更新日： 集計期間:2025年03月26日～2025年04月22日
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金属や合金材料の構造や成分を識別し、分析に適した倒立金属顕微鏡です。
粗動は38mm、微調整の精度は0.002mmで左右両側への調整が可能。 5ヶ穴レボルバーを装備しており、5種類の対物レンズを切り替えながら利用可能。 差し込み式の偏光板キットを使用すれば、簡易偏光観察が可能。 Φ25 mmの金属製ステージプレートはオプションとして提供。 写真や動画を撮影できるデジタルカメラポート付き、パソコンでの画像解析が可能。 同軸の低手位置調整移動定規やステージ拡張ボードを搭載し、適用範囲を拡大することにより異なる分析アプローチを求めるお客様のニーズに広く対応。 ダイレクト価格 656 000円~（税別）
欠陥の特定、走査および解析の自動欠陥検査を10倍迅速化する原子間力顕微鏡システム
『Park NX-HDM』は、メディア及び基盤用の自動欠陥検査及びサブオング ストローム表面粗さ測定が可能な原子間力顕微鏡です。 広範な光学検査装置と直接リンクし、自動欠陥検査のスループットを 大幅に向上させます。 また、繰り返し測定においてもサブオングストロームの正確な 表面粗さ測定を提供します。 【特長】 ■メディアおよび基板用の自動欠陥検査 ■正確なサブオングストロームの表面粗さ測定 ■真の非接触モードによるコスト削減 ■低ノイズZ検出器による正確なAFMトポグラフィー ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
金属や合金材料の構造や成分を識別し、分析に適した倒立金属顕微鏡です。
粗動は38mm、微調整の精度は0.002mmで左右両側への調整が可能。 180×155mmの大型ステージを採用、効率的な作業環境を提供。 高輝度かつ長寿命な5WのLED照明を採用。 差し込み式の偏光板キットを使用すれば、簡易偏光観察が可能。 写真や動画を撮影できるデジタルカメラポート付き、付属のカメラでパソコンでの画像解析が可能。 ダイレクト価格 405 000円~（税別）
大型ガラス基板を検査する顕微鏡で移動量はデジタルカウンタに表示。手動型と電動型がございます。
大型基板を検査する検査用顕微鏡です。 大型基板をステージに載せて移動して顕微鏡検査が出来ます。 移動量をデジタルカウンタに表示して、線幅や位置測定ができます。 手動型はハーフナット式でフリー移動とハンドル微動式です。 電動型はステッピング駆動がリモートでできます。 詳しくは、カタログをダウンロード、もしくはお問い合わせください。
広視野角の蝶番式三眼鏡筒を装備！カメラユニットも装着できます
『OSK 97XJ MX-6RT』は、広範囲な研究分野に対応可能な 正立型金属顕微鏡です。 操作者の負担を最低限に抑える様に設計されており、モジュール構造により 微分干渉、斜光、偏光などの観察オプションを自由に選択可能。 また、ステージの移動幅を広くとれるガラス製大型プラットホーム設計を 採用しております。ご要望の際は、お気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■広視野角の蝶番式三眼鏡筒を装備、カメラユニットも装着可能 ■ステージの移動幅を広くとれるガラス製大型プラットホーム設計採用 ■微分干渉レンズ用スロット付暗視野内蔵の高精度対物レンズ5穴レボルバー ■安全かつ安定した正立型フレーム構造設計 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
非破壊でナノメートル以下迄の３次元測定が可能な唯一の顕微鏡
原子間力顕微鏡「ステージ付ＡＦＭ」は、大気中にて、非破壊でナノメートル以下迄の３次元測定が可能な唯一の顕微鏡です。サンプルを傷つけることなく、測定が可能です。電磁スキャナーを使用することにより、非戦形クリープや経年変化を気にせず、長期に渡り安定測定が可能になりました。大型ステージ付きで、ワークを切断することなく、サンプルをセットするだけで非破壊で測定可能です。測定モードも多種用意されており、高価なＡＦＭ装置と同等の機能を有します。測定ワークの材質に関係無く、導体から絶縁体迄、コーティング無しで、ナノレベルの測定が直ぐに可能です。詳しくはカタログをダウンロードしてください。
単対物用のオートフォーカス顕微鏡です。 フォーカスステージつきでこのまま装置に取り付けるだけでAF顕微鏡となります。
特徴 1. 各種光学系に組込できるV型です。 2. ソフトで1μ以下の合焦精度でピントを自動制御します。
C-AFMやKFM、sMIMなどの測定モードで最大100mm角のサンプルに対応
導電性AFM、ケルビンプローブフォース顕微鏡法（KFM）、走査型マイクロ波インピーダンス顕微鏡法（sMIM）などの機能に加え、4インチまでのサンプルに対応。 ■サンプルサイズ ：最大100 mm角 ■ステージ移動距離 ：100 mm ■XY走査範囲 ： 100 μm (製造寸法公差 +/- 10%) ■Z走査範囲 ： 9 μm (製造寸法公差 +/- 10%) ■XY走査分解能 : 24ビット制御 – 0.06 Angströms ■Z走査分解能 : 24ビット制御 – 0.006 Angströms ■ノイズレベル ：Typ : <0.01 mV RMS
何処にでも連れて行ける奥行き幅、共に１５ｃｍの超小型ＡＦＭ
原子間力顕微鏡「ハンディＡＦＭ」は、高倍率の光学顕微鏡の変わりに使用できます。測定モードも標準で、スタティックフォースモード、ダイナミックフォースモード、フェイズコントラスト、位相測定、フォースモデュレーション、スプレッディングレジスタンス、外部入力が可能です。走査ヘッドは、高分解能、広域タイプの２種類が選択でき、その交換も、瞬時に行えます。プローブの交換も数秒です、交換後の調整は全く必要有りません。また、カーボンナノチューブプローブもオートアプローチが可能です。スキャンに電磁スキャナー（特許取得済み）を使用することにより、スキャン時にワークを移動させることが有りません。一般にＡＦＭで使用されているピエゾの持つ、非線形クリープ、経年変化は有りません。オプションで、小型の自動ステージとの組み合わせも可能です。詳しくはカタログをダウンロードしてください。
ウエハチップのパターンなど高精細顕微鏡検査用AF装置
ウエハチップのパターンなど高精細顕微鏡検査用AF装置です。 電動XYステージでワークを移動させても常に合焦画像でのパターンマッチング検査ができます。ファイルデータから座標を制御して検査に最適な倍率で試料高さのオートレビュー画像ファイル機能もあります。 検査後マクロMAPを表示して欠陥箇所確認ができます。
コンパクトで無人運転が可能な新世代のSEMです。
日本電子株式会社 JSM-IT210 走査電子顕微鏡は、日本電子製の据え置き型としては、最もコンパクトな走査電子顕微鏡です。新開発のステージは、5軸移動がすべてモーター駆動となり、より安心でかつ迅速にご使用いただけます。 ○特長 ・試料を入れて、迷わず観察 試料交換ナビ ・光学像を拡大すれば、SEM像 Zeromag ・観察中も常に元素分析 Live Analysis ・多彩な自動測定 Simple SEM ・自動測定を強力に支える機能 ・分析をよりスピーディーに ・60 mm2 大口径EDSを標準搭載 ※詳細はPDFをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
様々なタイプのエネルギー分析器及び光電子顕微鏡をご用意しております
静電半球型エネルギー分析器、高電圧静電型エネルギー分析器、スピン電子検出器、同軸型エネルギー分析器、角度分解エネルギー分析器、光電子顕微鏡、光電子顕微鏡用オプションなどをラインナップ。 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。
細胞や組織を自動で定量化。暗室不要でウェル・スライドを一括解析できる顕微鏡【カタログ・撮影事例付き資料進呈】
オールインワン蛍光顕微鏡『BZ-X800』は 全ウェルの観察に対応した大型電動ステージや、 クリアな画像が撮影できる高感度モノクロ冷却CCDカメラ等を搭載し、 自動解析による定量化が簡単に行えます。 ◎製品の特長は「導入活用事例集」「製品カタログ」に詳しく掲載しております。 ダウンロードボタンから、ご覧ください。 【導入活用事例集の内容】 ■カニクイザルの心臓の線維化率の計測 ■ウェルプレートを用いたiPS細胞コロニーカウント ■脂肪細胞の定量解析 ■核内の染色体カウント ■胃癌の免疫染色を定量化 ■培養細胞のトランスフェクション効率の計測
金属や合金材料の構造や成分を識別し、分析に適した金属顕微鏡です。
30° 傾斜により頭部には最もよい姿勢を維持、最適な姿勢での観察が可能になることにより長時間の観察での疲労感を軽減。 明るい白色照明（3000-3300K）の一灯式の5W LED は、従来の LED と比較して、使用者の疲労度を軽減。 差し込み式の偏光板キットを使用すれば、簡易偏光観察が可能。 利用者のニーズに合わせて最適な観察効果を得るために、各種フィルターを選択可能。 5ヶ穴レボルバーを装備しており、５種類の対物レンズを切り替えながら利用可能。 ダイレクト価格 800 000円~（税別）
XY電動ステージとオートフォーカス機能を搭載！ソフトウェアなどのカスタマイズも対応
『TOMOS-60XY』は、ワークの複数箇所を自動測定できる6インチ電動 XYステージ 両面顕微鏡システムです。 あらかじめ指定したワークの測定箇所に自動で移動し、水晶振動子、 MEMS、半導体ウェハ、電子部品の表裏パターンやアライメントマークの ずれを自動測定することが可能。 また、XYステージとワークの装着位置のずれ補正アライメント機能を 搭載し、正確に移動制御し測定エラーを防ぎます。 【特長】 ■円、四角、十字等のアライメントマークのエッジを 自動検出し、中心座標同士のずれを測定 ■XYZステージ制御条件、測定条件、マップ作成、 レシピ登録し、ワークの複数個所を自動測定 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
