HD-1 X線分光器
特別な集光ジオメトリを使用しており、非常に低い強度のX 線放射を計測出来ます。
• 特別な集光ジオメトリによって、非常に高い検出効率を実現 • ご要望に応じて絶対強度校正を実施 • 小型 • 結晶部分は可動しない • 結晶の交換は不要 • EUV 用にスペクトル範囲を最適化可能 λ =6 ~ 7nm または 12 ~ 14nm
- 企業:ケイエルブイ株式会社
- 価格:応相談
更新日: 集計期間:2025年03月26日~2025年04月22日
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特別な集光ジオメトリを使用しており、非常に低い強度のX 線放射を計測出来ます。
• 特別な集光ジオメトリによって、非常に高い検出効率を実現 • ご要望に応じて絶対強度校正を実施 • 小型 • 結晶部分は可動しない • 結晶の交換は不要 • EUV 用にスペクトル範囲を最適化可能 λ =6 ~ 7nm または 12 ~ 14nm
冷却機能付き裏面入射型2Dディテクタを採用した高分解能マルチチャネル分光器
スリットをユーザー自身で交換可能で、蛍光などの微弱光から、レーザーや太 陽光などのハイパワーな測定まで、1台の分光器で対応可能になります。
【高速データ取得・高感度・ネットワーク接続】紫外・近赤外領域の感度がUP!
【特徴】 ■最速3 000スキャン/秒の高速データ取得 最小露光時間10μ秒~高速測定や高輝度測定に最適! ■50 000スペクトルのバッファ機能 スペクトルデータを分光器内部に一時的に保存可能! ■USB Ethernet Wi-Fi通信 離れた場所で分光器を制御可能! ■紫外・近赤外領域の感度UP バイオメディカルや環境ガス分析などの用途に最適! ■スリット交換機能 ユーザー自身でスリット交換可能で、幅広いアプリケーションに対応! 詳しくは関連リンク先の製品ページをご確認いただくか、お問い合わせください。
高解像度・高スループット・マルチ通信
オーシャンインサイトのOcean-HDXは、高スループット、低迷光、および優れた熱安定性を実現するためのハイエンドオプティクスによって構築されています。X-プラットホーム電子回路は、強力なオンボード処理やギガビットイーサネット、SPIおよびWi-Fiを含む通信機能を備えています。Ocean-HDXは小型かつ丈夫で、組込みや工業用途、バイオメディカル、そして研究アプリケーションなどに理想的な分光器モデルです。 ●高解像度オプティクス - 高分解能を実現し、元素分析やプラズマモニタ、エンドポイント検出におけるピークの優れた対称性を提供します ●高スループット - 蛍光やバイオルミネセンス、燐光のような微弱光アプリケーションに適しています ●低迷光 - 色測定に適していて、インクや染料のような高光学濃度の溶液サンプル内の分析物を正確に測定します ●小型、熱安定性、互換性 - 多くの工業アプリケーションの製造工程環境に簡単に統合します
プラズマモニタリングから医薬品分析まで幅広い用途 優れた熱安定性により測定環境の変化にも対応
● 190-1150 nmの幅広い波長範囲に対応 ※グレーティングに依存 ● ご要求に応じて分解能やスループットを変更可能 ● 最小露光時間1usの高速測定を実現 ● 高いS/N比(380:1)従来の標準タイプに比べ、 より低ノイズで高精度な測定が可能 デモ機貸し出し中です! 問い合わせフォームよりお気軽にお問い合わせください! 【Ocean Optics社製品をお使いのお客様へ】 以下製品は廃番となりました。 HR2000/HR4000/MAYA2000PRO 現在は本製品にてご案内しております。
研究室で最大0.1気圧環境下のオペランド測定が可能
EnviroESCAは試料を準大気圧(最大0.1気圧)環境下で測定し、従来のような超高真空環境を必要としません。液体・含水性試料はもちろん、揮発試料や激しく脱ガスする多孔質な試料でも、EnviroESCAの試料室に投入後、僅か数分後には測定を開始します。従来型XPSでは測定を諦めていた試料を分析できるだけでなく、雰囲気ガスや温度を自由に制御して新しい研究分野を開拓する強力な武器となります。現在急速に注目を集めている、デバイス動作環境下での測定、いわゆる“オペランド測定”も簡単に実現できます。超高真空環境を必要としないEnviroESCAであれば、短時間に多量の検査を必要とする生産ラインでの品質検査でも効率的に運用可能です。ロボット・オートローダーを使用して、無人で試料導入から測定までをバッチ処理することもできます。 X線光電子分光=超高真空環境下の既成概念を払拭するEnviroESCAは、新奇の研究開発を牽引し、さらにX線光電子分光法に医療・バイオ・ライフサイエンスなど全く新しい活用の場を提供する装置です。
InGaAs リニアアレイを用いた近赤外測定用のマルチチャンネル分光器
目的の波長範囲に合わせ、3 種のモデルをご用意しております。食品、医薬品分析など様々なアプリケーションへ適用できます。
ローノイズでコンパクト!裏面入射型ペルチェ冷却FFT-CCD使用
分光器とは、光を虹(波長ごとの光)に分けて波長ごとの光の強さを測定するものです。薄膜などに光をあて、その反射光を分光することによって薄膜成分を計測します。応用例としては、各種ディスク上の膜厚の厚み管理、半導体用ウェハ上のレジスト膜・SiO、光学レンズのコーティング膜厚管理、各種フィルムの膜厚測定、ガラス基板上の配向膜・ITO膜のインライン計測、LEDの色計測などがあります。インライン用多チャンネルシステムも構築実績あります。 詳しくはお問い合わせください。
CubeSat等超小型衛星用IR分光器
CubeSat等超小型衛星用リモートセンシングミッション機器として利用できるIR分光器。波長域は1000nm~1700nmで空間分解能が約6nm。(波長域は2400nmまで可能) なお、宇宙用以外にもUAV用として利用することができます。
有機半導体の損傷なし&高分解能!研究に耐える精度でLUMO準位測定ができる!
低エネルギー逆光電子分光装置『LEIPS』は、 有機半導体を損傷させることなく高精度なLUMO準位測定ができる低エネルギー逆光電子分光装置。 照射するエネルギーを分子の共有結合より低くすることで、試料の損傷を回避。 また光検出に高性能フィルターを採用し、分解能0.5eV以下を達成しました。 従来機「IPES」をベースに、これまで抱えていた課題を解決しています。 【特長】 ■高感度 ■高分解能0.5eV以下 ■有機半導体の開発や性能UPに貢献 ※詳しくはカタログダウンロード、もしくはお問い合わせください。
マイクロフォトニック構造研究用の高感度で複合機能を持つ高分解能角度分解型カソードルミネッセンスイメージング(CL)分光装置です。
SPARCの能力 SPARCはディープ・サブ波長の分解能でナノ・マイクロ構造のフォトニック研究に適した真に独特な分析手法です。 金属質(プラズモニック、Ag、Au、etc)、誘電体(SiO2、Si3N4、TiO2、etc)や半導体(Si、GaAs、CdTe、etc)のマイクロ・ナノフォトニック構造およびその関連材料の研究に有用です。
コンパクト設計!波長帯域は115-200nm、さまざまな応用にお使いいただけます
『RadiMo-DP,SP』は、RadiMo用に開発した小型真空紫外分光器です、 真空紫外分光用途に単独でもご使用できます。 従来の同レベルの波長分解能を持つ真空紫外分光器よりも体積比で1/3も コンパクトになりました。 また、波長走査用ドライバ、光電子増倍管用高電圧電源、光電子増倍管用 プリアンプは、19インチラック対応の制御ボックスに収められています。 【特長】 ■RadiMo用に開発した小型真空紫外分光器 ■真空紫外分光用途に単独でも使用可能 ■従来の同レベルの真空紫外分光器よりもコンパクト ■波長走査用ドライバ等は制御ボックスに収納 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
PIC/S 原料受⼊れ検査、PAT 初期検討に最適なユニット︕
■特徴 ・圧倒的な⼩型サイズ ・40 000 時間以上の⻑光源寿命 ・解析モデルは CAMO Software 社 The UnscramblerX と完全連動 ・USP1119 準拠校正、IQ/OQ 対応 ・様々な拡張ユニットを準備
4インチ、6インチウェーハの電気特性の計測を非破壊・非接触で実現!
『Tera Evaluator』は、エリプソメトリの技術を導入した 新しいテラヘルツ分光装置です。反射光学系の採用により 不透明な材料の測定に適しています。 4インチ、6インチウェーハ測定用のマッピングステージを標準搭載し、 半導体ウェーハの非接触・非破壊検査を実現しました。 電磁波パルスの電場強度の時間波形を計測することで、電場強度と共に 位相情報も同時に計測。リファレンスとサンプルでの時間波形の違いを 解析することにより、サンプルの複素誘電率(複素屈折率)の 周波数依存性を得ることができます。 【特長】 ■キャリア濃度・移動度を非破壊・非接触で測定 ■テラヘルツ領域の複素誘電率を計測可能 ■液体試料も測定可能 ■解析用ソフトウェア:THz Analysisを標準搭載 ■レーザーの外部入力が可能なシステムを構築 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品質管理等のお役に立つ分析技術の最新情報です。
【要旨】 新規蛍光分光装置を導入し、紫外可視領域の測定に加えて近赤外領域の発光測定、またナノ秒程度の蛍光寿命測定が可能となった。新規蛍光分光装置の特徴とそれらの測定例について紹介する。 【目次】 1.はじめに 2.新規蛍光分光装置の特徴 3 近赤外発光スペクトルの測定事例 4.おわりに