その他半導体製造装置の製品一覧

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• 金属軸受・ベアリング

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• その他安全・衛生用品

両面研磨後の洗浄された300mmウェーハを乾燥させる装置です

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φ300 mmシリコンウェーハを簡易洗浄（ブラシ+水）する装置です。

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φ150 mm及びφ125 mmシリコンウェーハの仕込み、取出

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加工の終了したφ300 mmウェーハを1枚ずつテフロンカセットへ収納し水没させるための装置です

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ウェーハを1枚ずつローディングする装置です。

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シリコンウェーハのP/N判定・外観検査を行うためにハンドリングする装置です

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シリコンウェーハを反転移載する装置です。

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抵抗率別かつ厚さ別の区分に分類

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レーザ光にてウェーハ端面の検出を行い、校正用ウェーハ（基準ウェーハ）との比較により直径を測定する装置です。

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画像処理によりウェーハの端面を検出し、直径を測定する装置です。

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サファイアウェーハの厚さ測定を行い、その厚さに応じたソーティングを行う装置です。

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シリコンウェーハの厚さ測定を行い、その厚さに応じて並べ替えを行う装置です。

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シリコンウェーハの厚さ測定を行い、その厚さに応じて並べ替えを行う装置です。

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シリコンウェーハの厚さ測定を行い、その厚さに応じて並べ替えを行う装置です

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シリコンウェーハのラップ工程・両面ポリッシュ工程で使用する金属製、または樹脂製のキャリアの厚さを測定する装置です。

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シリコンウェーハのラップ工程・両面ポリッシュ工程で使用する金属製、または樹脂製のキャリアの厚さを測定する装置です。

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シリコンウェーハのラップ工程・両面ポリッシュ工程で使用する金属製、または樹脂製のキャリアの厚さを測定する装置です。

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φ２”、φ４”またはφ６”サイズの化合物半導体ウェーハの厚さ測定

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φ4"以下の各種素材ウェーハの厚さ測定

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φ100mm～φ150mmのSi、SiC等ウェーハの厚さ測定

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φ200mm、φ300mmのシリコンウェーハの厚さ測定装置

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シリコンウェーハを専用カセットから取り出し、設定したポイントの厚さを計測する装置です。

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コト前管理を徹底し、行動指針に乗っ取り行動を”興す”。

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ガラス板に貼り付けられたSiCウェーハの厚みと接着剤の厚み測定及び、SiCウェーハ単体の厚みを測定する装置です。

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大人気のTMEシリーズ

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大口径のシリコーンウェーハ測定機

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シリコンウェーハを専用カセットからエッジハンドリングで取り出し、設定されたパターンの厚さ測定を行う装置です。

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Siウェーハの厚さ測定、表裏面P/N判定

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確かな技術力と強固なグローバルネットワークを武器に世界へと挑みます。

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