分光器のメーカーや取扱い企業、製品情報、参考価格、ランキングをまとめています。
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分光器 - メーカー・企業45社の製品一覧とランキング

更新日: 集計期間:2025年08月20日~2025年09月16日
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分光器のメーカー・企業ランキング

更新日: 集計期間:2025年08月20日~2025年09月16日
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  1. サーモフィッシャーサイエンティフィック株式会社/Thermo Fisher Scientific K.K. 東京都/試験・分析・測定
  2. オプトシリウス株式会社 東京都/その他
  3. 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST 東京都/試験・分析・測定
  4. 4 アズサイエンス株式会社 長野県/商社・卸売り 松本本社
  5. 5 MSHシステムズ株式会社 東京都/光学機器

分光器の製品ランキング

更新日: 集計期間:2025年08月20日~2025年09月16日
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  1. JPS-9030 光電子分光装置(XPS) アズサイエンス株式会社 松本本社
  2. 完全自動X線光電子分光装置『K-Alpha』 サーモフィッシャーサイエンティフィック株式会社/Thermo Fisher Scientific K.K.
  3. X線光電子分光装置『Nexsa』 サーモフィッシャーサイエンティフィック株式会社/Thermo Fisher Scientific K.K.
  4. 低価格!超小型近赤外分光器 FLAME-NIR+ オプトシリウス株式会社
  5. 5 【デモ機あり】小型マルチチャンネル分光器Ocean SR オプトシリウス株式会社

分光器の製品一覧

211~225 件を表示 / 全 228 件

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依頼分析サービス

アタッチ式顕微ラマンセンサーを使用した計測・計測計画のサポートが可能

当社で行っている依頼分析サービスをご紹介いたします。 「RAMAN EYE」「透過ラマン」「プロセスラマン」による 計測、レポート、計測後の計測計画のサポートに対応。 また、アタッチ式顕微ラマンセンサー「RAMAN EYE」は、プロセスラマンに 対応したハイブリッドモデルで、生成AIによる自動分析、対話式センサー 操作が可能です。 【サービス内容】 ■計測 ■レポート ■計測後の計測計画のサポート ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

  • 分光分析装置

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フーリエ変換型分光器

時間領域フーリエ変換検出に基づく分光器 VIS-NIR-SWIR-MIRで高速スキャン可能

可視光から中赤外光まで対応する高速スキャン対応の分光器(スペクトロメータ)です。独自技術により光源スペクトルを高精度に測定し、吸収・透過・反射スペクトル分析に最適です。コンパクトながら多様な波長域をカバーし、研究開発から品質管理まで幅広く使用いただけます。

  • 近赤外分光光度計

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X線光電子分光分析法(XPS)

材料の最表面をXPS(X線光電子分光法)によって評価することで、お客様の材料評価を支援いたします。

X線光電子分光法(XPS)は、様々な分野の開発、品質管理において不可欠なツールです。お客様の製品の性能向上、不良原因の究明、そして次世代材料の開発に、XPSをご活用ください。XPSは、試料の極表面(数nm)にX線を照射し、そこから放出される光電子のエネルギーを精密に分析することで、以下の情報を明らかにできます。 (1)構成元素の特定: リチウム(Li)からウラン(U)までの幅広い元素を分析できます。 (2)深さ方向分析: アルゴンスパッタリングを併用することで、表面から深さ方向の元素組成を評価できます。薄膜の膜厚評価や界面分析に有効です。 (3)大気非暴露分析: 特殊な装置を用いることで、大気に曝すことなく試料を分析できます。これにより、大気中の成分による表面汚染や変質の影響を防ぎ、真の表面情報を取得できます。 (4)絶縁物の測定: 幅広い材料の分析が可能です。

  • 受託解析

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[HAXPES]硬X線光電子分光法

HAXPESは、XPS(X線光電子分光)の励起光に硬X線を用いた分析手法です。

HX-PES、HXPESとも呼ばれます。 高エネルギーなX線励起により通常のXPSよりも数~約10倍深い、50nm程度までのバルク状態評価、ダメージレスな界面の結合状態評価を行うことができます。 この装置はGaKα線源(9.25keV)を搭載した実験室機のため、試料作製から測定までのタイムラグを短縮可能です。 ・バルク敏感(~50nm程度)な状態評価 ・非破壊での埋もれた界面の結合状態評価 ・深い内殻軌道を用いた評価(XPSで重畳するオージェピークの回避、分裂のない1s軌道を用いた解析) GCIB(Gas Cluster Ion Beam)によるスパッタを併用した測定や角度分解測定、Al線源(1.49keV)、中和銃、大気非暴露測定などのオプションも備えています。 ・GCIBによるダメージレスなスパッタクリーニング※デプスプロファイルは原則不可 ・Al線源や角度分解測定を用いた結合状態の深さ方向比較 ・大気非暴露下での評価

  • 受託測定

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【分析事例】GaNの部分状態密度測定

価電子帯・ギャップ内準位について元素別の情報が得られます

放射光を用いた軟X線発光分光(SXES)は材料を構成する各元素について、フェルミ準位近傍の部分状態密度(pDOS)を直接的に得られるため、材料の電子状態を評価する手法として幅広く用いられています。さらに本手法の特長として、 1. バルクの情報が得られる 2. 絶縁物に対しても帯電の影響を受けず評価可能 3. 検出下限が低い(<1atomic%) などが挙げられ、特に軽元素(B、C、N、O等)を含んだ材料の評価に有効です。本資料では測定例としてGaN基板のSXESスペクトルをご紹介します。

  • c0511-2.jpg
  • 受託解析
  • 受託測定

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Wasatch Photonics製WP 785

インプラント型SERSバイオセンサやラマンシステムプロセスモニタリングなどの用途に!

当社で取り扱う、Wasatch Photonics製の『WP 785 Raman Spectrometer』 をご紹介いたします。 高NA、f/1.3の光学設計により、優れた感度とSNRを実現。 交換可能なスリットにより、分解能と感度を調整可能です。 インプラント型SERSバイオセンサをはじめ、ラマンシステムプロセス モニタリング、ラマンソリューションの設計にお使いいただけます。 【特長】 ■270–2000cm-1スペクトロメーターレンジ ■高NA、f/1.3の光学設計により、優れた感度とSNRを実現 ■交換可能なスリットにより、分解能と感度を調整可能 ■無償のオペレーティングソフトウェア、SDK、マッチングライブラリ ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

  • ラマン分光光度計

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Wasatch Photonics製WP 785 ER

交換可能なスリットによる分解能と感度の調整(-IC)!Raman Spectrometerをご紹介

当社で取り扱う、Wasatch Photonics製の『WP 785 ER Raman Spectrometer』をご紹介いたします。 無償のオペレーティングソフトウェア、SDK、マッチングライブラリ。 高NA、f/1.3の光学設計により、優れた感度とSNRを実現可能です。 また、拡張された100–3600cm-1スペクトロメーターレンジとなって おります。 【特長】 ■拡張された100–3600cm-1スペクトロメーターレンジ ■高NA、f/1.3の光学設計により、優れた感度とSNRを実現 ■交換可能なスリットによる分解能と感度の調整(-IC) ■無償のオペレーティング ソフトウェア、SDK、マッチングライブラリ ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

  • ラマン分光光度計

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Wasatch Photonics製WP 830

優れた感度とSNRを実現!250–1850cm-1スペクトロメーターレンジ

当社で取り扱う、Wasatch Photonics製の『WP 830 Raman Spectrometer』 をご紹介いたします。 交換可能なスリットにより、分解能と感度を調整可能。無償の オペレーティングソフトウェア、SDK、マッチングライブラリです。 250–1850cm-1スペクトロメーターレンジで、高NA、f/1.3の 光学設計により、優れた感度とSNRを実現します。 【特長】 ■250–1850cm-1スペクトロメーターレンジ ■高NA、f/1.3の光学設計により、優れた感度とSNRを実現 ■交換可能なスリットにより、分解能と感度を調整可能 ■無償のオペレーティングソフトウェア、SDK、マッチングライブラリ ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

  • ラマン分光光度計

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Wasatch Photonics製WP 785 +Laser

450mWのレーザーを内蔵し、ソフトウェアで制御!ラマンシステムプロセスモニタリングなどに

当社で取り扱う、Wasatch Photonics製の『WP 785 Raman Spectrometer +Laser』をご紹介いたします。 450mWのレーザーを内蔵し、ソフトウェアで制御。交換可能な スリットにより、分解能と感度を調整可能です。 高NA、f/1.3の光学設計により優れた感度とSNRを実現するほか、 インプラント型SERSバイオセンサなどにお使いいただけます。 【特長】 ■270–2000cm-1スペクトロメーターレンジ ■高NA、f/1.3の光学設計により優れた感度とSNRを実現 ■450mWのレーザーを内蔵し、ソフトウェアで制御 ■交換可能なスリットにより、分解能と感度を調整可能 ■無償のオペレーティング・ソフトウェア、SDK、マッチング・ライブラリ ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

  • ラマン分光光度計

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Wasatch Photonics製WP 830 +Laser

830nm、450mWのレーザーを内蔵し、ソフトウェアで制御可能!分解能と感度を調整

当社で取り扱う、Wasatch Photonics製の『WP 830 Raman Spectrometer +Laser』をご紹介いたします。 830nm、450mWのレーザーを内蔵し、ソフトウェアで制御可能。 無償のオペレーティング・ソフトウェア、SDK、マッチング・ ライブラリです。 また、交換可能なスリットにより、分解能と感度を調整できるほか、 高NA、f/1.3の光学設計により、優れた感度とSNRを実現します。 【特長】 ■250–1850cm-1スペクトロメーターレンジ ■高NA、f/1.3の光学設計により、優れた感度とSNRを実現 ■830nm、450mWのレーザーを内蔵し、ソフトウェアで制御可能 ■交換可能なスリットにより、分解能と感度を調整可能 ■無償のオペレーティング・ソフトウェア、SDK、マッチング・ライブラリ ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

  • ラマン分光光度計

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Wasatch Photonics製WP 633 System

無償のオペレーティング・ソフトウェア、SDK、マッチング・ライブラリ!Raman Systemをご紹介

当社で取り扱う、Wasatch Photonics製の『WP 633 Raman System』 をご紹介いたします。 無償のオペレーティング・ソフトウェア、SDK、マッチング・ライブラリ。 高NA、f/1.3の光学設計により、優れた感度とSNRを実現するほか、 ラマンソリューションの設計用途に好適です。 633nm、50mWのシングルモードレーザーと、22mmのワーキング ディスタンスを持つサンプリング光学系を内蔵しております。 【特長】 ■ターンキーラマンシステム、275–2000cm-1レンジ ■高NA、f/1.3の光学設計により、優れた感度とSNRを実現 ■633nm、50mWのシングルモードレーザーを内蔵 ■22mmのワーキングディスタンスを持つサンプリング光学系を内蔵 ■無償のオペレーティング・ソフトウェア、SDK、マッチング・ライブラリ ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

  • ラマン分光光度計

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ラマン分光装置 Raman EYE

瞬時に顕微鏡を進化させる、世界最小クラスのラマンデバイスで最前線の技術を。

「Raman EYE」は、コンパクトサイズと高性能を兼ね備えたメタセンシング株式会社が開発したラマン分光センサーです。 【特長】 ■顕微鏡への簡単装着  ・約1分で既存の顕微鏡に装着が可能。  ・専用装置を導入せずとも、ラマン分光分析がすぐに始められます。 ■世界最小クラスのサイズ  ・手のひらに収まるほど小型ながら、強力な性能を発揮。  ・設置スペースの制約がある環境でも活用いただけます。 ■高感度測定  ・有機・無機材料、液体、生体試料などの微細な変化を検出する高感度技術を搭載。 ■生成AIとの連携  ・自動解析やデータ処理をサポートし、効率的な分析作業を実現します。 ■低価格  ・従来のラマン分光機の約1/5~1/10の価格で提供可能。 ■操作方法  ・スマートフォンやタブレットでのリモート操作が可能で、場所や用途を選ばず柔軟に使用可能。

  • 試験機器・装置

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異物分析 顕微ラマン分光装置

“微小な"異物分析、積層分析、固体構造(結晶、配向性)解析はお任せください

株式会社ロンビックにて取り扱う「顕微ラマン分光装置」について、 ご紹介いたします。 顕微IR(赤外)分析と比較して、1μmの微小部の分析が可能なため、 薄い積層フィルムも同定可能。 分析解析例として、PP樹脂射出成形品断面内のμmオーダーの 配向分布解析などがあげられます。 【特長】 ■1μmの微小部の分析が可能、薄い積層フィルムも同定可能 ■非破壊分析が可能(透明物中に存在する場合) ■同定可能な無機材料、添加剤が多い ■ポリマー成形品の微小部位の結晶性、分子配向の解析が可能 ■カーボン材料の詳細な固体構造解析が可能 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

  • 分光分析装置

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【分析事例】加熱による試料表面での金属元素の化学状態分析

2 種類の金属箔を XPS 装置内で加熱し、加熱による金属元素の化学状態変化を評価した事例を紹介します。

【分析試料】 (1) Cu 箔:大気中で加熱して変色させた Cu 箔を分析に供しました。 (2) Ag 箔:大気中腐食により変色した Ag 箔を分析に供しました。 【分析方法】XPS 分析 XPS;単色化 AlKα線(アルバック・ファイ製 PHI5000 VersaProbe II) 各試料とも室温で測定後、そのまま装置内(真空下)で 500℃に加熱し、加熱後に再度測定しました。 【まとめ】 XPS 分析を行うことで、真空下での試料の温度上昇に伴う化学状態の変化を評価することが可能です。 また、カネカテクノリサーチが保有する X 線光電子分光(XPS)装置は、今回行った加熱前後での XPS 測定の他に、加熱しながらの XPS 測定も可能であるため、反応速度が遅ければ、化学状態が変化していく様子を評価することも可能です。

  • 受託測定

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マルチチャンネル分光器 MCPD series

広ダイナミックレンジ!高速・高再現性、軽量・コンパクトが特長的 

MCPD seriesは、紫外から近赤外領域対応の多機能マルチチャンネル 分光検出器です。 最短5msで分光スペクトル測定ができ、標準装置のオプティカルファイバー により、サンプル種を特定することなく、さまざまな測定系に対応。 また、顕微分光、光源発光、透過・反射測定をはじめ、ソフトウェアとの 組み合わせにより、物体色評価、膜厚測定などにも対応可能です。 【特長】 ■広いダイナミックレンジを有し、全光測定に好適 ■低迷光機能搭載により、UV評価に好適 ■最短5msecから65secまでの露光時間、微弱光測定、高速測定、  インライン測定など、幅広い測定に好適 ■スクランブルファイバーの採用により、高再現性を実現 ■軽量・コンパクトな縦置きタイプ ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

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  • 分光分析装置

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