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計装ニーズに対応するために2種類の径をご用意！センサ部はPPS製でコストパフォーマンスに優れます
『HC2A-IC シリーズ』は、恒温恒湿槽の管理に適した高温域型の 温湿度センサプローブです。 センサおよびケーブル部を耐熱構造にすることで、高温雰囲気測定が 可能。センサ部はPPS製でコストパフォーマンスに優れます。 恒温恒湿槽の内部環境測定、高温のダクトや配管内部測定に使用でき、 また、取付けの為の治具も用意しています。 【特長】 ■センサおよびケーブル部を耐熱構造にすることで、高温雰囲気測定が可能 ■センサ部はPPS製でコストパフォーマンスに優れる ■恒温恒湿槽の内部環境測定、高温のダクトや配管内部測定に使用可能 ■取付けの為の治具もご用意 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
銅管被覆に差して使用するなど狭い隙間での検出に便利！別売オプションのご紹介
『TA430FR-2』は、赤外線検知方式リークディテクタ「TA430FR」の 専用ニードルプローブです。 長さ190mmで、フィルター付のプローブキャップ。 銅管被覆に差して使用するなど狭い隙間での検出に便利です。 ご用命の際はお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■プローブキャップ( フィルター付) ■銅管被覆に差して使用するなど狭い隙間での検出に便利 ■長さ：190mm ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
衛生管理のきびしい薬品、食品工場などに！SUS-302製の高温域型プローブをご紹介！
±0.8％rhと最高レベルの精度を実現した温湿度センサプローブ 「ハイグロクリップ2シリーズ」の『HC2A-IMシリーズ』をご紹介します。 HACCPシステムが組み込まれた総合衛生管理製造過程での温湿度管理や 測定が可能。 ご用命の際はお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■高温域型プローブ ■SUS-302製のボディ ■総合衛生管理製造過程での温湿度管理や測定が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
より進化して使いやすくなった校正機能！超小型センサで極小空間の計測が可能です！
±0.8％rhと最高レベルの精度を実現した温湿度センサプローブ 「ハイグロクリップ2シリーズ」の『HC2-C04/C05』をご紹介します。 超小型センサ（C05：φ5mm／C04：φ4mm）の使用により、極小空間の 計測が可能。電子機器等の内部測定に適しています。 ご用命の際はお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■超小型センサ ・C05：φ5mm ・C04：φ4mm ■極小空間の計測が可能 ■電子機器等の内部測定に適している ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
製紙や印刷工場での品質管理に！サーベル型センサにより紙間湿度の測定、管理が可能！
±0.8％rhと最高レベルの精度を実現した温湿度センサプローブ 「ハイグロクリップ2シリーズ」の『HC2-HS28』をご紹介します。 サーベル型センサにより紙間湿度の測定、管理が可能。製紙や印刷工場での 品質管理に適しています。 ご用命の際はお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■サーベル型センサ ■紙間湿度の測定、管理が可能 ■製紙や印刷工場での品質管理に適している ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
「チャンバー」や「取付用治具」など！校正用アクセサリもご用意しました！
当社が取り扱う温湿度センサプローブ「ハイグロクリップ2シリーズ」の アクセサリをご紹介します。 直接、チャンバー・セル等に挿入できない場合、配管吹き出し口直近に 設置し温湿度をモニターするための「チャンバー」をはじめ、「取付用治具」、 「不飽和塩校正用アンプル」をご用意。 ご用命の際はお気軽にお問い合わせください。 【ラインアップ】 ■温湿度センサ用配管取付けサンプリングチャンバー ■取付用治具 ■不飽和塩校正用アンプル ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
バルブ全体の検査に好適！スパーク・プラグとインジェクター・ポートを通せる5.5mm径の仕様
『FLK-5.5MM/0.7M ART』は、「Fluke DS703 FC ビデオ内視鏡」と 互換性があるアーティキュレーティング・プローブです。 HD カメラ・ヘッドが1280×720の優れた解像度を提供。 アーティキュレーティング・ヘッドは180度まで屈曲するため、 届きにくい場所でも検査が容易になります。 【特長】 ■180度のアーティキュレーション ■スパーク・プラグとインジェクター・ポートを通せる5.5mm径の仕様 ■高解像度カメラ、1280×720（720p） ■バルブ全体の検査に好適 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
EMC(EMI/EMS)、アンテナ測定に！対応周波数帯9kHz～3.3GHzのアンテナをご紹介
当社で取り扱う、「Schwarzbeck フィールドプローブ」を ご紹介いたします。 EMC(EMI/EMS)、アンテナ測定に対応。タイプはフィールドプローブ。 対応周波数帯は9kHz～3.3GHzとなっております。 ご用命の際は、当社へお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■タイプ：フィールドプローブ ■対応周波数帯：9kHz～3.3GHz ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
対応周波数帯は～40GHz！PCBエミッション近傍界プローブタイプ
『HR-R 8-1セット(磁場プローブ)』には、HR-R 8-1 B 磁界プローブが 含まれている製品です。 このプローブは、最大40GHzの磁場測定を可能にします。 HR-R 8-1のプローブヘッドは、IC、回路基板構造及びコンポーネントの 測定を行い、高周波磁場の位置を特定できる様に設計されています。 【セット内容】 ■HR-R 8-1：Near-field probe～40GHz B-field ■CS-ESA：ViewerChipScan-ESA Viewer Software/USB ■HR-R char：HR-R 8-1 個別データ ■ユーザーマニュアル ■ケース ※詳しくはPDF(英語版)をダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
ICピン、導電パス、コンポーネントやコネクタ上での検査を行うことができ、干渉源を特定可能！
『SX1セット(磁界・電界プローブ)』は、3本のパッシブ磁界プローブと 専用ケーブル1本が含まれているセットです。 開発プロセス中の電子アセンブリ及びIC上の1GHz～10GHzの高クロック 周波数帯の電界及び磁界を測定することが可能。 Langer社の近傍界プローブはコンパクトで大変使い易く、 また電流減衰シースにより、電気的にしっかりとシールドされています。 【セット内容】 ■SX-E 03：E-Field Probe 1GHz～10GHz ■SX-B 3-1：H-Field Probe 1GHz～10GHz ■SX-R 3-1：H-Field Probe 1GHz～10GHz ■SMA-SMA：1mケーブル ■ケース ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
電子アセンブリの磁界の向きや分布についても、検出することが可能！
『SX-R 20-1セット(磁界プローブ)』は、開発プロセス中の最大20GHzの 高周波磁場を測定するためのパッシブ磁界プローブと、専用ケーブル1本が 含まれているセットです。 SX-R 20-1のプローブヘッドは、電子アセンブリに近づけた位置での測定が可能。 ICピン、導電パス、コンポーネントやコネクタ上での検査を行うことができ、 干渉源を特定することができます。 【セット内容】 ■SX-R 20-1：H-Field Probe 1GHz～20GHz ■SMA-SMA：1mケーブル ■ケース ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
50Ω入力のスペクトラムアナライザまたはオシロスコープに接続可能！
『RF2近傍界プローブセット』は、4本のパッシブ磁界プローブと 専用ケーブル1本が含まれているセットです。 開発プロセス中の電子アセンブリ上の30MHz～3GHzの電界と磁界を 測定可能。 当セットのプローブヘッドは、電子アセンブリ上のRF磁界干渉源の 位置を段階的に特定することができます。 【セット内容】 ■RF-R 400-1：H-Field Probe 30MHz～3GHz ■RF-R 50-1：H-Field Probe 30MHz～3GHz ■RF-U 5-2：H-Field Probe 30MHz～3GHz ■RF-B 3-2：H-Field Probe 30MHz～3GHz ■SMB-BNC：1mケーブル ■ケース ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
対応周波数帯は30MHz～1.5GHz/3GHz！PCBエミッション近傍界プローブタイプ
『RF4-Eプローブセット』は、比較目的で30MHz～3GHz(1.5GHz)の 周波数範囲で電界を測定するパッシブ電界プローブが2本含まれている セットです。 このプローブは、電界分布の分析、モジュール上の結合メカニズムの検出、 信号リードのスイッチングエッジと電源システムのRF電圧の評価を 目的として設計。 Langer社の近傍界プローブはコンパクトで大変使い易く、また電流減衰 シースにより、電気的にしっかりとシールドされています。 【セット内容】 ■RF-E 02：E-Field Probe 30MHz～1.5GHz ■RF-E 05：E-Field Probe 30MHz～3GHz ■SMB-BNC：1mケーブル ■ケース ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
ICピンやコンポーネント間等の狭い場所へのアプローチも可能！
『SX-R 3-1磁界プローブ』は、小型のプローブヘッドを備えている パッシブ近傍界プローブです。 非常に高い分解能でRF磁界を測定する事ができ、小さいコンポーネントでも 干渉源として検出。 Langer社の近傍界プローブはコンパクトで大変使い易く、また電流減衰 シースにより、電気的にしっかりとシールドされています。 【仕様】 ■タイプ：近傍界プローブ ■サイズ：Φ3mmプローブヘッド ■対応周波数帯：1GHz～10GHz ■コネクタ：SMA female, Jack ■分解能：1mm ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
50Ω入力のスペクトラムアナライザまたはオシロスコープに接続可能！
『SX-R 20-1磁界プローブ』は最大20GHzの周波数範囲をカバーする パッシブ近傍界プローブです。 非常にコンパクトなプローブヘッドを備えているので、トレース、 コンポーネント、IC上の非常に小さいRF磁界の発生源を特定することが可能。 Langer社の近傍界プローブはコンパクトで大変使い易く、また 電流減衰シースにより、電気的にしっかりとシールドされています。 【仕様】 ■タイプ：近傍界プローブ ■サイズ：6x6mmプローブヘッド ■対応周波数帯：1GHz～20GHz ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
50Ω入力のスペクトラムアナライザまたはオシロスコープに接続可能！
『SX-E 03電界プローブ』はパッシブ近傍界プローブです。 プローブヘッドの下部電極面は約4x4mmで、導電パス、プリント回路基板の 単一コンポーネント等の小さい電界発生源を特定することが可能。 プローブヘッドの下部面を測定対象物に直接配置し、放出される電界を 検出します。 Langer社の近傍界プローブはコンパクトで大変使い易く、また電流減衰 シースにより、電気的にしっかりとシールドされています。 【仕様】 ■タイプ：近傍界プローブ ■サイズ：4x4mmプローブヘッド ■対応周波数帯：1GHz～10GHz ■コネクタ：SMA female, Jack ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
「XF-R 100-1」及び「XF-R 3-2」プローブと同じ基本構造！
『XF-R 400-1磁界プローブ』は、ヘッドサイズが直径25mmの パッシブ近傍界プローブです。 感度が高く、アセンブリやデバイスの周囲最大10cmの範囲の測定に好適。 先端直径が大きい程、感度が高く、より広い領域の磁場を 検出することができます。また、XFシリーズの磁界プローブには 50Ωの終端抵抗が内蔵されています。 【仕様】 ■タイプ：近傍界プローブ ■サイズ：Φ25mmプローブヘッド ■対応周波数帯：30MHz～6GHz ■コネクタ：SMA female, Jack ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
測定対象物から90°方向に放射される磁力線を検出！
『XF-B 3-1』磁界プローブはパッシブ近傍界プローブです。 内部コイルはシャフトに対して直角に配置されているので、測定対象の アセンブリまたはデバイスに対し、プローブヘッドを垂直に使用すると、 正しく測定することが可能。 例えば、コンポーネントに挟まれたアクセスが困難なプリント基板等へ 上からアプローチする事ができます。 【仕様】 ■タイプ：近傍界プローブ ■サイズ：Φ4mmプローブヘッド ■対応周波数帯：30MHz～6GHz ■コネクタ：SMA female,Jack ■分解能：2mm ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
アセンブリ上0.5～10mmの距離内でよく機能！「XF-E 09s」プローブと同じ基本構造
『XF-E 04s』電界プローブはパッシブ近傍界プローブです。 プローブヘッドの下部電極面は約5x5mmで、ICの表面上で分離された 電界を検出。 小さな正方形の電極面をコンポーネントやプリント基板上に配置、 保持する事により、電気干渉の発生源を検出できます。 【仕様】 ■タイプ：近傍界プローブ ■サイズ：5x5mmプローブヘッド ■対応周波数帯：30MHz～6GHz ■コネクタ：SMA female,Jack ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
コンパクトで大変使い易く、また電流減衰シースにより、電気的にしっかりとシールド！
『XF-E 09s』電界プローブはパッシブ近傍界プローブです。 プローブヘッドの電極は、ICの表面上で分離された電界を検出。 アセンブリ上0.5～10mmの距離内でよく機能します。 「XF-E 04s」プローブと同じ基本構造ですが、小さな正方形の電極面を 回路基板上のコンポーネントやプリント基板上に配置、保持する事により、 電気干渉の発生源を検出できます。 【仕様】 ■タイプ：近傍界プローブ ■サイズ：10x10mmプローブヘッド ■対応周波数帯：30MHz～6GHz ■コネクタ：SMA female,Jack ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
50Ω入力のスペクトラムアナライザまたはオシロスコープに接続可能！
『XF-E 10』電界プローブはパッシブ近傍界プローブです。 プローブヘッドの電極幅は約0.2mmで、幅0.1mmの導電パスや単一ICピン等の 最小電界源でも位置を特定することが可能。 「XF-E 04s」及び「XF-E 09s」プローブと同じ基本構造ですが、高い分解能を 持っています。電極面を電界強度が高い測定対象物上に直接配置する 必要があるため、広範囲の測定には適していません。 【仕様】 ■タイプ：近傍界プローブ ■サイズ：0.5x2mmプローブヘッド ■対応周波数帯：30MHz～6GHz ■コネクタ：SMA female,Jack ■分解能：0.2mm ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
電流減衰シースにより、電気的にしっかりとシールド！
『RF-R 400-1』磁界プローブは、ヘッドサイズが直径25mmのパッシブ 近傍界プローブです。 感度が高く、アセンブリやデバイスの周囲最大10cmの範囲の測定に好適。 先端直径が大きい程、感度が高く、より広い領域の磁場を検出することが できます。「RF-R 50-1」および「RF-R 3-2」と同じ基本構造です。 【仕様】 ■タイプ：近傍界プローブ ■サイズ：Φ25mmプローブヘッド ■対応周波数帯：30MHz～3GHz ■コネクタ：SMB male,Jack ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
コンパクトで大変使い易いLanger社の近傍界プローブ！
『RF-U 5-2 』磁界プローブはパッシブ近傍界プローブで、広範囲の導電パス、 ケーブル、コネクタ、電子部品等の磁場を検出できる様に設計された製品です。 プローブはカップリングクランプのように機能。プローブヘッドを コンポーネント上に直接配置すると、プローブに対し、真っ直ぐ、 又は横から入る他のソースからの磁力線も検出。 50Ω入力のスペクトラムアナライザまたはオシロスコープに接続できます。 【仕様】 ■タイプ：近傍界プローブ ■サイズ：6x6mmプローブヘッド ■対応周波数帯：30MHz～3GHz ■コネクタ：SMB male,Jack ■分解能：5mm ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
プローブヘッドの下部面を測定対象物に近づけ、放出される電界を検出！
『RF-E 02』電界プローブはパッシブ近傍界プローブです。 バス構造、大型コンポーネント、または電源の表面上で分離された 電界発生源を検出。 プローブヘッドの下部電極面は約2x5cmで、コンポーネントから1～2cmの 距離内でよく機能します。「RF-E 05」及び「RF-E 10」プローブと 同じ基本構造です。 【仕様】 ■タイプ：近傍界プローブ ■サイズ：23x53mmプローブヘッド ■対応周波数帯：30MHz～1.5GHz ■コネクタ：SMB male,Jack ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
50Ω入力のスペクトラムアナライザまたはオシロスコープに接続可能！
『RF-E 03』電界プローブはパッシブ近傍界プローブで、Langer社製 スキャナー用として設計されている製品です。 プローブヘッドの下部電極面は約4x4mmで、導電パス、プリント回路基板の 単一コンポーネント等の小さい電界発生源を特定することが可能。 プローブヘッドの下部面を測定対象物に直接配置し、放出される電界を 検出します。 【仕様】 ■タイプ：近傍界プローブ ■サイズ：4x4mmプローブヘッド ■対応周波数帯：30MHz～3GHz ■コネクタ：SMB male,Jack ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
プローブヘッドの下部電極面は約5x5mm！クロックされたラインやICの表面上で分離された電界を検出
『RF-E 04』電界プローブはパッシブ近傍界プローブで、Langer社製 スキャナー用として設計された製品です。 「RF-E 03」及び「RF-E 09」プローブと同じ基本構造。 アセンブリ上0.5～10mmの距離内でよく機能します。 小さな正方形の電極面をコンポーネントやプリント基板上に配置、 保持する事により、電気干渉の発生源を検出できます。 【仕様】 ■タイプ：近傍界プローブ ■サイズ：5x5mmプローブヘッド ■対応周波数帯：30MHz～3GHz ■コネクタ：SMB male,Jack ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
「RF-E 02」及び「RF-E 10」プローブと同じ基本構造ですが、非常に狭い範囲の電界を検出！
『RF-E 05』電界プローブはパッシブ近傍界プローブで、Langer社製 スキャナー用として設計された製品です。 プローブヘッドの電極幅は約0.5mmで、クロックされたラインやICピン、及び 小型コンポーネントの電界を正確に特定。 回路基板上のコンポーネントやプリント基板上に配置、保持する事により、 RF電気干渉の発生源を検出できます。 【仕様】 ■タイプ：近傍界プローブ ■サイズ：1x8mmプローブヘッド ■対応周波数帯：30MHz～3GHz ■コネクタ：SMB male,Jack ■分解能：0.6mm ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
「RF-E 02」及び「RF-E 05」プローブと同じ基本構造ですが、高い分解能を持っています！
『RF-E 10』電界プローブはパッシブ近傍界プローブです。 プローブヘッドの電極幅は約0.2mmで、幅0.1mmの導電パスや単一ICピン等の 最小電界源でも位置を特定することが可能。 電極面を電界強度が高い測定対象物上に直接配置する必要があるため、 広範囲の測定には適していません。広範囲を測定する場合には、「RF-E 02」や 「RF-E 05」を使用してください。 【仕様】 ■タイプ：近傍界プローブ ■サイズ：0.5x2mmプローブヘッド ■対応周波数帯：30MHz～3GHz ■コネクタ：SMB male,Jack ■分解能：0.2mm ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
コンパクトで大変使い易く、また電流減衰シースにより、電気的にしっかりとシールドされている
『LF-R 3 磁界プローブ』は、パッシブ近傍界プローブで、ICピンや ICケース、導電パス、デカップリングコンデンサ、EMCコンポーネント 周囲の領域など、アセンブリ上のRF磁界を直接高分解能検出します。 「LF-R 50」及び「LF-R 400」プローブと同じ基本構造ですが、 当製品が最も高い分解能を持っています。 高い磁界強度にあるコンポーネントに近接して測定する事には 適していますが、離れた場所からの測定には向いていません。 【仕様】 ■タイプ：近傍界プローブ ■サイズ：Φ3mm プローブヘッド ■対応周波数帯：100kHz～50MHz ■コネクタ：SMB male,Jack ■分解能：1mm ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
50Ω入力のスペクトラムアナライザまたはオシロスコープに接続できる！
『LF-U 5 磁界プローブ』は、パッシブ近傍界プローブで、広範囲の 導電パス、ケーブル、コネクタ、電子部品等の磁場を検出できる様に 設計されています。 プローブはカップリングクランプのように機能します。 プローブの湾曲した下部をコンポーネントの表面に配置。 プローブに対し、真っ直ぐ、又は横から入る他のソースからの 磁力線も検出します。 【仕様】 ■タイプ：近傍界プローブ ■サイズ：6×6mm プローブヘッド ■対応周波数帯：100kHz～50MHz ■コネクタ：SMB male,Jack ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
