電子回路テスター「エレスター」【電子回路・配線の導通チェックに】
電子回路の導通チェック、配線の導通チェックに最適
電子回路の導通チェック、配線の導通チェックに使用します。半導体素子使用回路測定のため,プローブ間の解放電圧は300ミリボルト以下、プローブ間短絡電流は400マイクロアンペア以下の仕様になっております。導通テスターとして,配電盤,制御盤の製作時にもお使いいただけます。
- 企業:株式会社アイデン
- 価格:応相談
更新日: 集計期間:2026年01月07日~2026年02月03日
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電子回路の導通チェック、配線の導通チェックに最適
電子回路の導通チェック、配線の導通チェックに使用します。半導体素子使用回路測定のため,プローブ間の解放電圧は300ミリボルト以下、プローブ間短絡電流は400マイクロアンペア以下の仕様になっております。導通テスターとして,配電盤,制御盤の製作時にもお使いいただけます。
硬度計
モデル435 はガイドの両輪とその中心にプラスチック又は金属製のディスクを固定して、その先端にスプリングの圧力で0 ~ 3N,0 ~ 10N、又は0 ~ 20N まで荷重をかけ、表面の硬度を判定。
金型に取り付け済みの型内圧センサ、温度センサの絶縁抵抗、センサ感度をチェック!!
金型に取り付け済みの、型内圧センサ、金型表面温度センサ、型内圧・温度センサの絶縁抵抗、センサ感度をチェックするためのテスタです。このテスタはチャージアンプの入力確認にも使用できます。 • 取り付け済みの型内圧センサおよび温度センサの現場での確認用 • 無線接続テストピンを備えたユーザフレンドリーな設計 • pC/bar、pC/Nおよび℃での測定結果をデジタル表示 • 圧力センサ、温度センサおよび圧力/温度センサも確認可能 • 電荷発生機能によりチャージアンプの検査も可能、測定チェーン全体のテストが可能 • タッチスクリーン操作
ピトー静圧テスタ ランプ上の航空機の迅速な試験に好適
小型軽量でコスト効率の高い、2チャンネル型ポータブルライン整備用ピト静圧テスタ。ADTS542Fには、ADTS Touchハンド・ターミナルが付属します。また、ADTS542Fは、ヘリコプタ、プロペラ機を含むピトー静圧の小さい各種航空および軽飛行機の試験にも最適。 ※詳しくはカタログをダウンロード、またはお問合せください。 尚、イプロスにご登録されている個人情報は、弊社正規代理店にも共有させていただき、代理店よりご連絡させていただく場合がございますのでご了承ください。
24時間温度管理不要!常識を捨てた素手でワークを揃えます。
安定した漏れ検査の製造ラインはそのワーク固有の漏れ基準値から生まれます。 【特長】 オンライン計測に対応 ・温度条件を無視できます ・1日24時間温度管理不要です ・1年四季を気にしません ・炉の出口でも遠赤外線の前でも実施できます ・素手でワークを扱えます (オンライン検査は誤判定率が高い…という常識を捨てます) ◇◆◆◇◆━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━ 詳細はカタログをダウンロードしてご覧になって下さい。 もしくはお気軽にお問い合わせ下さい。 ━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━◇◆◆◇◆
簡単・確実・便利で安い リークテスタの傍に置いてください
製品を見られた方は、なるほど!と納得されて必ず購入されます。それは、安定しており、確実で、ほとんどサービスに近い値段で限定販売しているからでしょうか。 まず、お問い合わせください。
水没検査から真空差圧方式や正圧差圧方式へ低価格でご提供できます。 バブルチェッカにより見える化へ。装置のレンタルも承ります。
真空差圧方式は、正圧差圧方式の良いところをそのまま踏襲し、ワークの温度変化、室温変化、年間の季節による気温変動、測定中の雰囲気の変化、気流、遠赤外線照射、素手接触等による測定値のバラツキを押え、温度や気候の変化による誤判定をなくしました
手にやさしい・軽い・シンプルな冶具など!手動気密冶具を取扱っています
株式会社センサは、『手動気密冶具』製品を取扱っています。 手にやさしい・軽い・シンプルな冶具など、豊富なバリエーションを ご用意しています。 当社は、設計製造、開発試作、点検保守較正管理を行っています。 また、地球温暖化や環境破壊対策に関する分野にも気密検査を通して参画しています。 【特長】 ■独立クランプ方式 ■応力分散構造 ■手にやさしい冶具 ■軽い冶具 ■シンプルな冶具 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
タカヤAPTシリーズは、業界トップクラスの超高速インサーキットテストが可能な基板検査装置です。
タカヤAPTシリーズは、超高速検査で実装基板のあらゆる不良を各自に検出し、世界トップシェアの圧倒的実力を誇るフライングプローブ式のインサーキットテスタです。 インサーキットテスタは、電気部品と基板の接続信頼性を検査する装置です。動作電流よりも小さい信号を印加し検査を行うため、部品・基板を破損させることなく、不良個所の特定や定数間違いを検出できます。外観検査(AOI)では発見することのできない電気的な不良を発見し、品質保証レベルを高めることで、お客様からの信頼を得られやすくなることが特徴です。 最新のAPTシリーズでは、高速駆動モーターと通信制御の改良により、従来モデルと比べ、プローブ移動速度を最大1.5倍にアップし、最速0.02秒ステップの高速検査を実現しました。検査時間を従来モデルより30%以上短縮、さらなる検査コストの削減にも貢献致します。 トライアル/テストも相談賜ります。 実装基板の検査でお困りごとがありましたら是非、お気軽にお問合せ下さい。 ※詳細情報はカタログにてご覧いただけます※
*資料無料進展中 今更聞けないインサーキットテスタの基本について知らない方必見です!!
インサーキットテスト(プリント基板の電気検査)のプロービング方法には、治具式とフライングプローブ式とがあります。 「インサーキットテスタの基礎知識」資料をダウンロードし、ご覧ください。 治具式 コンタクトプローブが埋め込まれた検査治具を検査基板に接触、全てのプローブを同時に基板上の所定のテストポイントに接触させます。その状態で、計測ラインをリレーで切り替えながら各電子部品の検査を実行します。検査対象となる基板には,それぞれの検査を組み合わせるプログラムと,専用の治具を製作する必要があり,コスト、スピード、保管スペースの面で課題があります。 フライングプローブ式 プローブを保持した複数のアームが基板上の任意のポイントにプロービングを行います。プローブ移動時間が必要で、治具式と比較すると検査時間は長いですが,治具が不要でプログラム入れ替えだけで段取り替えできるため,工程トータルで見た場合、時間・コスト削減につなげられます。また、多品種少量生産の基板検査にも適します。テストポイントの座標も任意に変更でき、基板の部分的な設計変更への対応も容易です。試作基板検査や不良解析などでも利用されています。
治具作成不要でランニングコストを90%以上削減!!
治具式(プレス式)テスタからの置き換えで、フライングプローブテスタを導入いただいた事例をご紹介します。 *課題 ・高密度実装基板の場合、狭い部分は治具の作成が困難なため治具式テスタでは検査できない部品があった。 ・量産終了後の保守パーツなど少数生産の場合、治具代が割高になり、メンテナンス含めたコスト面の負担が増えていた。 ・治具保管スペースの確保が必要で、管理の手間もかかっていた。 *導入効果 ・治具式ではできなかった狭ピッチ間部品が検査でき、信頼性を高められた。 ・治具の製作が不要となり、メンテナンスなどのランニングコストも発生しなくなった。 ・治具保管用の倉庫スペースも不要となり、管理の手間がなくなった。 フライングプローブテスタの詳細につきましては、PDFカタログをダウンロードいただくか、お気軽にお問い合わせください。
独自のカラーセンサーでLEDの発光色/輝度を数値化測定!! 【LEDカラーテストシステム】
LEDの発光色/輝度の検査に手間がかかり、お困りではありませんか? タカヤのフライングプローブテスタには、LEDの発光色/輝度をカラーセンサーで測定できるオプション機能がございます。 この機能を用いて、目視検査をフライングプローブテスタによる検査に切り替えて頂いた事例がございます。実際の導入効果をご紹介致します。 1:目視検査員の不可ゼロ LEDの発光色を直視すると作業者の目にダメージを与えますが、フライングプローブテスタに切り替えることで負担をゼロにできます。 2:測定基準の明確化 目視点灯検査は、検査員によって良否判定基準が異なるためばらつきをおこす危険性があります。カラーセンサーの検査では数値比較による明確な判定基準がありますので安定した検査が可能です。 3:治具製作費不要 フライングプローブテスタのLED検査の場合、専用の治具を作成する手間がありません。 トライアル/テストも相談賜ります。 お困りごとがありましたら是非、お気軽にお問合せ下さい。
46か国以上の国々で導入実績多数!!世界から認められているタカヤのテスタです。
海外拠点へのフライングプローブテスタ導入/現地立ち上げも是非タカヤへお任せください。 タカヤは伊藤忠商事株式会社様と海外販売に関する代理店契約を結んでおり、アメリカ・ヨーロッパ・中国・東南アジア各地に販売/サービス拠点を設置、46か国以上の国々にて多数販売実績がございます。 日本のみならず、世界各国のあらゆる企業・業界で認められたタカヤのフライングプローブテスタを是非、ご活用ください。 *詳細情報は、下記関連リンクページをご覧ください。
46か国以上の国々でグローバルEMS企業やメーカーに導入多数!!
タカヤは、フライングプローブテスタにおいて世界トップシェアを誇る実装基板検査機業界のリーディングカンパニーです。 1987年に、世界初のフライングプローブテスタを開発後、翌1988年にはドイツでの技術展示会に出品。現地の電機業界より高評価を受け、欧州市場での拡販をスタートさせました。 1990年には、同じ工業先進国であるアメリカでの販売を開始。1995年には、世界で最も革新的な検査機に贈られる賞 『TEST INNOVATION OF THE YEAR』 を受賞するなど、その性能を広く世界中で認められております。 現在も、アメリカ・ヨーロッパ・中国・東南アジア各地に販売/サービス拠点を設置、46か国以上の国々にて多数の販売実績がございます。様々なメーカーからの高いご要求に応えるべく、新たなモデル/画期的な新機能を日々追加し、販売網も拡大し続けております。 実装基板の電気検査でお困りのことがありましたら、ぜひタカヤへお問い合わせください。
タカヤAPTシリーズは、業界トップクラスの超高速インサーキットテストが可能な基板検査装置です。活用事例を紹介します。
■量産品の検査 ローダー/アンローダーと接続し、大ロットでも自動化、無人検査が可能です。 ■多品種少量基板の検査 専用治具製作コスト不要です。ファンクションテストでは不良個所の特定が難しいですが、インサーキットテストであれば特定可能です。 ■試作基板の検査 設計変更に即応できます。基板に電圧を印加し、回路動作(ON/OFF)の確認や直流電流の測定など、ファンクションテストも可能です。 ■機種切り替え時の実装確認検査 ファーストロットのマウントプログラムの確認や、機種切り替え時のマウンタへの部品セット間違いの確認を確実に短時間で行えます。 ■不良解析検査 機能検査で不良になった基板の検査や、市場で故障した基板の不良解析に使用可能です。修理時間の大幅な短縮と、廃棄基板の削減ができます。 他にも、様々なご用途でタカヤのテスタをご活用いただいている実績がございます。 詳しくは営業担当までお問い合わせください。
ICTとBSTの相互補完によって、新たな価値を創造します。
フライングプローブテスタによるインサーキットテストは、アナログ回路における実装電子部品の電気特性検査を得意としております。しかし、プロービングできない部品は電気的検査が困難で、デジタル回路の機能検査は難しいです。一方、バウンダリスキャンテストは、LSIピン間の相互接続検査・FPGA等へのオンボードプログラミングが短時間で行えますが、バウンダリスキャン規格に準拠しているIC周辺のデジタル回路のみ検査可能で、接続に専用の治具を要するという課題もあります。 タカヤ株式会社では、バウンダリスキャンテストで必要となる4~5本のスキャン対応ピンと計測器を繋ぐ治具の代わりに、フライングプローブを用いる技術を保有しております。これによって、バウンダリスキャン準拠ICの相手先が 非バウンダリスキャン準拠IC・受動部品(コネクタ等)であっても、フライングプローブを仮想バウンダリスキャンセルとして機能させることで、バウンダリスキャンテストを行っていただくことが可能です。 フライングプローブテスタ一台で、デジタル/アナログ回路の両方を一括検査できるなど、今まで以上に検査効率を高められる技術です。
国内唯一の実装技術専門誌『エレクトロニクス実装技術』に掲載された特集記事の公開許可を頂きました。こちらよりご覧いただけます。
特集内容 ■BGA実装基板検査の最新動向 フライングプローブテスタとJTAGテストのハイブリッド検査 アンドールシステムサポート株式会社 / 谷口 正純 氏 タカヤ株式会社 / 柳田 幸輝 概要 BGA(Ball Grid Array)部品は、民生品から産業機器、近年では車載機器まで、あらゆる電子機器に使用されるようになった。一方でBGA部品が実装された基板(以下、BGA実装基板と呼ぶ)を確実に検査する方法は確立されていない。これはどのような検査手法にもメリットとデメリットが存在し、1つの検査手法のみで完全なテストを行うことはできないためである。したがって現在、多くの企業でBGA実装基板の検査が課題となっている。今回はそれに対する1つの解として、フライングプローブテスタとJTAG(ジェイタグ)バウンダリスキャンを組み合わせたハイブリッド検査についての最新の技術動向を紹介する。 1,はじめに 2,BGA実装基板の検査と課題 3,電気検査の可能性 4,インサーキットテスト 5,JTAGバウンダリスキャンテスト 6,ハイブリッドテスト 7,まとめ
欧州電子業界雑誌「EPP」に タカヤフライングプローブテスタの特集記事を掲載いただきました。
2023年10月に発行されました欧州の電子業界雑誌「EPP」に、タカヤ フライングプローブテスタの紹介記事を掲載頂きました。 タカヤ株式会社および欧州代理店のシステック・ヨーロッパ社は、ドイツ シーメンス社様と長年にわたるパートナーシップを結んでおります。 シーメンス社様の世界フラッグシップ工場「SIEMENS Karlsruhe」では、現在12台のタカヤ フライングプローブテスタが稼働しており、実装基板の信頼性を確保しています。 APT-1600FD-Aの両面同時検査、新ソフトウェアによる検査プログラムの自動セットアップ、自律型搬送システムAMR(Autonomous Mobile Robot)を用いた基板の自動搬送によって 5日/24時間の完全無人検査を実現されています。 また、OPC UAなどの最新インターフェース規格に対応しており、MESシステムとの連携はもちろんのこと 稼働率のモニタリング・不良統計に基づいた検査プログラム自動切り替え環境を構築されております。 関連リンク、ダウンロードページより是非ご覧ください。
『おかやまテクノロジー展(OTEX)2023』ご来場ありがとうございました。出展製品のカタログをご覧いただけます。
2023年11月7日(火)~8日(水)コンベックス岡山で開催の『おかやまテクノロジー展(OTEX)2023』にて、弊社ブースへお越しいただいた皆様、ありがとうございました。 「もう一度、展示内容をじっくり見たい」「関連カタログやパネルを手元で見たい」というご要望にお応えできるよう、タカヤブースでご紹介した製品カタログ・展示パネルを公開しています。ぜひご覧ください。
タカヤフライングプローブテスタのご紹介です。低抵抗(0.1mΩ~)の測定にチャレンジしています。
タカヤでは、お客様からのさらなるご要望にお応えするため フライングプローブテスタの印加パラメータを調整し、 より低抵抗(0.1mΩ~)を測定できる 独自モードの開発を進めております。*分解能:0.001mΩ フライングプローブテスタは、手で測るタイプの低抵抗計と比較すると 測定プローブから本体までの測定線が長い(5メートル程度)ため、 外部ノイズの影響を考慮したマシン設計が必要ですが、我々は、この点において知見がございます。 また、手でプローブを持って測る場合は、 測定対象にプローブコンタクトする際の力加減・角度・位置が一定ではないため 測定結果のばらつきが発生したり、対象物に与える打痕・ダメージが課題になる可能性がありますが、 弊社のプローブシステムは、ダメージレスコンタクト・高精度コンタクトに定評がございます。 手作業による測定の不確かさを払しょくしたい・測定に手間がかかりすぎているなど、 お困りごとがありましたら 是非お声掛けください。テストトライから喜んでお受けいたします。
「第38回 インターネプコン ジャパン」エレクトロニクス製造・実装展 ご来場ありがとうございました。
当日出展しておりました製品の情報をこちらよりご覧いただけます。 〇産業機器事業部 ・フライングプローブテスタ APT-1600FD-A(実装基板検査装置) 前後装置を連動させた無人連続検査 OPC-UA(OPC Unified Architecture) MES(製造実行システム)と連動 稼働状況をリアルタイム情報収集・管理 〇RF事業部/ソリューション事業部 ・RFID持出管理システム ・RFID UHF帯 常時監視システム ・RFIDを活用した作業実績収集/半導体ICタグ読取 ・RFID×IoT データデバイス「RFID 実績収集システム」 ・バーコードから簡単置換え HIDリーダ・キー入力ツール
第38回 エレクトロニクス実装学会 春季講演大会 発表資料を公開しています。
第38回 エレクトロニクス実装学会 春季講演大会は、2024年3月13日(水)~ 15日(金)に 東京理科大学 野田キャンパスにて開催されました。 当講演大会にて、タカヤ株式会社 産業機器事業部 技術部長 柳田 が、「JTAG検査とフライングプローブテスタを組み合わせたハイブリッド検査システムの最新動向」の講演発表を行いました。 その際の発表資料を公開しましたので、下記、関連カタログのページより是非ご覧ください。 -------- 内容 -------- 実装基板の、確実な実装保証を行うためには、電気試験が不可欠です。しかし、1つの検査手法だけでは十分なテストカバレッジを得られません。この課題を解決するために、フライングプローブテスタとJTAGバウンダリスキャンテストを連携したハイブリッド検査システムをご紹介します。それぞれの検査手法の相互補完によって、高密度実装基板のテストカバレッジを最大限拡大でき、より正確な故障診断が可能になります。
基板製造に新たな革新。生産効率と検査精度の向上を実現!
APT-2600FD は上下のフライングプローブを同時使用した、最大6プロープのコンビネーション検査が行える 次世代のデュアルサイドフライングプローブテスタです。 テストカバレッジ向上と共に、基板反転動作による製品破損リスクを軽減し、検査時間も大幅に短縮します。 高機能な測定システムと多彩な機能を備え、試作から量産までの品質向上に貢献します。 岡山本社/東京支店のデモルームにて、基板を持込み頂いての評価テストを承ります。 検査用プログラム作成、実基板を用いての検査、評価結果のまとめまで一連の流れでテストが可能です。 2025年7月31日(木)、東京都千代田区大手町の経団連会館にて開催された 「第55回 機械工業デザイン賞 IDEA」贈賞式において、 本製品が「日刊工業新聞創刊110周年記念賞」を受賞いたしました。 審査委員より「検査効率と信頼性を両立した設計思想が素晴らしい」との講評をいただき、 当社の技術力と製品デザイン力が広く認められる機会となりました。 ※詳しくは、お気軽にお問い合わせください。
【エレクトロニクス実装学会 2025年度 技術賞 受賞!】【第55回 機械工業デザイン賞 IDEA 受賞!】
タカヤ株式会社は、超高速検査で実装基板の様々な不良を確実に検出する フライングプローブテスタの新モデル「APT-2400F/APT-2600FDシリーズ」を発表しました。 微細な部品配置や接続を高精度にチェックできる 最先端クラスの検査技術を搭載し、 わずかな不良やリスクも見逃さず、製品の品質向上を強力にサポートします。 また、当社独自の制御機構とセンシング技術により、 変動しやすい環境下でも信頼性の高い検査を実現し、 リコールリスクの低減といった品質管理への貢献が期待できます。 さらに、誰でも直感的に操作できるユーザーフレンドリーなインターフェースを採用、 特に労働力不足が深刻化する現場において 負担軽減を図りながらも 高い検査精度を確保でき、生産性の向上に寄与します。 ※詳しくはPDF資料をダウンロードいただくか、お気軽にお問い合わせください。
EMS企業様が抱える課題をタカヤのフライングプローブテスタが解決します。
【EMS企業様への導入実績】 ・基板の試作段階から電気的な検査を行うことで、量産前の品質保証を実現。 ・基板設計や部品選定の最適化を早期に行い、後工程での不良削減に寄与。 【お客様がかかえられていた課題】 治具の再作成コスト: 治具式テスタでは、試作や設計変更のたびに専用の治具を再作成する必要がある。 設計変更のたびに治具の修正が求められ、コストや時間が大幅に増加していた。 設計変更への対応力不足: 従来の検査方法では柔軟な設計変更対応が難しい。 リードタイムが長く、試作段階での迅速な検証が難しい場合があった。
医療機器向け大型基板の検査(バウンダリースキャンとの連携)に、タカヤのフライングプローブテスタを活用ください。
外観検査・非接触スキャン・物理プロービングを組み合わせた検査体制で、医療機器分野での厳しい信頼性基準を満たし、品質向上とコスト削減を両立します。 【導入実績】 ・インライン検査での全数検査を実現し、製品品質を保証。 ・バウンダリースキャン技術との連携により、大型基板や複雑な設計基板での不良検出能力を強化。 【お客様がかかえられていた課題】 APT単体での限界: フライングプローブテスタは電気特性検査に優れるが、BGAやQFPなどピン接続が隠れた部品ではプローブの物理的アクセスが困難。 高密度基板ではプロービングだけでカバーしきれない部分が発生。 AOIでの制約: BGAや大型コンポーネントの下部にある不良(ハンダブリッジや接続不良)を検出できない。 多層基板の内部接続や微小短絡は検知できない。 大型基板では視野を超える部分が発生し、全域を効率的に検査するのが難しい。 大型基板や複雑設計の課題: 大型基板では、AOI・APTの双方で検査時間が増加しやすく、生産性が低下。 高密度実装基板での全数検査には、物理プロービングや非接触検査を組み合わせた効率的な検査体制が必要。
ライティング(LED照明)向け基板検査に、タカヤのフライングプローブテスタを活用ください。
カラーセンサーを活用した自動検査により、目視検査の限界を克服し、品質安定化と効率化を実現します。自動化により作業者の負担を軽減し、一貫性のある検査基準を確立することで、製品の信頼性向上とコスト削減を両立します。 【導入実績】 ・目視検査から自動検査への移行を実施。 ・カラーセンサーを用いた精密な自動検査で、品質の安定化を達成。 【お客様がかかえられていた課題】 作業者の負担: 目視検査では作業者のスキルや経験に依存するため、長時間作業に伴う疲労や集中力低下が問題。 作業者の負担が増大すると、検査精度が低下するリスクが高まる。 判定基準のばらつき: 目視検査では、人による主観的な判定が混在し、品質基準にばらつきが生じる。 一貫性のない判定が、不良品の流出や過剰検査を引き起こす原因となる。 LED特性の確認難易度: LEDの色味や輝度など、微細な特性の判定が目視では困難。 正確な数値基準に基づく検査が求められる。
超精密基板や新素材を使用した高機能基板の検査が可能、プリント回路基板実装検査の新しい基準を確立、業界への貢献を期待
タカヤ株式会社は、「新技術を搭載したフライング式インサーキットテスタの開発」において、その技術的独自性と将来性が高く評価され、一般社団法人 日本電子回路工業会が主催する「第21回 JPCA賞(アワード)」にて 奨励賞を受賞いたしました。 JPCA賞(アワード)は、電子回路技術および関連産業の発展に寄与する優れた製品・技術を顕彰する制度であり、同工業会が主催する展示会「JPCA Show 2025(電子機器トータルソリューション展2025)」の出展者を対象に実施されています。 本賞では、応募された技術・製品に対し『独創性(独自性・オリジナリティ)』『産業界での発展性・将来性』『信頼性』『時世の適合性』といった観点から、学術界・電子回路業界・専門誌編集者などの有識者で構成される選考委員会による厳正な審査が行われます。2025年は 5件の優れた技術・製品が「第21回 JPCA賞(アワード)」として選出されました。当社は昨年に続き、2年連続での受賞となります。 このたびの受賞にあたり、選考委員の皆様をはじめ、日頃よりご支援・ご協力を賜っております関係者の皆様に心より御礼申し上げます。
装置内部の状態を“見える化”。高精細ネットワークカメラで保守支援を効率化
このたび、i-PRO株式会社様の公式ウェブサイトにて、タカヤ株式会社の事例をご紹介いただきました。 当社では、フライングプローブテスタの開発において、装置内部の状況を遠隔から把握し、トラブル発生時の初動対応を迅速化する仕組みの構築を課題としておりました。 この課題を解決するため、最新モデルであるAPT-2400FおよびAPT-2600FDには、i-PRO株式会社製ネットワークカメラを標準搭載しています。 カメラの搭載により、装置内部の状態をリアルタイムで監視できるため、トラブル対応の迅速化や、検査工程における品質管理の高度化を実現しました。 今回の事例では、 カメラ標準搭載に至った背景 製品選定の理由 運用上の工夫 搭載による効果 について、開発担当者の視点から詳しくご紹介いただいております。 下記関連リンクよりご覧ください。
新モデルのフライングプローブテスタ-APT-T400J-国内初公開 全事業部(産業機器・RF・ソリューション・EMS)の合同出展
タカヤ株式会社は、2026年1月21日(水) ~ 23日(金)に東京ビックサイトで開催される、「第40回 ネプコンジャパン-エレクトロニクス開発・実装展」に出展いたします。 <産業機器事業部> 【新モデル】フライングプローブテスタ <APT-T400J シリーズ> 【ハイエンドモデル】フライングプローブテスタ <APT-2600FD シリーズ> ※新モデル「APT-T400J」を国内初公開 <RF事業部 / ソリューション事業部> 【新製品】実績収集用タッチパネル端末 【新製品】UHF帯高出力リーダライタ <EMS事業部> ・システムと自動化技術を融合、省人化を図り高品質で低コストなモノづくりを実現する実装ライン 本展示会へ入場する際には、 下記、URLへ進んでいただき「来場者バッチ」の登録をお願いいたします。 https://www.takaya.co.jp/fa/news/event/nepcon2026/ 皆様のご来場を心よりお待ちしております。 展示ブースでは、製品のデモンストレーションも実施予定です。ぜひお立ち寄りください。