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圧縮モード以外の引張、せん断、曲げモードにおいても！同様にマスターカーブの作成が可能
株式会社アイテスの品質技術、ポリウレタンゴムの動的粘弾性測定 についてご紹介いたします。 DMAは高分子材料に周期的な振動荷重を与え、生じる応力と位相差から、 弾性や粘性を温度の関数として測定する分析です。今回は、円柱状の ゴム試料を用いて、圧縮モードで測定を行いました。 測定結果は、Tan δの温度分散曲線より、-15.7℃にガラス転移温度を 有していることを示し、 時間―温度換算則によるマスターカーブの 作成をしました。ご用命の際は当社へお気軽にご相談ください。 【荷重の与え方】 ■引張 ■圧縮 ■両持ち梁曲げ ■自由支持3点曲げ ■せん断(ずり) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
冷熱衝撃試験におけるひずみの挙動を観測！試験材料はFR-1とFR-4を使用
当社で行った「冷熱衝撃試験のひずみ測定」についてご紹介いたします。 冷熱衝撃試験装置にひずみゲージを貼り付けたサンプルをセットし、 ひずみゲージの配線は槽外のデータロガーに接続して試験中のひずみデータを リアルタイムで記録。 二種類の銅張積層板について、冷熱衝撃試験中のひずみ挙動を観測し、 温度の変化に伴い大きなひずみが生じることが観測されました。 FR-1はFR-4に比べ、生じるひずみがより大きいことが分かりました。 【試験条件】 ■温度サイクル：-30℃から120℃ ■各温度さらし時間：30min ■試験材料 ・FR-1 紙フェノール(両面版) ・FR-4 ガラスエポキシ(両面版) ■ひずみゲージ：プリント基板用箔ひずみゲージ ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
指定した面内において物質の分布状態を可視化可能！物質の拡散状態の評価などに好適
当社で行っている「顕微FT-IRイメージング測定」について ご紹介いたします。 指定した面内において物質の分布状態を二次元画像として可視化可能。 通常の点測定だけでは難しいような物質の分布状態の変化の様子を 可視画像にて評価することが可能になります。 【イメージング測定に適した分析】 ■物質の拡散状態の評価(混合物における物質の混ざり具合、不純物の 存在する箇所の評価など) ■分子構造変化の評価(樹脂製品における表面から内部にかけての 酸化度合の評価など) ■サンプリングが難しい微小異物の定性分析 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
ひずみゲージを用いて吸湿乾燥時のひずみの挙動を調べました！
当社にて、ひずみゲージを用いて吸湿乾燥時のひずみの挙動を 調べた結果についてご紹介いたします。 加湿により吸湿して膨張し除湿により乾燥して収縮して元に戻りひずみも 加湿前の状態に戻る様子が観測されました。 FR-1横については、加水分解により材質の化学構造が変化したため 元の状態に戻らなかったものと推察されます。 【試験概要】 ■85℃50％⇒85℃85％⇒85℃50％ ■試験材料 ・FR-1 紙フェノール(片面板) ・FR-4 ガラスエポキシ(片面板) ■ひずみゲージ ■複合材料用箔ひずみゲージ ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
熱サイクルを掛けた際の封止樹脂のひずみ挙動をひずみゲージを用いて測定！
当社にて、基板に実装された状態のパワーモジュールと、実装していない 状態のパワーモジュールの表面にそれぞれひずみゲージと温度計を貼り付け、 ひずみ測定を実施した結果をご紹介いたします。 実装モジュールではやや温度変化が遅く、呼応してひずみの変化も 遅い様子が観察されました。 実装されることで、モジュールへの熱の伝わり方が遅くなっているためと 考えられます。 【試験概要】 ■使用ひずみゲージ ・複合材料用箔ひずみゲージ：適合線膨張係数1x10^‐6、ベース15x5mm ■試験条件 ・‐40℃3h保持→15℃/min→80℃3h保持 ※5サイクル ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
測定対象に応じて適切な伸び計を選択いたしますので、お気軽にご相談ください
株式会社アイテスでは「ポアソン比測定」を行っております。 ポアソン比とは、物体に荷重を掛けた際に生じる縦方向と横方向の ひずみの比であり、材料の強度計算等において必要になるものです。 ダウンロード資料では、試験片にひずみゲージを貼付け、万能材料試験機にて 引張荷重を掛け、ひずみゲージより得られる縦、横のひずみを調べた結果などを ご紹介しております。 是非、ダウンロードしてご覧ください。 【測定事例】 ■ひずみゲージによる測定 ■ビデオ伸び計による測定 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
形状仕上がり検証、実装品質へ寄与！広範囲を短時間で測定することが可能
「3D形状測定(3Dマクロスコープ・レーザ顕微鏡)」では、試料に光を 照射し、非接触で3D測定を行います。 基板の反り、平面度計測、部品や面の形状測定(高さ・角度・半径 等) が測定可能。製品の形状仕上がり検証、実装基板の実装品質へ寄与します。 測定例には、反り測定(基板)、寸法測定(金属部品)、レーザ顕微鏡 による平面度測定(ワッシャ)がございます。 【設備紹介：3Dマクロスコープ(一部)】 ■設備名・型番：ワンショット3D形状測定機 VR-5200 ■メーカ：KEYENCE ■XY可動範囲：184mm×88mm ■Z可動範囲：73mm ■表示分解能：0.1µm ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
基板やコネクタ端子の表面処理などの膜厚測定を、スピーディに行うことが出来ます
当社で行っている「蛍光X線膜厚測定」についてご紹介いたします。 膜厚が既知の標準試料(2種類以上)を測定して、その特性X線の強度から 検量線を作成し、未知試料の膜厚を測定。 基板表面処理(Ni/Au めっき、はんだレベラ)の膜厚測定や、部品電極、 コネクタ端子表面処理の膜厚測定、簡便な定性分析などの用途に好適です。 【設備紹介】 ＜蛍光X線膜厚測定装置＞ ■SFT9550X (日立ハイテクサイエンス製) ・X線管を用いた上面垂直照射方式 ・最大管電圧：50 kV ・最大管電流：1000 µA ・ビームサイズ：φ30 µm ・実測分解能：0.01 µm ・最小測定幅：70 µm ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
TOC計は、試料中の全炭素量 、全有機体炭素量、無機体炭素量（IC：を評価することができる装置です
TOC計は、試料中の全炭素量（TC：Total Carbon） 、全有機体炭素量（TOC：Total Organic Carbon)、無機体炭素量（IC：Inorganic Carbon）を評価することができる装置です。 ・有機成分含有量を全有機炭素量（TOC）として評価可能 ・液体試料と固体試料の測定が可能 ・全炭素量（TC：Total Carbon）、無機体炭素量（IC：Inorganic Carbon）の測定が可能
XRD：X線回折法
2次元検出器を用いて測定を行うと、回折角(2θ)に加えてあおり方向(χ)の情報も同時に得られます。観測される2次元回折像は材料の結晶性や配向性などの特徴を可視化することが出来るため、配向性が特性に影響する材料の評価に有効です。
絶対PL量子収率測定は、材料の発光効率を求める手法です。
絶対PL量子収率測定は、材料に吸収された光（エネルギー）に対し、どのくらいの効率で発光が得られるか、つまり材料の発光効率を求める手法です。 ・分光器付きの励起光源を用いているため、様々な波長（約350～800nm）での励起が可能 ■MSTの特徴 ・装置は雰囲気制御下で管理されているため、薄膜サンプルについては酸素の影響を受けずに測定することが可能
HAXPES：硬X線光電子分光法
HAXPESでは、試料表面から深い位置まで（～約50nm）の情報を得る事が可能です。さらに2次元検出器を用いた角度分解測定により、広い光電子取出角で取得したデータを、角度すなわち検出深さを変えた情報に分割することができます。これにより、非破壊でXPSよりも深い位置までの深さ方向結合状態比較が可能です。状態変化が極表面のみに留まらずバルクの中まで進んでいるような材料の評価に有効です。
水循環の異なる水化学の管理体制、溶存酸素の測定を行う主なポイントについて説明
溶存酸素は、発電所の水蒸気サイクルにおける腐食の主要な原因であり、 設計や化学に関連する多くのパラメータに影響されます。 例えば、循環運転とベースロード運転、ドラム式と復水ボイラの設計、 給水システムの冶金学、リン酸塩処理と揮発性処理(AVT：All Volatile Treatment)、 運転圧力などです。 当コラムでは、水循環の異なる水化学の管理体制、溶存酸素の測定を行う 主なポイントについて説明しています。 【掲載内容（一部）】 ■水化学と溶存酸素 ・水の化学的性質の違いとその略語 ■発電機固定子冷却水の溶存酸素測定 ・4種類の固定子冷却水処理方法 ※コラムの詳細内容は、関連リンクより閲覧いただけます。 詳しくは、お気軽にお問い合わせ下さい。
【無料プレゼント】MIRS法を応用した新たなアプローチである製品をご紹介
シリコンウェハー (Si ウェハー)表面の特性は、材料としての機能性に 大きく影響し、とくにウェハー表面に形成される各種薄膜の化学的評価が ますます重要となっています。 当資料で紹介する「Wafer ATR」は、いわゆるMIRS法を応用した新たな アプローチであり、フランス原子力庁電子情報研究所CEA-Letiの グループとの研究成果を製品化したものです。 【掲載内容】 ■はじめに ■Wafer ATR(ウェハーATR) ・多重内部反射による感度の向上 ・測定時の必要事項 ■測定例 ■判別分析 ■まとめ ■参考文献 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
DMAによってDSCでは捉えられないポリエチレン(PE)のガラス転移を測定可能です。PEの特性を取得するためにぜひご活用ください
●目的:ポリエチレン(PE)のガラス転移を測定 ●手法:粘弾性測定(DMA) ●結果:DSCでは捉えられないPEのガラス転移を測定可能 この事例では DMAを用いた 「動的粘弾性測定によるポリエチレン(PE)のガラス転移測定」 を紹介します ぜひPDF資料をご一読ください 弊社は他にDSC、TG/DTA、TMAの各種熱分析も強みとしております ●DSC： 試料の融解、ガラス転移、熱履歴、結晶化、硬化、キュリー点等の分析や比熱の測定に利用できます ●TG／DTA： 試料の水分量、灰分量の分析や分解、酸化、耐熱性の評価などに利用できます ●TMA： 試料の膨張率、ガラス転移、軟化点の測定等に利用できます 熱分析用についてお気軽にご相談いただければ幸いです。 https://www.seiko-sfc.co.jp/service/thermal.html 事例紹介 https://www.seiko-sfc.co.jp/case/index.html ※その他資料の準備もあります。問い合わせボタンからご用命いただければ送付いたします。
