更新日： 集計期間:2025年03月26日～2025年04月22日
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材料分析・異物分析に適した微量元素・軽元素の分析を実施します。
EPMA、FE-EPMA、XRFの分析方法である波長分散型X線分析法（WDX）を用いて、微量元素・軽元素の受託分析サービスを実施致します。 WDX装置はエネルギー分散型X線分析装置（EDX）よりも波長分解能が優れており、微量元素や軽元素の検出感度が高い分析が可能です。 そのため金属材料の判別や微量元素の拡散状態の分析、異物の分析等の微量元素分析にご利用いただけます。
材料分析・異物分析に適した微量元素・軽元素の高感度分析を実施します。
蛍光X線分析装置（XRF）を用いて、微量元素・軽元素の高感度分析を実施致します。 弊社所有の蛍光X線分析装置（XRF）は波長分散型X線分析法（WDX）を採用しており、高精度な定性・定量分析を実施することが可能です。 WDXはエネルギー分散型X線分析法（EDX）よりも波長分解能が高く、微量元素や軽元素の検出感度にすぐれています。金属試料の材料分析（判別）やセラミック試料の材料分析、メッキの膜厚測定などにご利用いただけます。
固体表面の元素組成と化学状態の分析が可能です。
表面≦5nm深さ、≦10nm径の微小領域、Li～Uまでの元素の高感度元素分析ができます。このため、材料表面の元素組成と化学状態分析、薄膜の分析が可能です。
試料表面に含有される元素(B～U)の定性・定量分析を実施します。
エネルギー分散型X線分析（EDX）による元素分析サービスでは、EDX装置から電子線を試料に当てることで励起される特性X線のエネルギーを測定し、得られるスペクトルから試料表面の元素分析を実施致します。 試料表面のどこに、どのような元素が（定性）、どれぐらいの量（定量）含まれているかを分析することが可能です。
オンライン分析装置OURSTEX100TA型による液体のオンライン分析例
蛍光X線分析装置｢OURSTEX100TA｣による化学溶液中金属元素のオンライン濃度管理分析例 溶液中の元素濃度の連続監視に！ 溶液中の不純物濃度の連続監視に！ お客様のニーズにあわせて様々な元素の同時分析が可能です。 現場、現場に合わせたカスタム商品をご提案します。
マッピング分析により、生体試料中の元素分布を明らかにいたします
LA-ICP-MS（レーザーアブレーション/ICP質量分析法）による元素マッピング分析をいたします。
少量の試料で濃度の範囲が広いppmまたはppb(標準でppm)のレベルから数十パーセントの範囲で分析が可能です。
中性子放射化分析のメリット １）少量の試料(数ｍｇ～数ｇ程度)で分析が可能。 ２）分析可能な濃度の範囲が広いppmまたはppb(標準でppm)のレベルから数十パーセントの範囲まで分析可能。 ３）高精度(不確かさ: 標準4～5%) ４）分析元素の物理的形状や化学的状態に左右されない 同一のマトリックス組成の標準化が不要。 分析可能元素 A) 分析に長時間の照射が必要な元素： Ag As Au Ba Br Ca Ce Cd Co Cr Cs Er Eu Fe Ga Ge Gd Hf Hg Ho Ir K La Lu Mo Nb Nd Os Pd Pr Pt Rb Re Ru Sb Sc Se Sm Sn Sr Ta Tb Te Th Tm U W Yb Zn Zr B) 短時間の照射で分析可能な元素： Al Ca Cl Cu Dy I In Mg Mn Na Rh Ti V C) DNAA法（短時間照射）： U ◎詳しくはPDF資料をご覧下さい。
中性子放射化分析は多元素を同時に正確に定量分析できます。 土壌・鉱物・岩石・堆積物など様々な素材の分析が可能です。
中性子放射化分析のメリット １）少量の試料(数ｍｇ～数ｇ程度)で分析が可能。 ２）分析可能な濃度の範囲が広いppmまたはppb(標準でppm)のレベルから数十パーセントの範囲まで分析可能。 ３）高精度(不確かさ: 標準4～5%) ４）分析元素の物理的形状や化学的状態に左右されない 同一のマトリックス組成の標準化が不要。 分析可能元素 A) 分析に長時間の照射が必要な元素： Ag As Au Ba Br Ca Ce Cd Co Cr Cs Er Eu Fe Ga Ge Gd Hf Hg Ho Ir K La Lu Mo Nb Nd Os Pd Pr Pt Rb Re Ru Sb Sc Se Sm Sn Sr Ta Tb Te Th Tm U W Yb Zn Zr B) 短時間の照射で分析可能な元素： Al Ca Cl Cu Dy I In Mg Mn Na Rh Ti V C) DNAA法（短時間照射）： U ◎詳しくはPDF資料をご覧下さい。
試料中、溶出液中の元素(金属元素が主)分析。前処理にも対応いたします。
ICP-AESは溶液試料が対象なため、固体試料の場合は何らかの方法で溶液化しなければなりませんが、多元素を同時に分析できる、ダイナミックレンジが広い、といった特長があります。このICP発光分析で試料中の金属の定性・定量分析や溶出金属の定性・定量分析等が可能です。
試料に含まれる元素の非破壊分析。RoHS規制 有害元素のスクリーニング分析にも対応化。
非破壊分析で、液体・固体試料の何れも分析が可能という特長があり、迅速・簡易な元素分析として広く用いられております。精度は落ちるものの定量分析も可能で、未知試料のスクリーニング分析として最適です。
試料の表面や断面の観察、X線分析による元素分析やマッピングが行えます。
走査電子顕微鏡（Scanning Electron Microscope;SEM）は物質に入射した電子線がその構成原子と相互作用した結果、その表面から放出された二次電子や反射電子を用いて表面構造を拡大観察する装置で、高分子材料の観察に広く用いられています。また、今回更新したSEMにはエネルギー分散型Ｘ線分析装置（EDS）も組み込まれており、SEM観察画面のあるポイントの元素分析（ホウ素（B）～ウラン（U）や、元素マッピングが行えます。
長年の経験から培った金属分析技術で医薬品の元素不純物分析にお応えいたします！！
●金属・材料分析のエキスパートが信頼性保証からGMP対応まで医薬品の元素不純物分析（ICH Q3D）を行います。 ●お客様のニーズに合ったスクリーニング分析・溶出試験（E＆L 試験）・分析方法をご提案いたします。 ●医薬品の原薬・中間体・製剤の他、溶出容器からの溶出試験等も承ります。 ICH Q3D ガイドライン リスクアセスメント対象元素（図１）
優れた測定が可能にする分析手法です！
『二次イオン質量分析』は、数keVのCsやO2イオンをサンプルに照射して 放出される二次イオンの質量分析により、水素を含む全元素の組成分析を 行う手法です。 高感度の元素分析や低エネルギーイオンによる深さ分解能の優れた測定が 可能になっています。 【特長】 ■水素を含む全元素の組成分析を行う ■元素分析が可能 ■低エネルギーイオンによる深さ分解能の測定が可能 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
圧着端子の接合部状態や接合方法、部材の種類を調査！断面観察及びSEM/EDXによる元素分析のご紹介
『銅端子の断面観察とSEM/EDXによる元素分析』についてご紹介いたします。 抵抗測定用銅圧着端子治具の接合部について断面作製を実施し、作製した断面に ケミカルエッチングを施し、エッチング前後で金属組織を観察。 その結果、検出元素が、P(リン) Ag(銀) Cu(銅)であることから、銀入りの りん銅ロウ付け材であると推察します。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
使用材料の規格との比較、管理基準との比較などの分析を行っております。
材料分析とは、使用材料の規格との比較、めっき液の構成元素分析による管理基準との比較などの分析を高精度解析装置を導入し、他社製品の材料の特定やめっき液中の構成元素分析といった、材料分析のテクノリサーチ業務を行っております。詳しくはお問い合わせください。
