半導体検査/試験装置の製品一覧

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JIS・ISO規格の解説資料進呈。豊富な製品シリーズから好適な安全柵をご提案!デモキット無料貸出。

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  • その他安全・衛生用品

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食品保存料・衛生材料・日用品に使用できるアミノ酸由来の天然カチオンポリマー。天然微生物が生産する発酵製品なので安全な素材です。

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  • 日持ち向上剤

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保存料ポリリジン/食中毒防止に貢献する発酵ポリアミノ酸のご紹介

食中毒を防止する天然由来の保存料ポリリジンについて、判りやすく解説した資料をお届けしています。 ε-ポリリジン(以下、ポリリジン)は食品保存料として広く使用されているアミノ酸由来の保存料です。 ポリリジンを添加することで、食中毒の原因となる微生物の生育を防止することができます。 毎年、微生物による食中毒は問題となっており、度々ニュースでも取り上げられています。一見、腐敗しているように見えない食品でも、生育環境が整えば、微生物は一気に増殖しているケースがありますので注意が必要です。 見た目がきれいでも菌による汚染が進行し、食中毒の危険が潜んでいます。製造工程での衛生管理、適切な温度等での保管に加え、保存料ポリリジンを適切に使用することで、より効果的に食品の安全を守ることができます。 【特長】 ■天然微生物により、国内で発酵生産された安全な素材(遺伝子組換え生物ではない) ■天然の発酵物なので良いイメージを付与 ■食品保存料として既存添加物名簿に収載 ■安心な国産製品です ※お気軽にお問い合わせください。

ワイヤープローブの摩耗に関する理論的解析のご紹介

  • プローブ
  • テスタ
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最大12インチのウェハ上のバンプのシェア、ツィーザープルテストに最適なボンドテスター

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テクノアルファはワイヤボンダのシェアで世界トップクラスを誇るK&Sのワイヤボンダ、及びワイヤボンダ用消耗品の日本代理店です。

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  • ボンディング装置
  • その他半導体製造装置
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ナノメートル精度のポジショニングステージ。半導体検査装置、半導体製造装置に!

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【2025年11/12(水)~11/14(金)】第25回 Photonix / 光・レーザー技術展 出展のお知らせ

ハイウィン株式会社は、幕張メッセにて開催される 第25回 Photonix / 光・レーザー技術展 に出展いたします。 本展では、ナノ精度位置決めステージや、超薄型DDモーター搭載の精密位置決めステージを出展。主力製品の機械要素部品では、ステンレス製リニアガイドウェイやコンパクトかつ静音のボールねじSuperZシリーズなどをご覧いただけます。 半導体製造大国である台湾にグローバル本社を置くハイウィンは、半導体・LED・FPD産業向けにコンポーネントからサブシステムまでトータルでご提案。他社には真似できない多彩な製品ラインアップで課題解決に貢献します。

高温ガラス工程の外観・欠陥検査や、半導体ラインの欠陥・位置決め検査などに!SWIR 2K×1・110kHzの高速ライン検査

  • モノクロカメラ
  • 半導体検査/試験装置

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基板通電検査・外観検査システム、FA自動化までフルサポート! TAIYO FPC SOLUTIONS!

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  • 基板設計・製造

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ハイコストパフォーマンス ミックスドシグナルテスター

  • 半導体検査/試験装置

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通常の動作での寿命を予測!環境温度やスイッチング周波数等を任意に設定できる

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静電気が電子機器や半導体部品に放電した際の耐性を、様々なモデル法を用いて幅広く評価します

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  • 受託検査
  • 受託測定

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寿命10年を想定した場合、試験デバイスのゲート電圧を、20V以下で使用することが必要

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パワー半導体の定格限界での信頼性評価や、定格オーバー条件でパワー半導体の実力を評価!

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恒温槽を使用することで、より強い付加を加える事が可能!信頼性試験をご紹介

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試験を実施するにあたりどの方法で測定するのかを選択することが重要な要素!

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当社で保有する装置は、半導体や多層の基板評価等に適した試験装置です!

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炭化ケイ素、窒化ケイ素はJFCにお任せ下さい

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4/5~7 東京ビッグサイト 2017高機能セラミックス展に出展しました

~多くの方にご来場いただき、ありがとうございました。~ 4月に東京ビッグサイトで開催される『高機能セラミックス展』に出展いたします。 弊社ブースでは、  ●割れにくいセラミックス『窒化珪素』をさらに割れにくくし、熱伝導率を高めた新製品  ●アルミの軽さで鉄よりもたわまない新素材    『金属とセラミックスの複合材料』  ●薄膜・成膜技術を特長とする『セラミックス基板』 を展示いたします。 装置設計・部品設計・熱設計などお困りなことがございましたら、是非、弊社ブースにお立ち寄り頂き、ご相談ください。お待ちしております。

1 mあたりの計測誤差0.1 nm。精密干渉計測用光源として大手メーカーに2,000台超の納品実績を保有。

  • 光学測定器
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10⁻¹¹の周波数安定性。スマホ・車載用レンズ、半導体ウェハー向け精密干渉計測用光源として大手メーカーに2000台超の納品実績。

  • 光学測定器
  • 半導体検査/試験装置

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幅広い分野のナノメートル計測に。精密干渉計測用光源として大手メーカーに2,000台超の納品実績を保有。

  • 光学測定器
  • 半導体検査/試験装置

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【半導体不足】が叫ばれている今、その原因についてまとめた資料を無料でダウンロードしていただけます。

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*ハイエンドモデル                            優れた安定性と作業時間の時短を徹底的に追求したハンドラ

  • 半導体検査/試験装置
  • テスタ

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イオンクロマトグラフィーによる半導体製造用【高濃度水酸化ナトリウム】溶液中の陰イオンの定量

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  • ウエハー
  • 分析機器・装置
  • 半導体検査/試験装置

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*フラグシップモデル                           優れた安定性と作業時間の時短を徹底的に追求したハンドラ

  • 半導体検査/試験装置
  • 基板検査装置
  • 試験機器・装置

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FIBによる高品質な回路加工、配線加工サービスを提供します。高い加工歩留りを実現しています!

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  • 半導体・IC
  • マイクロコンピュータ

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半導体メーカの供給停止、自動車産業EV化、5G通信普及。 急遽必要になった代替品評価、真贋判定のための評価、故障解析に追いついていますか?

5G通信の普及、自動車業界のEV化、某半導体メーカーに代表される米中貿易摩擦の激化によるメーカーの供給停止、新型コロナウイルス感染拡大の影響によるデジタル製品の急増等、様々な社会現象が半導体の需要を高めています。それらに伴い半導体供給リスクの加速が進んでいます。 新規品の採用に加え、既存品・流通品の評価も必要・・・、新規採用・製品評価にかかわる人員は限られてる。こんなお困りごとはありませんか? ・半導体部品を採用評価するノウハウがない ・代替品の評価をしたいが人や設備が足りない ・在庫品、市場品を使用したいが信頼性に不安がある ・納入された半導体製品が、偽造品なのか正規品なのかわからない ユーロフィンFQLでは、長年の部品評価、故障解析にかかわった経験を活かし、半導体の評価はもちろんのこと、故障解析を受託しています。また、偽造品、模倣品や長期保存品の使用を判断するための真贋判定の一助となる、流通品評価も受託致します。是非お問い合わせください。

両面実装基盤の表面のみ検査が可能!3D断層検査にも対応 ※詳細解説資料進呈

  • 半導体検査/試験装置
  • X線検査装置

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シリコンウェーハ内部の結晶欠陥ボイドを自動で検査!

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  • X線検査装置

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X線焦点寸法0.25μmの高解像度を持った解析用X線観察装置

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  • X線検査装置

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ウェーハ上のはんだバンプの検査を自動で行うX線自動検査装置

  • 半導体検査/試験装置
  • X線検査装置

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透明素材にも対応する高精度検査装置

  • 半導体検査/試験装置

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【展示会情報】『SEMICON JAPAN 2025』に出展します

半導体産業における製造技術、装置、材料の国際展示会である SEMICON JAPANにクボタの半導体検査装置を出展致します。 弊社スタッフ一同、ご来場を心よりお待ちしております。 【出展情報】 開催日時:2025年12月17日(水)~19日(金) 10:00~17:00 会  場:東京ビッグサイト 小間位置:W1963 ※ご来場には事前登録が必要です。  登録方法はSEMICON JAPANホームページをご確認ください。

ウェハの欠陥目視検査を自動化を実現

  • 半導体検査/試験装置

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【展示会情報】『SEMICON JAPAN 2025』に出展します

半導体産業における製造技術、装置、材料の国際展示会である SEMICON JAPANにクボタの半導体検査装置を出展致します。 弊社スタッフ一同、ご来場を心よりお待ちしております。 【出展情報】 開催日時:2025年12月17日(水)~19日(金) 10:00~17:00 会  場:東京ビッグサイト 小間位置:W1963 ※ご来場には事前登録が必要です。  登録方法はSEMICON JAPANホームページをご確認ください。

レビュー用顕微鏡搭載!検出した欠陥を顕微鏡でリアルタイムに観察可能です

  • 半導体検査/試験装置

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【展示会情報】『SEMICON JAPAN 2025』に出展します

半導体産業における製造技術、装置、材料の国際展示会である SEMICON JAPANにクボタの半導体検査装置を出展致します。 弊社スタッフ一同、ご来場を心よりお待ちしております。 【出展情報】 開催日時:2025年12月17日(水)~19日(金) 10:00~17:00 会  場:東京ビッグサイト 小間位置:W1963 ※ご来場には事前登録が必要です。  登録方法はSEMICON JAPANホームページをご確認ください。

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