分析機器の製品一覧

  • 分類:分析機器

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【重量物の取り扱いによる作業負担を軽減!】お客様の課題を解決した導入事例5選を収録!ワークに応じた無料相談、テストも受付中!

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直径30mm程度から8インチ、高ライフタイム、1万オームを超えるような高抵抗も対応可能!薄化、チップ加工もアレンジいたします!

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島津製作所より 新たに、ハイエンドガスクロマトグラフ(GC)の「Nexis GC-2060」を発売しました。

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  • ガスクロマトグラフ
  • 食品試験/分析/測定機器
  • 分析機器・装置

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業界最高水準のシステムで分析のローコスト化を実現!環境、医薬、食品、化学、金属などさまざまな分野で活用されています

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  • 分光分析装置
  • 金属検出・探知装置
  • 廃液/排水処理装置

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PFASスクリーニング分析の熱加水分解に。イオンクロマト測定の前処理に。

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  • 分析機器・装置

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PFASのスクリーニング分析の為のAOF分析の熱加水分解に好適 - イオンクロ測定の前処理に利用できます!

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滴定、pH、吸光度といった測定をシングルメソッドで行えるコンパクトなプロセス用オンライン分析計。

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  • 分析機器・装置
  • 分光分析装置
  • pH計

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便利な機能が満載!リスクとサイエンスに基づいた世界標準TOC計のご紹介

  • 分析機器・装置

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電量法と容量法が1台で行える高機能KF水分計!

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  • 分析機器・装置
  • 水分測定装置
  • 食品試験/分析/測定機器

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多検体自動測定や固体試料水分にも対応する高機能電量法カールフィッシャー水分計

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  • 分析機器・装置
  • 水分測定装置
  • 食品試験/分析/測定機器

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滴定機能を利用してpH調整後にKF水分測定が行える高機能タイプ水分計

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  • 分析機器・装置
  • 水分測定装置
  • 食品・飲料成分分析装置

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長寿命LED光源と発売後6年間不具合ゼロの安定性で、品質管理・検査機関のルーチンワークを強力にサポート

  • 分光分析装置

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固体試料の連続水分測定ができるカールフィッシャー水分計用水分気化装置付きサンプルプロセッサ!

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  • 分析機器・装置
  • 水分測定装置
  • 食品試験/分析/測定機器

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Premier ESR は「DMA+DSC+レオメーター」の機能を1台に統合

  • 分析機器・装置

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反射率を新品同等に再生。メーカー不問で積分球を再塗装。大型球は出張対応も可能。

  • その他高分子材料
  • その他理化学機器
  • 分光分析装置

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全てが一体となった最新の高機能&コンパクト電量法水分計。《面倒なグリース塗布は必要なし!》

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  • 分析機器・装置
  • 水分測定装置
  • 食品試験/分析/測定機器

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ppmオーダーの微量水分測定に最適!ビュレット・電極・3年保証がついた電量法カールフィッシャー水分計

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  • 食品試験/分析/測定機器

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CMPスラリーの分散状態を制御し、研磨効率を向上。

  • CMPスラリーの界面活性剤添加のゼータ電位・粒子径.jpg
  • その他理化学機器
  • 分析機器・装置
  • 半導体・IC

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【2026年12月9日(水)~11日(金)】「SEMICON Japan」出展のお知らせ

当社は、東京ビッグサイトで開催される「SEMICON Japan」に出展いたします。 半導体製造プロセスからアプリケーションまでを網羅し、先進技術を体験できます。 大塚電子では、ラインスキャンのモックアップ、スマート膜厚計などを展示予定。 ぜひ当社ブースにて実機をお近くでご覧ください。 皆様のご来場をお待ちしております。

ゼータ電位測定でCMPスラリーとウェーハの静電相互作用を評価

  • スラリーとウェーハのpHによるゼータ電位変化.jpg
  • 分析機器・装置

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全30事例!ナノカーボン・界面活性剤・ゲル・平板試料等を分析したアプリケーションデータ掲載資料を進呈中

  • 分析機器・装置

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全25事例!高分子・無機粒子などを分析したアプリケーションデータ掲載資料を進呈中

  • 分析機器・装置

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全25事例!食品分野のアプリケーションデータを掲載した資料を進呈中

  • 分析機器・装置

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全30事例!バイオ・医薬品・バイオマテリアル分野のアプリケーションデータを掲載した資料を進呈中

  • 分析機器・装置

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動的光散乱法により超微粒子および希薄溶液中の微粒子測定に最適

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  • その他理化学機器
  • 分析機器・装置

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分光放射強度の角度分布を測定し、配光特性(光度・色度など)を評価! 

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  • 分光分析装置

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LED単体から照明器具まで幅広い光源の全光束測定が可能

  • 積分半球の特長図.jpg
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  • 分析機器・装置

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IESNAのLM-79とLM-80に準拠した測定システム!分光全放射束測定の様々な要望に対応

  • 分光全放射束測定システム2.png
  • 分光全放射束測定システム3.png
  • 分光分析装置

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ゼータ電位・粒子径・分子量測定システムを用いたDDSナノ材料リポソームの評価

  • リポソームの粒子径分布.jpg
  • DDSナノ材料リポソームのゼータ電位評価.jpg
  • 分析機器・装置

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インラインフィルム評価システムは、光学式のため非接触・非破壊で反射率、色などの測定が可能

  • インラインMCPD_トラバース.jpg
  • 171003_MCPD-9800_2 のコピー.jpg
  • 分光分析装置

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光干渉法の採用により、非接触・非破壊膜厚で膜厚測定が可能

  • インラインMCPD_トラバース.jpg
  • 171003_MCPD-9800_2 のコピー.jpg
  • 分光分析装置

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インラインフィルム評価システムは、光学式のため非接触・非破壊で透過率、吸光度、色などの測定が可能

  • インラインMCPD_多点測定.jpg
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  • 分光分析装置

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光源や照明器具の配光特性を測定する装置です 

  • 分析機器・装置

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広ダイナミックレンジ!高速・高再現性、軽量・コンパクトが特長的 

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  • 分光分析装置

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反射対物レンズが実現する透明基板の高精度測定

  • 反射対物レンズが実現する透明基板の高精度測定.jpg
  • 分析機器・装置

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薄膜から厚膜まで高精度に測定が可能な顕微分光膜厚計『OPTM』

  • 膜厚値違いによる反射率の変化.jpg
  • 分析機器・装置

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複数点同一解析を用いた nk 未知の極薄膜の測定

  • 複数点同一解析を用いた nk 未知の極薄膜の測定.jpg
  • 分析機器・装置

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反射分光膜厚計『OPTM』を用いた絶縁膜の膜厚測定

  • SiO2 SiNの膜厚測定.jpg
  • 分析機器・装置

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屈折率の波長分散性を考慮した厚膜解析

  • 屈折率の波長分散性を考慮した厚膜解析.jpg
  • 分析機器・装置

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反射分光法と他の測定手法の比較

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  • 分析機器・装置

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【2026年12月9日(水)~11日(金)】「SEMICON Japan」出展のお知らせ

当社は、東京ビッグサイトで開催される「SEMICON Japan」に出展いたします。 半導体製造プロセスからアプリケーションまでを網羅し、先進技術を体験できます。 大塚電子では、ラインスキャンのモックアップ、スマート膜厚計などを展示予定。 ぜひ当社ブースにて実機をお近くでご覧ください。 皆様のご来場をお待ちしております。

傾斜モデルを用いた薄膜の構造解析

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  • 分析機器・装置

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光干渉法を用いた顕微分光膜厚計(OPTM)の測定原理

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  • 分析機器・装置

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