顕微鏡のメーカーや取扱い企業、製品情報、参考価格、ランキングをまとめています。
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顕微鏡(afm) - メーカー・企業と製品の一覧

更新日: 集計期間:2025年08月20日~2025年09月16日
※当サイトの各ページの閲覧回数を元に算出したランキングです。

顕微鏡の製品一覧

16~30 件を表示 / 全 59 件

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原子間力顕微鏡

C-AFMやKFM、sMIMなどの測定モードで最大100mm角のサンプルに対応

導電性AFM、ケルビンプローブフォース顕微鏡法(KFM)、走査型マイクロ波インピーダンス顕微鏡法(sMIM)などの機能に加え、4インチまでのサンプルに対応。 ■サンプルサイズ :最大100 mm角 ■ステージ移動距離 :100 mm ■XY走査範囲 : 100 μm (製造寸法公差 +/- 10%) ■Z走査範囲 : 9 μm (製造寸法公差 +/- 10%) ■XY走査分解能 : 24ビット制御 – 0.06 Angströms ■Z走査分解能 : 24ビット制御 – 0.006 Angströms ■ノイズレベル :Typ : <0.01 mV RMS

  • 外観検査装置

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原子間力顕微鏡(AFM)

研究用から生産現場向けまで、大小様々なシステムのカスタマイズ提案が可能な原子間力顕微鏡(AFM)のご紹介

当社では、ユーザーフレンドリーな操作性に対応し、表面形状の測定を 簡単かつ短時間で行える『原子間力顕微鏡(AFM)』を取り扱っています。 アクティブ防振機構を搭載し、多彩な測定モードに対応した「CoreAFM」や、 専用ツールの使用によりカンチレバーの交換がスムーズに行える コンパクト設計の「NaioAFM」などのモデルをラインアップ。 研究現場向けの小型仕様から、生産現場向けの大型ステージ仕様、 品質管理用の自動化システムといったカスタマイズ対応が可能です。 【ラインアップ(抜粋)】 ◎卓上型原子間力顕微鏡「CoreAFM」  ■アクティブ防振機構・風防を採用  ■32種類の測定オプションを搭載可能 ◎小型原子間力顕微鏡「NaioAFM」  ■コントローラ、XYステージ・風防・防振機構が一体化  ■高分解能トップビュー光学カメラ搭載 ※当社が取り扱う走査型プローブ顕微鏡をまとめたカタログを配布中。  詳しい内容は「PDFダウンロード」よりご覧いただけます。

  • s1.jpg
  • その他顕微鏡・マイクロスコープ

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原子間力顕微鏡『ハンディAFM』

圧倒的な分解能を実現!今まで隠れていた微少な現象を測定

『ハンディAFM』は、SEMや高倍率の3次元光学顕微鏡の変わりに使用 することができる原子間力顕微鏡です。 サイズは、奥行き幅共に15cmの超小型。 走査ヘッドは、高分解能、広域タイプの2種類が選択でき、交換も瞬時に 行えます。 【特長】 ■プローブの交換が数秒で実施可能 ■カーボンナノチューブプローブもオートアプローチが可能 ■オプションで小型の自動ステージやインライン全自動機に対応 ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他検査機器・装置
  • その他顕微鏡・マイクロスコープ
  • その他計測・記録・測定器

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【分析事例】液中AFM測定を用いた基板上の高分子の形状変化観察

大気中・水溶液中での試料構造変化の可視化

高分子は組成・構造を変えることで多様な機能が発現されることが知られており、様々な製品に利用されています。 高分子の評価においては、実環境での評価が重要です。今回は環境制御型AFM(原子間力顕微鏡)を用いて、大気中および水溶液中にて基板上の高分子形状を可視化した事例を紹介します。また、データ解析を併用することでポリマー粒子の分散具合を数値化しました。

  • 受託解析

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【分析事例】AFM-MAによる食品(ロースハム)の機械特性評価

食感を機械特性パラメータで定量化

食感を決める因子には、硬さ、凝着力など様々な要素があります。一般的に、食品の食感はテクスチャーアナライザー等による応力の評価で行いますが、微小領域の測定や薄い試料の測定は困難です。 AFM-MAは表面の凹凸の形状の評価に加え、機械特性の硬さを表すヤング率、質感のパラメータの凝着力、および、エネルギー散逸のデータを微小領域で計測することが可能です。このため、食感等に関係する物理特性を極微小な領域で評価するために有効です。

  • AFM像.png
  • ヤング率像.png
  • 凝着力像.png
  • エネルギー散逸像.png
  • 受託測定

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超高真空極低温走査型プローブ顕微鏡システム USM1400

高い拡張性を有した超高真空極低温SPM、近接場光/ラマン分光に拡張可能

本装置は新規に開発されたクライオスタットを採用し、STMをはじめAFMの機能を備えた最新設計の低温SPM装置で近接場光測定やラマン分光などのまったく新しい用途に使用できます。

  • マイクロスコープ
  • 分析機器・装置
  • その他

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【分析事例】加熱・冷却過程における経時変化のAFM動画観察

サンプル表面の形状変化をin situで評価

高分子には、温度や湿度・溶媒等の環境によって形状が変化する素材があり、評価する際の環境条件を変化させることで物性の知見を深めることができます。 今回は生分解性プラスチックで知られているポリカプロラクトン(PCL)を用いて加熱・冷却実験を行いました。ポリカプロラクトンは融点が約60℃であり、加熱により結晶状態からアモルファス状態へと変化する様子を、また冷却により再結晶化する様子を連続測定により動画観察いたしました。 測定法:AFM 製品分野:バイオテクノロジ・医薬品・日用品・食品 分析目的:形状評価 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。

  • C0585_2.png
  • 受託解析
  • 受託測定

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シエンタオミクロン 走査型プローブ顕微鏡

お客様のご要望に応じた多種多様な顕微鏡をご提供しております

オミクロン社の顕微鏡をご選択いただく上で、”温度”と”機能”をご検討ください。 ”温度”は、観察する試料の温度です。観察する際の試料温度が室温で良いかどうか、冷却する必要があるか、加熱する必要があるか、これらのご要求で基本オプションを装備している顕微鏡が分かれます。 ”機能”は、トンネル顕微鏡(STM)だけで良いのか、原子間力顕微鏡(AFM)を含める必要があるかどうかです。この機能は納入後で装置をアップグレード(変更や改造)することはできません。初めの機能を維持することになります。豊富なオプションはご用意しておりますが、基本性能を変更するオプションはご用意しておりませんのでご注意ください。 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。

  • その他顕微鏡・マイクロスコープ

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原子間力顕微鏡(AFM)『Park NX-Hivac』

故障解析アプリケーションに適した真空環境スキャニング

『Park NX-Hivac』は、故障解析および環境の影響を受けやすい材料向けの 高真空原子間力顕微鏡(AFM)です。 高濃度ドープの半導体の正確な故障解析が可能。 また、当社のすでに認められた技術を用いることによって、高分解能で 高い再現性と操作性による低ノイズ計測を可能にした製品です。 【故障解析の為の高真空計測】 ■高速スキャンのための進化したStepScan自動機構とレーザーアライメント機構 ■マルチサンプルチャック ■Park独自の容易なチップ交換機能 ■大型真空チャンバー(300mm×420mm×320mm) ■超長距離観察を実現した直上光学顕微鏡 ■感度が向上された高真空SSRMモード ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

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[AFM]原子間力顕微鏡法

ナノスケールの凹凸形状を三次元的に計測

AFMは、微細な探針で試料表面を走査し、ナノスケールの凹凸形状を三次元的に計測する手法です。 ・金属・半導体・酸化物など、絶縁体から軟質の有機物まで幅広い試料を測定可能 ・接触圧力が弱いタッピングモードを用いることで、試料ダメージを最小限に抑えることが可能

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多機能コンパクト原子間力顕微鏡 CoreAFM

アクティブ防振内蔵!ステージ交換だけで電気化学測定や環境制御などに対応します

『CoreAFM』は、高いパフォーマンスと、どのような測定にも対応する 拡張性を兼ね備えた多機能コンパクト原子間力顕微鏡です。 トップビューカメラにより測定対象への位置合わせを容易に行うことができ、 サイドビューカメラによりカンチレバーとサンプル間の距離を目視可能。 また、カンチレバーホルダーはAFMヘッドユニットから簡単に着脱可能で、 ホルダーだけを安全に清掃したり洗浄することができます。 【特長】 ■コントローラ、電源、USBケーブルの接続ですぐに使用可能 ■高分解能24bitADC/DAC ■最大走査範囲(X,Y,Z):100μm、100μm、12μm ■Zノイズレベル:40pm RMS値 ■液中測定を含めた32の標準測定モードと数々のオプションモードを搭載可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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原子間力顕微鏡『Park NX-Wafer』

自動欠陥検査機能、低ノイズ、高スループット!正確な原子間力顕微鏡をご紹介!

『Park NX-Wafer』は、欠陥のイメージングと解析を完全自動で行う AFM計測手法により、欠陥検査における生産性を1,000%向上する 原子間力顕微鏡です。 正確でハイスループットのCMPプロファイル測定のための低ノイズ 原子間力プロファイラー。 サブÅの表面粗さを極めて正確に測定し、チップ間のバラツキを最小化します。 【特長】 ■欠陥のイメージングと解析を完全自動で行うAFMソリューション ■欠陥レビューにおける生産性を最大1000%向上 ■低ノイズ原子間力プロファイラーで正確且つ高スループットなCMP計測を実現 ■非常に正確で、チップーチップ間のバラツキも最小にしたサブÅ表面粗さ計測 ■原子間力プロファイラー ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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  • 電子顕微鏡

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超高真空走査型プローブ顕微鏡ユニット ST100

コストパフォーマンスに優れた超高真空常温SPM

超高真空 (10-8Pa以下)、常温でのSTM・AFM・SNOMなど幅広い応用に対応可能な走査型プローブ顕微鏡 (SPM) システムです。 コンパクトでシンプルな構造と優れた除振機構により高分解能なSPM測定を容易に実現します。

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  • 分析機器・装置

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超高真空極低温強磁場中走査型プローブ顕微鏡 USM1500

USM1300型をコンパクトにした極低温強磁場対応SPMのミドルエンドモデル

全高が低く、操作性とコストパフォーマンスに優れた新型極低温強磁場対応SPMシステムです。AFM測定もオプションにて対応可能です。

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【分析事例】三次元培養ヒト皮膚表面の微細形状観察

AFMにより、皮膚表面におけるナノスケールの凹凸を可視化

医薬品・化粧品の有効性・安全性試験において、近年動物実験代替法の開発が進められており、中でも三次元培養皮膚による試験方法が注目されています。本事例では、化粧品(ローション剤)の経皮吸収試験を実施した三次元培養ヒト皮膚を、AFM(原子間力顕微鏡法)で測定しました。皮膚表面の微小形状を視覚的に評価でき、また、任意の箇所の粗さを数値データで評価することも可能です。大気条件下で測定することにより、真空条件下での試料変質を抑えた観察が可能です。

  • AFM像.png
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