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形状仕上がり検証、実装品質へ寄与！広範囲を短時間で測定することが可能
「3D形状測定(3Dマクロスコープ・レーザ顕微鏡)」では、試料に光を 照射し、非接触で3D測定を行います。 基板の反り、平面度計測、部品や面の形状測定(高さ・角度・半径 等) が測定可能。製品の形状仕上がり検証、実装基板の実装品質へ寄与します。 測定例には、反り測定(基板)、寸法測定(金属部品)、レーザ顕微鏡 による平面度測定(ワッシャ)がございます。 【設備紹介：3Dマクロスコープ(一部)】 ■設備名・型番：ワンショット3D形状測定機 VR-5200 ■メーカ：KEYENCE ■XY可動範囲：184mm×88mm ■Z可動範囲：73mm ■表示分解能：0.1µm ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
基板やコネクタ端子の表面処理などの膜厚測定を、スピーディに行うことが出来ます
当社で行っている「蛍光X線膜厚測定」についてご紹介いたします。 膜厚が既知の標準試料(2種類以上)を測定して、その特性X線の強度から 検量線を作成し、未知試料の膜厚を測定。 基板表面処理(Ni/Au めっき、はんだレベラ)の膜厚測定や、部品電極、 コネクタ端子表面処理の膜厚測定、簡便な定性分析などの用途に好適です。 【設備紹介】 ＜蛍光X線膜厚測定装置＞ ■SFT9550X (日立ハイテクサイエンス製) ・X線管を用いた上面垂直照射方式 ・最大管電圧：50 kV ・最大管電流：1000 µA ・ビームサイズ：φ30 µm ・実測分解能：0.01 µm ・最小測定幅：70 µm ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
メカ及び電気制御はMELSEC iQ-R側のラダープログラムで行います
株式会社星進エンジニアリングでは「測定(WinCPU)」をご提供しております。 計測制御及び計測値の蓄積と上位PCへのアップロードはWinCPU側の Cプログラムで実施。両者の間は共有メモリで通信します。 また、メカ及び電気制御はMELSEC iQ-R側のラダープログラムで行います。 ご用命の際は、当社へお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■メカ及び電気制御はMELSEC iQ-R側のラダープログラムで行う ■計測制御及び計測値の蓄積と上位PCへのアップロードはWinCPU側の Cプログラムで行う ■両者の間は共有メモリで通信 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
レーザ変位計の出力はHP製デジタルマルチメータに入り、PCで読出します
株式会社星進エンジニアリングでは「測定(HTBasic)」を ご提供しております。 ステージを動かしてレーザ変位計でゆがみを計測。レーザ変位計の出力は HP製デジタルマルチメータに入り、PCで読出します。 ご用命の際は、当社へお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■ステージを動かしてレーザ変位計でゆがみを計測 ■レーザ変位計の出力はHP製デジタルマルチメータに入り、PCで読出する ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
鉄道事業者向け建築限界測定器！ 7.6kgの小型・軽量のため、持ち運びが楽で作業員の削減に貢献できます
鉄道事業者、鉄道関連工事者向けの離隔を測定できる「建築限界測定器」です。 トンネル内、ホーム、信号などの鉄道設備、駅の再開発工事に伴う足場、仮設構造物との 離隔測定に使用されることを主な目的としています。 【特長】 ■測定精度 ・限界測定：±3mm ・距離測定：±2mm ・最小表示単位：1mm ■カラーグラフィック液晶搭載 ・現地で測定結果の確認が可能 ■傾斜センサー搭載 ・専用台座でカント計測が可能 ■コンパクト＆省力化 ・拡幅測定機能有り ※詳しくはPDFダウンロードまたはお問い合わせください レンタルにご興味ある方は下記「お問い合わせ」ボタンに、レンタル希望と記載ください。
EN 50332テスト規格をACQUAの自動テストスイートとして製品化しました。
欧州規格EN 50332は、ポータブルオーディオ機器に関連するヘッドフォン、イヤフォン、ヘッドセットの最大音圧レベル及び入力/出力電圧測定方法を規定しています。多くの国でこれらのデバイスを流通させるにはEN 50332への準拠が必須です。 従って、EN 50332への準拠は、民生モバイルエレクトロニクスのすべての製造メーカーにとって重要です。HEAD acousticsは、EN 50332のテスト要件を通話品質分析 システムACQUAの為の自動テストスイートとして製品化しました。
示差走査熱量計(DSC)を使用！プラスチックやゴムの酸化劣化の起こり易さを評価
当社では「酸化誘導時間(OIT)、酸化開始温度(IOT)測定」を 行っております。 「酸化誘導時間」は、酸化反応による発熱が開始する時間で、「酸化開始 温度」は、酸化反応による発熱が開始する温度のこと。 示差走査熱量計(DSC)を用いて、少量のサンプルでプラスチックやゴムの 酸化劣化の起こり易さの評価が可能です。 【測定方法】 ■酸化誘導時間 ・窒素雰囲気中で昇温した後、所定の温度に到達したら酸素雰囲気に 切り替え、一定温度における熱量の時間変化を測定して求める ■酸化開始温度 ・酸素雰囲気下で昇温させながら熱量の変化を測定して求める ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
金型内に取付けた圧力センサーで成形時のキャビティ内圧を測定！
当社で承る「成形収縮率測定」について、ご紹介いたします。 プラスチックの成形収縮率、あと収縮率は成形機の金型や製品設計を 行う上で重要な物性の一つ。 当社は金型内に取付けた圧力センサーで成形時のキャビティ内圧を 測定することにより、ISO(JIS)規格に準拠した成形収縮率の測定が可能です。 ご用命の際は、当社へお気軽にお問合せください。 【概要】 ■測定規格：ISO294-4(JIS K7152-4) ■試験片：60×60×2mmt(ISO 294-3 タイプD2、Axxicon社製金型) ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
成形加工時の成形収縮(ひけ)、反り等を予測！金型設計をする際に必要な情報をご提供
「PVT測定」では、樹脂の溶融～固体状態における圧力(P)、 比容積(V)及び温度(T)の関係を測定します。 炉体内の加熱された試料管に試料を入れ、溶融状態の試料を ピストンにて加圧。 試料の容積変化に伴うピストンの移動変位を測定して比容積 (密度の逆数)の圧力、温度変化を求めます。 【試験モード】 ■熱可塑性樹脂PVT試験モード ・定圧温度変化測定 ・定温圧力変化測定 ■熱硬化性樹脂硬化試験モード(最大加圧力：40MPa) ・定圧温度変化測定 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
耐久性の重要な指標の一つ！へたり具合の指標となる圧縮永久ひずみ
株式会社ロンビックにて承る「圧縮永久ひずみ測定」について、 ご紹介いたします。 サンプル(ゴム、エラストマー)を取り付けたままオーブンや恒温恒湿槽に 入れる事もできるため、使用環境に合わせた温度条件下での圧縮永久 ひずみ測定も可能。 当社では圧縮永久ひずみの測定と併せて、TEMやSEMによる形態観察で モルフォロジーの違いも観察できます。 【測定条件】 ■対応規格：JIS K 6262 ■圧縮率：10％ 15％ 25％ ※IRHDにより決定する ■試験片 ・大形試験片：直径29.0±0.5mm 厚み12.5±0.5mm ・小形試験片：直径13.0±0.5mm 厚み6.3±0.5mm ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
キーエンス ワイドエリア3次元測定器を活用し、海外に赴かず国内で何でも検査測定！製鉄関係のお困りごとお任せください！
品質への信頼性を高めるために、日本国内で検査できる幅を広げられないか というご相談をいただいた事例をご紹介します。 海外で加工するものは、小さいものは数ミリ、大きいものは10mほどになる ものもあり、海外で加工したものを、日本国内に入ってきてから機械に載せ 直して測定や検査をすることは作業的にもコスト的にもとても困難でした。 そこで、ワイドエリア(大きなもの)でも高い精度で測定のできる検査機を導入。 海外に赴いて検査をするか、現地での検査結果を信じるしかなかったこれまで と比べ、大きなものでも国内でしっかり検査できるようになりました。 【事例概要(一部)】 ■ご要望：10mの製品を検査機で測定 ■対応内容 ・ワイドエリア(大きなもの)でも高い精度で測定のできる検査機を導入 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
トライアルでの測定も対応可能！社内の測定負荷が低減、残業等の業務改善を図ることができます
当社では、形状測定・面粗度測定の受託測定サービスを行っております。 検査をアウトソーシングすることにより、社内の測定負荷が低減でき、残業等 の業務改善を図ることが可能。検査スケジュールが重なってしまい、納期に 間に合わない可能性がでてきても、納期通りに出荷する事ができます。 また、検出器の角度を変えられる「FTA-S4D3000-D」を取り扱っております ので、通常斜めに固定する治具がないと測定できないワークも治具を 必要とせずに測定することが可能です。 【製品概要】 ■機器名称：FTA-S4D3000-D ■測定範囲：X100 / Z60 ■重量：30kgまで ■面粗度/表面粗さ/形状測定に対応 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
スナップリング溝などの内径にある溝底径を 誰でも、簡単に、正確に測定できます
内径溝測定用測定子を株式会社南谷製作所で設計製作します。 内溝のR、溝底の角Rなどを考慮して 溝底のストレート面を確実に捉えられるようにします 弊社の多目的キャリパにセットすることで リングマスタとの比較測定も容易になります
比較的低分子量の環状、鎖状シロキサンを含む気体を測定し分離、検出が可能か確認！
低分子シロキサンはシリコーン製品の原料やドライクリーニング用溶媒、 化粧品の添加剤等で広く使用されています。 沸点が高いにもかかわらず揮発性が高い特長を持ち室温においても容易に 気中に拡散し、揮発後の再付着により半導体製造装置のレンズ曇りや 絶縁膜の耐圧低下、接点不良などの悪影響を及ぼすことが知られています。 今回は低分子シロキサンのうち比較的低分子量の環状、鎖状シロキサンを 含む気体を測定し分離、検出が可能か確認しました。詳細は、PDF資料より ご確認いただけます。是非、ご覧ください。 【概要】 ■Sylphによる分析 ・低分子シロキサンのうち環状シロキサン(D3 D4 D5 D6)と鎖状のシロキサン (M2 M3 M4 M5)をアセトン溶媒で希釈し、窒素を封入したガスバッグに注入後、 ガスをSylphに導入し測定 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
反射対物レンズが実現する透明基板の高精度測定
フィルムやガラス等の透明な基板サンプルの場合、基板の裏面からの反射の影響を受けると正確な測定ができません。 OPTMシリーズの反射対物レンズを使用すると、物理的に裏面反射を除去することができ、透明基板でも高精度に測定ができます。 また、フィルムやSiC等の光学異方性をもつサンプルに対してもその影響を受けること無く上面の膜のみの測定を行うことが可能です。 （特許取得済 第5172203号）
