複数点同一解析を用いた nk 未知の極薄膜の測定

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顕微分光膜厚計を用いたSiO2 SiNの膜厚測定

反射分光膜厚計『OPTM』を用いた絶縁膜の膜厚測定

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顕微分光膜厚計　厚膜解析方法

屈折率の波長分散性を考慮した厚膜解析

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顕微分光膜厚計の膜厚解析

表面粗さを考慮した膜厚解析

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顕微分光膜厚計　ハードコートの膜厚測定　

ハードコートの膜厚測定

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顕微分光膜厚計のメリット

反射分光法と他の測定手法の比較

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顕微分光膜厚計の構造解析

傾斜モデルを用いた薄膜の構造解析

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顕微分光膜厚計の測定原理

光干渉法を用いた顕微分光膜厚計（OPTM）の測定原理

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粒子径・ゼータ電位測定による無機粒子の分散性評価

コロイド分散系における無機粒子のｐHタイトレーションによる等電点の評価

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プリンター用インクを高濃度状態で粒子径・粒子径分布測定　

有機顔料の分散性を高濃度状態で評価

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ゼータ電位・粒度分布測定　コロイド粒子のｐH依存性評価

ゼータ電位・粒子径・分子量測定システムを用いたDDSナノ材料リポソームの等電点評価

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粒子径・粒子径分布測定装置　リポソームの粒子径評価　

粒子径測定装置を用いた種類の異なるリポソームの粒子径評価

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砥粒の異なるCMPスラリーの分散性評価　

CMPスラリーの等電点測定から分散性を評価

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CMPスラリーの塩濃度によるゼータ電位の制御　

ゼータ電位測定でCMPスラリーの分散・安定性を評価

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固体表面のゼータ電位測定　

ゼータ電位からCMPスラリーとウェーハの静電相互作用を評価

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ゼータ電位・粒子径測定によるＣＭＰスラリーの評価　

ゼータ電位・粒子径測定システムを用いてＣＭＰスラリーの非イオン性界面活性剤添加によるゼータ電位・粒子径の評価

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ゼータ電位・粒子径分布・粒子濃度　エクソソームの評価　