微小部X線回折測定
X線モノキャピラリと半導体検出器との組み合わせ！微小領域の構造解析や微小部分析の測定速度を大幅に向上
X線回折（XRD）は、結晶性物質にX線を照射したときに起こる回折現象を ピークとして捉え、そのパターン、ピーク幅、強度等からその物質の 化合物種の同定や結晶構造に関する情報を得ることが出来ます。 「微小部X線回折装置」では、X線モノキャピラリと半導体検出器との 組み合わせにより、微小領域の構造解析や微小部分析の測定速度を 大幅に向上。 微小物質の化合物形態、残留応力測定等の微小部分における各種調査に 応用出来ます。また、モノキャピラリにより、照射X線を100μmまで 絞ることで、サンプルを100μmの領域で構造解析することが可能です。 モノキャピラリは、全反射によってX線を取り出すため、X線の減衰が 少なく微小部分析に有効です 【特長】 ■微小部分における各種調査に応用可能 ■サンプルを100μmの領域で構造解析することが可能 ■X線の減衰が少なく微小部分析に有効 ■特定部位における測定に有効 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい
- 企業：川重テクノロジー株式会社
- 価格：応相談
