受託解析の製品一覧

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用途はアイデア次第! 重い物が 楽に 軽く 回せる 小型旋回ベアリング「楽っかる(らっかる)」!

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JIS・ISO規格の解説資料進呈。豊富な製品シリーズから好適な安全柵をご提案!デモキット無料貸出。

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  • その他安全・衛生用品

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非破壊でnmオーダーの薄膜の深さ方向分析が可能!分析事例もご紹介いたします

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化学分析 おまかせサービス

当社で取り扱う『化学分析 おまかせサービス』をご紹介いたします。 製品上の異物やシミなどの成分分析を⾏う際、有機分析が適しているのか、 無機分析が適しているのか、また、有機・無機分析の中でもどの分析が好適 なのか、分析手法の選定についてお困りのお客様へ、一括サービスを提供。 分析装置はそれぞれ測定できる対象が異なるため、情報をもとに、 目的に合った手法を選ぶ必要があります。

試料表面の凹凸形状の3D測定や透明体越しの表面形状測定などが可能です!

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広範囲での観察、計測も可能!レーザー顕微鏡を用いた受託分析のご紹介です

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光学フィルムの光透過特性

株式会社アイテスでは「光学フィルムの解析」を行っております。 スマートフォン等に使用される光学フィルムはその構造と材質によって 様々な機能を有しています。 のぞき見防止フィルムの角度による光透過性を測定し、断面の観察と ラマンによる分析を組合わせて、機能発現のメカニズムを調べました。 角度可変分光光度測定にてのぞき見防止フィルムの透過特性を調査し、 断面観察及びラマン分析によって機能発現の仕組みを解析することが 出来ました。 アイテスでは材料物性からその機能発現メカニズムまで一貫して 評価・分析に対応いたします。

Si半導体とは物性が異なるため、故障解析も新たな手法が必要となります!

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Talos F200E導入のお知らせ

当社では、透過型電子顕微鏡システム FEI製「Talos F200E」を導入します。 従来機と比べTEM・STEMの分解能が向上し、4本の検出器でEDS分析が可能に なるなど性能が大幅に強化されます。 また、ドリフト補正をしながら複数のフレームを積算する、ドリフト補正 フレーム積算(DCFI)なども搭載しております。

良品と静電気(ESD)破壊品の輝度・特性の比較、EMS顕微鏡による発光解析事例をご紹介します!

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他手法より短納期!FIB-SEMによる形状観察と、拡散層観察の両方を実施できます!

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パワーデバイス故障箇所・Slice&View 三次元再構築

FIB-SEMのSlice&View機能を用いた、故障箇所の三次元再構築について ご紹介いたします。 構造物の連続SEM画像を取得し、得られた像を三次元構築ソフト(Avizo)で、 SEM画像間のパターンの位置ズレを補正し立体的に可視化。 故障箇所に対して断面出しをする位置特定技術とSlice&View機能を 組み合わせることで不良状態を保持して異常部前後の情報を含めた 連続SEM画像を取得することができます。

元素同定を行うEELS分析により、物質の結合状態の比較が可能です!

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「SEM像」や「吸収電流像(電流センス)」など!配線のオープン不良、高抵抗不良箇所を特定します

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検査員が逃さず観察!信頼性試験から解析まで一貫したウィスカ評価が可能です

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外観観察及び計測サービス

当社でご提供する「外観観察及び計測サービス」について ご紹介いたします。 信頼性試験前後の外観観察やはんだ接合部観察、また各種部品の 寸法測定や凹凸測定など、多様な装置を取り揃えてご要望に対応。 観察前処理もお任せください。 当社には、IPC-A-610認証IPCスペシャリストが在籍しております。 国際規格に則って観察のお手伝い、ご相談、様々な観察のお悩みに 対応いたします。

屈曲部の配線に歪みが蓄積している個所などが分かる、EBSD解析をご紹介します!

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点灯確認、パネル解体、光学顕微鏡観察により、不良発生箇所を絞り込みます!

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COG実装の導電粒⼦形状観察

COG実装の導電粒⼦形状観察についてご紹介します。 ICと液晶パネルはACF(異⽅性導電フィルム)を⽤いたCOG⽅式により実装。 核に樹脂ボールを使⽤し、その表面に導電のための⾦属層(ニッケルや⾦など) が成膜されており、接続時に粒⼦が適度に変形し、ICとパネルを電気的に接続。 粒⼦の変形具合や接続状態を確認するため、断面観察を⾏ったところ、 粒⼦変形量は「中」であり、適度な変形具合であることがわかりました。 平面⽅向と断面⽅向から導電粒⼦の変形具合を確認することで表⽰不良との関連性 を探ることができます。パネル関連の不具合調査はお気軽にご連絡ください。

金属酸化物などの無機化合物の分析も可能!銅張積層板表面の黒点分析をご紹介します

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化学分析 おまかせサービス

当社で取り扱う『化学分析 おまかせサービス』をご紹介いたします。 製品上の異物やシミなどの成分分析を⾏う際、有機分析が適しているのか、 無機分析が適しているのか、また、有機・無機分析の中でもどの分析が好適 なのか、分析手法の選定についてお困りのお客様へ、一括サービスを提供。 分析装置はそれぞれ測定できる対象が異なるため、情報をもとに、 目的に合った手法を選ぶ必要があります。

パワーデバイスに対して高温・高湿度環境下で最大1000Vの印加が可能!デバイスの劣化状況の推移もモニタリング

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パワーデバイスの逆バイアス試験(最大2000V)

株式会社アイテスでは、パワーデバイスの酸化膜及び接合部評価の 高温逆バイアス試験(HTRB)が最大2000Vまで印加できます。 試験中のリーク電流のモニタリングにより、リアルタイムでデバイスの 劣化状況が把握可能。電源が独立しているために試験中に一つのデバイスが 故障した場合でも他のデバイスに影響を及ぼしません。 また、不良基準(電流値)の設定が可能で不良判定デバイスの電源を 不良判定時に遮断することができます。 【仕様・サービス内容】 ■試験電圧:最大DC2000Vまで印加可能 ■印加電流:最大14mA ■試験数量:最大8個(電源独立) ■対応モジュール:TO-247、TO-220 等(その他のパッケージは接続方法など要相談) ■測定内容:リーク電流のモニタリング ■温度範囲:最大200℃(高温高湿の場合85℃/85%)

研磨の仕上がりにご不満、疑問をお持ちの際は、アイテスにご相談ください!

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「富岳」等スパコンを用いた大規模解析の実績有!計算機利用技術にも長けております

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損傷原因を把握し、再発防止対策に!金属などの各種材料の破断や腐食による損傷など、その要因について調査解析します。

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損傷調査を行うことで損傷原因を究明し再発防止につなげる!

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トラブル原因の究明および対策を立案し、必要に応じて材料評価試験もご提案します!

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ドライブレコーダーやスポーツの試合から自作のデータセットを作成!

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タンパク質の世界を徹底解明!生物学的な研究、医学や環境科学などさまざまな分野で活用

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  • その他 タンパク質分析・解析

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ネオジム磁石に代表される異方性磁石X線回折の極点図測定結果から、残留磁束密度に対する結晶学的配向度の算出を可能としました。

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FE-EPMAによる相分析により、材料中の各相の分布を可視化し、微細な相構造を明らかにすることが可能です。

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GaNなどのパワー半導体の転位やステップ(微小な段差)、微小方位差が観察可能です。

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軟窒化化合物層の相分布 の評価が可能です。

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歪量の評価には EBSD や XRD (X-Ray Diffraction) が有用な分析手法です。

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EBSDを用いることによって軟磁性金属粉末の圧粉磁心の磁気特性劣化の原因解析が可能になります。

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EBSDを用いて電磁鋼板の用いて配向性を定量化し、磁気特性との関係を調べます。

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EBSDによりフェライト磁石の配向の評価が可能です。

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大同分析リサーチは長年培った材料分析技術でお客様のモーター開発の御支援を行います。

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