重クロム酸法COD測定システム VARIO COD
JIS K0102準拠！排水のCOD管理に
最大15,000mg/Lの幅広い測定範囲に対応します。測定に必要な試薬はすべて調整済みで、試薬入りのバイアルにサンプルを入れ、加熱分解後に測定器で結果を読み取るだけです。
- 企業：セントラル科学株式会社
- 価格：応相談
測定システム - メーカー・企業45社の製品一覧とランキング
更新日： 集計期間:2025年07月02日～2025年07月29日
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測定システムのメーカー・企業ランキング
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- 株式会社ピーテック 大阪府/医療機器
- マーポス株式会社 東京都/試験・分析・測定
- 株式会社テクノ大西 大阪府/電子部品・半導体
- 4 大塚電子株式会社 大阪府/試験・分析・測定
- 5 日東精工アナリテック株式会社 神奈川県/産業用機械
測定システムの製品ランキング
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- 血管年齢測定システム『メディカル・アナライザー』 株式会社ピーテック
- 放射線を使用しない、超音波を利用したフィルム重量測定システム マーポス株式会社
- 面圧力分布測定システム『I-SCAN』 株式会社テクノ大西
- 4 物理特性測定システム PPMS 日本カンタム・デザイン株式会社
- 5 SD式 迅速アルコール測定システム｢SDKシステム｣【動画あり】 京都電子工業株式会社 東京支店
測定システムの製品一覧
286～300 件を表示 ／ 全 300 件
表示件数
表面インテンシティコンパレータ測定システム
モータのライン検査など 暗騒音レベルの高い生産ラインでの「音を用いた良否判定」に最適
表面インテンシティセンサ（マイクロホンと振動加速度ピックアップを一体化したもの）と多チャンネル分析処理器SA-02を使用して、暗騒音レベルの高い生産ラインで音を用いた良否判定を行うことが可能なシステムです。 また、防音設備（無響室や無響箱）を使用しないで測定できるため、安価で効率的なライン検査システムが構築できます。
- 企業：リオン株式会社
- 価格：応相談
膜厚測定システム SKOP
オーシャンオプティクス社分光器を使用した安価・簡易膜厚測定システム！
SKOP (Starter Kit for Optical thickness measurement) 光学式膜厚測定システムは、 光学薄膜の分光反射率を測定し、そのスペクトルを解析することで薄膜の厚みを測定するシステムです。 基板上の薄膜はエタロンとして作用し、反射スペクトルに干渉パターンを引き起こします。 パターンの正弦波ピークの間隔は、材質の屈折率と膜の厚みに相関があります。 SKOPでは干渉パターンを専用のソフトウェアで解析することにより、膜の厚みに換算します。
- 企業：オプトシリウス株式会社
- 価格：応相談
部分放電測定システム
VDE 0434およびIEC60270に準拠した、ラボまたは現場での中高圧部品の部分放電測定用
【構成】 ● 部分放電計 TMG ● PDパルスデカップリング用高電圧カップリングコンデンサ
- 企業：ウェーブクレスト株式会社
- 価格：応相談
ホームセキュリティの自動測定システム『はやぶさ』
人感センサー・動体感知による自動撮影や騒音センサー・証明センサーなどでデーターを測定してサーバーに記録します！
「はやぶさ」で私たちが利用しているエネルギーがあらゆる形に変化し、消えてゆく様子を捕え可視化する事に成功しました。 これを利用した省エネルギーの方法と予知による効率的な保全が可能になりました。 無線端末によるセンサーを使用するので低価格で実現します。 WEBブラウザ上で動作するためソフトのインストールが不要、ＰＣ，携帯電話を端末として利用できます。 電流、電力、温度、湿度、人感など各種センサーが利用できます。 WEBブラウザ上で動作するため、ソフトのインストールが不要です。 サーバー上でデータを自動解析し異常と認められた場合その内容と場所を即刻メールにより通報します。 ●詳しくはカタログをダウンロード、もしくはお問い合わせください。
- 企業：株式会社キャトル
- 価格：応相談
硬度測定システム【山善TFS】
非破壊による金属の全数自動検査を実現！不具合発生時の品質やトレーサビリティの向上に役立ちます
当社で取り扱う、磁気特性を応用した「硬度測定システム」をご紹介いたします。 部品を傷つけることなく検査できるため、部品の廃棄ロスがないだけでなく、 稼働中の設備についても硬さ試験が可能。当システムを使えば、検出センサを 測定対象部に接触させるだけで検査ができます。 また、測定データを蓄積・解析していくことで、品質不具合を予防することが 可能。データが多ければ多いほど解析の精度が高くなり、AIを利用することで 解析コストを小さくできます。 【特長】 ■検査ロス80％以上の削減 ■工程毎のデータ取得 ■データ蓄積・解析による予防 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
- 企業：株式会社山善
- 価格：応相談
固体表面ゼータ電位測定 ゼータ電位・粒子径・分子量測定システム
希薄系から濃厚系の高精度な粒子径・ゼータ電位測定 さらに固体表面、分子量の評価まで 『ELSZneo』
『ELSZneo』は、ELSZseriesの最上位機種で希薄溶液から濃厚溶液での粒子径・ゼータ電位測定に加え、 分子量測定を可能にした装置です。また、粒度分布の分離能を向上させるため多角度測定を採用し、 粒子濃度測定やマイクロレオロジー測定、ゲルの網目構造解析も可能にしました。 平板のゼータ電位測定が可能な平板セルユニットは、新開発した高塩濃度対応 コーティングにより、生理食塩水などの生体模擬環境下での測定が可能です。 【特長】 ■希薄から濃厚溶液(～40%)まで幅広い濃度範囲の 粒子径・ゼータ電位測定が可能 ■多角度測定により、分離能の高い粒子径分布の測定が可能 ■平板状サンプルのゼータ電位を講演濃度環境下で測定が可能 ■静的光散乱法を用いて粒子濃度の測定が可能 ■動的光散乱法によりマイクロレオロジー測定が可能 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
- 企業：大塚電子株式会社
- 価格：応相談
紫外放射照度測定システム MCPD series
紫外域でも高精度な測定を実現！高斜入射特性など用途にあった照度ヘッドを選択可
『MCPD series』は、紫外から可視と幅広い波長範囲をカバーする 紫外放射照度測定システムです。 ソフトウェアでサンプル点灯電源、測定計器を一括制御、 L-I-V測定、パルス点灯測定、サンプル温調測定にも対応可能。 検出器は発光体測定、反射・透過測定、インプロセス測定で 多数の実績がある高性能な分光光度計です。 【特長】 ■装置校正用の標準ランプはJCSS校正事業者登録の自社部門より供給 ■光合成研究に欠かせないPFD、PPFDも測定可能 ■高斜入射特性など用途にあった照度ヘッドを選択可 ■紫外から可視と幅広い波長範囲をカバー ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
- 企業：大塚電子株式会社
- 価格：応相談
分光配光測定システム『GP series』
分光放射強度の角度分布を測定し、配光特性(光度・色度など)を評価！
『GP series』は、最大2400mmのLED照明器具の配光測定に対応した 分光配光測定システムです。 角度ごとの分光分布測定結果から分光全放射束、全光束、色度、 色温度などを計算可能。 また、オプションで紫外域・近赤外域の配光測定にも対応できるほか、 国家基準にトレーサブルな校正サービスを提供(JCSS校正サービス)します。 【ラインアップ】 ■GP-500 ■GP-1100 ■GP-2000 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
- 企業：大塚電子株式会社
- 価格：応相談
分光全放射束測定システム HM/FM series
IESNAのLM-79とLM-80に準拠した測定システム！分光全放射束測定の様々な要望に対応
当社で取り扱う、分光全放射束測定システム『HM series/FM series』 をご紹介いたします。 積分半球仕様の「HM series」は、 光源の点灯姿勢が変更できるため、 実使用条件下での測定が可能。発光部以外を積分空間より排除、吸収誤差 を解消します。 また、積分球仕様の「FM series」は、積分球に設置した補正用ランプを 使用し、自己吸収を補正するほか、紫外域・近赤外域にも対応します。 【HM seriesの特長】 ■積分空間の半減で明るさ(感度)が2倍 ■面発光光源の分光全放射束測定に好適 ■発光面以外を積分半球の外に配置できるため、サンプルの温調が容易 (高出力光源にも対応) ■サンプル光源自身の影の影響を排除できるため、大型サンプルに好適 (積分球直径の1/3まで対応) ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
- 企業：大塚電子株式会社
- 価格：応相談
ロードポート対応膜厚測定システム『GS-300』
半導体工場の膜厚ニーズに合わせたインテグレーションが可能！
『GS-300』は、小フットプリント仕様のロードポート対応膜厚測定 システムです。 φ300mmEFEMユニット予備ポートへのインテグレーションに対応。 ウェーハに埋め込んだ配線パターンアライメントを実現します。 また、半導体プロセスの高スループット要求に対応しております。 ご用命の際は、当社へお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■φ300mmEFEMユニット予備ポートへのインテグレーションに対応 ■ウェーハに埋め込んだ配線パターンアライメントを実現 ■半導体プロセスの高スループット要求に対応 ■小フットプリント仕様 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
- 企業：大塚電子株式会社
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分光配光測定システム
光源や照明器具の配光特性を測定する装置です
自社開発分光器と２軸のゴニオメータを使用することで照明器具やランプの配光データと一緒に光源色データを高精度に測定することを実現しました。室内照明から投光器まで幅広い照明器具を取り扱え、マルチパーパスな要求に応える装置です。角度ごとの分光測定でも照度計タイプのV(λ)受光器と同等の高速測定を実現しました。配光測定結果から照明率解析も可能です。また、球帯係数法により分光全放射束と全光束および色度、色温度などの光源色データを求めることができます。本システムは、北米照明学会（IES）のLM-75のType B、Type Cに対応しています。更に、システムの校正に欠かせない光度標準ランプは、光のJCSS登録事業者である弊社の光計測評価センターより供給可能です。
- 企業：大塚電子株式会社
- 価格：応相談
クラウド型工事用波高測定システム『QT-200WT-10』
表示項目は有義波高・周期、平均波高・周期、最大波高・周期！
当社では、クラウド型工事用波高測定システム『QT-200WT-10』 を取り扱っております。 護岸壁・堤防などに簡易的に設置して波高を常時測定。工事中の 波高管理に好適で日常の保守は不要、無線通信、バッテリ駆動、 設置が容易です。 ご用命の際は、当社へお気軽にご相談ください。 【レンタル機器構成】 ■超音波式波高検出部(超音波センサー＋計測・送信Box) ■簡易型岸壁設置ベース(アンカーボルトNG 現場用オプション) ■ソーラー発電パネル ■クラウドサーバー使用料(通信費用込み) ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
- 企業：合同会社クリオテクノス
- 価格：応相談
レーザー断面形状測定システム『PML』
非常に軽く、持ち運びに便利！高い操作性、全ての軌間に対応可能
『PML』は、測定結果のエクスポート(PDF)が可能な レーザー断面形状測定システムです。 測定は短時間。測定後の評価は数秒で完了し、レールの 現状プロファイルと基準プロファイル比較をプレビュー表示。 削正車両に搭載し、使用可能で、車両に搭載した場合でも、 データの取り込み・評価をハンドタイプ同様に簡単に可能です。 【特長】 ■レーザー断面形状測定 ■EN13231-2：2020準拠 ■高性能のタブレット ■様々な軌間に対応 ■削正量測定 ■高い操作性 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：日本プラッサー株式会社 本社
- 価格：応相談
固定式波状摩耗測定システム『RM1200D』
各軌間に対応！簡単操作で効率よく、レールの長手方向凹凸と溶接部を測定
『RM1200D』は、高性能タブレット付き固定式波状摩耗測定システムです。 軌道上ですぐに使い始めることができ、測定は数秒で完了。 測定キャリッジは手回しクランクで1200mmの測定距離の上を移動させ、 高分解能のタッチプロープがレール表面のプライマリプロファイルを 2mm間隔で測定します。 測定データは、ソフトウエア「RMDcatcher」を使って屋外向け 高性能タブレット「MiniPad」にリアルタイムで表示。測定後、 データはCSV形式でエクスポートすることができます。 【特長】 ■波状摩耗と溶接部のデジタル測定 ■欧州規格 EN13231-2：2020とドイツ鉄道規定集 Ril824.8310：2017に基づく評価 ■測定値をリアルタイムで可視化 ■全自動タイプ(オプション) ■ドイツ鉄道認定製品 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：日本プラッサー株式会社 本社
- 価格：応相談
