干渉計の製品一覧
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誰でも使える現場向きの使いやすさと、裏面反射キャンセルなどの高機能を両立させ、更にコストパフォーマンスにも優れた干渉計です。
- 分析機器・装置
- ウエハー
- 基板検査装置
垂直走査低コヒーレンス干渉法により、高精度なオンマシン計測・インライン評価を実現！
- 光学顕微鏡
- 三次元測定器
- その他検査機器・装置
残量が一目で分かるレベル計を取り付けました。給水しやすい蛇口付きの丸型ステンレス容器です。
- ステンレス容器
【新製品】給水時に残量が分かる、レベル計付きのステンレス容器が新登場！
簡単に給水できる蛇口付容器に、蓋を開けずに残量が分かるレベル計を取り付けました。 残量管理ができ、液の補充忘れを防げます。 蛇口は扱いやすい横水栓で、取り外して洗浄でき衛生的です。
OEM対応可能。分光学､干渉計、共焦点・蛍光顕微鏡、バイオ分析研究、粒子計測、産業計測、ホログラフィー、科学教育分野で使用可能
- 分析機器・装置
10⁻¹¹の周波数安定性。スマホ・車載用レンズ、半導体ウェハー向け精密干渉計測用光源として大手メーカーに2000台超の納品実績。
- 光学測定器
- 半導体検査/試験装置
ユニークな測定方式の為、サンプルとセンサーは非接触です。 厳しい環境でも、高い精度で”全塩素“の監視測定が出来ます。
- その他計測・記録・測定器
EU欧州連合における段階的自動車排出ガス規制「EURO6」測定試験で検証されました
- 分析機器・装置
既存のX線ラボに組み込み可能。非破壊検査，異物検査，医療用途に応用できるタルボ･ロー干渉計のシンプルなキット。
- 蛍光X線分析装置
SEMICON JAPAN 2025 出展のご案内
弊社は2025年12月17日(水)より東京ビッグサイトで開催される 「SEMICON Japan 2025」 に出展いたします。（ブース番号：E4727） 本展示会では、日々進化を遂げる半導体製造プロセスの信頼性、半導体性能の向上に寄与する半導体産業専用アプリケーション及び非接触式測定器をご紹介します。 是非ブースへお立ち寄りの上、ご覧頂きたくご案内申し上げます。 ＜主な展示製品＞ ・ダイシング工程向けビジュアルブレード検査システム ブレードの高速位置決め、加工中のブレードのチッピング検出と摩耗検出が可能 ・非接触式高精度薄膜測定装置（インターフェロメトリ技術） 1μm未満の極薄ウエハまで、インライン制御、最終検査、ラボ試験装置として利用可能 ・非接触式高精度表面形状測定装置（クロマティックコンフォーカル技術） 様々な素材や反射面など、あらゆるタイプの表面素材に対し高い分解能で測定 ・加工中ウェーハ厚さ制御向け接触／非接触式厚さ測定ゲージ（インターフェロメトリ技術） ドライ/ウェット環境で、機械加工中のウェーハ厚さを精密に制御する接触型および非接触型ソリューション
研究者・技術者の方必見！リオンのお役立ち情報 満載無料小冊子【騒音計・微粒子計測器など】
- 技術書・参考書
- その他計測・記録・測定器
塩素に干渉されず、試薬を使用せず、非常に安定しており、メンテナンスの手間やライフサイクルを最小限に抑えた隔膜式センサーです。
- その他計測・記録・測定器
VERTEX は、世界中の最先端研究機関で使われているハイエンドリサーチ FT-IR です。
- 分光分析装置
フルHDと音声を4.9ＧＨｚ帯で伝送、100%無遅延＋フリーズ無しの送受信機 。混信なく屋内外使用でき飛距離3Km以上！
- 画像伝送機器
高性能映像音声伝送装置！ 無線でタイムラグ無し、非圧縮、小型省エネ設計、技適取得済、3年間保証付き、省人化に貢献、デモ機あり！
- 画像伝送機器
