半導体検査/試験装置の製品一覧

  • 分類:半導体検査/試験装置

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【重量物の取り扱いによる作業負担を軽減!】お客様の課題を解決した導入事例5選を収録!ワークに応じた無料相談、テストも受付中!

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JIS・ISO規格の解説資料進呈。豊富な製品シリーズから好適な安全柵をご提案!デモキット無料貸出。

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  • その他安全・衛生用品

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最大12インチのウェハ上のバンプのシェア、ツィーザープルテストに最適なボンドテスター

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  • 半導体検査/試験装置

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テクノアルファはワイヤボンダのシェアで世界トップクラスを誇るK&Sのワイヤボンダ、及びワイヤボンダ用消耗品の日本代理店です。

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ナノメートル精度のポジショニングステージ。半導体検査装置、半導体製造装置に!

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  • 半導体検査/試験装置

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【2025年11/12(水)~11/14(金)】第25回 Photonix / 光・レーザー技術展 出展のお知らせ

ハイウィン株式会社は、幕張メッセにて開催される 第25回 Photonix / 光・レーザー技術展 に出展いたします。 本展では、ナノ精度位置決めステージや、超薄型DDモーター搭載の精密位置決めステージを出展。主力製品の機械要素部品では、ステンレス製リニアガイドウェイやコンパクトかつ静音のボールねじSuperZシリーズなどをご覧いただけます。 半導体製造大国である台湾にグローバル本社を置くハイウィンは、半導体・LED・FPD産業向けにコンポーネントからサブシステムまでトータルでご提案。他社には真似できない多彩な製品ラインアップで課題解決に貢献します。

高温ガラス工程の外観・欠陥検査や、半導体ラインの欠陥・位置決め検査などに!SWIR 2K×1・110kHzの高速ライン検査

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  • 半導体検査/試験装置

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基板通電検査・外観検査システム、FA自動化までフルサポート! TAIYO FPC SOLUTIONS!

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ハイコストパフォーマンス ミックスドシグナルテスター

  • 半導体検査/試験装置

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通常の動作での寿命を予測!環境温度やスイッチング周波数等を任意に設定できる

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静電気が電子機器や半導体部品に放電した際の耐性を、様々なモデル法を用いて幅広く評価します

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  • 受託測定

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寿命10年を想定した場合、試験デバイスのゲート電圧を、20V以下で使用することが必要

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  • 半導体検査/試験装置

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パワー半導体の定格限界での信頼性評価や、定格オーバー条件でパワー半導体の実力を評価!

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恒温槽を使用することで、より強い付加を加える事が可能!信頼性試験をご紹介

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試験を実施するにあたりどの方法で測定するのかを選択することが重要な要素!

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当社で保有する装置は、半導体や多層の基板評価等に適した試験装置です!

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  • 半導体検査/試験装置

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炭化ケイ素、窒化ケイ素はJFCにお任せ下さい

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4/5~7 東京ビッグサイト 2017高機能セラミックス展に出展しました

~多くの方にご来場いただき、ありがとうございました。~ 4月に東京ビッグサイトで開催される『高機能セラミックス展』に出展いたします。 弊社ブースでは、  ●割れにくいセラミックス『窒化珪素』をさらに割れにくくし、熱伝導率を高めた新製品  ●アルミの軽さで鉄よりもたわまない新素材    『金属とセラミックスの複合材料』  ●薄膜・成膜技術を特長とする『セラミックス基板』 を展示いたします。 装置設計・部品設計・熱設計などお困りなことがございましたら、是非、弊社ブースにお立ち寄り頂き、ご相談ください。お待ちしております。

1 mあたりの計測誤差0.1 nm。精密干渉計測用光源として大手メーカーに2,000台超の納品実績を保有。

  • 光学測定器
  • 半導体検査/試験装置

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10⁻¹¹の周波数安定性。スマホ・車載用レンズ、半導体ウェハー向け精密干渉計測用光源として大手メーカーに2000台超の納品実績。

  • 光学測定器
  • 半導体検査/試験装置

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幅広い分野のナノメートル計測に。精密干渉計測用光源として大手メーカーに2,000台超の納品実績を保有。

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  • 半導体検査/試験装置

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【半導体不足】が叫ばれている今、その原因についてまとめた資料を無料でダウンロードしていただけます。

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  • 半導体検査/試験装置

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*ハイエンドモデル                            優れた安定性と作業時間の時短を徹底的に追求したハンドラ

  • 半導体検査/試験装置
  • テスタ

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イオンクロマトグラフィーによる半導体製造用【高濃度水酸化ナトリウム】溶液中の陰イオンの定量

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  • 半導体検査/試験装置

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*フラグシップモデル                           優れた安定性と作業時間の時短を徹底的に追求したハンドラ

  • 半導体検査/試験装置
  • 基板検査装置
  • 試験機器・装置

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半導体産業向け!プロセス分析計 / オンライン分析計で現像液中の水酸化テトラメチルアンモニウム(TMAH)をモニタリング!

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  • 分析機器・装置
  • ウエハー
  • 半導体検査/試験装置

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FIBによる高品質な回路加工、配線加工サービスを提供します。高い加工歩留りを実現しています!

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  • 半導体・IC
  • マイクロコンピュータ

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半導体メーカの供給停止、自動車産業EV化、5G通信普及。 急遽必要になった代替品評価、真贋判定のための評価、故障解析に追いついていますか?

5G通信の普及、自動車業界のEV化、某半導体メーカーに代表される米中貿易摩擦の激化によるメーカーの供給停止、新型コロナウイルス感染拡大の影響によるデジタル製品の急増等、様々な社会現象が半導体の需要を高めています。それらに伴い半導体供給リスクの加速が進んでいます。 新規品の採用に加え、既存品・流通品の評価も必要・・・、新規採用・製品評価にかかわる人員は限られてる。こんなお困りごとはありませんか? ・半導体部品を採用評価するノウハウがない ・代替品の評価をしたいが人や設備が足りない ・在庫品、市場品を使用したいが信頼性に不安がある ・納入された半導体製品が、偽造品なのか正規品なのかわからない ユーロフィンFQLでは、長年の部品評価、故障解析にかかわった経験を活かし、半導体の評価はもちろんのこと、故障解析を受託しています。また、偽造品、模倣品や長期保存品の使用を判断するための真贋判定の一助となる、流通品評価も受託致します。是非お問い合わせください。

イオンクロマトグラフで中和とマトリックス除去を伴う濃縮工程を自動化して半導体製造で使用する高純度水酸化アンモニウムの不純物を測定

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  • 分析機器・装置
  • イオンクロマトグラフ
  • 半導体検査/試験装置

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半導体製造向け過酸化水素トリメチルアミンと標準陽イオンの測定をイオンクロマトグラフィー法で測定

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両面実装基盤の表面のみ検査が可能!3D断層検査にも対応 ※詳細解説資料進呈

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シリコンウェーハ内部の結晶欠陥ボイドを自動で検査!

  • 半導体検査/試験装置
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X線焦点寸法0.25μmの高解像度を持った解析用X線観察装置

  • 半導体検査/試験装置
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ウェーハ上のはんだバンプの検査を自動で行うX線自動検査装置

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透明素材にも対応する高精度検査装置

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【展示会情報】『SEMICON JAPAN 2025』に出展します

半導体産業における製造技術、装置、材料の国際展示会である SEMICON JAPANにクボタの半導体検査装置を出展致します。 弊社スタッフ一同、ご来場を心よりお待ちしております。 【出展情報】 開催日時:2025年12月17日(水)~19日(金) 10:00~17:00 会  場:東京ビッグサイト 小間位置:W1963 ※ご来場には事前登録が必要です。  登録方法はSEMICON JAPANホームページをご確認ください。

ウェハの欠陥目視検査を自動化を実現

  • 半導体検査/試験装置

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【展示会情報】『SEMICON JAPAN 2025』に出展します

半導体産業における製造技術、装置、材料の国際展示会である SEMICON JAPANにクボタの半導体検査装置を出展致します。 弊社スタッフ一同、ご来場を心よりお待ちしております。 【出展情報】 開催日時:2025年12月17日(水)~19日(金) 10:00~17:00 会  場:東京ビッグサイト 小間位置:W1963 ※ご来場には事前登録が必要です。  登録方法はSEMICON JAPANホームページをご確認ください。

レビュー用顕微鏡搭載!検出した欠陥を顕微鏡でリアルタイムに観察可能です

  • 半導体検査/試験装置

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【展示会情報】『SEMICON JAPAN 2025』に出展します

半導体産業における製造技術、装置、材料の国際展示会である SEMICON JAPANにクボタの半導体検査装置を出展致します。 弊社スタッフ一同、ご来場を心よりお待ちしております。 【出展情報】 開催日時:2025年12月17日(水)~19日(金) 10:00~17:00 会  場:東京ビッグサイト 小間位置:W1963 ※ご来場には事前登録が必要です。  登録方法はSEMICON JAPANホームページをご確認ください。

SUS304 t1.0薄板使用(溶接あり)

  • 半導体検査/試験装置

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~Webでかんたん仕様を選べる~セミオーダーポーラスチャック

  • 半導体検査/試験装置

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高画素(5M・12M・21M)SWIR帯域の撮影や各種検査用途に応用可能な画素ずらしSWIRカメラが新登場!

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  • モノクロカメラ
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最大425fpsでの画像伝送に対応した2100万画素のCoaXPress-over-Fiber (CoF)カメラが新登場!

  • 半導体検査/試験装置

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小型・軽量・低価格!CXPインターフェースにより高速フレームレート・長距離伝送が可能です。

  • 半導体検査/試験装置

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【NEW!】CIS製品総合カタログ【2020.3月】

小型、高速、高画質、高解像度、新たなインターフェースの採用、CISオリジナル画像処理エンジン搭載など、多彩なカメラが満載! 【本誌に掲載内容】 ■CoaXpressカメラ ■CameraLinkカメラ ■画素ずらしカメラ ■ボードカメラ(GigE/USB3.0) ■アクセサリー ■セミカスタムレンズ ■自社開発技術”Clairvu”搭載カメラ ■画像処理システム開発 実例集 今までご好評頂いてきた機種に加え、新たに新製品の「50M 高画素 CXPカメラ」「25M ハイスピード CXPカメラ」「RGB+Depth情報取得可能 USB3.0 I/F ToFカメラ開発キット」「4K ハイスピード Clairvu搭載カメラ」「18倍ズームレンズ内蔵 Clairvu搭載 4Kカメラ」が登場しました! 交通監視、放送、医療、重鉄鋼系プラント、物流、ロボットビジョン、っ各種検査他、多種多様な産業用途に適したカメラが盛りだくさんです。 さらに充実した、CISのカメラを是非ご覧ください! ※その他詳しい情報や英語版カタログをお求めのお客様は弊社営業部までお問い合わせ下さい。

基板・外観検査装置などのFA用途に最適。小型・高画素・低価格で高速フレームレート・長距離伝送・多CH接続が可能なカメラシリーズ

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  • 半導体検査/試験装置

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【NEW!】CIS製品総合カタログ【2020.3月】

小型、高速、高画質、高解像度、新たなインターフェースの採用、CISオリジナル画像処理エンジン搭載など、多彩なカメラが満載! 【本誌に掲載内容】 ■CoaXpressカメラ ■CameraLinkカメラ ■画素ずらしカメラ ■ボードカメラ(GigE/USB3.0) ■アクセサリー ■セミカスタムレンズ ■自社開発技術”Clairvu”搭載カメラ ■画像処理システム開発 実例集 今までご好評頂いてきた機種に加え、新たに新製品の「50M 高画素 CXPカメラ」「25M ハイスピード CXPカメラ」「RGB+Depth情報取得可能 USB3.0 I/F ToFカメラ開発キット」「4K ハイスピード Clairvu搭載カメラ」「18倍ズームレンズ内蔵 Clairvu搭載 4Kカメラ」が登場しました! 交通監視、放送、医療、重鉄鋼系プラント、物流、ロボットビジョン、っ各種検査他、多種多様な産業用途に適したカメラが盛りだくさんです。 さらに充実した、CISのカメラを是非ご覧ください! ※その他詳しい情報や英語版カタログをお求めのお客様は弊社営業部までお問い合わせ下さい。

USB3.2 10Gbps 500万画素 SWIRモデル

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弊社が得意とする【半導体分野向けソリューション】をお客様に合わせてご提案致します!

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  • neaSCOPE_image_with logo.png
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  • その他顕微鏡・マイクロスコープ
  • レジスト装置
  • 半導体検査/試験装置

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故障箇所→拡散層評価を含めた物理解析/化学分析までスルー対応いたします!

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  • 解析サービス
  • 受託解析
  • 半導体検査/試験装置

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Talos F200E導入のお知らせ

当社では、透過型電子顕微鏡システム FEI製「Talos F200E」を導入します。 従来機と比べTEM・STEMの分解能が向上し、4本の検出器でEDS分析が可能に なるなど性能が大幅に強化されます。 また、ドリフト補正をしながら複数のフレームを積算する、ドリフト補正 フレーム積算(DCFI)なども搭載しております。

様々な形態の半導体で裏面研磨が可能!素子、不具合の様子の観察が出来ます

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  • 解析サービス
  • 半導体検査/試験装置

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当社は、油圧、空気圧、電気技術の専門知識を活用して、お客様の声に沿った、ソリューションを提案し提供します。

  • 組立機械
  • 半導体検査/試験装置
  • 搬送・ハンドリングロボット

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