更新日： 集計期間:2025年03月26日～2025年04月22日
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通常では目で見えない幅の狭い、または小さな径のきずも、目視での確認ができる！
『浸透探傷検査』は、液体の毛細管現象によって、試験体表面に開口している 割れなどを検出する方法です。 試験体表面に浸透液を染み込ませ、余分な浸透液を除去後、現像剤により、 きずに染み込んだ浸透液が表面に吸い出し、きずを検出。 実際のきず寸法よりも拡大したきず模様が形成される為、通常では目で見えない 幅の狭い、または小さな径のきずも、目視での確認ができます。 【特長】 ■試験体表面に開口している割れなどを検出 ■現像剤により、きずに染み込んだ浸透液が表面に吸い出し、きずを検出 ■実際のきず寸法よりも拡大したきず模様が形成される ■通常では目で見えない幅の狭い、または小さな径のきずも、 目視での確認が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
鋼管や鋼板の溶接部内面キズ、鋳鋼品の内面キズ等材質を問わずキズや状況を調べる事ができる検査技法です。
光は透明又は半透明のものしか透過できないが、X線及びγ線は不透明なものでも透過できます。この性質を利用して、不透明体の内部のきず又は内部の構造を調べるのが放射線透過検査です。
試験体の片側から直射法・一回反射法を用いることにより、広い範囲の検査が可能！
『斜角探傷法』は、素材、製品などを破壊せずに、きずの有無、位置、大きさ、 形状、分布状態などを調べる超音波探傷試験における探傷方法の一つで、 試験体の探傷面に対し超音波を斜めに伝搬（送受信）させて探傷する方法です。 溶接部のように、垂直探傷が適用できない箇所での検査が可能。また溶接部の 形状・板厚に応じて45°70°といった違う角度を用いて検査が行えます。 対応温度は常温～150℃程度で、材質は炭素鋼、ステンレス鋼などが対象です。 【特長】 ■素材や製品を破壊せずに、きずの有無、位置、大きさなどを調べる ■試験体の探傷面に対し超音波を斜めに伝搬（送受信）させて探傷する ■溶接部のように垂直探傷が適用できない箇所での検査ができる ■溶接部の形状・板厚に応じて45°70°といった違う角度を用いて検査が可能 ■対応温度：常温～150℃程度（熱風炉など） ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
探傷面に垂直に進行する超音波を用いて探傷！試験体の片側だけからの検査が可能
『垂直探傷法』は、素材、製品などを破壊せずに、きずの有無、位置、大きさ、 形状、分布状態などを調べる超音波探傷試験における探傷方法の一つで、 探傷面に垂直に進行する超音波を用いて探傷する方法です。 きずの厚さ方向の位置を正確に求めることが可能。また反射法を利用している ので、試験体の片側だけからの検査が行えます。 検査可能な厚さの上限が大きく、鋼では3～5mの範囲でも検査でき、炭素鋼、 ステンレス鋼など様々な材質を対象としています。 【特長】 ■素材や製品を破壊せずに、きずの有無や大きさなどを調べる ■探傷面に垂直に進行する超音波を用いて探傷する ■面状きずの検出能力が高い ■きずの厚さ方向の位置を正確に求めることができる ■検査可能な厚さの上限が大きく、鋼では3～5mの範囲でも検査可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
きず部分に磁粉が吸着しきずが拡大！強磁性体に適応できる検査方法をご紹介
『磁粉探傷検査（Magnetic Particle Testing）』は、強磁性材料の 表面近傍のきず検出に適した検査方法です。 表面及び表面直下の比較的浅い部分に割れなどのきずがある試験体を磁化した 場合、そのきずから磁束が漏洩し磁極が生じます。 そこへ、試験体表面に磁粉を散布すると、きず部分に磁粉が吸着しきずが 拡大され、検出を容易にします。 【特長】 ■強磁性体のみに適応できる ■表面きずに有効 ■割れ状きずに対して有効的な検査方法 ■屋外や暗所に出来ないような場所では、ブラックライトを使用しない 色磁粉（白、黒等）を使用 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
種苗の品質管理を委託してみたいお客様へ好適なサービスをご用意しております。
当社の「種苗検査」は、国際機関の検査方法に則って実施しています。 病理検査では、ISTA、ISHI、IPPCに公示されている検査方法を採用。 植物防疫法において「検疫有害動植物」に指定されている植物病原微生物を 中心にラインアップをとりそろえています。 貴社の品質検査と併せて、外部検査・外部証明としてご利用下さい。 【特長】 ■ISTA、ISHI、IPPCに公示されている検査方法を採用 ■植物病原微生物を中心にラインアップ ■国際機関の検査方法に則って実施 ■品質検査と併せて、外部検査・外部証明として利用可能 ■ISTA国際種子検査証明書(Blue Certificates)の発行が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
反射に要する時間を厚さに換算し、ノギス等で計測できない材料の厚みの測定も可能
『超音波探傷検査』は、金属等の物質表面に探触子と呼ばれるセンサーを当て、 超音波を入射します。 金属と空気といった異なる物質の境界で超音波は反射される為、 その性質を利用し、試験体内部に存在するきずからの反射エコーにより、 きずの位置や大きさを測定。 探傷方法は大きく2種類の方法に分類されており、試験面から斜めに超音波を 入射させて、溶接部等の探傷で用いられる斜角探傷法と、試験面から垂直に 入射し、軸や板材等の探傷で用いられる垂直探傷法があります。 【特長】 ■試験体内部に存在するきずからの反射エコーによりきずの位置や大きさを測定 ■探傷方法は大きく2種類の方法に分類 ■ノギス等で計測できない材料の厚みを測定することもできる ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
目に見えないきずの確認が可能！表面近くに存在する割れの様なきずの検出に好適
『磁気探傷検査』は、磁石に吸着される強磁性体でないと適用できません。 装置を使用し、強磁性体（試験体）を磁化すると、その内部に磁束と呼ばれる 磁気の流れが発生。 試験体の表面または表層部に割れなどのきずがある場合、 きずによって磁束が表面空間に漏えいし、小さな磁石が形成されます。 その部分に、着色された非常に細かい鉄粉（磁粉）を散布すると、磁粉が きず部分に吸着し、吸着された磁粉が磁石となって、磁粉同士が積み重なり 模様ができることを利用し、きずを検出していきます。 【特長】 ■磁石に吸着される強磁性体でないと適用できない ■磁粉がきず部分に吸着し、吸着された磁粉が磁石となって、磁粉同士が 積み重なり模様ができることを利用し、きずを検出 ■磁粉が凝集しすることにより、実際より拡大された模様ができる ■幅の狭い目に見えないきずの確認が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
大型タンクの溶接部検査(新設、開放検査)や各種小型部品の検査等に利用されている検査技法です
試験体表面及び表面直下にきずがあると磁束の通過が妨げられて、空間に漏洩し、きずの両側に磁極が発生し磁場を作ります。
隅肉溶接検査（欠陥検出）！溶接内部の欠陥が検出出来ます！
隅肉溶接検査（欠陥検出） ◎溶接内部の欠陥が検出出来ます。 欠陥内容 ：ａ（割れ）、ｂ（ブローホール）、ｃ（割れ）、ｄ（スラグ巻込み） 試験体 ：２５ｔ ｘ ２００ｗ ｘ ３００Ｌ 検出方法 ：ビードに沿ってセンサを走査する。 当社は当社にしかできない技術力で 様々な難しい検査にも対応いたします。 詳細はお問い合わせください。 PDFダウンロードが下記にあるものに関しては ダウンロードいただければと思います。
ネジの状態がネジ穴全体のプロファイルで確認
ネジ検査は渦電流のプローブを使ってワークの全数の工程検査が行なえる。プローブをタップ加工された内部に入れるとセンサーとタップ穴の表面の距離と比例している電磁界が生まれ、測定したアナログ信号は電圧として見る事ができる。
活性酸素によってダメージを受けたDNAを測定します！
『サビチェック』は、自宅で簡単に調べることができる 郵送検査キットです。 活性酸素で酸化したDNA（8-OHdG）の量を、尿検査で測定できます。 【検査結果について】 ■体のサビつき度を示す評価 ■検出された8-OHdG値の詳細 ■全国平均を踏まえたレベル判定（Aランク～Eランク）をお返し 測定された8-OHdGの値が低いほど理想的な体内の状態であると考えています。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
安心・安全！磁粉探傷検査機による非破壊試験のできる開発サービスです
開発と同時に非破壊試験ができるので、短時間で安価な製品開発に最適です。 磁粉探傷試験は英語で MTまたはMPT（Magnetic Particle Testing）と呼ばれ、試験体を磁化することによって材料表面の開口欠陥（クラック）と表面直下の欠陥を探し出すことができます。
ASTM F1886に規定されたVisual Inspection試験が実施可能です。
この試験方法は、包装物の完全性に影響するような欠陥の存在を目視で測定するために、ASTM (米国材料試験協会）によって制定された方法です。シール部分がはっきりと見えている少なくとも一面が透過している未開封で傷の無い包装物に対してシールの見た目を目視で評価する試験です。 ▼ 詳しくはPDF資料をダウンロードしてください（推奨）。 ▼ お急ぎのお客様は、下記の『お問い合わせ』よりご連絡ください。
微細な傷もしっかり検知！ケーブルレスでの使用も可能なLEDブラックライト。航空機対応バージョンも
日本電磁測器の『Mid Bean2.0』は、磁粉探傷検査の観察の工程で 使用する紫外線を照射するライト（紫外線探傷灯）です。 磁粉探傷検査において、暗室でブラックライトを試験体に照射すると、 蛍光液・蛍光磁粉の指示模様が鮮明に発光するため、微細な傷を検知する ことができます。 当製品は、バッテリーでの使用も、ケーブルを繋いでの使用も可能。 スタンダードバージョンの他に、航空機対応バージョンもあります。 【特長】 ■重工業仕様、防塵・防水対策 ■4個のLEDで構成され、安定した紫外線照射 ■バッテリーインジケーター付きで、電池残量の確認が可能 ■センターにガイド白色光付き ■航空機バージョンもあり ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
