半導体検査/試験装置の製品一覧

  • 分類:半導体検査/試験装置

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【重量物の取り扱いによる作業負担を軽減!】お客様の課題を解決した導入事例5選を収録!ワークに応じた無料相談、テストも受付中!

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  • その他搬送機械

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JIS・ISO規格の解説資料進呈。豊富な製品シリーズから好適な安全柵をご提案!デモキット無料貸出。

  • Satech - AdaptaGuard_Ipros_2023_JP_1.jpg
  • Satech - BlueGuard_Ipros_2023_JP_1.jpg
  • Satech - EasyGuard_Ipros_2023_JP_1.jpg
  • Satech - FastGuard_Ipros_2023_JP_2.jpg
  • Satech - ImpactGuard_Ipros_2023_JP_1.jpg
  • Satech - EasyGuard_Ipros_2023_JP_Media-gallery_1.jpg
  • Satech - ImpactGuard_Ipros_2023_JP_Media-gallery_2.jpg
  • Satech - AdaptaGuard_Ipros_2023_JP_Media-gallery_1.jpg
  • Satech - BlueGuard_Ipros_2023_JP_Media-gallery_2.jpg
  • その他安全・衛生用品

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【表面の異物・汚れ・傷を可視化!】歩留り管理、品質管理、清掃管理、衛生管理の日常管理ツールとして好評です。※デモ機貸出中

  • 外観検査装置
  • 半導体検査/試験装置
  • 欠陥検査装置

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メンテナンス・レジリエンス TOKYO 2025 『第51回プラントメンテナンスショー』に微粒子可視化システムを出展いたします。(2025.7.23.(水)-7.25.(金)/東京ビッグサイト)

自社ブランド「ViEST」として展開している微粒子可視化技術は、マイクロ・ナノサイズの微小粒子の浮遊状態や付着状態をリアルタイムに映像化できる非常に高い水準の検出感度を有しています。 可視化システムの販売や、評価サービス(生産工程・製造装置内外・工場環境等における微粒子や気流の調査、クリーン化商品の性能評価、歩留り改善策の提案等)の受託業務を国内外で展開しています。 本展では、微粒子可視化システムを始め、昨年リリースしたばかりの新商品3点を実演展示いたします。微粒子検出性能の高さを可視化の面白さを是非会場でご体感ください。 【期日】 2025年7月23日(水)~7月25日(金) 【時間】 10:00~17:00 【会場】 東京ビッグサイト 東展示棟 東4ホール 4-F01 無料 主催者ホームページより事前の来場登録が必要です。 https://mente.jma.or.jp/

高感度検出・定量化・可搬性に優れ、品質検査や研究開発の現場に好適。微小な付着異物や傷の検出とその定量評価に貢献いたします。

  • 半導体検査/試験装置
  • その他 衛生検査
  • その他 外観・画像検査装置

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メンテナンス・レジリエンス TOKYO 2025 『第51回プラントメンテナンスショー』に微粒子可視化システムを出展いたします。(2025.7.23.(水)-7.25.(金)/東京ビッグサイト)

自社ブランド「ViEST」として展開している微粒子可視化技術は、マイクロ・ナノサイズの微小粒子の浮遊状態や付着状態をリアルタイムに映像化できる非常に高い水準の検出感度を有しています。 可視化システムの販売や、評価サービス(生産工程・製造装置内外・工場環境等における微粒子や気流の調査、クリーン化商品の性能評価、歩留り改善策の提案等)の受託業務を国内外で展開しています。 本展では、微粒子可視化システムを始め、昨年リリースしたばかりの新商品3点を実演展示いたします。微粒子検出性能の高さを可視化の面白さを是非会場でご体感ください。

プロセス分析計 / オンライン分析計でCMT工程における過酸化水素の濃度を常時モニタリング!

  • 分析機器・装置
  • 半導体検査/試験装置

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電子機器の量産に適したデータ書込みと書込み作業の自動化、品質向上、作業履歴のトレースに最適

  • 半導体検査/試験装置

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透明素材にも対応する高精度検査装置

  • 半導体検査/試験装置

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ウェハの欠陥目視検査を自動化を実現

  • 半導体検査/試験装置

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レビュー用顕微鏡搭載!検出した欠陥を顕微鏡でリアルタイムに観察可能です

  • 半導体検査/試験装置

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SUS304 t1.0薄板使用(溶接あり)

  • 半導体検査/試験装置

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半導体工場の膜厚ニーズに合わせたインテグレーションが可能!

  • ロードポート対応膜厚測定システム2.png
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  • 半導体検査/試験装置
  • 膜厚計

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ミクロンからサブミクロンへ!Burn-in Chanberが追及する極限への信頼性

  • バーンインチャンバー『RBC』2].jpg
  • 半導体検査/試験装置

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パッケージレベルとウェーハレベルで複数のDUTを一括処理!FET単体トランジスタ特性からTDDB評価にも対応

  • 半導体特性評価システム2.png
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  • その他半導体
  • 環境試験装置
  • 半導体検査/試験装置

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FIBによる高品質な回路加工、配線加工サービスを提供します。高い加工歩留りを実現しています!

  • 半導体検査/試験装置
  • 半導体・IC
  • マイクロコンピュータ

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最先端レベルのFlashメモリ書込みとセキュアデバイスプロビジョニングにいち早く対応し、国内の幅広い用途に拡販!

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  • 3.png
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  • その他半導体製造装置
  • マイクロコンピュータ
  • 半導体検査/試験装置

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~Webでかんたん仕様を選べる~セミオーダーポーラスチャック

  • 半導体検査/試験装置

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【半導体不足】が叫ばれている今、その原因についてまとめた資料を無料でダウンロードしていただけます。

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  • 半導体検査/試験装置

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最大100Gbpsでの画像伝送に対応した2100万画素のCoaXPress-over-Fiber (CoF)カメラが新登場!

  • 半導体検査/試験装置

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高画素(5M・12M・21M)SWIR帯域の撮影や各種検査用途に応用可能な画素ずらしSWIRカメラが新登場!

  • VCC-SXCXP1SW(背景あり・500).png
  • 半導体検査/試験装置
  • モノクロカメラ
  • カラーカメラ

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最大425fpsでの画像伝送に対応した2100万画素のCoaXPress-over-Fiber (CoF)カメラが新登場!

  • 半導体検査/試験装置

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小型・軽量・低価格!CXPインターフェースにより高速フレームレート・長距離伝送が可能です。

  • 半導体検査/試験装置

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2020.3月カタログ.JPG

【NEW!】CIS製品総合カタログ【2020.3月】

小型、高速、高画質、高解像度、新たなインターフェースの採用、CISオリジナル画像処理エンジン搭載など、多彩なカメラが満載! 【本誌に掲載内容】 ■CoaXpressカメラ ■CameraLinkカメラ ■画素ずらしカメラ ■ボードカメラ(GigE/USB3.0) ■アクセサリー ■セミカスタムレンズ ■自社開発技術”Clairvu”搭載カメラ ■画像処理システム開発 実例集 今までご好評頂いてきた機種に加え、新たに新製品の「50M 高画素 CXPカメラ」「25M ハイスピード CXPカメラ」「RGB+Depth情報取得可能 USB3.0 I/F ToFカメラ開発キット」「4K ハイスピード Clairvu搭載カメラ」「18倍ズームレンズ内蔵 Clairvu搭載 4Kカメラ」が登場しました! 交通監視、放送、医療、重鉄鋼系プラント、物流、ロボットビジョン、っ各種検査他、多種多様な産業用途に適したカメラが盛りだくさんです。 さらに充実した、CISのカメラを是非ご覧ください! ※その他詳しい情報や英語版カタログをお求めのお客様は弊社営業部までお問い合わせ下さい。

基板・外観検査装置などのFA用途に最適。小型・高画素・低価格で高速フレームレート・長距離伝送・多CH接続が可能なカメラシリーズ

  • VCC-5CXP7_VCC-24CXP7(1mb以下).png
  • 半導体検査/試験装置

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2020.3月カタログ.JPG

【NEW!】CIS製品総合カタログ【2020.3月】

小型、高速、高画質、高解像度、新たなインターフェースの採用、CISオリジナル画像処理エンジン搭載など、多彩なカメラが満載! 【本誌に掲載内容】 ■CoaXpressカメラ ■CameraLinkカメラ ■画素ずらしカメラ ■ボードカメラ(GigE/USB3.0) ■アクセサリー ■セミカスタムレンズ ■自社開発技術”Clairvu”搭載カメラ ■画像処理システム開発 実例集 今までご好評頂いてきた機種に加え、新たに新製品の「50M 高画素 CXPカメラ」「25M ハイスピード CXPカメラ」「RGB+Depth情報取得可能 USB3.0 I/F ToFカメラ開発キット」「4K ハイスピード Clairvu搭載カメラ」「18倍ズームレンズ内蔵 Clairvu搭載 4Kカメラ」が登場しました! 交通監視、放送、医療、重鉄鋼系プラント、物流、ロボットビジョン、っ各種検査他、多種多様な産業用途に適したカメラが盛りだくさんです。 さらに充実した、CISのカメラを是非ご覧ください! ※その他詳しい情報や英語版カタログをお求めのお客様は弊社営業部までお問い合わせ下さい。

USB3.2 10Gbps 500万画素 SWIRモデル

  • モノクロカメラ
  • 半導体検査/試験装置

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広視野角・超高精細な撮像が可能で、各種MV用途に好適な超高画素カメラ

  • モノクロカメラ
  • カラーカメラ
  • 半導体検査/試験装置

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弊社が得意とする【半導体分野向けソリューション】をお客様に合わせてご提案致します!

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  • neaSCOPE_image_with logo.png
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  • その他顕微鏡・マイクロスコープ
  • レジスト装置
  • 半導体検査/試験装置

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故障箇所→拡散層評価を含めた物理解析/化学分析までスルー対応いたします!

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  • 解析サービス
  • 受託解析
  • 半導体検査/試験装置

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Talos F200E導入のお知らせ

当社では、透過型電子顕微鏡システム FEI製「Talos F200E」を導入します。 従来機と比べTEM・STEMの分解能が向上し、4本の検出器でEDS分析が可能に なるなど性能が大幅に強化されます。 また、ドリフト補正をしながら複数のフレームを積算する、ドリフト補正 フレーム積算(DCFI)なども搭載しております。

様々な形態の半導体で裏面研磨が可能!素子、不具合の様子の観察が出来ます

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  • 解析サービス
  • 半導体検査/試験装置

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当社は、油圧、空気圧、電気技術の専門知識を活用して、お客様の声に沿った、ソリューションを提案し提供します。

  • 組立機械
  • 半導体検査/試験装置
  • 搬送・ハンドリングロボット

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  • 組立機械
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過酷な環境に強い。PP加工でタンクからダクトまで自在対応

  • 半導体検査/試験装置

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PET・PC・FM規格対応でクリーンルーム・防火対策も万全

  • その他工作機械
  • その他プロセス制御
  • 半導体検査/試験装置

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AI外観検査システムを大幅コストダウン!! もっと手軽に、もっと簡単に、短期間で導入できるスターターセット

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  • 外観検査装置
  • 半導体検査/試験装置
  • 検査治具

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ビジネスフェア名古屋.png

【セミナー情報】アプライドビジネスフェア 2025 in 名古屋

★一歩先を行くビジネス提案 アプライドビジネスフェア ・研究開発とAI時代を支えるHPCソリューション最前線「アプライド AIサーバー/HPC製品を解説」 アプライドが提供する最新のAIサーバーおよびHPCソリューションについて、実際の導入事例やユースケースを交えながらわかりやすくご紹介。幅広い分野での活用に役立つ製品ラインナップと選定ポイントを解説いたします。 ・最新ビジネスコンピューター展示会 ワークステーション/HPC/AIサーバーなど最先端コンピューターの実機を展示します。 ・最新の画像解析ソフトウェアを解説 1. 3D画像解析ソフト『Dragonfly』X線CT装置、3D電子顕微鏡画像の解析に最適 2. 2D画像解析ソフト 『Image-Pro AI』2D顕微鏡画像の解析に最適 ・AI外観検査システムを解説 製造業におけるAI外観検査をノーコードで内製化できる革新的なソリューションをご紹介します。 さらに、外観検査設備を一台に集約したAI外観検査のオールインワンシステム「A eye BOX」についても、実機をご確認いただきながらご案内いたします。

ソフト・ハード設計から実装・製品組立まで柔軟に対応します。 さまざまなメーカーの難題に「ヨーホーの対応力」

  • EMS
  • その他半導体製造装置
  • 半導体検査/試験装置

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基板 - コピー.jpg

850×500mmサイズの大型基板実装に対応可能

850×500mmサイズの大型基板実装に対応可能。 [精度] チップサイズ:03015 リード間隔:0.3mm 隣接ピッチ:0.1mm [対応チップ] BGA、CSP、QFN、SOP、QFP、LED など [対応サイズ] 最小サイズ:50mm×50mm 最大サイズ:500mm×850mm 板厚:0.5mm~3.0mm

半導体製造工程の効率化と品質向上に貢献。専用部品がないのでメンテナンスしやすく、早期復旧が可能です。低コストを実現しています。

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  • 半導体検査/試験装置

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要求の厳しい複雑な表面測定に対応する高精度3D表面計測

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  • その他計測・記録・測定器
  • ウエハー
  • 半導体検査/試験装置

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SEMICON JAPAN 2024 出展のご案内

弊社は2024年12月11日(水)より東京ビッグサイトで開催される 「SEMICON JAPAN 2024」 に出展いたします。(ブース番号:2705) 本展示会では、日々進化を遂げる半導体製造プロセスの信頼性、半導体性能の向上に寄与する半導体産業専用アプリケーション及び非接触式測定器をご紹介いたします。 是非弊社のブースにお立ち寄りの上、ぜひご覧頂きたくご案内申し上げます。 展示製品: ・非接触式厚さ測定ゲージ(インターフェロメトリ技術) ・接触式/非接触式(コンフォーカル技術)ハイブリッドアプリケーション ・光学式3D表面粗さ・形状測定器 ・プローブカード検査向けハイエンド3D表面計測 ・ダイシング工程向けビジュアルブレード検査システム

寿命10年を想定した場合、試験デバイスのゲート電圧を、20V以下で使用することが必要

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パワー半導体の定格限界での信頼性評価や、定格オーバー条件でパワー半導体の実力を評価!

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  • 半導体検査/試験装置

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通常の動作での寿命を予測!環境温度やスイッチング周波数等を任意に設定できる

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  • 半導体検査/試験装置

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静電気が電子機器や半導体部品に放電した際の耐性を、様々なモデル法を用いて幅広く評価します

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  • 半導体検査/試験装置
  • 受託検査
  • 受託測定

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試験を実施するにあたりどの方法で測定するのかを選択することが重要な要素!

  • その他半導体
  • 半導体検査/試験装置

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当社で保有する装置は、半導体や多層の基板評価等に適した試験装置です!

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  • 半導体検査/試験装置

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恒温槽を使用することで、より強い付加を加える事が可能!信頼性試験をご紹介

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  • 半導体検査/試験装置
  • その他の各種サービス

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高電圧コネクタ

  • 半導体検査/試験装置
  • その他コネクタ
  • その他の自動車部品

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FPD-Link III & GMSL & GVIF2 インタフェースボード(シリアル、パラレル、MIPI変換)

  • その他画像関連機器
  • 半導体検査/試験装置

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ソフトコンタクトで半田ボールや測定基板にダメージを与えないテストソリューション!

  • 半導体検査/試験装置
  • プリント基板

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半導体製造工程などで使用する高純度ガスボンベ内に付着している不純物を除去する装置です。

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最大7枚の拡張ボードを実装可能、最大19インチラックマウント4Uタイプの筐体にコンポーネントを自由に構成可能な産業用コンピュータ

  • 産業用PC
  • 半導体検査/試験装置
  • その他検査機器・装置

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MR4300シリーズ(カスタムコンピュータ)4.jpg

PCIe5.0対応のデュアルスロットGPUボードを搭載可能。 マシンビジョン・AI向けのエントリークラスHPC「MR4300」シリーズを新発売。

 コンテックは、第13世代インテル(R) Core(TM) プロセッサ(Raptor Lake)、チップセットQ670E PCHに対応した最大7枚の拡張ボードを搭載可能なHPC向け産業用コンピュータを開発、Solution-ePC(R)シリーズ「MR4300(以下、新製品)」として2025年5月20日より受注を開始しました。 新製品は19インチラックマウント4Uタイプの筐体に、長期供給で高性能な24コア 32スレッドの第13世代 インテル(R) Core(TM) プロセッサ(Raptor Lake)CPUを搭載可能なHPC向け産業用コンピュータです。PCI Express 5.0(x16) x1スロットはCPUに直結しており、最新のデュアルスロットGPUボードを最高性能で使用できます。ジャンパ切り替えでPCI Express 5.0(x8) x2スロットに変更でき、8レーンの性能でGPUボード2枚を動作させることも可能です。さらにPCI Express 4.0(x4) x2、PCI Express 3.0(x4) x1、PCI x2スロットも搭載しており、開発資産のリプレイスにも適しています。

25枚のウェハを、1度にキャリアやボートに移載させる装置

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バラバラになったウェハーをロットナンバー順に整列させる装置

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高い洗浄性!内部構造が非常にシンプルで流体の滞留部がない!金属溶出がない!

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ダイコー株式会社様の導入事例。全社共通のデータの活用で、業務効率化を実現!

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次世代、 斬新で使いやすいデバイス・ハンドリング・システム

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システム全体をご提供することが可能!たくさんのICを制御可能なテスティング治具を制作

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TD-GC/MSにより部材に付着した微量の有機汚染を分析します。

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