その他 分析・評価受託の製品一覧

  • 分類:その他 分析・評価受託

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アイソレーターをお持ちの方へ。高い薬品耐性と作業性を実現。低価格、短納期も実現可能なグローブボックス・アイソレーター用グローブ

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  • 作業用手袋

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【2026年5月20日(水)~22日(金)】「インターフェックスWeek東京」出展のご案内

株式会社イトーは、幕張メッセで開催される「インターフェックスWeek東京」に出展致します。 当展示会は、世界25の国と地域から医薬品・化粧品・再生医療の研究・製造に関するあらゆる製品・サービスが出展する展示会として、日本最大の規模で開催。 世界中から医薬品・化粧品メーカー、再生医療企業が来場します。 当社ではTron Power社製「グローブボックス/アイソレーター用グローブ」を出展致します。皆様のご来場をお待ちしております。

洗浄可能な、タッチレス(非接触)構造のバルブフィーダー!異物混入リスクを低減しました

  • フィーダー

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医療用洗浄装置の見えない超音波の力を可視化!「超音波キャビテーションインジケーター

  • その他 分析・評価受託
  • その他 医薬品・化粧品洗浄剤・メンテナンス
  • その他 計測・測定機器

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一長一短な特長があるためサンプル形態や観察範囲、目的などに応じて選択する必要があります!

  • その他 分析・評価受託

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機械研磨によるトラッキングカメラ断面観察

「機械研磨によるトラッキングカメラ断面観察」についてご紹介いたします。 トラッキングカメラ部品構造について、部品を上から見るとレンズが確認でき X線像では明確には確認できないが凸部にレンズが組み込まれています。 また、断面構造はRGBセンサと同じく裏面照射型CMOS構造をしていますが、 トラッキングカメラに色情報は不要なため、カラーフィルタ層はなし。 フォトダイオード表層の形状にギザギザ状の凸凹形状が観察されました。

IPC-A-610 認証IPCスペシャリストが在籍!国際規格に則った観察のお手伝い

  • その他 分析・評価受託

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Mounting board.png

実装基板の各種評価

株式会社アイテスでは、電子部品が搭載された基板(実装基板)の 評価テストについて多角的な技術サービスをご提供いたします。 信頼性試験をはじめ、はんだ接合部観察、ウイスカ観察、断面観察を実施。 IPC-A-610 認証IPCスペシャリストが在籍しており、国際規格に則った 観察のお手伝い、ご相談、様々な観察のお悩みに対応いたします。 その他、X線観察、外観観察、形状測定などのメニューもございますので、 ご用命の際は、お気軽にご相談ください。

1H NMR,13C NMR、及びDEPT測定を例として取り上げ、NMRで得られる情報について紹介!

  • その他 分析・評価受託

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液晶化合物のNMR分析

株式会社アイテスでは「液晶化合物のNMR分析」を行っております。 NMRは、分子を構成する原子どうしのつながりが分かる分析手法であり、 質量分析や赤外分光法などと共に、化合物の構造決定に用いられます。 ダウンロード資料では、液晶成分として使用される4-ブトキシ-4’- シアノビフェニル(CAS番号52709-87-2)の1H NMR,13C NMR、及び DEPT測定を例として取り上げ、NMRで得られる情報について紹介。 是非、ダウンロードしてご覧ください。

成分分析を行う際に、FT-IRとGC/MSをどのように使い分けるのかをご紹介!

  • その他 分析・評価受託
  • 受託解析
  • 成分分析

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FTIR+GCMS.png

有機物の成分分析(FT-IRとGC/MS)

当社の「有機物の成分分析」にはFT-IRやGC/MSがよく用いられます。 FT-IR測定では成分既知の物質のIRスペクトルと比較することによって 有機物の主成分を分析することが可能。 また、成分未知の物質の主成分だけではなく、添加剤等の微量に含まれる 有機物も分析したい場合にはGC/MS測定を行うことを推奨します。

開発用の評価データを解析・分析! 設計へのフィードバックをサポートします。業務フローの改善提案も実施!

  • 組込みシステム設計受託サービス
  • その他 分析・評価受託
  • ビジネスインテリジェンス・データ分析

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検出深さが大きくなり、より深い領域の評価が可能になります!

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X線による物質への影響や耐性を評価するための手法!

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高い分解能で4インチ~6インチの大口径ウェーハ全面の欠陥評価を非破壊で可能!

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部品内部へ溜まった水分が熱ストレスにより気化!体積膨張する事により応力が発生

  • その他 分析・評価受託

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赤外線加熱により、試料のみを加熱するため、低バックグラウンド化が可能!

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D-SIMSを用いてn-バッファ層厚・窒素(N)濃度を捉えることに成功!

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D-SIMSを用いてゲート酸化膜上層側からの不純物拡散を捉えることに成功!

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膜構造・組成情報があらかじめ分かれば、多層膜もシミュレーションにより評価可能!

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感度・定量に特化したSIMS(D-SIMS)にて高精度に成分評価する手法を確立!

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Si基板上のSiO2表面酸化膜について、光電子分光から酸化膜厚を算出!

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全反射条件ではX線の侵入長が光電子の脱出深さよりも短くなるためHAXPESの検出深さはX線の侵入長で決まる!

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金属部材の変色部分の原因調査では、最表面状態の定性分析と表面酸化膜の厚さや深さ方向の分布などXPSによる評価が非常に有効!

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ナノ粒子の形状(球や楕円など)およびサイズ分布の算出が可能!

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さまざまな酸化チタンの酸化状態の比較評価を行った例もご紹介!

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極表面の化学組成・結合状態・価数などの情報を得ることができる!

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基板側からSIMS分析を行うバックサイドSIMS(Backside SIMS)についてご紹介!

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質量分析計には、磁場型・四重極型・飛行時間型などの種類があり、分析の目的に応じて使い分けます!

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内部欠陥の有無を試料にダメージを与えることなく確認できる!

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断面構造解析やTOF-SIMSによる深さ方向分析を実施!表面コート層から金属までの成分の分布状態や発色成分を確認可能

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二次電池の充放電過程における正極/負極材料の粒径・ひずみ量評価などの用途に!

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半導体デバイスなどのプロセス開発や不良解析への迅速なフィードバックを行うことが可能!

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温度条件による相変化・化学反応・格子定数の変化を知るために有効な手段!

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構成元素の種類と量、膜質などを評価!複合的な分析をご提案いたします

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自社実験室が実現する「かゆいところに手が届く」​​​​​​​代行サービス!

  • 試作サービス
  • その他 分析・評価受託

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