受託測定の製品一覧
- 分類：受託測定
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ディスクリート半導体のIOL試験
当社では「ディスクリート半導体のIOL試験」を行っています。 常温環境下にて通電ON/OFFを繰り返し行い、通電時のデバイス自身の発熱により 温度変化によるストレスをデバイスに加えます。通電OFF時(冷却時)は ファンによる強制冷却も行います。 また、試験実施前に代表サンプルを使用し、試験温度条件に到達するように 調整を行います。加熱時の電流/時間、冷却時のファン能力/ 稼働タイミングなどを調整することが可能です。
パワーデバイスの逆バイアス試験（最大2000V）
株式会社アイテスでは、パワーデバイスの酸化膜及び接合部評価の 高温逆バイアス試験（HTRB）が最大2000Vまで印加できます。 試験中のリーク電流のモニタリングにより､リアルタイムでデバイスの 劣化状況が把握可能｡電源が独立しているために試験中に一つのデバイスが 故障した場合でも他のデバイスに影響を及ぼしません。 また、不良基準（電流値）の設定が可能で不良判定デバイスの電源を 不良判定時に遮断することができます。 【仕様・サービス内容】 ■試験電圧：最大DC2000Vまで印加可能 ■印加電流：最大14mA ■試験数量：最大8個（電源独立） ■対応モジュール：TO-247､TO-220 等（その他のパッケージは接続方法など要相談） ■測定内容：リーク電流のモニタリング ■温度範囲：最大200℃（高温高湿の場合85℃/85％）
計測器のキャリブレーション・バリデーションサポート
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あなたはアメリカ市場ではNRTL（国家認定試験機関）の認証が有効であるという事をご存知ですか？
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計装専門企業だから安心。メーカを問わず一括サービス対応が可能です。
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ソフトの条件設定や解析結果の吟味、ソフトウェアのバグとの格闘から開放され、本来の研究に専念！
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IEC60601-1 第3版、JIST0601-1:2012（IEC60601-1 第3版ベース）の評価が可能です。
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あらゆる環境を想定した試験が可能です。国際・国内規格や社内規格を問いません。第三者評価機関として公正・適正な評価をいたします。
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3Dスキャナーの導入・価格に関することなら株式会社SGSまで！医療業界での活躍が期待される3Dスキャナー
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