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顕微鏡(測定) - 企業と製品の一覧

更新日: 集計期間:2025年05月07日~2025年06月03日
※当サイトの各ページの閲覧回数を元に算出したランキングです。

製品一覧

61~75 件を表示 / 全 91 件

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非接触段差測定顕微鏡『TAHシリーズ』

光学式非接触方式なので、ワークに変形や打痕の影響なく計測可能!

『TAHシリーズ』は、顕微鏡光学系に「フォーカスナビマーク」を 搭載することにより、フォーカスナビマークを合わせることで Z軸移動量による高さ・深さ・段差を非接触で計測できる顕微鏡です。 フォーカスナビマークの搭載により、オペレーターに依存せず再現性を大幅に向上。 三眼タイプ・直筒タイプの2種類をラインアップし、 用途に合わせて選択可能です。(カメラはCマウントタイプ) 【特長】 ■対物レンズは無限系のf=180タイプとf=200タイプの2種類の選択が可能 ■コンパクトサイズ ■計測用スコープとして装置に取付け可能 ■目的に応じて測定ステージ、TVカメラ装置、計測ソフトウェアを組合せ可能 ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お問い合わせください。

  • その他

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原子間力顕微鏡『Park NX-Wafer』

自動欠陥検査機能、低ノイズ、高スループット!正確な原子間力顕微鏡をご紹介!

『Park NX-Wafer』は、欠陥のイメージングと解析を完全自動で行う AFM計測手法により、欠陥検査における生産性を1 000%向上する 原子間力顕微鏡です。 正確でハイスループットのCMPプロファイル測定のための低ノイズ 原子間力プロファイラー。 サブÅの表面粗さを極めて正確に測定し、チップ間のバラツキを最小化します。 【特長】 ■欠陥のイメージングと解析を完全自動で行うAFMソリューション ■欠陥レビューにおける生産性を最大1000%向上 ■低ノイズ原子間力プロファイラーで正確且つ高スループットなCMP計測を実現 ■非常に正確で、チップーチップ間のバラツキも最小にしたサブÅ表面粗さ計測 ■原子間力プロファイラー ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他顕微鏡・マイクロスコープ
  • 電子顕微鏡

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オールインワン蛍光顕微鏡『BZ-X800』

細胞や組織を自動で定量化。暗室不要でウェル・スライドを一括解析できる顕微鏡【カタログ・撮影事例付き資料進呈】

オールインワン蛍光顕微鏡『BZ-X800』は 全ウェルの観察に対応した大型電動ステージや、 クリアな画像が撮影できる高感度モノクロ冷却CCDカメラ等を搭載し、 自動解析による定量化が簡単に行えます。 ◎製品の特長は「導入活用事例集」「製品カタログ」に詳しく掲載しております。  ダウンロードボタンから、ご覧ください。 【導入活用事例集の内容】  ■カニクイザルの心臓の線維化率の計測 ■ウェルプレートを用いたiPS細胞コロニーカウント ■脂肪細胞の定量解析 ■核内の染色体カウント ■胃癌の免疫染色を定量化 ■培養細胞のトランスフェクション効率の計測

  • その他顕微鏡・マイクロスコープ
  • 光学顕微鏡

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原子間力顕微鏡

C-AFMやKFM、sMIMなどの測定モードで最大100mm角のサンプルに対応

導電性AFM、ケルビンプローブフォース顕微鏡法(KFM)、走査型マイクロ波インピーダンス顕微鏡法(sMIM)などの機能に加え、4インチまでのサンプルに対応。 ■サンプルサイズ :最大100 mm角 ■ステージ移動距離 :100 mm ■XY走査範囲 : 100 μm (製造寸法公差 +/- 10%) ■Z走査範囲 : 9 μm (製造寸法公差 +/- 10%) ■XY走査分解能 : 24ビット制御 – 0.06 Angströms ■Z走査分解能 : 24ビット制御 – 0.006 Angströms ■ノイズレベル :Typ : <0.01 mV RMS

  • 外観検査装置

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単一光子検出共焦点蛍光顕微鏡 Luminosa

単一光子検出共焦点蛍光顕微鏡。最高のデータ品質と使い易さ兼ね備え、自動測定時間を短縮を実現。実験室へ簡単にインストール可能。

◆最も信頼性の高い品質と精度 同じ顕微鏡でガルバノスキャン (最大速度) と対物スキャン (最大光子検出効率)を搭載。 ◆時間を短縮しサンプル解析に集中可能 直感的なワークフローで効率的で最小限のユーザー操作でデータ取得が可能。 ◆高度な柔軟性 ワンクリックで観察範囲を調整可能。ソフトウェア経由でオプトメカニクスコンポーネントにアクセス可能。 ※詳細はお問い合わせください。

  • レーザー顕微鏡

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高倍率高画素で鮮明に拡大するHDMI出力のデジタル顕微鏡

非接触式なので、対象物に傷や汚れをつけることなく、観察や撮影が可能。 繊細な対象物も安全に観察できます。

【3R-MSTVUSB273】HDMIモードとPCモードを搭載するデジタル顕微鏡で、最高倍率は273倍まで対応しています(HDMIモード/Cモード時)。非接触式で接触不可なものや傷付けられない対象物もこれひとつで拡大・確認・保存することができます。 センサー画素数は500万画素で、これまでのHDMIモードでは少なかった出力解像度「1080p」対応。デジタル名映像を鮮明に映し出します。 PCモードでは、撮影から計測・測定・編集機能に対応しており、編集した画像もそのまま保存することが可能です。HDMIモードでも本機で倍率を算出でき、また実寸スケールも簡易的に目視確認することができます。 【特長】 ■非接触式だから繊細な対象物も観察可能 ■HDMIモードとPCモードの2種類の観察モード ■スタンドの高さで倍率、焦点変更 ■画像の撮影・編集・測定が可能(PCモードのみ) ■オートフォーカス機能(PCモードのみ)

  • 01.jpg
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  • 7_hensyu.jpg
  • 8_sokutei.jpg
  • 9_option.jpg
  • マイクロスコープ

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人工知能搭載 デジタル顕微鏡『ACUMEN AI』

製品の欠陥を自動的に識別・検出します!

『ACUMEN AI』は、人工知能プログラムを用い、不良箇所の 識別・検出を自動化でき、検査対象の測定・カウントを行える 人工知能搭載デジタル顕微鏡です。 ニーズに合わせて、検査プログラムを作成することが可能。 検査効率の向上と人的エラーの軽減に貢献します。 【製品特長】 ■検査リスク低減 ■AIの自己学習プログラム ■自動制御 ■レポート作成 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

  • その他顕微鏡・マイクロスコープ

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原子間力顕微鏡『LiteScope 2.0』

SEMとAFMを組み合わせた相関分析!材料表面の理解がより深化

『LiteScope 2.0』は、走査電子顕微鏡に容易に統合可能な 原子間力顕微鏡です。 SEMへの搭載は容易ですぐに使用可能、かつスタンドアロンAFM としても利用可能。 FIB、GIS、EDSやその他一般的なSEMアクセサリにも互換性が あります。 【特長】 ■SEMの機能拡張 ■非常に精密な相関イメージング ■迅速かつ容易な関心領域への位置合わせ ■サンプル汚染のリスクを排除 ■2DSEM像を3Dに拡張 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • 電子顕微鏡
  • その他顕微鏡・マイクロスコープ
  • その他検査機器・装置

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多共焦点ラマン顕微鏡 Phalanx-R

写真を撮るように「一瞬」で化学反応の様子や細胞内部の分子分布状態をラマンイメージング

多共焦点ラマン顕微鏡 Phalanx-Rは、写真を撮る様に「一瞬」で2次元ラマンイメージを取得できる、世界初のラマン顕微鏡です。 今まで、不可能であった、変化していく化学反応の様子をリアルタイムでイメージングしたり、細胞内部の分子分布状態やその変化を高速に、試料への光ダメージを抑制し、観察することが可能です。

  • 分光分析装置
  • レーザー顕微鏡
  • 分析機器・装置

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大型ガラス基板の検査に 大型パネル顕微鏡

大型ガラス基板を検査する顕微鏡で移動量はデジタルカウンタに表示。手動型と電動型がございます。

大型基板を検査する検査用顕微鏡です。 大型基板をステージに載せて移動して顕微鏡検査が出来ます。 移動量をデジタルカウンタに表示して、線幅や位置測定ができます。 手動型はハーフナット式でフリー移動とハンドル微動式です。 電動型はステッピング駆動がリモートでできます。 詳しくは、カタログをダウンロード、もしくはお問い合わせください。

  • その他顕微鏡・マイクロスコープ
  • その他検査機器・装置

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比類なき高視野・高分解能な干渉型3Dレーザー走査顕微鏡

他に比類なき高視野・高分解能を実現した、干渉型3Dレーザー走査顕微鏡(視野域:30x50mm・分解能:50nm)

レーザ走査を用いた初めての干渉計測  光沢紙程度の反射で干渉縞が出現。干渉縞で50nmの変化をとらえます ●倒立型レーザ走査干渉計(型番:LSMi-7000)   サンプルをガラス面に置けば、簡単に干渉縞計測可能。   走査範囲は30mm×50mm、モニター上で拡大観察可能   セラミックスなどの細い傷、研磨不良、欠けなどが検査可能   干渉縞解析ソフトはオプション ●円筒用レーザ走査干渉計(型番:LSMi-7500)   円筒の全面で干渉縞を観察可能、円筒の精密検査が可能 ●正立型レーザ走査干渉計(型番:LSMi-8000)   非接触で微細な干渉縞計測可能。   交換レンズは、5mm、10mm、26mm走査レンズ、特注可能   通常の共焦点レーザ走査イメージャとしても使用できます これらを応用展開した機器 超広視野共焦点型・高分解能1μm 3D‐レーザ走査イメージャ 5×50mmの範囲を3D形状計測できる ●45度までの傾斜があるものの形状測定が可能です ●キズや深い穴の欠陥も検出可能です ●円筒面の形状計測や画像取得も可能です   

  • レーザー顕微鏡

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米国 クエスター社 長距離顕微鏡

1983年に独自の長距離顕微鏡の製造・開発を開始。同年に長距離顕微鏡はその年の最も価値のある新機軸製品として表彰されました。

クエスター長距離顕微鏡は、「真空チャンバー中で行われる実験で微細な動的過程のリアルタイム観測・計測」、「有害な環境下にある試料の顕微鏡観察」、「オンラインでの精密検査」といった、長距離顕微鏡での計測・検査・監視・芯合わせに強力な画像化の手段を、という研究者や生産現場からの強い要望により開発されました。 長距離顕微鏡光学系により、雑然としがちな作業エリアから観察系を外に出すことが出来ます。なおかつクエスター長距離顕微鏡により、高いレベルの要求に基づく高倍率・高解像度の画像を得ることが可能になります。

  • 光学顕微鏡

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超音波顕微鏡『SAM』

非破壊にて観察が可能!内部状態、密着性状態の不具合検出に威力を発揮!

当社が取り扱う、超音波顕微鏡『SAM(Scanning Acoustic Microscope)』を ご紹介いたします。 半導体パッケージ、基板、電子部品等の内部状態、密着性状態の 不具合検出に大変威力を発揮します。 非破壊にて観察が可能で、試料に入射された超音波の反射波より、 剥離等の検出ができます。 【仕様(抜粋)】 ■パルサーレシーバー:500MHz ■観察手法:反射法/透過法 両観察手法に対応 ■音響レンズ/反射法:15 25 30 50 80 100 230MHz ■音響レンズ/透過法:15 25 30 50 100MHz ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他顕微鏡・マイクロスコープ

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偏光/分散顕微鏡 ECLIPSE LV100ND POL/DS

分散染色のための顕微鏡は、アスベストの定性分析および同定を可能にする

株式会社ニコンソリューションズ 偏光/分散顕微鏡 ECLIPSE LV100ND POL/DSは、400倍の倍率で分散染色観察を可能にする付属品を備えた高性能の偏光顕微鏡です。屈折率、複屈折、遅延、消光角、多色性および伸びの徴候などのアスベストの特性を測定し、アスベストの同定を助けることができます。 〇特長 ・ハイライト ・複屈折 ・消弧角 ※詳細はPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

  • その他顕微鏡・マイクロスコープ

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原子間力顕微鏡(AFM)『Park NX20』

故障解析と大型試料における研究開発のためのナノ形状計測ツール

『Park NX20』は、パワー、汎用性、操作の容易性を芸術的に組み合わせた 大型試料用の原子間力顕微鏡(AFM)です。 本製品には、デバイス障害の背後にある原因を明らかにし、より創造的な ソリューションを開発するための独自の機能が装備されています。 また、真のノンコンタクト(TM)モードのスキャンによって、チップがより鋭く、 かつ長く保たれるため、無駄な時間と費用の発生を防ぐこともできます。 【研究およびFAラボにおける大型試料用AFMを使ったソリューション】 ■メディア、基盤用の表面ラフネス計測 ■欠陥検査イメージングと解析 ■高解分解能電気特性測定モード ■3D構造解析における側壁計測 ■低ノイズZ検出器を備えた正確なAFM形状イメージング ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

  • その他顕微鏡・マイクロスコープ

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