Siウエハ/の製品一覧
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技術情報「めっき試料の脱ガス評価（C0464）」他、4件を公開
MSTホームページにて、下記分析事例5件を公開しました。 ・めっき試料の脱ガス評価（C0464） ・代表的な材料・目的別のTDS解析例（B0232） ・LC/MS/MSによるペプチドの配列解析（C0466） ・Siウエハ表面の金属汚染評価（B0233） ・SiN膜中の金属汚染評価（C0465） 詳細はMSTホームページをご覧ください。 http://www.mst.or.jp/
少量ウエハに対応！研究・テスト用途に便利なウェーハ販売サービス！ ハーフinchから450mmまで幅広く取り扱っております！
- その他半導体
Semicon Japan 2025
2025年12/17(水)~12/19（金）に東京ビッグサイトにて開催されるSemicon Japan 2025に出展します。ご興味ある方は、是非会場までお越しください。 ■出品予定製品 1. 分光干渉式の光学厚みセンサ CHRocodile 2 DW/ 2IT 2. 12'ウエハ全面厚み・形状測定用エリアスキャナ Flying Spot Scanner（FSS) 3. 色収差共焦点の光学ラインセンサ CLS2.0 4. 色収差共焦点のラインカメラ CVC 5. 色収差共焦点の光学式シングルポイントセンサ CHRocodile Mini 6. 不透明体の非接触厚み測定センサ Enovasnese
光学式センサで、Si0.5~200umの広範囲の厚み測定。5kHzの高速サンプリング。加工中のモニタリング用途に最適。
- 膜厚計
Semicon Japan 2025
2025年12/17(水)~12/19（金）に東京ビッグサイトにて開催されるSemicon Japan 2025に出展します。ご興味ある方は、是非会場までお越しください。 ■出品予定製品 1. 分光干渉式の光学厚みセンサ CHRocodile 2 DW/ 2IT 2. 12'ウエハ全面厚み・形状測定用エリアスキャナ Flying Spot Scanner（FSS) 3. 色収差共焦点の光学ラインセンサ CLS2.0 4. 色収差共焦点のラインカメラ CVC 5. 色収差共焦点の光学式シングルポイントセンサ CHRocodile Mini 6. 不透明体の非接触厚み測定センサ Enovasnese
技術情報「酸化・窒化薄膜のバンドギャップ評価（C0462）」他、1件を公開
MSTホームページにて、下記分析事例2件を公開しました。 ・酸化・窒化薄膜のバンドギャップ評価（C0462） ・ウエハケース内ウエハの有機汚染評価（C0461） 詳細はMSTホームページをご覧ください。 http://www.mst.or.jp/
半導体装置部品の高純度SiC、海外製SiCウエハ、耐火物SiCに加えて、SiC部品と相性が良いレーザー加工まで受託対応します！
- ウエハー
- 酸化/拡散装置
エレクトロニクス製品の歩留に大きな影響を与える異物について、各種サンプリング技術を駆使して迅速な分析結果をご報告します。
- 受託解析
- 分析機器・装置
- その他受託サービス
化学分析 おまかせサービス
当社で取り扱う『化学分析 おまかせサービス』をご紹介いたします。 製品上の異物やシミなどの成分分析を⾏う際、有機分析が適しているのか、 無機分析が適しているのか、また、有機・無機分析の中でもどの分析が好適 なのか、分析手法の選定についてお困りのお客様へ、一括サービスを提供。 分析装置はそれぞれ測定できる対象が異なるため、情報をもとに、 目的に合った手法を選ぶ必要があります。
技術情報「有機多層膜のラマン3Dマッピング」ほか3件を公開
MSTホームページにて、下記分析事例3件を公開しました。 ・有機多層膜のラマン3Dマッピング ・ウエハ表面の金属・有機物汚染評価 ・Ramanによる金属部材上の異物分析 詳細はMSTホームページをご覧ください。 http://www.mst.or.jp/
技術情報「めっき試料の脱ガス評価（C0464）」他、4件を公開
MSTホームページにて、下記分析事例5件を公開しました。 ・めっき試料の脱ガス評価（C0464） ・代表的な材料・目的別のTDS解析例（B0232） ・LC/MS/MSによるペプチドの配列解析（C0466） ・Siウエハ表面の金属汚染評価（B0233） ・SiN膜中の金属汚染評価（C0465） 詳細はMSTホームページをご覧ください。 http://www.mst.or.jp/
ドープウエハに適切な光源波長を使用し、難しいドープウエハ厚み測定に対応
- その他計測・記録・測定器
- センサ
Semicon Japan 2025
2025年12/17(水)~12/19（金）に東京ビッグサイトにて開催されるSemicon Japan 2025に出展します。ご興味ある方は、是非会場までお越しください。 ■出品予定製品 1. 分光干渉式の光学厚みセンサ CHRocodile 2 DW/ 2IT 2. 12'ウエハ全面厚み・形状測定用エリアスキャナ Flying Spot Scanner（FSS) 3. 色収差共焦点の光学ラインセンサ CLS2.0 4. 色収差共焦点のラインカメラ CVC 5. 色収差共焦点の光学式シングルポイントセンサ CHRocodile Mini 6. 不透明体の非接触厚み測定センサ Enovasnese
技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品質管理等のお役に立つ分析技術の最新情報です。
- 受託解析
- 受託測定
- 技術書・参考書
非接触の光学厚み測定。高精度が求められる半導体ウエハの厚み測定でも適用可能。
- その他検査機器・装置
- 膜厚計
Semicon Japan 2025
2025年12/17(水)~12/19（金）に東京ビッグサイトにて開催されるSemicon Japan 2025に出展します。ご興味ある方は、是非会場までお越しください。 ■出品予定製品 1. 分光干渉式の光学厚みセンサ CHRocodile 2 DW/ 2IT 2. 12'ウエハ全面厚み・形状測定用エリアスキャナ Flying Spot Scanner（FSS) 3. 色収差共焦点の光学ラインセンサ CLS2.0 4. 色収差共焦点のラインカメラ CVC 5. 色収差共焦点の光学式シングルポイントセンサ CHRocodile Mini 6. 不透明体の非接触厚み測定センサ Enovasnese
技術情報「環境中微量金属元素分析（B0231）」を公開
MSTホームページにて、下記分析事例1件を公開しました。 ・環境中微量金属元素分析（B0231） 詳細はMSTホームページをご覧ください。 http://www.mst.or.jp/
◆逆バイアス状況下で駆動◆大口径、四角形もラインナップ◆低ダークカレント◆シリコンPINフォトダイオード◆ピーク波長約940nm
- その他光学部品
- その他理化学機器
- その他計測・記録・測定器
レジスト膜の面内均一性やウエハ間の平均膜厚の差が少ないコーターです。低粘度～高粘度(MAX10000cP)レジスト対応！
- コーター
Mipox WaferEdgePolisherはSIウエハメーカー、再生ウエハメーカーを中心に200台以上の納入実績を誇ります。
- ウエハ加工/研磨装置
高アスペクトフィリングに対応、シリコンインターポーザ向け硫酸銅めっき添加剤・TORYZA LCN SV
- 化学薬品
第1回［九州］半導体産業展に出展します
当社は、2024年9月25日(水)～26日(木)に、マリンメッセ福岡 B館で開催されます第1回［九州］半導体産業展に出展いたします。 ブースでは、ウエハ、パッケージ基板向けの最新表面処理薬品とプロセス技術を展示しますので、ぜひお立ち寄りください。 詳細は関連リンク【第1回［九州］半導体産業展に出展します】からご確認ください。