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卓上でナノスケールを！1つのベンチトップに4つのイメージングモードを搭載しています
『LVEM 5』は、1つのベンチトップ機器に4つの異なるイメージング機能を シームレスに組み合わせている為、顕微鏡間で試料の移動が不要な 卓上低電圧電子顕微鏡です。 さらに、ボタンをクリックするだけでTEM, SEMおよびSTEMモードで 試料の同じ関心領域を画像化できます。 【特長】 ■高コントラスト ナノスケールイメージング ■独自のベンチトップ設計 ■シンプルなワークフロー ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
目視によるパネル製品の外観検査の作業内容をご紹介します。
田所製作所では、神奈川県相模原市において、お客様の製造ラインの一部を承り、各種検査、梱包、組み立てなどを請け負っております。 特に外観検査部門では、クリーンブース（クラス1000；１基：45平米）を４基完備し、顕微鏡（8〜35倍）、拡大鏡（2〜6倍）、目視にて、外観上の不具合を選別しております。 工数、場所、コストの面から外注化をお考えの際にはご用命ください。 【特徴】 ○固定費削減 ○管理費削減 ○スペースの有効活用 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
専用検査治具による安全衛生製品の輸入品外観検査の作業内容をご紹介します。
田所製作所では、神奈川県相模原市において、お客様の製造ラインの一部を承り、各種検査、梱包、組み立てなどを請け負っております。 特に外観検査部門では、クリーンブース（クラス1000；１基：45平米）を４基完備し、顕微鏡（8〜35倍）、拡大鏡（2〜6倍）、目視にて、外観上の不具合を選別しております。 工数、場所、コストの面から外注化をお考えの際にはご用命ください。 【特徴】 ○固定費削減 ○管理費削減 ○スペースの有効活用 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
安全衛生製品への検品作業と日本語ラベル貼付の作業内容をご紹介します。
田所製作所では、神奈川県相模原市において、お客様の製造ラインの一部を承り、各種検査、梱包、組み立てなどを請け負っております。 特に外観検査部門では、クリーンブース（クラス1000；１基：45平米）を４基完備し、顕微鏡（8〜35倍）、拡大鏡（2〜6倍）、目視にて、外観上の不具合を選別しております。 工数、場所、コストの面から外注化をお考えの際にはご用命ください。 【特徴】 ○固定費削減 ○管理費削減 ○スペースの有効活用 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
非常に優れた分解能、スピード、操作性、柔軟性を備えた、大型サンプル対応ステージ型 AFM/SPM（原子間力顕微鏡）
Jupiter XR 原子間力顕微鏡は、スキャナを交換することなく、単一スキャナで「超高分解能」「高速イメージング」「広域スキャン」に対応した業界初の大型試料対応AFM/SPMです。試料ステージは200 mm試料全域へのアクセスを可能にし、Cypher AFM (2007年発売) で培われた卓越した基本設計と操作性、さらに光熱励振 『blueDrive』を踏襲しました。分析分野や産業R&D・学術研究分野など、多様なサンプル・アプリケーションが要求される用途において、高いレベルでバランスの取れたJupiter XRは最良の選択です。
高分子材料研究に最適な測定モードやオプションを標準装備！超高性能環境制御搭載AFM/SPMがベースのポリマー用原子間力顕微鏡
Cypher ES ポリマーエディションは、アサイラム・リサーチの超高性能 AFMに洗練された環境制御をプラスしたCypher ESがベースとなっており、ポリマー材料研究や高分子キャラクタリゼーションに最適な測定モードやオプション（下の”基本情報”参照）があらかじめ標準装備されています。 ●その他機能や詳細についてはカタログをご覧頂くか、お問い合わせください。
省スペースかつ、見事なパフォーマンス。生細胞の共焦点イメージングに好適です。
『BC43』は、ボタンを押すだけで素晴らしい画像を提供できる ベンチトップ型共焦点顕微鏡です。 このプラグアンドプレイ共焦点システムは、コスト、パフォーマンス、 アクセシビリティを念頭に置いて設計され、使いやすい高品質の2Dおよび 3Dイメージング機能が研究者の貴重な時間を節約します。 また、たくさんの機能と利点があり、研究を始めたばかりの方、顕微鏡に 習熟されていらっしゃる方両方にとって理想的な製品です。 【特長】 ■ベンチトップ型マルチモーダルイメージングシステム ■簡単共焦点：ぼけのないイメージング ■Widefield イメージング ■微分位相差コントラストと明視野 ■Borealis 均一照明 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
一冊のアプリケーションノートに集約！バッテリー材料の開発と品質管理を加速する評価・分析ソリューションをご紹介
当資料では、相関性のある材料特性評価等が、 研究、製造、そしてサプライチェーン全体のスループット改善にどのように 役立つか等、各種アプリケーション例についてご紹介しています 「NCM正極材料のグレインサイズと集合組織の測定」や「ラマン相関RISE 顕微鏡によるリチウムイオン電池の研究」についてなどを豊富にご紹介。 【掲載内容(抜粋)】 ■はじめに ■バッテリーアプリケーション ■鉱山から工場まで ■リチウムイオン二次電池における導電性材料のESM測定 ■電解質設計のための卓上型多核NMR ※【資料】アプリケーションノート：バッテリー材料分析編を無料プレゼント！ PDFをダウンロードしてご覧ください。お気軽にお問い合わせ下さい。
24ページに集約！医薬品・化粧品・バイオイメージングに関するソリューションをご紹介
当資料では、生体構造の 可視化や医薬品・化粧品の開発・製造など先端の研究開発にどのようにして 寄与しているかについてご紹介いたします。 【掲載内容(抜粋)】 ■はじめに ■共焦点ラマン顕微鏡による医薬品の化学的特性評価と相関技術 ■AFMを用いた化粧品分野の分析例 ■練り歯磨き中のフッ素含有量の測定 ■バイオイメージング ※アプリケーションノート：ライフサイエンス編を無料プレゼント！ PDFをダウンロードしてご覧ください。お気軽にお問い合わせ下さい。
透過型電子顕微鏡(TEM)でサンプルの微細構造がナノレベルで観察が可能に！
弊社では、高精度なTEM観察用薄片サンプル作製と高度なTEM観察技術から鮮明なサブナノオーダーの構造観察が可能です。
さまざまな組み合わせが可能な顕微鏡！ワイヤレス送信ができるレンズカメラもご紹介！
『メジャースコープ』は、さまざまな工業関係の生産・加工・検査工程に 必要不可欠な顕微鏡です。 工作機械や測定器・各種装置の位置決め・セッティング等、光学的に サポートする周辺機器としても利用価値の高い製品。小型で使いやすく、 目視検査からモニター観察・画像計測・デジカメ写真撮影まで 多様な用途でご利用いただけます。 【メジャースコープ 特長】 ■レンズ系は明るく実視野が広い完全正立像式の顕微鏡 ■工業用に好適な長作動距離・同焦点（対物レンズ 2×～1 0×）に設計 ■接眼ミクロメーターを交換するだけで、各種測定・検査・芯出し・ 位置決めなどさまざまな用途への対応が可能 ■対物レンズは微細な倍率補正が簡単にできる金枠機構 また、メジャースコープに装着すれば、対象物と目盛ガラスを タブレット端末などに映し出して画面を見ながら測定、検査、位置決めが できる『デジタルキャッチ』も取り扱っています。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
製品の選定～組み合わせのご提案、実機検証の代行まで すべて無料！
株式会社ミラック光学の製品活用ご提案・検証代行サービスでは、お客様の様々なお悩み・ご相談に、営業担当者ではなく、ミラック光学の設計エンジニアが個別にご対応します。 蓄積してきたノウハウを活かし、お客様の課題を解決するベストなご提案をいたします。 【こんな方にオススメ】 ○たくさんのミラック製品の中から、どれを選べばいいか分からない… ○作業条件や対象のワークにマッチする、 ベストな製品の組み合わせを提案して欲しい ○ワークの実物を郵送するので、適した機器構成でテストしてみて欲しい ※詳しくはお問い合わせください。
画鋲形状検査やゴム製品のバリ検査などでの使用事例をご紹介します。
さまざまな工業関係の生産・加工・検査工程に必要不可欠な顕微鏡、その顕微鏡の使用事例をご紹介いたします。 工作機械や測定機・各種装置の位置決め・セッティング等、光学的にサポートする周辺機器としても利用価値の高い製品です。 小型で使いやすく、目視検査からモニター観察･画像計測・デジカメ写真撮影まで多様な用途でご利用いただけます。 【使用事例】 ○画鋲（ピン）形状検査 ○ゴム製品のバリ検査 ○ゲート除去残り検査 ○クラック検査設備 ○ピン先端角度検査 ※詳しくはPDFダウンロード、もしくはお問い合わせください。
さまざまな工業関係の生産・加工・検査工程に必要不可欠な顕微鏡！総合カタログ無料配布中！
メジャースコープは、さまざまな工業関係の生産・加工・検査工程に必要不可欠な顕微鏡です。工作機械や測定機・各種装置の位置決め・セッティング等、光学的にサポートする周辺機器としても利用価値の高い製品です。小型で使いやすく、目視検査からモニター観察 ･ 画像計測・デジカメ写真撮影まで多様な用途でご利用いただけます。 さまざまな機種やアクセサリー類をきめ細かく豊富に取り揃え、幅広いニーズに低価格でお応えいたします。 【特長】 ・レンズ系は明るく実視野が広い完全正立像式の顕微鏡 ・工業用に好適な長作動距離・同焦点（対物レンズ２×～１０×）に設計 ・接眼ミクロメーターを交換するだけで、各種測定・検査・芯出し・位置決めなどが対応カ脳 ・対物レンズは微細な倍率補正が簡単に出来る金枠機構 ※詳しくはPDFダウンロード、もしくはお問い合わせください。
単眼顕微鏡「メジャースコープ」の賢い使い方はこちら！
１．工作機械用セッティングゲージとして、工具補正と同時に刃先チェックや芯出しチェックを行えます。 ２．小型自動旋盤機用ツールプリセッターとして、ツールホルダー（刃物を固定する部品）とツールプリセッター（顕微鏡を見ながら刃物を正確に取り付ける装置）により、刃物の取り付けを機外で行えます。
離れた位置から観察できる！長焦点顕微鏡
１．作動距離が長い光学系を必要とする用途に最適 ２．機械・装置上に取り付ける場合、離れた場所に設置可能 ３．フレキシブルアームで自在なセッティングが可能 ４．光学系は単体でのご購入も可能 ５．光学系は目視観察タイプ・Cマウントタイプの2種類をラインナップ
何処にでも連れて行ける奥行き幅、共に１５ｃｍの超小型ＡＦＭ
原子間力顕微鏡「ハンディＡＦＭ」は、高倍率の光学顕微鏡の変わりに使用できます。測定モードも標準で、スタティックフォースモード、ダイナミックフォースモード、フェイズコントラスト、位相測定、フォースモデュレーション、スプレッディングレジスタンス、外部入力が可能です。走査ヘッドは、高分解能、広域タイプの２種類が選択でき、その交換も、瞬時に行えます。プローブの交換も数秒です、交換後の調整は全く必要有りません。また、カーボンナノチューブプローブもオートアプローチが可能です。スキャンに電磁スキャナー（特許取得済み）を使用することにより、スキャン時にワークを移動させることが有りません。一般にＡＦＭで使用されているピエゾの持つ、非線形クリープ、経年変化は有りません。オプションで、小型の自動ステージとの組み合わせも可能です。詳しくはカタログをダウンロードしてください。
非破壊でナノメートル以下迄の３次元測定が可能な唯一の顕微鏡
原子間力顕微鏡「ステージ付ＡＦＭ」は、大気中にて、非破壊でナノメートル以下迄の３次元測定が可能な唯一の顕微鏡です。サンプルを傷つけることなく、測定が可能です。電磁スキャナーを使用することにより、非戦形クリープや経年変化を気にせず、長期に渡り安定測定が可能になりました。大型ステージ付きで、ワークを切断することなく、サンプルをセットするだけで非破壊で測定可能です。測定モードも多種用意されており、高価なＡＦＭ装置と同等の機能を有します。測定ワークの材質に関係無く、導体から絶縁体迄、コーティング無しで、ナノレベルの測定が直ぐに可能です。詳しくはカタログをダウンロードしてください。
顕微鏡カメラでモニタして、パターンズレや通り違いを検査！
アローズエンジニアリングでは、アイティ・テック社製の MEMS顕微鏡を取扱っています。 『TMIR-2000』は、MEMSウエハを上下両面から顕微鏡カメラでモニタして パターンズレや通り違い検査ができます。 新開発ソフトで2カメラの光軸をアライメントとリアルタイムで合成で 上下の重なりズレをダイレクトに写します。また、自動線幅測定で マークズレをサブミクロン測定します。 【基本構成（抜粋）】 ■MEMS 顕微鏡 本体 ■三眼鏡筒 ■接眼 10 倍 ■XY ステージ ■カラーカメラ2台 ■検査 PC/19型モニタ/MEMS 検査ソフト 他 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
倍率は30倍、光源が内蔵され、塗膜の欠陥や表面の清浄性の検査に好適！
Elcometer株式会社では、『ポケット顕微鏡(30倍) 7210』を 取り扱っております。 倍率は30倍、光源が内蔵され、塗膜の欠陥や表面の清浄性の検査に好適。 現場での検査に便利なポケットサイズの顕微鏡です。 ご用命の際は、当社へお気軽にお問い合わせください。 【仕様】 ■電源：AA乾電池2本 ■寸法：140x50x22mm(5.5x2x0.9インチ) ■重量：68g(0.14ポンド) ■内用品：Elcometer 7210ポケット顕微鏡、AA乾電池2本、取扱説明書 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
応用範囲が広い光学顕微鏡観察からSEM観察、EDX元素分析までの流れをご紹介！
解析手法の基本的で応用範囲が広い光学顕微鏡観察からSEM観察、 EDX元素分析までの流れをご紹介致します。 光学顕微鏡による観察は基本的な観察手法の一つであり、大まかな 形状観察等を素早く行えます。また、特長は色情報が得られる事で、 腐食等の変食を伴う異常の観察に活躍。 当資料では、この他にも「SEMによる観察」や「EDXによる元素分析」を 写真やグラフを用いて詳しく解説しております。 ぜひ、ご一読ください。 【掲載内容】 ■光学顕微鏡による観察 ■SEMによる観察 ■EDXによる元素分析 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
光学顕微鏡とSEMを同じサンプルで比較！メリット、デメリットを挙げて解説します
試料の観察には光学顕微鏡とSEM（走査電子顕微鏡）がよく用いられますが、 それぞれ特長があるので目的に応じた装置を選択する事が大切です。 当資料では、光学顕微鏡とSEMを同じサンプルで比較し一般的に言われている メリット、デメリットをご紹介。 ぜひ、ご一読ください。 【掲載内容】 ■光学顕微鏡の特長 ・メリット／デメリット ・こんな観察にお勧め ■SEM（走査電子顕微鏡）の特長 ・メリット／デメリット ・こんな観察にお勧め ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
超音波が透過するものであれば、外観から確認できない内部の情報を確認できます！
超音波顕微鏡による金属板越しの接着状態観察した事例を ご紹介します。 超音波顕微鏡は、超音波が透過するものであれば、外観から 確認できない内部の情報を確認することが出来ます。 信頼性試験後にチップが外れた試料にて、金属板に残っている 接着材の状態を金属板側から観察してみました。観察内容や 結果についてはPDF資料をご覧ください。 【事例概要】 ■金属-チップ間にある接着層の状態観察 ■金属と接着材の密着状態の観察 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
超音波の性質を顕微鏡の観点から言えば、分解能の良い計測が可能なことを意味します。波の性質を利用して指向性を高めることも可能です。
一定周波数の電気信号の送信波をパルス発生器でパルス状に整形後、トランスデューサによって、 電気信号から機械振動（超音波）に変換します。発生させた超音波を音響レンズによってサンプル観察面に照射します。 サンプルからの超音波の反射波や透過波を再度電気的な受信信号に変換後、画像処理を行い観察します。 反射波を利用するものを反射型、透過波を利用するものは透過型と呼びます。 クオルテックでは、いずれの方式も対応が可能ですが、実用性の面から反射型を用いる場合が多いです。 【観察の特長】 ■試料の光学的な性質に左右されず、試料表面だけでなく、表面下の内部構造も非破壊で観察する事が可能 ■空気中の界面での反射が大きいことから、パッケージなどの空隙やクラックを高感度で観察できます。 また、異常箇所（空隙など）の判定は、各箇所における超音波の反射波の形状から判定 ■X線透視顕微鏡では確認できない有機物の観察が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
極小に絞った電子ビームを試料に照射！試料内部の原子像分布・形態などを画像化
当社で行っている「STEM(走査型透過電子顕微鏡)分析法」について ご紹介いたします。 原子像やサブnmオーダーで物質の構造を捉えることが出来、 明視野観察で構造情報を、暗視野像やHAADF像観察で物質の密度・ 元素情報を得ることが可能。 また、物質界面などの極微小領域での結晶状態・結晶方位を直接的に 観測することが出来ます。 【特長】 ■原子像やサブnmオーダーで物質の構造を捉えることが出来る ■物質界面などの極微小領域での結晶状態・結晶方位を直接的に 観測することが出来る ■高面分解能画像観察により結晶欠陥を直接観察することも可能 ■極微小領域での元素・組成情報を得ることが出来る ■SEM-EDS法では検出できない微小領域や微量の分析が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
最大200nAの照射電流は、各種マイクロアナリシスに対応！分析能力も強化
広視野全体像から表面微細構造まで、短い時間で多くの情報を取得できる 「FE-SEM」を導入した事例をご紹介いたします。 表面微細構造、組成、結晶学的情報、形状情報など多彩な イメージング能力を装備。 複数の二次電子信号や反射電子信号が同時に取得でき、これまでより 短い時間で多くの情報を得られるようになりました。 【事例概要(抜粋)】 ■導入製品：HITACHI製SU7000 ・電子源：ZrO/Wショットキータイプエミッター ・二次電子分解能：0.8nm(加速電圧 15kV)、0.9 nm(加速電圧 1kV) ・加速電圧：0.1～30kV ・倍率：20～2,000,000倍(装置スペック) ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
高倍率観察(30万倍程度まで)が可能
SEMは、電子線を試料に当てた際に試料から出てくる電子の情報を基に、試料の凹凸や組成の違いによるコントラストを得ることができる手法です。 ・簡単な操作で高倍率観察(50万倍程度まで)が可能 ・二次電子（Secondary Electron;SE）像、反射電子（BackScattered Electron;BSE）像、透過電子（Transmitted Electron;TE）像の観察が可能 ・加速電圧0.1～30kVの範囲で観察が可能 ・最大6インチまで装置に搬入可能（装置による） ・SEMにオプションを組み合わせることにより、様々な情報を得ることが可能 EDX検出器による元素分析が可能 電子線誘起電流（EBIC）を測定し、半導体の接合位置・形状を評価 電子後方散乱回折（EBSD)法により、結晶情報を取得可能 FIB加工とSEM観察の繰り返しにより、立体的な構造情報を取得可能（Slice & View） 冷却観察・雰囲気制御観察
ナノスケールの凹凸形状を三次元的に計測
AFMは、微細な探針で試料表面を走査し、ナノスケールの凹凸形状を三次元的に計測する手法です。 ・金属・半導体・酸化物など、絶縁体から軟質の有機物まで幅広い試料を測定可能 ・接触圧力が弱いタッピングモードを用いることで、試料ダメージを最小限に抑えることが可能
