多目的印刷適性試験機AMSTERDAM
画像解析ソフト付き印刷適性試験機
画像解析ソフト、画像読み取りカメラ装置付き、多目的印刷適性試験機
- 企業:アイジーティ・テスティングシステムズ株式会社
- 価格:応相談
更新日: 集計期間:2025年08月20日~2025年09月16日
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画像解析ソフト付き印刷適性試験機
画像解析ソフト、画像読み取りカメラ装置付き、多目的印刷適性試験機
卓上タイプのグラビアインキ用印刷適性試験機
少量のインキと被印刷物で、再現性の高い印刷サンプルを作成できます。
通過速度・温度コントロール機能に優れたヒートセットドライヤー
IGT Testprint社製の再現性に優れた装置
抄紙機用フェルトテンション測定機
稼働している抄紙機のフェルトテンションを測定できます。 その他、さまざまな目的で採用されています。
プラント設備検査の材料評価の効率化のご紹介です。
神戸工業試験場グループは、独立資本では民間最大の工業試験場です。試験・分析以外にも機器開発、技術コンサルティングなど、トータル・エンジニアリング企業として、幅広い分野に活動の場を広げています。詳しくはお問い合わせ、もしくはカタログをダウンロードしてください。
高温下で高圧電界を発生させデバイスの誤動作を評価するGLテスタ、AEC-Q100-006 REV-Cに準拠
高温下にあるICに高電界を加えると、ICのカタログ仕様に不適合の項目が発生する場合(例えばIcc、入力リーク、ACパラメータ、ファンクション特性)があります。これを電気熱誘導寄生ゲートリーク(GL)と言います。GLが発生したデバイスは"不良"とみなされますが、GL不良は通常125℃ 4時間(または150℃ 2時間)のベーキングで回復します。 本装置は、高温下で電界を発生させる装置で、AEC-Q100-006 REV-Cに準拠するGL試験を行います。手動試験のモデル 6900Mと、自動試験のモデル 6900Aがあります。 ※製品の仕様は予告なく変更になる場合がございます。ご了承下さい。
最大2KVの高電圧を高温・多湿環境下で試料に加え、絶縁膜の劣化状態を絶縁抵抗値の変化から評価するエレクトロマイグレーション試験
本装置は高温器内で絶縁膜のマイグレーション試験を行う高電圧エレクトロ・マイグレーション試験装置です。ユニットの内部は4ブロックに分かれており各ブロック毎、異なる電圧・時間で耐性評価が可能です。最大2KVの高電圧で、評価時間を大幅に短縮させることができます。 ※製品の仕様は予告なく変更になる場合がございます。ご了承下さい。
2000ピンを超える微細ICソケット、コネクタ、ケーブルの導通を高速に試験する低価格な多ピン導通チェッカ
ISC-2000AシリーズはICソケット、コネクタ、ケーブルなどの接触を高速に試験する低価格の多ピン・チェッカです。リレースキャナと抵抗計の代わりにロジック回路を採用し、パソコンで制御する事により、安価で高速のチェッカを実現しました。ピン数拡張性に優れ、2000ピン以上の構成が可能です。ICソケットのみではなく、バックプレーン、ケーブル、PC板などの接続、非接触チェックに最適です。 ※製品の仕様は予告なく変更になる場合がございます。ご了承下さい。
ラッチ・アップ規格JEITA、JEDEC等に適合
Model7000Bは、従来のModel7000の後継機として開発された最新モデルです。最大システム1024ピンの高い拡張性とModel7000の評価ボード(DUT)を 流用できる利便性を兼ね備えています。 またリレーマトリックス構造の変更により、ラッチアップ試験用の電源は最大6電源に、デバイスの安定化やダイナミックラッチアップ試験 に必要なパターン供給はプログラム選択可能となり、使い勝手の面でも大きく向上致しました。 【特徴】 [LATCH-UP部] ○ラッチアップ検出電源の搭載数は、最大6電源 ○Max-Hi Min-Low 3電源とクロック・パターン機能を標準搭載 ○外部電源の追加 (オプション) ○155℃の高温ラッチアップ試験 (オプション) 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
モデル1100-CDMは、ICに対するCDM試験(誘導帯電および直接充電)を簡単かつ正確に実施することができます。
CDM試験装置は、静電気が帯電している電子部品の金属電極部が外部の金属に触れたり、また、帯電した物体(例えば人体)に接触している金属が、電子部品の金属電極に接触したときに生じる極めて高速の電荷移動によって生じるストレスにより、電子部品が壊れる場合の、電子部品の信頼性を測定する試験装置です。 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
ESD試験/CDM試験/ラッチアップ試験を1台でサポートするコストパフォーマンス に優れた試験装置です。
モデル1200シリーズは、1台でESD/CDM/LATCH-UP試験を可能とした試験器で、最大256ピンのプログラマブルピンコンビーネーションにより安定かつ効率の良い試験を保証いたします。 最大の特長は、ワークエリアの広さで、複雑な形状の半導体デバイス、基板実装部品、モジュール製品へのESD/CDM印加を可能としました。 また、用途に合わせたDUTボードを製作することで、LED部品から多ピンデバイスまで幅広い製品評価に御使用いただけます。 【特徴】 ○1台でHBM、MM、CDM、ラッチアップ試験の 4種以上の信頼性評価試験が可能 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。