デジタルクリンプハイト測定器「ユニゲージ」
測定圧が一定で、測定者による誤差がありません。 ワイヤーハーネス作業の合理化と安定性の向上に。
●簡単な操作で、誰にでも使用可能です。 ●演算機能を持つプリンターや、パソコンへのデータウンプットツール等を使用可能です(オプション)。 ●測定器として校正証明書の発行が可能です(別費用)。
- 企業:東京アイデアル株式会社
- 価格:応相談
更新日: 集計期間:2025年11月26日~2025年12月23日
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測定圧が一定で、測定者による誤差がありません。 ワイヤーハーネス作業の合理化と安定性の向上に。
●簡単な操作で、誰にでも使用可能です。 ●演算機能を持つプリンターや、パソコンへのデータウンプットツール等を使用可能です(オプション)。 ●測定器として校正証明書の発行が可能です(別費用)。
より高精度に細孔径を評価することが可能!AFSMによる細孔径の測定再現性のご紹介です
当資料では、AFSMによる細孔径の測定再現性について、グラフや方程式を 用いてご紹介しています。 AFSM=Advanced Free Space Measurement(US Patent:6.595.036)は、液体窒素 などの冷媒の液面を一定に保つ必要がなく、吸着測定中の室温変化や酸素溶解 による冷媒の温度変化を加味したフリースペース変化の実測が可能なため、 比表面積評価同様、より高精度に細孔径を評価することが可能です。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
パルス法による金属分散度測定!温度ムラのない正確な温度制御と測定時間の短縮を両立しました
『BELMETAL3』は、測定ポートを3つ備え、前処理を同時に行うことで 効率的な金属分散度測定を実現しました。 測定は全自動で行いますので誰にでも簡単に操作でき、実験者のスキルに 左右されること無く、再現性のよいデータを得ることができます。 また、測定結果は自動的にレポート形式で出力されますので、 複雑な計算を行う必要はありません。 【特長】 ■多検体連続測定による効率的な測定 ■自動開放型強制空冷電気炉による測定時間の短縮 ■充実した安全機構 ■パルス法による金属分散度測定 ■効率的な3検体連続自動測定 ■急速冷却による測定時間の短縮 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
カーボン・セラミックス材料等の比表面積を独自技術により簡単・素早く・正確に!
当社が取り扱う、比表面積/細孔分布測定装置『BELSORP MINI X』を ご紹介します。 最大4検体、測定時間の大幅短縮、マルチリンクによるハイスループットの 新機能を導入。 新測定ソフトウェアにより、測定進捗の把握、メンテナンス時期の把握や 測定結果をメールにて送付するなど、ユーザーの労働生産性を向上させ、 さらに新解析ソフトウェア(BELMasterTM7)により、これまで以上に幅広い 材料の構造評価を可能としました。 【特長】 ■高精度・最大4検体同時測定 ■測定時間の大幅短縮を実現 ■ガス導入最適化機能GDOを搭載 ■最少条件設定により吸着等温線を自動測定 ■AFSM搭載により測定精度・再現性を向上 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
レーザ回折・散乱&動的画像解析式!高精度な粒度分布と画像解析による形状評価を1台で実現
『SYNC』は、高精度な粒度分布測定と画像解析による形状評価を 1台の装置で実現した粒度分布・粒子形状測定装置です。 3本レーザ光学システムにより、粒子からの散乱光を0~165度の 高角度にて連続面として検出し、粒度分布の高分解能測定を実現。 円形度、アスペクト比、凹凸度、円相当径、楕円短径、楕円長径、 フェレー径、等の評価が可能です。 【特長】 ■測定範囲:粒子径:0.02~2000μm 画像解析:5~2000μm ■高精度な粒度分布と画像解析による形状評価を、1台の装置で実現 ■様々な業界でスタンダード評価装置となっている3本レーザシステムの 粒子径分布測定 ■円相当径、楕円相当径(短径・長径)、フェレー径(短径・長径)、 円形度、アスペクト比、凹凸度など30以上の形状評価が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
デモ/分析可 粒子径分布(ブロード/シャープ)、円形度、欠陥の原因となる粗大粒子の検出。動的画像解析式で大量粒子の乾式測定。
『CAMSIZER X2』は、新しいのカメラ技術とフレキシブルな試料分散 オプションを組み合わせた強力で汎用性の高い粒子特性解析装置です。 動的画像解析(ISO 13322-2)の原理に基づき、0.8μm~8mmの幅広い 測定範囲にて粉体、顆粒、懸濁液の正確な粒子径や粒子形状を求めます。 乾燥粉体、または懸濁液の状態で粒子の流れを生成し、高輝度ストロボ 光源と2台の高分解能デジタルカメラにより、毎秒300画像のフレーム レートで連続的に粒子画像を取得します。 【特長】 ■1~3分間の短い測定時間で、数十万~数百万個の粒子画像を撮像 ■試料の包括的で信頼性の高い特性評価を可能としている ■ISO 13322-2 動的画像解析に準拠 ■独自のデュアルカメラ技術を採用し、幅広い測定範囲に対応(0.8μm~8mm) ■シャープな粒子径分布(粒度分布)、複数山分布における高分解能測定 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
大容量仕様。短時間で再現性の高い真密度評価!粉体・成型体・ペースト・液体の全自動真密度測定を実現
『BELPYCNO L』は、各種粉粒体、多孔性材料、 成型体、 混合物、 ペーストおよび液体の体積および真密度(骨格密度)測定が可能な 全自動真密度測定装置(マルチボリューム仕様)です。 自動温度制御と圧力センサにより、周囲温度や圧力の変動による 密度への影響を抑えることが可能。 3種の膨張セル(容積20、40及び60cm3)の組み合わせにより、 小容量から大容量(4、20、40、60、100及び135cm3)までの試料の 真密度評価ができます。 【特長】 ■高精度圧力センサ(絶対圧計)を内蔵 ■セル部(試料室と膨張室)および操作パネル部を分離した測定が可能 ■高精度ATC(自動温度制御)を内蔵 ■短時間・安定性の高い測定 ■高い再現性 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
見方によって同じ粒子でも大きさは変わります。
真球の粒子径は一意的に決まります。しかし真球でないものは測り方によって 大きさが変わります。例えば粉砕物などは1粒ずつ形が違います。 従って、1粒ずつの粒子径測定から粉体全体の大きさを求めるためには、 たくさんの粒を同じ方法で測定し、統計的に粒の大きさを決める必要があります。 目視や画像解析では、ランダムに配向した粒子を一定軸方向の長さについて 測定する「定方向径」や、粒子の投影面積に等しい理想形状(通常は円)の粒子の 大きさを求める「相当径」が一般的です。 この他に粒子の長軸と短軸の比率を表すアスペクト比などがあります。 当社の粒子径分布測定装置は集合体としての粒子を計測しているため、 顕微鏡などによる測定と同列では議論できません。 マイクロトラックのうちレーザ回折法では、得られた光の散乱パターンと同等な 散乱パターンを示す球形粒子の集合体の粒子径分布を出力します。 動的光散乱法では拡散に基づく球相当径を出力します。 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
粉粒体を適切に評価するためには、平均粒子径だけではなく、粒子径分布が重要です。
粉体、つまり集合体としての粒子の大きさは、多数個の測定結果を大きさ (粒子径)毎の存在比率の分布として表すのが一般的です。 存在比率の基準としては体積基準(体積分布)、個数基準(個数分布)等があります。 マイクロトラック(レーザー回折・散乱法)では原理上体積分布を測定しています。 (粒子の形状を球形と仮定し、ソフトウェアで個数基準などに換算することは 容易です。) 沈降法は質量基準の測定法ですが、測定の過程で試料の密度が必要なため 体積分布も得られます。 動的光散乱法では、信号の相対強度として存在比率が求められるのが 一般的ですが、ナノトラックに限り体積分布が出力可能です。 粒子径分布は頻度として表す場合と、累積分布として表す場合があります。 累積分布には、細かい粒子の側をゼロとして右上がりのカーブとなる オーバーサイズと、粗い側をゼロとして右下がりとなるアンダーサイズがあります。 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
レーザ光の波長よりも非常に小さな粒子からの散乱光に適応される理論
レイリーの散乱(Rayleigh scattering)は主には0.05μmなどの波長と比べて 非常に小さい粒子のときに議論されるもので、今回の原理説明集の中で この散乱領域まで測定している例としてはナノトラックがあります。 しかしながら共に根本原理の中に占めるこのレイリー散乱の役割は多少意味が 異なる事から、ここではこのレイリー散乱の簡単な説明にとどめておきます。 レイリー散乱のもっとも一般的な例としては、青い空です。 地球を由り巻く02、N2の分子により、このレイリー散乱が起こり、波長の短い 青い光だけが強められた形になり、空が青く見えるという事です。 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
レーザ回折・散乱式装置の拠り所
G.Mieは1908年に、均一媒質内に存在し、任意な直径を持ち、任意材質の 均一な球による平面単色波の回折を、電磁気学によって取り扱い、厳密な 解を得ることに成功しました。 この散乱現象が私たちに取っては非常に大事な散乱となります。 ミー散乱が重要なのは、私たちが取り扱っている粒子径分布測定装置の 測定範囲のかなりの部分がこれに入っているからです。 しかしこのミーの散乱を数学的に解くには非常に難しい要素があります。 既にこのミーの式をコンピュータで解くプログラムも開発されていますが、 難しい事には変わりなく、この問題をいかにクリヤーするかが 粒子径分布測定装置メーカーのノウハウになります。 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
ホイヘンスの原理
光の直進性と波としての性質から、光の挙動について説明した人にかの 有名なホイへンス先生がいます。ホイへンスは次のようなモデルを使用して、 光の直進性を説明しました。 回折現象は皆さまの間近でもよく見受けられます。 例えば、私はあまり早起きでないのでずいぶん見ていませんが、日の出の 太陽が完全に姿をあらわす前から、東の山の稜線が光に縁取られたように 強く光るのを目にすることができます。 これが光の回折です。 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
平行光を利用した光の干渉
もう一方のフラウンホーファが説明している回折理論、これが実は後述する レーザ回折法の粒子径分布測定装置の基礎理論になっているのです。 フレネルの回折と区別する意味で、非常に大まかな分類ですが、フレネルの 回折 光源と観測点が共に回折が起きる開口部から近い時の回折 フラウンホーファの回折 光源と観測点が共に回折を起こす開口部から無限に 遠い時の回折、ということができます。 このフラウンホーファの回折現象はフレネルの回折と比較して数学的には 簡単に表すことができます。 光学の有識者にとってはカミナリを落とされるような乱暴な展開ですが、 どうしても縞模様ができる理由を知りたい方々には、付録に示す光の参考書類を 読んでいただくことを強くお勧めいたします。 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
水面に石を投げ入れた時の波面のモデル
この特性はレーザ回折方式にはあまり大きく関係しません。 干渉はナノトラックの原理を理解する上で重要な現象となります。 干渉の例としては、水面に石を投げ入れた時の波面のモデルです。 もし水面にある距離を離して、石を二つ落とすと、2つの表面波が重なり合う 時に、一方の波の峰(山)ともう1つの波の谷が同時に出会う時は波が弱まり、 山と山が出会うと波が強まることが観察できます。これが干渉です。 最初に出てくるのは「フーリエの定理」と言う数学の定理です。 この定理によれば、ある種の条件さえ満たせば、任意関数は有限個もしくは 無限個の正弦関数の和で表すことができます。 平たく言えば、たいがいの波形は複数個のサインカーブに分解できるということです。 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
独自の光学系設計、3本レーザ搭載、スリット状の検出器構造
マイクロトラックの検出器の形状は、散乱角度の中心から外に向かって スリット状になっています。 レーザー回折・散乱方式では、粒子へレーザー光を照射し、粒子径情報を 有する散乱光を、ある形状の検出器で検出し粒子径分布を求めますが、 検出器の形状により、その粒子径情報が2乗、3乗、または4乗に比例した 信号となります。 粒子径分布データは、粒子径の3乗に比例した体積ベースで表されますが、 通常みられる検出器では、体積ベースの粒子径分布データを表示するには、 いろいろな補正を加えることとなります。 マイクロトラックのスリット状の検出器では、求める粒子径の3乗に比例した 信号を直接取り出すことができます。 マイクロトラックだけが、サンプルの混合比を正確なデータとしてご提供 できる大きな理由はこの検出器の違いにあるのです。 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。