材料解析業務サービス
サマールFE電子銃と最新のEDS・WDSを搭載
製品や中間品の不良・欠陥など品質管理のための分析、原材料の異常や異物の分析、製品・中間品や原材料の組成調査、そして製品の環境影響など、有機・無機を問わず、様々な問題に関するご相談に対応
- 企業:株式会社オオスミ
- 価格:応相談
更新日: 集計期間:2025年10月08日~2025年11月04日
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サマールFE電子銃と最新のEDS・WDSを搭載
製品や中間品の不良・欠陥など品質管理のための分析、原材料の異常や異物の分析、製品・中間品や原材料の組成調査、そして製品の環境影響など、有機・無機を問わず、様々な問題に関するご相談に対応
作物の住みよい環境について調べ、⼟壌微⽣物のDNAを網羅的に解析!
当社では、有機質肥料の施用によって増加する可給態窒素を測定・評価する 『アグリサービス』をご提供しています。 施肥量の削減を可能にし、環境保全や資源の有効活用に貢献いたします。 ご要望の際はお気軽にお問い合わせください。 【業務内容】 ■土壌分析・施肥設計・施肥対応案 ■農業用土壌分析(物理性・生物性) ■作物の栄養成分分析、残留農薬分析 ■肥料成分分析 ■JGAP認証に関わる分析各種 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
当社のラボにてサンプルをお預かりしてデバイスの残留ガスの受託分析サービスを行います。
分析アプリケーション例(蓄積法) 破壊分析 ●半導体チップの各積層間の残留・放出ガス測定 ●半導体ウェハ基板からのガス放出測定 ●MEMSデバイスチップ内の残留ガス測定 非破壊分析 ●封止デバイスのリークテスト・放出ガス測定
電池セルの作製から充放電サイクル試験から解体、劣化成分量の調査まで
二次電池の劣化のメカニズムを調べる際に、電極表面の付着物を解析することが重要となっています。MSTではサンプルを雰囲気制御下でTOF-SIMS測定を行いますので、電極最表面の化学状態を大気暴露による変質無く評価することが可能です。 また、充放電サイクル試験から電極表面の測定まで一貫して行うことで、充放電の状態と電極表面の付着物の状態の相関を調べることができます。
処理の違いによるSi表面のSiHや状態の定性・相対比較
Si表面についてHF処理後、オゾン処理後の状態を比較しました。 正イオンスペクトルではSiのピーク強度が異なりました。HF処理後のSi強度が弱いのはSiが金属系のためで、一方、UV-オゾン洗浄後やAs ReceivedのSi強度が強いのはSiが酸化物系のためです。 負イオンスペクトルからは、HF処理後ではSiF、SiH、Six系、UV-オゾン洗浄後やAs ReceivedではSiO2系など表面状態を反映したフラグメントイオンが検出されています。
人の健康の保護に関する項目の基準にあたる大気染物質を調査報告いたします。数多くの分析案件を手掛けております。
大気汚染防止法では、工場や事業場から排出したり、飛散する大気汚染物質について、 物質の種類ごとや施設の種類・規模ごとに排出基準等が定められています。 大気汚染物質の排出者等は、この基準を守らなければなりません。 また、大気汚染防止法だけでなく、ダイオキシン類対策特別措置法等があります。 <対象施設> ■廃棄物焼却炉 ■ボイラー ■工場からの排ガス ※基準値は施設能力、燃料等によって大きく異なるため、お問合せください。
通常のFT-IR機能に加え、微小部分の材料定性ができるため、異物(コンタミ)分析やトラブルシューティングに有効です。
本システムは、本体のFT/IR-4200および、微少部分の観察ができる顕微IRのIRT-3000-32ALから構成されています。不詳材料の定性分析、コンタミ分析、トラブルシュートにご利用ください。
アウトドアに使用されるGoPro Hero4のティアダウン
アウトドアで多数使用されるGoPro。次世代の画質と新機能を追加しHERO4で新たな世界へ。4Kレベルの高解像度、2.7K50での動画撮影、高フレームレート1080p120動画撮影が可能なHERO4 Blackを外側、内側からすべての使用部品とコストをリストアップした製品レポートのご提供します。
大気汚染、騒音・振動、土壌・地下汚染など様々な問題を解決します。
当社では、JIS等に定められた公定法から小型サンプラーやセンサを使用した 簡易法まで、用途に応じた様々な調査・解析をご提案いたします。 多数の測定機器を自社保有し、多地点における大規模調査も対応可能。 作業環境測定・室内空気汚染測定では、有資格者である作業環境測定士により デザインから、サンプリング、分析までを一貫して行っております。 【概要】 ■大気汚染 ■騒音・振動 ■土壌、地下水 ■作業環境測定 ■コンサルティング など ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
有機成分を壊さず深さ方向分析が可能になりました! 従来より空間分解能も向上し、狭い領域でも評価いたします。
有機ELディスプレイは近年、画質の高精細化のために配列が祖が微細化されていく傾向が見られています。 MSTでは、有機ELの開発において必須となる有機EL層の膜構造を精度よく評価可能な新サービスを開始しました。
雰囲気制御下でのサンプリングで材料の正確な評価が可能です
有機ELは自発光原理による高輝度、高精細カラー、薄型化等の利点があり、次世代デバイスの一つとして期待されています。特性向上、長寿命化、信頼性向上等には材料の正確な解析・評価が重要ですが、非常に活性な材料が使用されているため取り扱いには注意が必要です。大気暴露したサンプルと高純度アルゴン雰囲気下で取り扱ったサンプルの比較から、大気暴露で見られる酸化(分子イオン+O、+OH等)が高純度アルゴン雰囲気中で取り扱うことで抑えられていることが確認できます。
「試料調整」や「定量分析」などの試験項目ごとに掲載!税抜き、税込みで分析料金をご紹介
株式会社ミツバ環境ソリューションは、環境測定、調査・解析、 ISOコンサルティングの専門企業です。 当資料では『有機無機物分析』の料金についてご紹介。 「試料前処理」や「定性分析 1試料」「定量分析 1成分」といった 試験項目ごとに掲載しておりますので、ぜひご一読ください。 【掲載項目】 ■原子吸光分析(一元素) ■イオンクロマトグラフ分析 ■液体クロマトグラフ分析(HPLC) ■ガスクロマトグラフ分析(GC) ■分子量測定(粘度法) ■分子量分布測定(GPC/HPLC) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
レーザーラマン分光分析法により物質の種類、構造、結晶性などが評価できます。
光学顕微鏡で観察し、そのまま非破壊・非接触で1μmの微小部の測定が可能です。同じ分子振動を測定する赤外線分光分析のFT-IRスペクトルとは、相補的関係にあります。固体・液体・気体の状態で測定が可能であり、例えば金属表面の極表層酸化被膜や金属内部に存在する非金属介在物の測定に有効です。
製品・素材の機能や特性、状態を解明。分析対象・目的に応じた分析手法をご提案
当社の『化学分析サービス』は、パネル製品、半導体製品、樹脂成形品など 様々な工業製品・材料を分子、原子レベルで分析し、それらの機能や特性、 状態を明らかにして、お客様の課題解決に貢献します。 分析対象の材質や分析の目的に合った分析手法の提案が可能です。 ぜひお気軽にご相談ください。 【分析内容の例】 ◎製品内の異物 ◎使用材料の状態 ◎材料の変質 ◎材料に含まれる微量成分・元素 ◎製品や材料の熱による物理特性
高分解能測定と波形解析を利用してc-Siとa-Siの状態別定量が可能
半導体の製造工程において表面改質を目的としたイオン照射を行うことがあります。その中で、単結晶 Si表面に不活性元素のイオンを照射することで構造の損傷が生じ、アモルファス層が形成されることが 知られています。 高分解能なXPSスペクトルではc(単結晶)-Siとa(アモルファス)-Siが異なったピーク形状で検出されること を利用して、この損傷由来のa-Siをc-Siと分離して定量評価した事例をご紹介します。