受託解析の製品一覧
- 分類：受託解析
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FIBで微小対象物(例えばICコンタクト部)の任意箇所、ここという場所を狙って断面を作製できます
- 受託解析
- 加工受託
- その他コネクタ
酸化物系全固体電池の故障解析事例
信頼性試験によって破壊した酸化物系全固体電池に対して、故障箇所 特定～断面観察までの一連の解析を実施した事例をご紹介します。 発熱解析により側面で発熱が強い傾向が認められ、X線透過観察では、 X線透過像で発熱が認められた境界付近に白い線状のコントラスト異常 が見られました。白線部で何らかの異常が発生している可能性が疑われます。 異常が見えていた箇所に対して、CP断面SEM観察を実施すると、層剥離が 認められ、信頼性試験によって正(負)極層が膨張、収縮を繰り返す事で 集電体や電解質層間に剥離が発生したと推測されます。
繰り返し伸縮可能で、変形に追従できるフレキシブル基板です。 FPC
- 基板設計・製造
- 製造受託
- 受託解析
Niめっきの膜厚や濃度測定、表面汚染レベル測定などXPS、AES、GD-OES各装置での表面分析および測定事例をご紹介します
- その他計測・記録・測定器
- 受託解析
- 表面処理受託サービス
2次から40次までの高調波を使用して診断！ モーター、機械、インバーター、電力用変圧器、コンデンサーを異常・劣化が診断が可能に
- その他電子計測器
- 受託解析
一般的に難しい低温度域でも材料の融解、ガラス転移、結晶化、熱硬化等の転移状況を観測できます
- ゴム
- 受託解析
- 解析サービス
クライオミクロトームとAFMで軟らかい高分子材料の各種高分解能観察が可能です
- その他高分子材料
- 受託解析
- ゴム
知りたい情報によりTG-DTAの測定雰囲気を正しく選ぶ必要があります。当社は適切に選定し測定いたします
- 複合材料
- 受託解析
- 受託解析
硬化特性解析や測定方法など！DSC、TG、DMA、TMAによる事例を多数ご紹介。詳細は資料をダウンロードしてご確認願います
- 受託解析
- その他高分子材料
- プラスチック
FIB-SEM装置で表面からは分かりづらいめっき層内の異常個所を観察でき、Slice&View機能により異常の起点発見も可能です
- 受託解析
- めっき装置
- その他金属材料
YouTubeに動画『FIBによるめっき不良のSlice&Viewおよび3D構築』をアップしました。
集束イオンビーム(Focused Ion Beam：FIB)装置は、集束したイオンビームを試料に照射し、加工や観察を行う装置です。 また、FIB-SEMは高解像度のFE-SEM（電界放出形電子顕微鏡）を搭載しており、高分解能での観察と加工が同時に行えるのが特長です。 本動画はFIB-SEM(サーモフィッシャーサイエンティフィック社製：Helios5 CX)でSlice & Viewおよび3D構築の機能を使い『めっき不良の状況』を観察したものです。 Slice & Viewにより不良の起点から広がる様子、3D構築により不良の形状が確認できています。
X線光電子分光分析(XPS)は試料最表面(数nm)の元素情報を得られるため表面汚染・変色の分析や表面処理その他の評価に最適です
- 受託解析
- その他高分子材料
- 表面処理受託サービス
変色調査や表面改質評価などXPS、AES、AFMによる事例を厳選しました。ぜひご覧いただき資料ダウンロードください
- 受託解析
- その他金属材料
- その他高分子材料
微小部断面加工と分析、残留応力測定などイオンミリング、FE-SEM、EBSD等による各種事例をご紹介します。資料DL可です。
- 受託解析
- その他高分子材料
- その他金属材料
DMAによってDSCでは捉えられないポリエチレン(PE)のガラス転移を測定可能です。PEの特性を取得するためにぜひご活用ください
- 受託解析
- その他高分子材料
- プラスチック
企業交流展示会にて弊社サービスをご紹介いたします！
- 受託検査
- 受託測定
- 受託解析
DSCでは食品加工で重要な要素でんぷんの糊化や老化の様子を把握できます。他食品でも応用可能な本技術を存分に味わってみてください
- 食品試験/分析/測定機器
- 受託解析
- 解析サービス
SEMとEBSDによって磁石の方位分布がわかり、製品の性能や経年による変化などを把握できます。
- その他金属材料
- 磁石
- 受託解析
プラスチック製ワッシャ、ガスケット等の局所的な圧縮応力による変形・破断の様子をTMA・応力ひずみ測定装置で推定できます
- 受託解析
- プラスチック
- その他高分子材料
X線光電子分光分析(XPS)は試料最表面(数nm)の元素情報を得られるので表面汚染、表面処理の評価に活用いただけます
- 受託解析
- 表面処理受託サービス
- 膜厚計
パネル構造解析、EMC対策等パネルモジュールの品質、分析などをトータルサポート！
- 液晶ディスプレイ
- その他受託サービス
- 受託解析
GD-OES（グロー放電発光分析）によりNiめっきの膜厚、濃度の分析状態を把握できます。他の表面加工の解析にもご活用ください
- 受託解析
- 加工受託
- めっき装置
AFM走査型プローブ顕微鏡/AESオージェ電子分光装置によりめっき部品など多面的な加熱影響調査を行います
- 受託解析
- 解析サービス
- めっき装置
化学分析 おまかせサービス
当社で取り扱う『化学分析 おまかせサービス』をご紹介いたします。 製品上の異物やシミなどの成分分析を⾏う際、有機分析が適しているのか、 無機分析が適しているのか、また、有機・無機分析の中でもどの分析が好適 なのか、分析手法の選定についてお困りのお客様へ、一括サービスを提供。 分析装置はそれぞれ測定できる対象が異なるため、情報をもとに、 目的に合った手法を選ぶ必要があります。
COG実装の導電粒⼦形状観察
COG実装の導電粒⼦形状観察についてご紹介します。 ICと液晶パネルはACF(異⽅性導電フィルム)を⽤いたCOG⽅式により実装。 核に樹脂ボールを使⽤し、その表面に導電のための⾦属層(ニッケルや⾦など) が成膜されており、接続時に粒⼦が適度に変形し、ICとパネルを電気的に接続。 粒⼦の変形具合や接続状態を確認するため、断面観察を⾏ったところ、 粒⼦変形量は「中」であり、適度な変形具合であることがわかりました。 平面⽅向と断面⽅向から導電粒⼦の変形具合を確認することで表⽰不良との関連性 を探ることができます。パネル関連の不具合調査はお気軽にご連絡ください。